Список принятых докладов по секциям XXIV российской конференции по электронной микроскопии

Вид материала

Доклад

Содержание 1 «Белмикросистемы», НПО «Интеграл», 220108 Минск, ул. Корженевского, 12, Беларусь 1НИТУ «МИСиС», Москва 2НПО НИИ «ЛУЧ», Подольск Московской обл. 1НИТУ «МИСиС», Москва 1) Физико-технологический институт РАН, Moсква, Россия ИссЛЕДОВАНИЕ тонких углеродсодержащих пленок МЕТОДАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ и атомно-силовой МИКРОСКОПИИ 1. Учреждение Российской академии наук Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, Новосибирск, 630090, пр. Академи 30823, Garbsen, Germany 1Филиал МАИ «Стрела», 140180, г. Жуковский, Московская обл., ул. Жуковского ,8 Южно-Уральский государственный университет, Россия, 454080, г. Челябинск, пр. Ленина, 76 1 – Московский авиационный институт (государственный технический университет), 125993, г. Москва, А-80, ГСП-3, Волоколамское шос ИССЛЕДОВАНИЕ ДИНАМИКИ СПЕКАНИЯ КОМПОЗИТНЫХ ПОКРЫТИЙ YSZ/Al Исследование структуры поверхности И скола ПОРИСТЫХ катодов La Исследование с помощью электронной микроскопии закономерностей изменения микроструктурного состояния никелевого суперсплава 3. Методы электронной дифракции и электронная кристаллография 1Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Москва, Ленинский пр., 59 СТРУКТУРНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ НАНОМАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВЕ КВАНТОВЫХ ТОЧЕК CdS 1) Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова 1Московский государственный технологический университет(МИТХТ), 119571, Москва, пр. Вернадского, 86 3Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Москва, Ленинский пр., 59 ... Полное содержание

Подобный материал:

• Предварительная программа XXIII российской конференции по электронной микроскопии, 417.83kb.
• Организация, 1634.08kb.
• Требования к оформлению докладов, 57.52kb.
• Список принятых докладов, 185.98kb.
• Сообщения, 100.41kb.
• 20- я (XXIV) Международная конференция Российского общества ангиологов и сосудистых, 158.95kb.
• Тезисы докладов, 34.49kb.
• Программа конференции «прогресс-2012» предусматривает заслушивание и обсуждение докладов, 105.14kb.
• Программа XVII российского симпозиумА по растровой электронной микроскопии и аналитическим, 697.22kb.
• Темы докладов формулируются в рамках следующих направлений по секциям: Темы докладов, 146.53kb.

КОМПЛЕКСНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ТИТАН-ПОЛИМЕРНОГО КОМПОЗИТА МЕТОДАМИ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ И РЕНТГЕНОВСКОГО МИКРОАНАЛИЗА

А.Н. Петлицкий¹, А.С. Турцевич¹, С.В. Шведов¹, В.В. Цыбульский¹,

Л.А. Власукова², Ф.Ф. Комаров<sup>2

1</sup> «Белмикросистемы», НПО «Интеграл», 220108 Минск, ул. Корженевского, 12, Беларусь

² Белгосуниверситет, 220030, Минск, проспект Независимости, 4, Беларусь


Влияние режимов обработки на структуру композитов с алюминиевой матрицей и наноалмазными упрочняющими частицами

Попов В.А.¹, Зайцев В.А.², Ковальчук М.Н.<sup>3

1</sup>НИТУ «МИСиС», Москва

²НПО НИИ «ЛУЧ», Подольск Московской обл.

³ИПТМ РАН, Черноголовка Московской обл.


Исследование структуры нанокомпозиционных покрытий, полученных электрохимическим способом

Попов В.А.¹, Зайцев В.А.², Чернов Б.Б.³, Ходос И.И.<sup>4

1</sup>НИТУ «МИСиС», Москва

²НПО НИИ «ЛУЧ», Подольск Московской обл.

³МГУ им. адм. Г.И.Невельского, г.Владивосток

⁴ИПТМ РАН, Черноголовка Московской обл.


Структурные особенности композитов с никелевой матрицей и наноалмазными упрочняющими частицами

Попов В.А.¹, Зайцев В.А.², Ходос И.И.<sup>3

1</sup>НИТУ «МИСиС», Москва

²НПО НИИ «ЛУЧ», Подольск Московской обл.

³ИПТМ РАН, Черноголовка Московской обл.


