Предварительная программа XXIII российской конференции по электронной микроскопии 1 июня, вторник Утро 10. 00 14. 00
| Вид материала | Программа |
- Предварительная программа семинара «Нанотехнологии: современное оборудование, координация,, 16.53kb.
- Список принятых докладов по секциям XXIV российской конференции по электронной микроскопии, 808.69kb.
- Вторник 6 июня Утро 10. 00 – 14., 95.85kb.
- Программа XVII российского симпозиумА по растровой электронной микроскопии и аналитическим, 697.22kb.
- Примерный план работы конференции: 21 июня (вторник) с 07:, 32.24kb.
- Предварительная программа 20 июня 2006 г пленарные заседания (заказные и заявленные, 38.35kb.
- Предварительная программа организаторы конференции сибирское отделение Российской академии, 601.84kb.
- Предварительная программа конференции 09. 00 10. 00 Регистрация участников конференции., 46.65kb.
- Предварительная программа конференции 09. 00 10. 00 Регистрация участников конференции., 47.16kb.
- Программа «альпийские сказки» 3 января, вторник утро: отдых после перелета, первая, 31.82kb.
Е.А.Максимовский, М.Л. Косинова, С.А. Прохорова,
Б.М. Аюпов, П.Н. Гевко, Ю.М. Румянцев
Характеризация нанокристаллических пленок TiCN
Максимовский Е.А., Файнер Н.И., Румянцев Ю.М., Косинова М.Л., Кеслер В.Г.
ВЛИЯНИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ ВЫСУШИВАНИЯ НАНОЧАСТИЦ ГИДРОКСИДА ЖЕЛЕЗА НА ИХ РАЗМЕРЫ И МОРФОЛОГИЮ.
А.А. Новакова, А.Р. Савилов, И.И. Пузик, В.В. Левина
ИССЛЕДОВАНИЕ структуры наноалмазных порошков и ЛУКОВИЧНООБРАЗНЫХ УГЛЕРОДНЫХ НАНОЧАСТИЦ
В.А.Попов, И.И.Ходос, М.Н.Ковальчук, В.А.Зайцев В.В.Роддатис
ОПРЕДЕЛЕНИЕ ДРОБНОЙ РАЗМЕРНОСТИ ФРАКТАЛЬНЫХ СТРУКТУР ПО ДАННЫМ ЭЛЕКТРОННОЙ И АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
В.С. Фантиков, Л.Ю. Аммон, В.А. Жабрев, В.И. Марголин
2 июня, среда Вечер 16.00 – 18.00
Секция III. Приборы и электронная оптика
Разработка методов детектирования сигналов для электрон-оптического in-situ мониторинга периодических структур
М.Ю. Барабаненков, В. В. Казьмирук, Т. Н. Савицкая.
ТЕСТ-ОБЪЕКТ МШПС-2.0К В ПРОСВЕЧИВАЮЩЕМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ
А.Л. Васильев, В.Б. Митюхляев, Ю.А. Новиков,
Ю.В.Озерин, А.В. Раков, П.А. Тодуа
ВЛИЯНИЕ СПИН-ПОЛЯРИЗАЦИИ МАГНИТНЫХ МОМЕНТОВ ЭЛЕКТРОНОВ НА ФОРМИРОВАНИЕ КРОССОВЕРА
Б.Н.Васичев, Г.И.Фатьянова
НЕЛИНЕЙНЫЕ ПРОЦЕССЫ В ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМАХ
Б.Н.Васичев, Г.И.Фатьянова
ПРИМЕНЕНИЕ СИСТЕМЫ С ФОКУСИРОВАННЫМ ИОННЫМ ПУЧКОМ FEI FIB 200 ДЛЯ ПРИГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
Р.Л. Волков, Н.И. Боргардт, В.Н. Кукин
НАНОРАЗМЕРНЫЕ СТАНДАРТНЫЕ ОБРАЗЦЫ НА БАЗЕ ТРЕКОВЫХ ПОЛИМЕРНЫХ МЕМБРАН
И.Г. Григоров, С.В. Борисов, Е.В. Поляков, О.В.Шепатковский,
Н.А. Хлебников, Л.Н. Ромашев, Б.А. Логинов, Ю.Г. Зайнулин,
Г.П. Швейкин
Взаимодействие электронного пучка с полем кристаллической решётки и представления волновой оптики
Т.А. Гришина, О.Д. Потапкин, В.Ю. Гришина, А.А. Мельников
Мареев А.А.
ФРАКТАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ И ФИЛЬТРАЦИЯ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ИЗОБРАЖЕНИЙ НАНОСТРУКТУР
Б.Н. Грудин, В.С. Плотников, А.В. Кириллов, Н.А. Смольянинов, О.В. Войтенко, Е.Б. Модин
Восстановление катода LaB6 для электронного микроскопа
с помощью фокусированного ионного пучка
Ю.А. Дёмин, М.А. Кузнецова, А.Ю. Савенко, А.В. Сорокин
оптимизация режимов регистрации вторично-эмиссионных сигналоВ при 2d-метрологии наноструктур
Н.Н. Дремова, В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая
КАЛИБРОВКА ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ДАТЧИКОВ НАНОПЕРЕМЕЩЕНИЙ СКАНИРУЮЩИХ ЗОНДОВЫХ МИКРОСКОПОВ
Ж.Е. Желкобаев, В.В. Календин, А.Ю.Кузин, П.А.Тодуа, Ю.В.Чихалов
УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ДИСПЕРГАТОР ДЛЯ ПРЕПАРИРОВАНИЯ ОБЪЕКТОВ В ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ПОЛИМЕРОВ
В.Ю. Жовклый, А.И. Чемерис, А.Г. Филатова, И.И. Чемерис,
К.З. Гумаргалиева, Т.В. Волкова, Е.М. Белавцева
МОДЕЛИРОВАНИЕ ОБЪЕКТИВА МАЛОГАБАРИТНОГО РЭМ
В.Ф.Истов, В.Ф.Диано, Б.Н. Васичев
Разработка формирующей линзы для низковольтных электронно-зондовых систем высокого разрешения
В.В. Казьмирук, Т.Н. Савицкая
МИКРОСКОП НА ИОНАХ КСЕНОНА ДЛЯ НАНОМОДИФИКАЦИИ И АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ
З. Калбитцер, В.А.Жуков
МЕТОДИКА ПРИГОТОВЛЕНИЯ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ МАТЕРИАЛОВ НЕУСТОЙЧИВЫХ НА ВОЗДУХЕ
М.Н. Ковальчук, В.И. Николайчик, М.А. Запорожец
О преобразовании функций плотности в задачах линейной электронной оптики
Ю.В. Куликов, Д.А. Широков
ОПРЕДЕЛЕНИЕ НАРУШЕННОГО СЛОЯ В ПРИПОВЕРХНОСТНОЙ ОБЛАСТИ МОНОКРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ ПРИ ОБЛУЧЕНИИ ИОНАМИ ГАЛЛИЯ
А.И.Мартынов, В.Б.Митюхляев, А.Ю.Озерин, П.А.Тодуа
Рентгеновский спектрометр с неохлаждаемым полупроводниковым детектором на основе монокристаллов
тройных твердых растворов Cd1-xZnxTe
А.А. Мельников, О.А. Мельников, О.Д. Потапкин
ТЕСТ-ОБЪЕКТЫ ДЛЯ АВТОМАТИЗИРОВАННЫХ ИЗМЕРЕНИЙ
НА РЭМ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ ЭЛЕМЕНТОВ МИКРОСХЕМ
В НАНОМЕТРОВОЙ ОБЛАСТИ
Ю.А. Новиков, А.В. Раков, П.А. Тодуа, М.Н. Филиппов
энергетическое распределение вторичных электронов В сканирующем ионном гелиевом микроскопе.
Ю.В. Петров, О.Ф. Вывенко.
Лоренцева микроскопия в исследовании особенностей микромагнитного разбиения аморфных и нанокристаллических сплавов переходной металл-редкоземельный металл, переходной металл-металлоид
В.С. Плотников, А.П. Глухов, Б.Н. Грудин, Е.В. Пустовалов, И.С. Смирнов, А.В. Кириллов, С.В. Должиков
ЗАВИСИМОСТЬ КОЭФФИЦИЕНТА СБОРА РЭМ ОТ ГЕОМЕТРИИ ПРОСТРАНСТВА ПОД ЛИНЗОЙ
О.Д.Потапкин, А.А.Мельников, О.А.Мельников, В.П Кононов.
КАТОДНАЯ ЛИНЗА “ИГЛА НАД ПЛОСКОСТЬЮ” И ЕЁ ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА
О.Д.Потапкин, А.В.Андреев
НОВЫЙ МЕТОД ТРЕХМЕРНОЙ РЕКОНСТРУКЦИИ НАНО- И МИКРОРЕЛЬЕФА ПО СЕРИЯМ РАЗНОФОКУСНЫХ РЭМ-СТЕРЕОИЗОБРАЖЕНИЙ
В.Н. Соколов, О.В. Разгулина, Д.И. Юрковец, М.С. Чернов
2 июня, среда Вечер 16.00 – 18.00
Секция IV. Растровая электронная микроскопия