Программа XVII российского симпозиумА по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел рэм 2011
| Вид материала | Программа |
- Предварительная программа XXIII российской конференции по электронной микроскопии, 417.83kb.
- Адсорбция газов и паров на поверхности твердых тел, 218.58kb.
- Рабочая программа механические свойства твердых тел Специальность (направление): 010400, 45.06kb.
- Программа учебной дисциплины волновые процессы в океане Магистерская программа 510414/38, 84.14kb.
- Программа учебной дисциплины сдм. В. 01 05 «Акустические волны в движущихся средах», 84.38kb.
- Тв структуры и состава поверхности твёрдых тел стимулирует как развитие традиционных, 12.54kb.
- Определение удельной поверхности материалов (твердых тел) газохроматографическим методом, 114.43kb.
- Предварительная программа семинара «Нанотехнологии: современное оборудование, координация,, 16.53kb.
- Программа-содержание понедельник, 5 июля 00-13. 00 Открытие совещания Бондаренко, 229.58kb.
- Аннотация рабочей программы учебной дисциплины «Квантовая теория твердых тел» Общее, 47.64kb.
Научный совет РАН по электронной микроскопии
Учреждение российской академии наук Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН
Учреждение российской академии наук институт кристаллографии им. А.в. Шубникова РАН
ПРОГРАММА
XVII РОССИЙСКОГО симпозиумА
по растровой электронной микроскопии
и аналитическим методам исследования твердых тел
РЭМ - 2011
г. Черноголовка, 30 мая – 3 июня 2011г.
Москва 2011
Организационный комитет:
Н.А. Киселев
М.В. Ковальчук
В.А. Тулин.
В.В. Казьмирук.
В.М. Каневский.
Н.П. Гольцова.
- сопредседатель
- сопредседатель
- сопредседатель
- заместитель председателя
- заместитель председателя
- секретарь
С.А. Дицман.
Л.А. Казьмирук
Н.А. Осипов
В.Л. Раевский.
А.А. Саранин.
А.Л. Толстихина.
Е.Б. Якимов.
^ Программный комитет:
Е.Б. Якимов
С.А. Дицман
Н.П. Гольцова
В.В. Артемов
А.Л. Васильев
Н.А. Киселев
В.И. Попенко
- председатель
- заместитель председателя
- секретарь
Р.В. Гайнутдинов
В.Н. Соколов
А.Л. Толстихина
В.А. Штейн-Марголина
Э.И. Рау
^ На Симпозиуме будут работать секции:
I. Приборы и электронная оптика
II. Растровая электронная микроскопия и анализ локального состава
III. Сканирующая зондовая микроскопия
^ IV. Наноструктуры и нанотехнологии
V. Применение растровой электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике
VI. Применение растровой электронной микроскопии в химии и геологии
VII. Применение растровой электронной, зондовой и конфокальной лазерной сканирующей микроскопии в биологии, медицине и экологии
31 мая, вторник Утро 10.00 – 14.00
Открытие конференции
Вступительное слово: Киселев Н.А.
Тулин В.А.
Пленарные доклады
А.Л. Васильев, В.В. Роддатис
^ Растровая просвечивающая электронная микроскопия
высокого разрешения наноматериалов 30 мин.
А.А. Саранин, А.В. Зотов, Д.В. Грузнев
Сканирующая туннельная микроскопия
с временным разрешением 30 мин.
Sergei Magonov
^ Studits of materials in different environments
with atomic force microscopy 30 мин.
Перерыв
Н.А. Орликовский, Э.И. Рау
О контрасте изображений в режиме
отраженных электронов в РЭМ 30 мин.
А.Н. Титков, М.С. Дунаевский, П.А. Алексеев
АСМ / ЕСМ исследования влияния поверхностных состояний
на проводимость.нитевидных кристаллов GaAs 30 мин.
^
Е.Б. Якимов
Исследование полупроводниковых структур современной микроэлектроники методами РЭМ 30 мин.
Обед 14.00 – 15.00
Вечер 15.00 – 18.00
Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования
Устные доклады
1 июня, среда Утро 9.30 – 14.00
П.С. Дорожкин, А.А. Щекин, Е.В. Кузнецов, С.В. Тимофеев, В.А. Быков
Сканирующая зондовая микроскопия в комбинации с микроскопией комбинационного рассеяния: применения при изучении современных наноматериалов 20 мин.
А.А. Романец, В.Р. Новак
Метод выделения характерных областей, занимаемыми локальными выпуклыми объектами на СЗМ изображениях 20 мин.
^
Д.В. Лебедев, А.П. Чукланов, Н.И. Нургазизов, Д.А. Бизяев,
А.А. Бухараев
Сканирующая зондовая микроскопия наночастиц, полученных отжигом металлических пленок, осажденных в сверхвысоком вакууме на поверхность пиролитического графита 20 мин.
С.О. Абетковская, С.А.Чижик, И.В. Погоцкая, З. Римуза, Д. Яжабек,
М. Михаловски, Я. Линке
^ Определение модуля упругости покрытий наноразмерной
толщины для МЭМС по результатам статической силовой спектроскопии 20 мин.
Перерыв
В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая
Низковольтная система для 2D мониторинга шаблонов
для импринт-литографии 20 мин.