Предварительная программа XXIII российской конференции по электронной микроскопии 1 июня, вторник Утро 10. 00 14. 00
| Вид материала | Программа |
- Предварительная программа семинара «Нанотехнологии: современное оборудование, координация,, 16.53kb.
- Список принятых докладов по секциям XXIV российской конференции по электронной микроскопии, 808.69kb.
- Вторник 6 июня Утро 10. 00 – 14., 95.85kb.
- Программа XVII российского симпозиумА по растровой электронной микроскопии и аналитическим, 697.22kb.
- Примерный план работы конференции: 21 июня (вторник) с 07:, 32.24kb.
- Предварительная программа 20 июня 2006 г пленарные заседания (заказные и заявленные, 38.35kb.
- Предварительная программа организаторы конференции сибирское отделение Российской академии, 601.84kb.
- Предварительная программа конференции 09. 00 10. 00 Регистрация участников конференции., 46.65kb.
- Предварительная программа конференции 09. 00 10. 00 Регистрация участников конференции., 47.16kb.
- Программа «альпийские сказки» 3 января, вторник утро: отдых после перелета, первая, 31.82kb.
Создание и изучение свойств индивидуальных точечных эмиттеров на микроскопе Quanta 200 3D
В.В. Артемов, А. А. Елисеев, Л.Н.Демьянец
АНАЛИЗ ФАЗОВОГО СОСТАВА ОТОЖЖЕННЫХ ПЛЕНОК
ОЛОВО-ФУЛЛЕРЕН МЕТОДОМ EBSD
Л.В. Баран
ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И СОСТАВА ПЛАТИНОВОГО БАЗОВОГО ЭЛЕКТРОДА ДЛЯ ОСАЖДЕНИЯ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНОК PZT НА КРЕМНИЕВЫЕ ПОДЛОЖКИ
В.Г. Бешенков, А.Г. Знаменский, В.А. Марченко
ИССЛЕДОВАНИЯ Структуры и электрических свойств лент кремния методами РЭМ
С.К. Брантов, О.В. Феклисова, Е.Б. Якимов
ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ ВОЛЬФРАМОВОЙ ПРОВОЛОКИ И СПИРАЛЕЙ.
Г.С. Бурханов, В.М. Кириллова, В.В. Сдобырев, В.А.Кузьмищев,
В.А. Дементьев
ИЗМЕРЕНИЕ НА РЭМ РАЗМЕРОВ ЭЛЕМЕНТОВ РЕЗИСТОВЫХ
МАСОК С ШИРИНОЙ ЛИНИИ ДО 30 НМ
К.А. Валиев, В.П. Гавриленко, Е.Н. Жихарев, В.А. Кальнов,
Ю.А. Новиков, А.А. Орликовский, А.В. Раков, П.А. Тодуа
ЗЕРЕННАЯ СТРУКТУРА БЫСТРОЗАТВЕРДЕВШИХ ФОЛЬГ ИНДИЯ И ЕГО СПЛАВОВ С ЦИНКОМ И СУРЬМОЙ
Ван Цзинцзе, С.В. Гусакова,В.Г. Шепелевич
Исследование электрических и люминесцентных характеристик пленок AlGaN с азотной и галлиевой полярностью, выращенных методом молекулярной эпитаксии
А.В. Говорков, А.Я. Поляков, Н.Б. Смирнов, К.С. Журавлев, В.Г. Мансуров2, Д.Ю. Протасов2
Исследование зависимости энергии отраженных электронов от угла их выхода.
А.В. Гостев, С.А. Дицман, В.Г. Дюков,
Е.С. Иванова, Ф.А. Лукьянов, Э.И. Рау, Р.А.Сеннов
ИССЛЕДОВАНИЕ ЗЕРЕННОЙ СТРУКТУРЫ ОЛОВА МЕТОДОМ ДИФРАКЦИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ (EBSD)
О.В. Гусакова, В.Г. Шепелевич
ЛОКАЛЬНАЯ ДИАГНОСТИКА ГЕТЕРОЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СТРУКТУР HgCdTe С БУФЕРНЫМИ СЛОЯМИ ZnTe И CdTe
С.А. Дворецкий, Ю.Н. Долганин, В.В. Карпов, Н.Н. Михайлов, Н.Н. Михеев, А.А. Муханова, А.Н. Поляков, М.А. Степович
ИССЛЕДОВАНИЕ В РЭМ ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ ФТОРИДОВ, АКТИВИРОВАННЫХ ИОНАМИ РЕДКИХ ЗЕМЕЛЬ
К.М.Девяткова, Л.И.Девяткова, В.Б.Тверской
УТОЧНЕНИЕ ПРЕДСТАВЛЕНИЙ О МЕХАНИЗМЕ ЗАРЯДКИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МИШЕНЕЙ
Е.Н. Евстафьева, Э. И. Рау, Р.А. Сеннов, А.А. Татаринцев, Б.Г. Фрейнкман
Электронно-индуцированный потенциал в РЭМ. Особенности изучения электрической активности протяженных дефектов в Si
В.Г. Еременко, Н.А. Орликовский, Э.И. Рау
Прямое измерение диаметра и распределения плотности тока в кроссовере электронного зонда.
С.И. Зайцев, Н.А. Кошев, Ф.А. Лукьянов, Э.И. Рау, Е.Б. Якимов
ИССЛЕДОВАНИЕ В РЭМ ПРОЦЕССА НИЗКОТЕМПЕРАТУРНОГО СПЕКАНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ МОЩНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ С ПОМОЩЬЮ НАНОЧАСТИЦ СЕРЕБРА.
