От лат cavitas пу­стота), образование в капельной жид­кости полостей, заполненных газом, паром или их смесью (т н. кавитац пузырьков или каверн). Кавитац

Вид материалаДокументы

Содержание


Рис. 1. Оптич. индикатриса двуосного крис­талла — трёхосный эллипсоид; его оси симметрии Ох, Оу и Oz наз. гл. осями индикат­рисы
Интерференция поляризованных лучей).
В. В. Татарский, Б. Н. Гречушников.
Э. А. Сеириденков.
Осн. типы хим. связи в кристаллах: а — ионная связь; б — ковалентная связь; в — металлич. связь; г — связь за счёт сил Ван-дер-В
Б. К. Вайнштейн.
Подобный материал:
1   ...   19   20   21   22   23   24   25   26   27
КРИСТАЛЛООПТИКА, пограничная область оптики и кристаллофизики, охватывающая изучение законов рас­пространения света в кристаллах. Характерными для кристаллов явле­ниями, изучаемыми К., явл. двойное лучепреломление, поляризация света, вращение плоскости поляризации, пле­охроизм и др. Вопросы поглощения и излучения света кристаллами изу­чаются в спектроскопии кристаллов. Влияние электрич. и магн. полей на оптич. св-ва кристаллов исследуются в электрооптике и магнитооптике, опирающихся на осн. законы К.

Т. к. период крист. решётки (~10 Å) во много раз меньше длинны волны ви­димого света (4000—7000 Å), кристалл можно рассматривать как однородную, но анизотропную среду. Оптическая

анизотропия кристаллов обусловле­на анизотропией поля сил вз-ствия ч-ц. Хар-р этого поля связан с сим­метрией кристаллов. Все кристаллы, кроме кубических, оптически анизо­тропны.

В изотропных средах вектор элек­трич. индукции D связан с вектором электрич. поля Е соотношением: D=Е, где диэлектрич. проницаемость  — скалярная величина, в случае перем. полей зависящая от их часто­ты (см. Диэлектрики). Т. о., в изо­тропных средах векторы D и Е имеют одинаковое направление. В кристал­лах направления векторов D и Е не совпадают, а соотношение между этими величинами имеет более слож­ный вид, т. к. диэлектрич. проницае­мость , описываемая тензором, за­висит от направления в кристалле (см. Пространственная дисперсии). Следствием этого и явл. анизотропия оптич. св-в кристаллов, в частности зависимость скорости распростране­ния в нём волны v и преломления пока­зателя n от направления.

Если из произвольной точки О кристалла провести по всем направ­лениям радиусы-векторы r, модули к-рых r=n=, где диэлек­трич. проницаемость в направлении r при данной частоте колебаний, то концы векторов r будут лежать на



Рис. 1. Оптич. индикатриса двуосного крис­талла — трёхосный эллипсоид; его оси симметрии Ох, Оу и Oz наз. гл. осями индикат­рисы; nх, ny, nz — показатели преломления вдоль гл. осей; 1 и 2 — два круговых сече­ния эллипсоида; O1 O' и О2 О2' — оптич. оси кристалла.


поверхности эллипсоида, наз. опти­ческой индикатрисой (рис. 1). Оси симметрии этого эллип­соида определяют три взаимно пер­пендикулярных главных на­правления в кристалле, по к-рым направления векторов D и E совпадают. В прямоуг. декартовой системе координат, осп к-рой совпа­дают с гл. направлениями, ур-ние оптич. индикатрисы имеет вид:



где nх, ny и nzзначения n вдоль гл. направлений (гл. значения n), Оптической осью кристалла наз. нормаль N к плоскости кругового сечения оптич. индикатрисы.

Для кубнч. кристаллов оптич. индикатриса превращается в сферу с ра-

324


диусом r=n. В кристаллах ср. сингоний (тригональной, тетрагональной и гексагональной) одно из гл. направлений совпадает с гл. осью симметрии кристалла. В этих кристаллах

оптич. индикатриса — эллипсоид вращения, и они имеют только одну оптич. ось, совпадающую с осью враще­ния эллипсоида. Такие кристаллы наз. дноосными. Кристаллы низших сингоний (ромбической. моноклинной и триклинной) наз. двуосными. Их оптич. индикатриса — трёхосный эллипсоид, имеющий два круговых сечения и две оптич. оси (рис.. 1).



