Список принятых докладов по секциям XXIV российской конференции по электронной микроскопии
| Вид материала | Доклад |
- Предварительная программа XXIII российской конференции по электронной микроскопии, 417.83kb.
- Организация, 1634.08kb.
- Требования к оформлению докладов, 57.52kb.
- Список принятых докладов, 185.98kb.
- Сообщения, 100.41kb.
- 20- я (XXIV) Международная конференция Российского общества ангиологов и сосудистых, 158.95kb.
- Тезисы докладов, 34.49kb.
- Программа конференции «прогресс-2012» предусматривает заслушивание и обсуждение докладов, 105.14kb.
- Программа XVII российского симпозиумА по растровой электронной микроскопии и аналитическим, 697.22kb.
- Темы докладов формулируются в рамках следующих направлений по секциям: Темы докладов, 146.53kb.
Е.П. Криничная1, О.П. Иванова1, С.А. Завьялов2, И.А. Мисуркин2,
С.В. Титов2, Е.И. Григорьев2, Т.С. Журавлева1
1 Учреждение Российской академии наук Институт биохимической физики
им. Н.М. Эмануэля РАН, 119334, г. Москва, ул. Косыгина, 4
2 ГНЦ РФ Научно-исследовательский физико-химический институт им. Л.Я. Карпова, 103064, Москва, ул. Воронцово поле, 10
МЯГКИЙ ПОДВОД АСМ-ЗОНДА К ПОВЕРХНОСТИ ОБРАЗЦА
И.М. Маловичко
Россия, 124482, Москва, Зеленоград, Корпус 100 ЗАО «НТ-МДТ»,
Россия, 141700, Московская область, г. Долгопрудный, Институтский переулок, МФТИ.
ИЗМЕРЕНИЕ ЖЕСТКОСТИ КАНТИЛЕВЕРА ПО СПЕКТРУ ТЕПЛОВЫХ ШУМОВ.
И.М. Маловичко
Россия, 124482, Москва, Зеленоград, Корпус 100 ЗАО «НТ-МДТ»,
Россия, 141700, Московская область, г. Долгопрудный, Институтский переулок, МФТИ.
МАГНИТНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ МАССИВОВ ВЗАИМОДЕЙСТВУЮЩИХ ФЕРРОМАГНИТНЫХ НАНОЧАСТИЦ
В.Л. Миронов, О.Л. Ермолаева, Е.В. Скороходов
Институт физики микроструктур РАН, 603950, г. Нижний Новгород, ГСП-105
МАГНИТНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ ДОМЕННЫХ СТЕНОК В ФЕРРОМАГНИТНЫХ НАНОПРОВОЛОКАХ
В.Л. Миронов, О.Л. Ермолаева, Е.В. Скороходов
Институт физики микроструктур РАН, 603950, г. Нижний Новгород, ГСП-105
НАНОСТРУКТУРЫ В ЭЛЕКТРООСАЖДЕННЫХ ПЛЕНКАХ CdS
К.А. Мить1, М.Б. Дергачева2, И.М. Дармадаса3
1)Физико-технический Институт , Алматы, 050032, ул.Ибрагимова,1. mit@sci.kz
2)Институт органического катализа и электрохимии им. Д.В.Сокольского
Алматы 050010 Кунаева 142 E-mail: m_dergacheva@mail.ru
3) Materials & Engineering Research Institute, Sheffield Hallam University, Sheffield S1 1WB, United Kingdom.
АСМ исследование морфологии поверХности эпитаксиальных пленок Pb1-xMnxТе (Se) ПОДВЕРГНУТЫХ -ОБлучениЮ
И.Р. Нуриев, Р.М. Садыгов, М.Б. Гаджиев, Р.М. Мамишова*, Т.И. Керимова*
Институт физики НАН Азербайджана, AZ1143, Баку, пр.Г.Джавида, 33
*Институт радиационных проблем НАН Азербайджана, АZ1143, Баку, ул.Б. Вагабзаде, 9
Температурная динамика доменной структуры в облученном микроволнами сегнетоэлектрике триглицинсульфат
Г.И.Овчинникова, А.К.Малышкин, Ю.А.Пирогов, Н.В.Белугина*, Р.В.Гайнутдинов*, А.Л.Толстихина*, Е.С. Иванова*
Физический факультет МГУ им. М.В. Ломоносова, 119991 Москва, Ленинские горы,1/2
*Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 119333 Москва, Ленинский просп., 59
Магнитная структура и процесс перемагничивания микропровода Fe73,9B13,2Si10,9C2
Н.Н. Орлова, А.С.Аронин, С.И.Божко, В.С.Горнаков, Ю.С.Кабанов
Институт физики твердого тела РАН, 142432, Черноголовка Московской области, ул. Академика Осипьяна, д. 2
АДСОРБЦИЯ ФУЛЛЕРЕНОВ C60 НА РЕКОНСТРУИРОВАННЫХ ПОВЕРХНОСТЯХ КРЕМНИЯ
А. А. Саранин, А. В. Зотов, Д. В. Грузнев, Матецкий А.В., Бондаренко Л.Н.
Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, Владивосток, ул. Радио, 5
Дальневосточный федеральный университет, Владивосток, ул. Суханова, 8
Исследование топологии поверхности ПЛАТИНОВОЙ ПЛЕНКИ С ПОМОЩЬЮ СТМ ДО И ПОСЛЕ ЕЕ ОБРАБОТКИ В ПЛАЗМЕ ВЧ-ИНДУКЦИОННОГО РАЗРЯДА
Р.В. Селюков, В.В. Наумов, И.И. Амиров
Ярославский Филиал Учреждения Российской академии наук Физико-технологического института РАН, 150007, г. Ярославль, ул. Университетская, д. 21
ГЕНЕРАЦИЯ ВТОРОЙ ГАРМОНИКИ НАМИКРОДОМЕННЫХ СТРУКТУРАХ, ЗАПИСАННЫХ В КРИСТАЛЛАХ SrxBa1-xNb2O6 МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
Л.В. Симагина1, Р.В. Гайнутдинов1, Т.Р. Волк1, И.Д.Мишина, С.В. Семин2, Н.А. Ильин2, А.Л. Толстихина1, Л.И. Ивлева3
1 ИКРАН, Ленинский пр., 59, Москва, 119333
2 МГТУ МИРЭА, Проспект Вернадского, д.78, Москва, 119454,
3 ИОФРАН, ул. Вавилова, 38, Москва, 119991
ОСОБЕННОСТИ АНОМАЛЬНОГО ТОКОПРОТЕКАНИЯ В НАНОСИСТЕМАХ In/PbTe В ПРОЦЕССЕ ИЗМЕРЕНИЙ МЕТОДОМ СКАНИРУЮЩЕЙ МИКРОСКОПИИ СОПРОТИВЛЕНИЯ РАСТЕКАНИЯ
Ю.М. Спивак, В.А. Мошников
Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» 197376, Россия, Санкт-Петербург, ул. Проф. Попова, д.5
ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ СТРУКТУРЫ СКВИД’А НА ОСНОВЕ БИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ДЖОЗЕФСОНОВСКИХ НАНОМОСТИКОВ ИЗ ПЛЕНКИ YBa2Cu3O7
Е.А. Степанцов
Институт кристаллографии имени А.В.Шубникова Российской академии наук, Россия, 119333 Москва, Ленинский пр. 59
КОМПЛЕКСНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ДОМЕННОЙ СТРУКТУРЫ СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ КРИСТАЛЛОВ СЕМЕЙСТВА ТРИГЛИЦИНСУЛЬФАТА
А.Л. Толстихина, Н.В. Белугина, Р.В. Гайнутдинов
Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 119333 Москва, Ленинский проспект 59
CТМ-исследование адсорбции фуллеренов и их фторпроизводных на поверхности SI(111)
В.Э. Фахриев, Р.З. Бахтизин