Предварительная программа XXIII российской конференции по электронной микроскопии 1 июня, вторник Утро 10. 00 14. 00

Вид материала

Программа

Содержание Наблюдение атомов катионов в нанокомпозитах Дифракция электронов в пэм на одностенных углеродных нанотрубках в связи с проводящими свойствами нанотрубок STRUCTURAL INVESTIGATIONS OF LaAlO Анализ взаимного расположения большой совокупности нанообъектов и их локальная характеризация методами электронной микроскопии Врэм и асм исследования полимерных наносистем на основе наночастиц селенида цинка Oxford Instruments NanoAnalysis, UK НаноСкан Технология Intertech corporation Исследования катодолюминесценции светоизлучающих структур на основе ingan/gan Влияние дефектов структуры на люминесценцию пленок карбида кремния Л.С. Коханчик, М.В. Бородин, В.В.Щербина, А.Ю. Печенкин, С.М. Шандаров, Л. Я. Серебренников, С.А. Кузнецова, В.В. Козик Разработка электронно-оптической системы для низковольтной системы 2D мониторинга шаблонов для импринт – литографии IFG Institute for Scientific Instruments, Германия Raith GmbH, Германия Д.А.Бизяев, P.В. Юсупов, А.А.Бухараев, С.А. Мигачев, Р.Ф.Мамин МАГНИТНО – СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ФЕРРОМАГНИТНЫХ НАНОЧАСТИЦ КРЕСТООБРАЗНОЙ ФОРМЫ В.Л.Миронов, Б.А.Грибков, О.Л.Ермолаева, А.А.Фраер МИКРОСТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ ЭЛАСТОМЕРНЫХ КОМПОЗИТОВ ПРИ ПОМОЩИ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ И.А. Морозов Необычные оранжевые импактные стекла из моря кризисов. Использование двухлучевого электронного микроскопа quanta 200 3d для анализа биологических образцов 3D организация хроматина и ядрышек в соматических ядрах инфузорий ... Полное содержание

Подобный материал:

• Предварительная программа семинара «Нанотехнологии: современное оборудование, координация,, 16.53kb.
• Список принятых докладов по секциям XXIV российской конференции по электронной микроскопии, 808.69kb.
• Вторник 6 июня Утро 10. 00 – 14., 95.85kb.
• Программа XVII российского симпозиумА по растровой электронной микроскопии и аналитическим, 697.22kb.
• Примерный план работы конференции: 21 июня (вторник) с 07:, 32.24kb.
• Предварительная программа 20 июня 2006 г пленарные заседания (заказные и заявленные, 38.35kb.
• Предварительная программа организаторы конференции сибирское отделение Российской академии, 601.84kb.
• Предварительная программа конференции 09. 00 10. 00 Регистрация участников конференции., 46.65kb.
• Предварительная программа конференции 09. 00 10. 00 Регистрация участников конференции., 47.16kb.
• Программа «альпийские сказки» 3 января, вторник утро: отдых после перелета, первая, 31.82kb.

Предварительная программа XXIII Российской конференции по электронной микроскопии


1 июня, вторник Утро 10.00 – 14.00

Открытие конференции


Вступительное слово

Устные доклады

ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ПРОЦЕССОВ ФАЗОВОГО РАССЛОЕНИЯ В НАНОМАТЕРИАЛАХ

А.Л.Васильев

Структура и оптические свойства массива Si/Ge квантовых точек

Н.Д.Захаров, В.Талалаев, А.Тонких, Г.Цырлин, П.Вернер

НИЗКОВОЛЬТНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ В ИССЛЕДОВАНИИ НАНОУГЛЕРОДНАХ МАТЕРИАЛОВ

А.Л. Чувилин, J.C. Meyer, G. Algara-Siller, A.N. Khlobystov, U. Kaiser

НАБЛЮДЕНИЕ АТОМОВ КАТИОНОВ В НАНОКОМПОЗИТАХ

1Dкристалл@ОСНТ МЕТОДОМ ВРЭМ.

Н.А. Киселев, Р.М. Закалюкин, А.С. Кумсков, А.Л. Васильев, А.А. Елисеев, А.В. Кристинин


ДИФРАКЦИЯ ЭЛЕКТРОНОВ В ПЭМ НА ОДНОСТЕННЫХ УГЛЕРОДНЫХ НАНОТРУБКАХ В СВЯЗИ С ПРОВОДЯЩИМИ СВОЙСТВАМИ НАНОТРУБОК

Касумов Ю.А., Ходос И.И., Матвеев В.Н., Касумов А.Ю., Волков В.Т.