Вследствие несовпадения направле­ний векторов D и E поляризованная плоская монохроматич. волна в кри­сталле характеризуется двумя трой­ками взаимно перпендикулярных век­торов D, H, v и Е, Н, v' (рис. 2). Ско­рость v' совпадает по направлению с Пойнтинга вектором S и равна ско­рости переноса энергии волной. Её на­зывают лучевой скоростью волны. Скорость v наз. нормальной скоростью волны. Она равна скорости распространения фазы и фронта волны по направлению нормали N к фронту. Величины v и v' связаны соотношением: v'=v/cos, где  — угол между векторами D и Е.

Нормальная и лучевая скорости волны определяются из уравне­ния Френеля — осн. ур-ния К., к-рое имеет вид:



Здесь Nx, Ny и Nz проекции векто­ра нормали N на гл. направления кри­сталла; vx=c/nx, vy=clny, vz=c!nz гл. фазовые скорости волны.

Т. к. ур-ние Френеля — квадратное относительно v, то в любом направле­нии N имеются два значения нормаль­ной скорости волны v1 и v2, совпада­ющие только в направлении оптич. осей кристаллов. Если из точки О откладывать по всем направлениям N векторы соответствующих им нор­мальных скоростей v1 и v2, то концы векторов будут лежать на двух по­верхностях, наз. поверхностя­ми нормалей. У одноосного кристалла одна из поверхностей — сфера, вторая— овалоид, к-рый ка­сается сферы в двух точках пересече­ния её с оптич. осью. У двуосных кристаллов эти поверхности пересе­каются в четырёх точках, лежащих на двух оптич. осях (б и н о р м а л я х).

Аналогично геом. место точек, удалённых от точки О на расстояния

v1 и v2, наз. лучевыми по­верхностями или поверх­ностями волны. В одноосных кристаллах одна из поверхностей — сфера, вторая — эллипсоид вращения вокруг оптич. оси Oz. Сфера и эллип­соид касаются друг друга в точках их пересечения с оптич. осью (рис. 3). В двуосных кристаллах поверхности пересекаются друг с другом в четырёх точках, попарно лежащих на двух прямых, пересекающихся в точке О (б и р а д и а л и).

Т.о., в кристаллах в произвольном направлении N могут распространяться две плоские волны, поляризо­ванные в двух взаимно перпендику­лярных плоскостях.



Направления век­торов D1 и D2 этих волн совпадают с осями эллипса, получающегося при пересечении оптич. индикатрисы с плоскостью, перпендикулярной N и проходящей через точку О. Нор­мальные скорости этих волн равны: v1=с/n1 и v2=с/n2. Векторы E1 и Е2 этих волн также лежат в двух взаимно перпендикулярных плоскостях, при­чём им соответствуют два лучевых вектора S1 и S2 и два значения луче­вой скорости v'1= v1/cos и v'2=v2/cos.

При преломлении света на границе кристалла в нём возникают два пре­ломлённых луча, один из к-рых под­чиняется обычным законам прелом­ления и поэтому наз. обыкновенным (о), а второй не подчиняется этим законам и наз. необыкновенным (е) (см. Двойное лучепреломление). Од­ноосный кристалл наз. положитель­ным, если v0>ve, и отрицательным, если v0e (рис. 3). В двуосном кри­сталле оба луча необыкновенные.

Две световые волны с ортогональ­ной поляризацией, распространяющие­ся внутри кристалла в одном направ­лении, приобретают за счёт различия показателей преломления разность хо­да. С помощью поляризац. устройст­ва можно свести направления коле­баний в вышедших из кристалла вол­нах в одну плоскость и наблюдать их

интерференцию (см. Интерференция поляризованных лучей).

В кристаллах нек-рых классов сим­метрии вдоль каждого направления могут распространяться две эллип­тически поляризованные волны (с про­тивоположными направлениями об­хода) — обе со своим показателем преломления. В направлении оптич. оси поляризация волн оказывается круговой, что приводит к вращению плоскости поляризации падающего на кристалл линейно поляризованного света.

В сильно поглощающих кристаллах линейно поляризованная волна рас­щепляется на две эллиптически поля­ризованные волны с одинаковым на­правлением обхода. В таких кри­сталлах наблюдается разл. поглоще­ние волн, обладающих разной поляри­зацией.

Каждый кристалл обладает при­сущим ему комплексом кристаллооптич. св-в и величин, по к-рым он мо­жет быть идентифицирован. В при­кладной К. разработаны разл. методы измерения этих величин (иммерси­онный метод, коноскопия и др.).

