Список принятых докладов по секциям XXIV российской конференции по электронной микроскопии

Вид материала

Доклад

Содержание КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ ОСОБЕННОСТИ НАНОТРУБОК СОСТАВА БОР-УГЛЕРОД-АЗОТ С Al ФГБНУ «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов», 142190, Московская область, г. Троицк, ул. Централь 2Учреждение РАН «Институт кристаллографии РАН им.А.В.Шубникова» 119333 Россия, Москва, Ленинский пр., 59 Национальный исследовательский университет «МИЭТ», 124498, Москва, пр. 4806, д. 5 Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток, Суханова 8, 690950 Институт физики полупроводников СО РАН, Новосибирск, 630090, пр. Лаврентьева, 13 Институт электрофизики УрО РАН, ул. Амундсена, 106, Екатеринбург, Россия, 620016. Тел.: (343) 2678782, факс: (343) 2678794, E-ma 1Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 119333 Ленинский проспект, 59, Москва, Рос 1Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии Электронная микроскопия платинированных углеродных носителей для каталитических систем топливных элементов 1Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии Структура двойного окисла UMo 1 Birck Nanotechnology Center, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA 1 Институт кристаллографии РАН, г. Москва ННГУ им. Н.И. Лобачевского, 603950, г. Нижний Новгород, пр. Гагарина, 23 1Волгоградский государственный технический университет,400005, Волгоград, пр. Ленина 28 Синтез и структура сферических наночастиц y 1)Учреждение Российской академии наук Институт физики твердого тела РАН, Черноголовка Московской обл. Национальный исследовательский университет «МИЭТ», 124498, Москва, Зеленоград, проезд 4806, д. 5 1 Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Москва, 119333, Россия ... Полное содержание

Подобный материал:

• Предварительная программа XXIII российской конференции по электронной микроскопии, 417.83kb.
• Организация, 1634.08kb.
• Требования к оформлению докладов, 57.52kb.
• Список принятых докладов, 185.98kb.
• Сообщения, 100.41kb.
• 20- я (XXIV) Международная конференция Российского общества ангиологов и сосудистых, 158.95kb.
• Тезисы докладов, 34.49kb.
• Программа конференции «прогресс-2012» предусматривает заслушивание и обсуждение докладов, 105.14kb.
• Программа XVII российского симпозиумА по растровой электронной микроскопии и аналитическим, 697.22kb.
• Темы докладов формулируются в рамках следующих направлений по секциям: Темы докладов, 146.53kb.

Список принятых докладов по секциям XXIV Российской конференции по электронной микроскопии


1. Просвечивающая электронная микроскопия (аналитическая, низковольтная, растровая)


АТОМНАЯ СТРУКТУРА ТРЕКОВ ИОНОВ КСЕНОНА В КОМПОЗИТНЫХ ВТСП НА ОСНОВЕ YBCO (123).

Л.Х. Антонова¹, Г.Н.Михайлова¹, А.В.Троицкий¹, А.Ю.Дидык², Т.Е Демихов³, Е.И.Суворова<sup>4

1</sup>Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, Москва

²Лаборатория ядерных реакций им. Г.Н.Флерова ОИЯИ, Дубна

³Физический институт им. П.Н.Лебедева РАН, Москва

⁴Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Москва

ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОКРИСТАЛЛОВ CdS, СФОРМИРОВАННЫХ В ПЛЁНКАХ ЛЕНГМЮРА-БЛОДЖЕТТ

С. А. Бацанов, А. К. Гутаковский

ИФП СО РАН, Новосибирск, 630090, пр. Академика Лаврентьева, 13

КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ АТОМНОГО ПОРЯДКА АМОРФНОГО ГЕРМАНИЯ ВБЛИЗИ ГРАНИЦЫ С КРИСТАЛЛОМ КРЕМНИЯ МЕТОДАМИ ВРЭМ

Н.И. Боргардт¹, М. Зайбт², К. Тиль²

¹Национальный исследовательский университет «МИЭТ», 124498, Москва, Зеленоград, проезд 4806, д. 5

²4-й Физический институт Геттингенского университета, Геттинген, ФРГ

КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ ОСОБЕННОСТИ НАНОТРУБОК СОСТАВА БОР-УГЛЕРОД-АЗОТ С Al₂O₃ В КАЧЕСТВЕ НАПОЛНИТЕЛЯ

Ю.С. Буранова, В.Д. Бланк, Б.А. Кульницкий, И.А. Пережогин,

Е.В. Поляков

ФГБНУ «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов», 142190, Московская область, г. Троицк, ул. Центральная 7а

Исследование межслоевых границ ZrN/ScN сверхрешеток, применяемых в высокотемпературных термоэлектрических преобразователях энергии, методами просвечивающей электронной микроскопии

Polina V.Burmistrova, Timothy D. Sands, Dong Su, Eric Stach

ИССЛЕДОВАНИЕ границ раздела гетеросистем методом просвечивающей растровой электронной микроскопии

А.Л. Васильев^1,2, В.В. Роддатис¹.

¹НИЦ «Курчатовский институт», 123182 Россия, Москва, пл. Академика Курчатова, д. 1.