В.А. Злобин, Ю.Г. Сорокин, В.В. Козлов
ИССЛЕДОВАНИЯ КУБИЧЕСКОГО НИТРИДА БОРА МЕТОДАМИ ЦКЛ И ЦКЛВСР В РАСТРОВОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ
П.В. Иванников, А.И. Габельченко, О.Р. Абдуллаев, А.Д. Гладкова М.Ю.Филатов
ИССЛЕДОВАНИЕ ИЗОЛЯЦИИ p-i-n ДИОДОВ МЕТОДОМ ЦКЛ В РЭМ
П.В. Иванников, А.В. Кузьменков, А.И. Габельченко, М. Ю Филатов, О.Р. Абдуллаев
ИЗУЧЕНИЕ МИКРОСТРУКТУРЫ ВОЛОКОННЫХ СВЕТОВОДОВ С СЕРДЦЕВИНОЙ ИЗ КРЕМНИЯ МЕТОДОМ ДИФРАКЦИИ ОБРАТНО РАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ
Л.Д.Исхакова, С.В.Лаврищев, В.В.Вельмискин, Н.Н.Кононов, В.Г.Плотниченко, С.Л.Семёнов, акад. Е.М.Дианов
ИССЛЕДОВАНИЕ ДИНАМИКИ ОБРАЗОВАНИЯ ЗАГРЯЗНЕНИЯ УГЛЕВОДОРОДНОЙ ПЛЕНКОЙ В РАСТРОВЫХ ЭЛЕКТРОННЫХ МИКРОСКОПАХ
Куприянова Т.А., Филиппов М.Н., Швындина Н.В., Шкловер В.Я.
ИСКАЖЕНИЕ ПРОФИЛЯ ЭЛЕМЕНТОВ РЕЛЬЕФА В ПРОЦЕССЕ КОНТАМИНАЦИИ В РЭМ
Ю.В.Ларионов, В.Б.Митюхляев, С.Л.Федоров, М.Н.Филиппов, В.А.Шаронов, П.А.Тодуа
ИССЛЕДОВАНИЕ МОРФОЛОГИИ ПОВЕРХНОСТЕЙ ТРЕНИЯ МЕТОДОМ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ
Е.А.Любченко, С.И.Аксенова
Изучение процесса электронно-стимулированной активации катодолюминесценции в аморфном диоксиде кремния
В.В.Никитин
Локальный состав тонких пленок и дефектов магнитных полупроводников Si:Mn и Si:Co
Д.Е. Николичев, А.В. Боряков, А.С. Вихорев, Е.С. Демидов, С.Ю. Зубков, В.П. Лесников, В.В. Подольский, С. А. Левчук
МОРФОЛОГИЯ ПОВЕРХНОСТИ И ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ ПЛЕНОК PbSe1-xTex
И.Р. Нуриев, С.С. Фарзалиев, А.К. Шарифова
ИССЛЕДОВАНИЕ МУЛЬТИКРИСТАЛЛОВ СОЛНЕЧНОГО КРЕМНИЯ МЕТОДОМ РЭМ
Л.А. Павлова, А.И. Непомнящих, С.М. Тарасова
тепловое воздействие импульсного электронного облучения используемого при формировании доменных структур в ниобате лития
И.И. Разгонов, Л.С. Коханчик
Исследование оптических свойств наностержней ZnO методами катодолюминесценции
А.Н.Редькин, А.Н.Грузинцев, Е.Б.Якимов, Е.Е. Якимов
ЭВОЛЮЦИЯ ЗЕРЕН ПРИ СИНТЕЗЕ ПОРОШКА EuLaCuS3
А.В. Русейкина, О.В. Андреев
PHOTOELECTRICAL PROPERIES OF In/p-Cu(In1-xGax)(S1-ySey)2 SURFACE-BARRIER STRUCTURES
Yu.V. Rud, V.F. Gremenok, E.P. Zaretskay, V.B. Zalesski, V.S. Syakersky, U.V. Tsybulski, V.A. Ukhov, K. Bente
ПРИМЕНЕНИЕ РАСТРОВОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЦЕССОВ ОКИСЛЕНИЯ И КОРРОЗИИ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКОГО ПАЛЛАДИЯ
А.Н. Саланов, Е.А. Супрун, В.В. Никулин
СТАтиСТИЧЕСКий анализ модели коллективного движения неосновных носителей заряда, генерированных электронным пучком в кремнИи с использованием ПРОЕКЦИОННого МЕТОДа
Е.В. Серегина, А.М. Макаренков, М.А. Степович
3 июня, четверг Утро 10.00 – 13.00
Секция VIII. Применение электронной, зондовой и конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине
Методы современной микроскопии в оценке структуры и динамики биокоррозионного повреждения грибами конструкционного алюминий–магниевого сплава Амг6 в модельных экспериментах
Т.А. Алехова, В.Я. Шкловер, Н.В.Швындина, А.Л. Васильев,
Т.Ю. Новожилова, Н.А.Загустина, А.Д. Плотников
Структурные аномалии микроспор томатов при различных условиях вирусного патогенеза
Л.И. Андроник
Ультраструктурная организация хлоропластов картофеля, трансформированного геном desA ∆12-ацил-липидной десатуразы
Н.В. Астахова, И.Н. Дёмин, Н.В. Нарайкина, Т.И. Трунова
УЛЬТРАСТРУКТУРА ЭРИТРОЦИТОВ ПРИ ЛАЗЕРНОМ
ОБЛУЧЕНИИ ДОНОРСКОЙ КРОВИ
И.М. Байбеков, А. Ф. Ибрагимов, А.Х Бутаев.