Методы К. используют для полу­чения и анализа поляризованного света, для создания оптических за­творов, модуляторов, дефлекторов и др.

• Б о р н М., В о л ь ф Э., Основы оптики, пер. с англ., М., 1973; Ландсберг Г. С., Оптика, 5 изд., М., 1976 (Общий курс физи­ки); Федоров Ф. И., Оптика анизотроп­ных сред, Минск, 1958; Шубников А. В., Основы оптической кристаллографии, М., 1958; Татарский В. В., Кристал­лооптика и иммерсионный метод исследова­ния минералов, М., 1965; Дитчберн Р., Физическая оптика, пер. с англ., М., 1965; С т о й б е р Р., Морзе С., Определение кристаллов под микроскопом, пер. с англ., М., 1974; Современная кристаллография, т. 4, М., 1981, гл. 8.

В. В. Татарский, Б. Н. Гречушников.

КРИСТАЛЛОФИЗИКА, изучает физ. св-ва кристаллов и др. анизотропных сред, влияние разл. внеш. воздействий на эти св-ва и реальную структуру кри­сталлов. В отношении мн. физ. св-в дискретность решётчатого строения кристалла не проявляется, и кристалл можно рассматривать как сплошную однородную анизотропную среду. По­нятие однородности среды означает рассмотрение физ. явлений в объёмах, значительно превышающих объём элем. ячейки кристалла. Св-ва кри­сталлов зависят от направления (ани­зотропия), но одинаковы в направле­ниях, эквивалентных по симметрии (см. Симметрия кристаллов).

Для количеств. описания физ. св-в кристаллов в К. используется матем. аппарат матричного и тензорного ис­числения и теории групп. Нек-рые св-ва кристаллов, напр. плотность, не зависят от направления и характе­ризуются скалярными величинами. Фнз. св-ва, характеризующие вза­имосвязь между двумя векторными величинами (напр., между поляриза-

325


цией P и электрич. полем Е, плот­ностью тока j и электрич. полем Е) или псевдовекторными величинами (напр., между магн. индукцией В и напряжённостью магн. поля Н), описываются тензорами второго ран­га (напр., тензоры диэлектрической восприимчивости, электропроводнос­ти, магнитной проницаемости). Мно­гие физические поля в кристал­лах, напр. электрич. и магн. поля, поле механич. напряжений, сами явл. тензорными (векторными) полями. Связь между физ. полями и св-вами кристаллов или между их св-вами может описываться тензорами выс­ших рангов, характеризующими такие св-ва, как пьезоэлектрич. эффект (см. Пьезоэлектричество), электрострикция, магнитострикция, упругость, фотоупругость и т. д.

Диэлектрич., магн., упругие и др. св-ва кристаллов удобно представлять в виде т. н. указательных поверхно­стей. Описывающий такую поверх­ность радиус-вектор характеризует величину той или иной кристаллофиз. константы для данного направления (см. Индикатриса в оптике). Симмет­рия любого св-ва кристалла не может быть ниже симметрии его внеш. формы (п р и н ц и п Н е й м а н а). Ины­ми словами, группа симметрии g1, описывающая любое физ. св-во кри­сталла, неизбежно включает эле­менты симметрии его точечной груп­пы G, т. е. является её надгруппой: G1∩G. Так, кристаллы, обладающие центром симметрии, не могут обла­дать полярными св-вами, т. е. такими, к-рые изменяются при изменении на­правления на обратное, напр. пиро­электрическими (см. Пироэлектрики). Наличие элементов симметрии опре­деляет ориентацию гл. осей указа­тельной поверхности и число ком­понент тензоров, описывающих то или иное физ. св-во. Так, в кристал­лах кубич. сингонии все физические св-ва, описываемые тензорами вто­рого ранга, не зависят от направле­ния. Такие кристаллы изотропны от­носительно этих св-в (указательная поверхность — сфера). Те же св-ва в кристаллах ср. сингонии (тетраго­нальной, тригональной и гексагональ­ной) характеризуются симметрией эллипсоида вращения, т. е. тензор 2-го ранга имеет две независимые ком­поненты. Одна из них описывает св-во вдоль гл. оси кристалла, а другая — в любом из направлений, перпен­дикулярных гл. оси. Для полного описания св-в таких кристаллов в лю­бом направлении только эти две ве­личины и необходимо измерить. В кри­сталлах низших сингонии физические св-ва, описываемые тензорами вто­рого ранга, обладают симметрией трёх­осного эллипсоида и характеризуются тремя гл. значениями (и ориентацией гл. осей этого тензора).