²Учреждение РАН «Институт кристаллографии РАН им.А.В.Шубникова» 119333 Россия, Москва, Ленинский пр., 59

ЭЛЕКТРОННАЯ ТОМОГРАФИЯ И МОРФОЛОГИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ СТРУКТУРЫ АМОРФНЫХ И НАНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СПЛАВОВ СИСТЕМ CoW-CoNiW И CoP-CoNiP

О.В. Войтенко¹, Е.Б. Модин¹, Е.В. Пустовалов¹, Б.Н. Грудин¹, В.С. Плотников¹, С.С. Грабчиков², Л.Б. Сосновская ²

¹Дальневосточный Федеральный Университет, г. Владивосток, Суханова 8, 690950

² ГНПО «Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению», г. Минск, П.Бровки 19, 220072

ИДЕНТИФИКАЦИЯ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ВКЛЮЧЕНИЙ В УГЛЕСИТАЛЛЕ

Р.Л. Волков, Н.И. Боргардт, В.Н. Кукин

Национальный исследовательский университет «МИЭТ», 124498, Москва, пр. 4806, д. 5

Морфометрические и спектральные признаки для классификации наноструктур в аморфных сплавах

Б.Н. Грудин, В.С. Плотников, С.В. Полищук, Н.А. Смольянинов, Е.Б. Модин

Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток, Суханова 8, 690950

Применение сканирующей просвечивающей электронной микроскопии для изучения магнитной структуры ферромагнитных частиц

С.А.Гусев, А.Ю.Климов, Е.В.Скороходов

Учреждение Российской академии наук ИФМ РАН, ГСП-105, г.Н.Новгород

ИССЛЕДОВАНИЕ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ НИЗКОРАЗМЕРНЫХ СИСТЕМ МЕТОДАМИ АНАЛИТИЧЕСКОЙ ПРОСВЕЧИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ
А.К. Гутаковский, А.В. Латышев

Институт физики полупроводников СО РАН, Новосибирск, 630090, пр. Лаврентьева, 13


СТРУКТУРНЫЕ ОСОБЕННОСТИ НАНОПОРОШКОВ ДИОКСИДА ОЛОВА, ПОЛУЧЕННЫЕ ЛАЗЕРНЫМ ИСПАРЕНИЕМ

Т.М. Дёмина, А.И. Медведев, А.М. Мурзакаев, О.М. Саматов,

Е.Ю. Соболева, О.Р. Тимошенкова

Институт электрофизики УрО РАН, ул. Амундсена, 106, Екатеринбург, Россия, 620016. Тел.: (343) 2678782, факс: (343) 2678794, E-mail: Aidar@iep.uran.ru


ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ ПЛЁНОК BiFeO₃

О.М. Жигалина¹, Д.Н. Хмеленин ¹, К.А. Воротилов², А.А. Мазитов²,

И.С. Серёгин<sup>2

1</sup>Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 119333 Ленинский проспект, 59, Москва, Россия

²Московский государственный институт радиотехники электроники и автоматики (ТУ), 119434 Проспект Вернадского, 78, Москва, Россия


электронная микроскопия ультратонких слоев металла на носителе ОСНТ

О.М. Жигалина¹, А.Л. Чувилин², В.Г. Жигалина¹, Е.Н. Никулина²,

Е.К. Тусеева³, О.А. Хазова³, Н.А. Киселев<sup>1

1</sup>Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии

имени А.В. Шубникова РАН, 119333, Москва, Ленинский проспект, 59, Россия

² Nanoscience research center CIC nanoGUNE, 20012, San Sebastián, Basque Country (Spain)

³Институт физической химии и электрохимии имени А.Н. Фрумкина РАН, 119991, Москва, Ленинский проспект, 31, Россия


Электронная микроскопия платинированных углеродных носителей для каталитических систем топливных элементов

О.М. Жигалина¹, И.И. Пономарев², В.Г. Жигалина¹, Д.Н. Хмеленин¹, В.В. Гребенев¹, Д.Ю. Разоренов², Ив.И. Пономарев², Н.А. Киселев<sup>1

1</sup>Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии

им. А.В. Шубникова РАН, 119333, Москва, Ленинский проспект, 59, Россия

²Учреждение Российской академии наук Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова РАН, 119997, ГСП-1, Москва, ул. Вавилова, 28, Россия


Структура двойного окисла UMo₄O₁₄

Н.Д.Захаров, E.Пиппель, Р.Хиллебранд, П.Вернер

Max-Planck Institute of Microstructure Physics, Weinberg 2, 06120 Halle/Saale, Germany


Просвечивающая электронная микроскопия дефектов в нано-пирамидальных структурах на основе нитрида индия-галлия для использования в светоизлучающих диодах

Д.Н. Захаров,¹ R. Colby,^1,2 I.H. Wildeson,^1,3 Z. Liang,² N. Zaluzec,⁴ R.E. Garcia,²

T.D. Sands,^1,2,3 and E.A. Stach<sup>1,2

1</sup> Birck Nanotechnology Center, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA

² School of Materials Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA

³ School of Electrical and Computer Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA

⁴ Electron Microscopy Center, Argonne National Laboratory, Argonne, IL 60439


СТРУКТУРА НАНОКОМПОЗИТА 1D катионный проводник@ОСНТ

Н.А. Киселев¹, А.С. Кумсков¹, Р.М. Закалюкин¹, А.Л. Васильев¹,

А.А. Елисеев², А.В. Крестинин³, Б. Фрейтаг⁴.

¹ Институт кристаллографии РАН, г. Москва

² МГУ, Факультет наук о материалах

³ Институт проблем химической физики РАН

⁴ FEI Company, Эйндховен, Нидерланды