СТРУКТУРА И СВОЙСТВА КРЕМНИЯ, ИМПЛАНТИРОВАННОГО ИОНАМИ ЦИНКА, ПО ДАННЫМ АСМ, РЭМ и РФЭС

В.В. Привезенцев¹⁾, В.С. Куликаускас²⁾, Д.В. Петров²⁾, А.Н. Макунин²⁾, П.Д.Черных²⁾, А.Б.Путрик³⁾, Ю.Ю. Лебединский⁴)

¹⁾ Физико-технологический институт РАН, Moсква, Россия

²⁾НИИЯФ им. Д.В. Скобельцина, МГУ им. М.В. Ломоносова, Moсква, Россия

³⁾УрФУ им. Б.Н.Ельцины, Екатеринбург, Россия

⁴⁾Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», Москва, Россия


Исследование микрорельефа поверхности стали, подвергшейся абразивоструйной обработке дилатантными жидкостями, методами растровой электронной микроскопии и просвечивающей электронной микроскопии

Пупченков Г.С.*, Шкловер В.Я.**, Казанский П.Р.**

* Московский Государственный Университет Приборостроения и Информатики, 107966 Москва, ул.Стромынка, д.20
** ООО «Системы для микроскопии и анализа», 119333 Москва, Ленинский проспект д.59

ФЕНОМЕНОЛОГИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ФОРМИРОВАНИЯ ПИРАМИДАЛЬНЫХ СТРУКТУР НА ПОВЕРХНОСТИ Si(111)-(7х7)

Д. И. Рогило¹, Л. И. Федина¹, С. С. Косолобов¹, А. В. Латышев¹, B. Ranguelov²

1) ИФП СО РАН, Новосибирск, 630090, пр. Академика Лаврентьева, 13

2) Institute of Physical Chemistry, Bulgarian Academy of Sciences, 1113 Sofia, Bulgaria

ЭЛЕКТРОМИГРАЦИЯ НА ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ В УСЛОВИЯХ ЭПИТАКСИАЛЬНОГО РОСТА И СУБЛИМАЦИИ

Е.Е. Родякина¹, С.С. Косолобов^{1, 2}, А.В. Латышев^{1, 2}

¹Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, 630090, г. Новосибирск, пр. Ак. Лаврентьева, 13

²Новосибирский государственный университет, 630090, г. Новосибирск, ул. Пирогова, 2

ИссЛЕДОВАНИЕ тонких углеродсодержащих пленок МЕТОДАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ и атомно-силовой МИКРОСКОПИИ

Д.М. Седловец, М.А. Князев, О.В. Трофимов, А.Н. Редькин, В.И. Корепанов.
Учреждение Российской академии наук Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (ИПТМ РАН). 142432, Московская обл., г. Черноголовка, ул. Институтская, д.6.

АТОМНЫЕ СТУПЕНИ НА ВЫСОКООРИЕНТИРОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ (111) ПРИ СУБЛИМАЦИИ

С.В. Ситников¹, C.C. Косолобов^1,2, А.В. Латышев^1,2

1. Учреждение Российской академии наук Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, Новосибирск, 630090, пр. Академика Лаврентьева, 13

2. Новосибирский Государственный Университет, Новосибирск, 630090, ул. Пирогова, 2

СТРОЕНИЕ ПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ ИНСТРУМЕНТАЛЬНОЙ СТАЛИ 1.3343

ПОСЛЕ АТМОСФЕРНОГО ПЛАЗМЕННОГО АЗОТИРОВАНИЯ

А.И. Смирнов¹, Я.С. Лизункова², А.А. Никулина¹, Т. Хассель², Ф.-В. Бах²

¹ГОУ ВПО Новосибирский государственный технический университет, Россия

630092, Новосибирск, пр. К. Маркса, 20

²Institute of Materials Science, Leibnitz University Hannover, An der Universität 2,

30823, Garbsen, Germany


Исследование влияния частиц стекла на контактной поверхности кремния КНИ тензопреобразователя на качество сращивания с опорным элементом в электростатическом поле

Л.В.Соколов¹, Н.М.Парфенов², Н.А.Агафонова³, С.О.Игошин<sup>4

1</sup>Филиал МАИ «Стрела», 140180, г. Жуковский, Московская обл., ул. Жуковского ,8,