Физ. св-ва, описываемые тензорами более высокого ранга, характеризу­ются большим числом параметров. Так, упругие св-ва, описываемые тензором 4-го ранга, для кубич. кристалла ха­рактеризуются тремя, а для изотроп­ного тела двумя независимыми вели­чинами. Для описания упругих св-в триклинного кристалла необходимо определить 21 независимую компо­ненту тензора. Число независимых компонент тензоров высших рангов (5-го, 6-го и т. д.) для разных точеч­ных групп симметрии определяется методами теории групп. Полное оп­ределение физ. св-в кристаллов и тек­стур осуществляется радиотехн., акустич., оптич. и др. методами.

В К. исследуются как явления, ха­рактерные только для анизотропных сред (двойное лучепреломление, враще­ние плоскости поляризации света, пря­мой и обратный пьезоэффекты, электрооптич., магнитооптич. и пьезооптич. эффекты, генерация оптич. гар­моник и др.), так и явления, наблю­даемые и в изотропных средах (элек­тропроводность, упругость и т. д.). Последние в кристаллах могут иметь особенности, обусловленные анизо­тропией.

К. явл. частью кристаллографии и примыкает к физике твёрдого тела и кристаллохимии; задачей К. явл. также исследование изменений св-в кристалла при изменении его струк­туры или сил вз-ствия в крист. ре­шётке. Мн. задачи К. связаны с изме­нением симметрии кристаллов в разл. термодинамич. условиях. Кюри прин­цип позволяет предсказать изменение точечной и пространств. групп сим­метрии кристаллов, испытывающих фазовые переходы, напр., в ферромагн. и сегнетоэлектрич. состояния (см. Ферромагнетизм, Сегнетоэлектрики).

В К. изучаются и различного рода дефекты крист. решётки (центры ок­раски, вакансии, дислокации, дефек­ты упаковки, границы крист. блоков, зёрен, домены и т. д.) и их влияние на физ. св-ва кристаллов (на пластич­ность, прочность, электропровод­ность, люминесценцию, механич. доб­ротность и т. д.). К задачам К. от­носится также поиск новых перспек­тивных крист. материалов.

• Н а й Дж., Физические свойства кристал­лов и их описание при помощи тензоров и матриц, пер. с англ., М., 1967. См. также лит. при ст. Кристаллография, Симметрия

кристаллов.

К. С. Александров.

КРИСТАЛЛОФОСФОРЫ (от кри­сталлы и греч. phos — свет, phoros — несущий), неорганич. крист. люми­нофоры. Люминесцируют под дей­ствием света, потока эл-нов, прони­кающей радиации, электрич. тока и т. д. К. могут быть только ПП и ди­электрики, в к-рых имеются центры люминесценции, образованные актива­торами или дефектами крист. решёт­ки (вакансиями, междоузельными ато­мами и др.). Механизм свечения К. в осн. рекомбинационный (см. Люми­несценция).

Люминесценция К. может происхо­дить как в результате возбуждения непосредственно центров люминесцен­ции, так и при поглощении энергии возбуждения крист. решёткой К. и передаче её центрам люминесценции. Непосредств. рекомбинация эл-нов и дырок в К. также сопровождается све­чением (краевая люминес­ценция). Длительность послесве­чения К. от 10-9 с до неск. часов.

Основой К. служат сульфиды, селениды и теллуриды Zn и Cd, оксиды Са и Mn, галогениды щелочных метал­лов и нек-рые др. соединения, актива­торами — ионы металлов (Cu, Со, Mn, Ag, Eu, Tu и др.). Синтез осуществля­ется чаще всего прокаливанием тв. шихты, нек-рые К. получают из га­зовой фазы или расплава. Комбинируя активаторы и основы, синтезируют К. для преобразования разл. видов энер­гии в видимый свет определ. длины волны с кпд до десятков %. К. обла­дают ярким свечением, хим. и радиац. стойкостью; применяются в люмине­сцентных лампах, экранах телевизо­ров и осциллографов, электролюмине­сцентных панелях, сцинтилляционных счётчиках, в кач-ве активной среды ПП лазеров и т. д.

• Фок М. В., Введение в кинетику люми­несценции кристаллофосфоров, М., 1964; Физика и химия соединений АII, ВVI, пер. с англ., М., 1970.

Э. А. Сеириденков.