STRUCTURAL INVESTIGATIONS OF LaAlO₃ THIN FILMS DEPOSITED ON TiO₂-TERMINATED SrTiO₃

E. Nikulina, E. Pippel, W. Peng, D. Hesse, and I. Vrejoiu


Просвечивающая электронная микроскопия эволюции структуры пленок Fe₈₈Zr₁₀N₁₁ после отжига.

Д.Н. Хмеленин, О.М. Жигалина, Е.Н. Шефтель, Г.Ш. Усманова, A. Carlsson

АНАЛИЗ ВЗАИМНОГО РАСПОЛОЖЕНИЯ БОЛЬШОЙ СОВОКУПНОСТИ НАНООБЪЕКТОВ И ИХ ЛОКАЛЬНАЯ ХАРАКТЕРИЗАЦИЯ МЕТОДАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

Н.И. Боргардт, Р.Л. Волков. В.Н. Кукин, А.А. Маляров

Обед 14.00 – 15.00


15.00 – 16.00


Структура наночастиц селена, полученных в водных растворах полимеров.

Е.И. Суворова, В.В. Клечковская, А.К.Хрипунов


СТРУКТУРА САМООРГАНИЗОВАННЫХ АНСАМБЛЕЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ И МЕТАЛЛИЧЕСКИХ НАНОЧАСТИЦ НА УГЛЕРОДНЫХ ПОДЛОЖКАХ

М.А. Запорожец, Д.А. Баранов, О.М. Жигалина, В.И.Николайчик, В.В. Волков, К.А. Дембо, С.Н. Сульянов, С.П. Губин, А.С. Авилов, И.И. Ходос


ВРЭМ И АСМ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОЛИМЕРНЫХ НАНОСИСТЕМ НА ОСНОВЕ НАНОЧАСТИЦ СЕЛЕНИДА ЦИНКА

Т.Е. Суханова, Г.Н. Матвеева, М.Э. Вылегжанина, А.Я. Волков, С.В. Валуева,
Л.Н. Боровикова, Н.А. Матвеева


Вечер 16.00 – 18.00


Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования

Время	Фирма	Докладчик	Название доклада
16:00	JEOL	E. OKUNISHI Application specialist of TEM	Advanced technology of atomic level direct observation and analysis in TEM
16:30	Oxford Instruments NanoAnalysis, UK	Martyn Green	Nanoscale microanalysis with the X-Max TEM
17:00	Leica Mycrosystems	Dr. Wolfgang Grünewald	TIC 020 – unique device for preparation of cross-sections for SEM
17:20	НаноСкан Технология	Душкин И.В.	Интегрирование методик сканирующей зондовой микроскопии и оптической микроскопии.
17:40	Intertech corporation	Шафоростов А.А.	Новые технологии сканирующей зондовой микроскопии от Asylum Research.

2 июня, среда Утро 9.30 – 14.00


Метод и аппаратура электронной микротомографии в РЭМ.

Э.И. Рау

Исследования катодолюминесценции светоизлучающих структур на основе ingan/gan

П.С. Вергелес, Н.М. Шмидт, Е.Е. Якимов, Е.Б. Якимов


Исследование структурных и люминесцентных характеристик пленок нитрида галлия, выращенных на подложках из поликристаллического алмаза

А.В. Говорков, А.В. Марков, А.Я. Поляков, С.С. Малахов, М.В. Меженный, В.Ф. Павлов, М.П. Духновский, А.К. Ратникова, Ю.Ю. Федоров, О.Ю. Кудряшов, И.А. Леонтьев, В.Б. Митюхляев


Влияние дефектов структуры на люминесценцию пленок карбида кремния

Э.А.Штейнман, А.Н.Терещенко, Е.Б.Якимов, К.Н.Филонов


3D РЕКОНСТРУКЦИЯ МИКРО– И НАНОРАЗМЕРНЫХ ОБЪЕКТОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ СИСТЕМ DUAL BEAM FIB / SEM

О.Л.Голикова, А.В.Беспалов, В.Я. Шкловер, П.Р.Казанский

Планарные периодически поляризованные волноводные структуры на подложках из ниобата лития