²МАИ, 125993, ГСП-3,Волоколамское шоссе д.4,

³ИГЭУ, 153003, г.Иваново, ул. Рабфаковская, 34,

⁴ООО « Интерлаб», 127055, г. Москва, Тихвинский пер.д.11, стр.2


СТРУКТУРА ИГОЛЬЧАТОГО БЕЙНИТА В НИЗКОУГЛЕРОДИСТОЙ ТРУБНОЙ СТАЛИ

М.В. Судариков, О.В. Самойлова, М.А. Смирнов, А.Н. Мальцева,

Э.Н. Михайлова

Южно-Уральский государственный университет, Россия, 454080, г. Челябинск, пр. Ленина, 76


ИССЛЕДОВАНИЕ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИХ ОСОБЕННОСТЕЙ

СТРОЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ЗАЩИТНЫХ ПОКРЫТИЙ НА УКМ

В.С. Терентьева¹, А.Н. Астапов¹, А.И. Еремина¹, И.О. Лейпунский²,

П.А. Пшеченков², Е.С. Афанасенкова<sup>2

1</sup> – Московский авиационный институт (государственный технический университет), 125993, г. Москва, А-80, ГСП-3, Волоколамское шоссе, 4, Россия;

² – Учреждение Российской Академии наук Институт энергетических проблем химической физики РАН, 119334, г. Москва, Ленинский проспект, 38, корп. 2, Россия


ИССЛЕДОВАНИЕ ДИНАМИКИ СПЕКАНИЯ КОМПОЗИТНЫХ ПОКРЫТИЙ YSZ/Al₂O₃

О.Р. Тимошенкова, А.П. Сафронов, Е.Г. Калинина, А.М. Мурзакаев

Институт электрофизики УрО РАН, ул. Амундсена, 106, Екатеринбург, Россия, 620016. Тел.: (343) 2678782, факс: (343) 2678794, E-mail: tor@iep.uran.ru

Исследование структуры поверхности И скола ПОРИСТЫХ катодов La_1-xSr_xMnO_3-δ(LSM) И La_1-xCa_xMnO_3-δ (LCM) МЕТОДАМИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

Тимошенкова О.Р., Калинина Е.Г.

Институт электрофизики УрО РАН, ул. Амундсена, 106, Екатеринбург, Россия, 620016. Тел.: (343) 2678782, факс: (343) 2678794, E-mail: tor@iep.uran.ru

Исследование с помощью электронной микроскопии закономерностей изменения микроструктурного состояния никелевого суперсплава

при термовременных экспозициях

Е.А.Тихомирова,

ОАО «НПО ЦКТИ», г. Санкт-Петербург, 194021, Политехническая ул., д.24


3. Методы электронной дифракции и электронная кристаллография


Электронная кристаллография в исследованиИ наночастиц

А.С. Авилов¹, , М.А.Запорожец¹ С.П. Губин<sup>2

1</sup>Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Москва, Ленинский пр., 59

²Учреждение Российской академии наук Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН, 119991, Москва, Ленинский пр-т, 31,


СТРУКТУРНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ НАНОМАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВЕ КВАНТОВЫХ ТОЧЕК CdS

М.А.Запорожец¹⁾, Д.А.Баранов²⁾, В.В.Волков¹⁾, О.М.Жигалина¹⁾, В.И.Николайчик³⁾ , С.П.Губин²⁾, А.С.Авилов<sup>1)

1)</sup> Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова, ²⁾ Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН, ³⁾ Институт проблем микроэлектроники и особочистых материалов РАН


МЕТОДЫ ИЗУЧЕНИЯ КОГЕРЕНТНОЙ 4D СТРУКТУРНОЙ ДИНАМИКИ СВОБОДНЫХ МОЛЕКУЛ И КОНДЕНСИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ ВЕЩЕСТВА

А.А. Ищенко¹, В.Н. Баграташвили², А.С. Авилов<sup>3

1</sup>Московский государственный технологический университет(МИТХТ), 119571, Москва, пр. Вернадского, 86

²Учреждение Российской академии наук Институт проблем лазерных и информационных технологий РАН, 140700, М.О. г.Шатура, Ул. Святоозерская, 1

³Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Москва, Ленинский пр., 59


РОЛЬ ДИФРАКЦИИ ЭЛЕКТРОНОВ В ДИАГНОСТИКЕ НАНОСИСТЕМ

Клечковская В.В., Имамов Р.М.

Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, 119333 Москва, Ленинский пр., 59