КРИСТАЛЛОХИМИЯ, раздел кристаллографии, в к-ром изучаются закономерности расположения атомов в кристаллах и природа хим. связи между ними. К. основана на обобще­нии результатов экспериментальных рентгенографич. и др. дифракц. мето­дов исследований ат. структуры кри­сталлов (см. Рентгеновский структур­ный анализ, Электронография, Ней­тронография), на классич. и квант. теориях хим. связи, на расчётах энер­гии крист. структур с учётом сим­метрии кристаллов. Кристаллохим. закономерности позволяют объяснить и в ряде случаев предсказать, исходя из хим. состава в-ва, расположение атомов или молекул в кристаллической решётке и расстояния между ними. Хим. связь между атомами в кри­сталлах возникает за счёт вз-ствия внеш. валентных электронов атомов. Равновесное расстояние между ато­мами обычно составляет 1,5—4 Å (в зависимости от типа хим. связи). При сближении атомов на расстояния, меньшие, чем равновесное, возникает резкое их отталкивание. Это позво­ляет в первом приближении приписать атомам для того или иного типа связи определ. «размеры», т. е. нек-рые пост. радиусы, и тем самым перейти от физ. модели кристалла как атомно-электронной системы к его геом. мо­дели как системе несжимающихся ша­риков. Полное кристаллохим. описа­ние ат. структуры того или иного кристалла включает указание раз­меров элем. ячейки, пространств. группы симметрии кристалла, коор-

326


динат атомов, расстоянии между ними, типа хим. связи; описания окружения атомов, характерных ат. группировок, тепловых колебаний атомов и т. п. По хар-ру хим. связи кристаллы де­лят на четыре осн. группы — ионные кристаллы (напр., NaCl), ковалентные (напр., алмаз, кремний), металли­ческие (металлы и интерметаллич. соединения) и молекулярные кристаллы (напр., нафталин). В ионных кристал­лах эл-ны переходят от атомов ме­таллов, к-рые становятся положит.



Осн. типы хим. связи в кристаллах: а — ионная связь; б — ковалентная связь; в — металлич. связь; г — связь за счёт сил Ван-дер-Ваальса.

ионами (катионами), к атомам не­металлов, к-рые становятся отрицат. ионами (анионами), что приводит к электростатич. притяжению между ни­ми (рис., а). В случае ковалентной связи валентные эл-ны соседних ато­мов обобществляются, образуя «мо­стики» электронной плотности между связанными атомами (рис., б). В метал­лич. кристаллах валентные эл-ны об­разуют общий электронный «газ», осу­ществляющий коллективное вз-ствие атомов кристалла (рис., в). Расстоя­ния между атомами для этих трёх типов связи составляют 1,5—2,5 Å. В мол. кристаллах атомы внутри мо­лекул объединены прочными ковалентными связями, а атомы соседних моле­кул взаимодействуют за счёт более слабых ван-дер-ваальсовых сил, (рис., г), имеющих диполь-дипольное и дисперсионное происхождение (см. Межмолекулярное взаимодействие). Расстояние между атомами соседних молекул 3,5—4 Å. Во многих кристал­лах связь имеет промежуточный хар-р, напр. в кристаллах полупроводников (Ge, GaAs) связь в осн. ковалентная, но с примесью ионной и металличе­ской. В нек-рых кристаллах (напр., лёд, органич. кристаллы) существует т. н. водородная связь (см. Межатом­ное взаимодействие).

Каждому крист. в-ву присуща определ. структура, но при изменении тсрмодинамич. условий она иногда мо­жет меняться (полиморфизм). Обычно чем проще ф-ла соединения, тем более симметрична его структура. Кри­сталлы с одинаковой хим. ф-лой (в смысле числа и соотношения разл. атомов) могут иметь одинаковую крист. структуру (говорят, что они образуют данный «структурный тип») несмотря на различие типов связи (и з о с т р у к т у р н о с т ь): изоструктурны галогениды щелочных металлов типа NaCl и нек-рые окислы (напр., MgO), ряд сплавов (напр., Ti— Ni). Есть большие серии изоструктурных соединений с ф-лой вида АВ2, АВ3, АВХ3 и т. п. Изоструктурны кри­сталлы мн. элементов, напр. -Fe и Cu, образующие гранецентрированную кубич. решётку, но такую же структуру имеют и отвердевшие инерт­ные газы. Если кристаллы изострук­турны и обладают одинаковым типом связи, то их называют изоморф­ными (см. Изоморфизм). Во мно­гих случаях между изоморфными кри­сталлами возможно образование не­прерывного ряда твёрдых растворов.

В геом. модели кристалла К. ис­пользует концепцию эфф. радиусов атомов, ионов и молекул (к р и с т а л л о х и м и ч е с к и е р а д и у сы). На основе эксперим. данных о рас­стояниях между атомами в кристал­лах построены таблицы кристаллохим. радиусов для всех типов связей, так что межат. расстояние равно сум­ме радиусов (св-во аддитивности кристаллохим. радиусов). Молекулы в органич. кристаллах предстают как бы окаймлённые «шубой» ван-дер-ваальсовых радиусов.

Осн. геом. представлением в К. явл. теория плотной упаковки, к-рая на­глядно объясняет расположение ато­мов в ряде металлич. и ионных струк­тур. В последнем случае использу­ется представление о заселении «пу­стот» в упаковке анионов катионами, имеющими меньший ионный радиус.

В мол. кристаллах структурной ед. плотной упаковки явл. молекула. К. органич. соединений рассматривает правила плотной упаковки молекул, связь симметрии молекул и симметрии кристалла, типы органич. структур. Особые кристаллохнм. закономерно­сти выявляются в структуре полиме­ров, жидких кристаллов, биологиче­ских кристаллов.

Координац. число К и вид координац. многогранника характеризуют хим. связь данного атома и структуры кри­сталла в целом. Напр., Be (за редкими исключениями) и Ge имеют тетраэдрич. окружение (K=4), у Аl и Cr координац. многогранник — октаэдр, у Pd и Pt — квадрат (K=4). Малые координац. числа указывают на зна­чит. роль направленной ковалентной связи, большие — на большую роль ионной или металлич. связей.

Во многих крист. структурах (гра­фит, MoS2 и др.) сосуществуют связи разл. типов. Такие структуры наз. гетеродесмическими, в от­личие от гомодесмических — с однотипной связью (алмаз, металлы,

NaCl, кристаллы инертных элементов). Для гетеродесмич. структур характер­но наличие фрагментов, внутри к-рых атомы соединены более прочными (обы­чно ковалентнымп) связями. .Эти фрагменты могут представлять собой отд. «острова», цепи, слои, каркасы. Островные структуры типичны для мол. кристаллов. Часто в кач-ве «ост­ровов» выступают отд. молекулы и многоат. ионы (напр., SO-4, NO-3, СО-3) или ат. группировки типа РtСl6 в комплексных соединениях. Ряд кри­сталлов имеет цепочечное строение, типичный пример — кристаллы поли­меров. Слоистую структуру имеют BN, MoS2, многие силикаты. Для нек-рых классов соединений характерно на­личие устойчивых структурных груп­пировок, сочетающихся в них по-раз­ному. Так, в силикатах осн. структур­ный элемент — тетраэдрич. группи­ровка SiO4 может выступать либо изо­лированной, либо образовывать пары, кольца, цепочки, слои и т. п.

Образование той или иной крист. структуры определяется общим прин­ципом термодинамики: наиболее ус­тойчива структура, к-рая при данном давлении и данной темп-ре Т имеет минимальную свободную энергию W= U-ST, где U — энергия связи кристалла (энергия, необходимая для разъединения кристалла на отд. ато­мы или молекулы) при T=0 К, S — энтропия.

Свободная энергия тем выше, чем сильнее связь в кристаллах. Она сос­тавляет 100—20 ккал/моль для крис­таллов с ковалентной связью, не­сколько меньше у ионных и металлич. кристаллов и наиболее низка для мол. кристаллов с ван-дер-ваальсовыми связями (1—10 ккал/моль). Теоретич. определение свободной энергии и предсказание структуры пока воз­можны лишь для сравнительно про­стых случаев. Они проводятся в рам­ках зонной квантовой теории тв. тела. В ряде случаев достаточно точные результаты даёт использование полуэмпирич. выражений для потенц. энер­гии вз-ствия атомов в кристаллах с тем или иным типом связи.

• Б о к и й Г. Б., Кристаллохимия, 3 изд., ., 1971; Китайгородский А. И., Органическая кристаллохимия, М., 1955; Киттель Ч., Введение в физику твердого тела, пер. с англ., М., 1978; К р е б с Г., Основы кристаллохимии неорганических со­единений, пер. с нем., М., 1971; П е н к а л я Т., Очерки кристаллохимии, пер. с польск., Л., 1974; Урусов В. С., Энергетическая кристаллохимия, М., 1975; Современная кри­сталлография, т. 2, М., 1979.

Б. К. Вайнштейн.