Отчет за 2006/07 учебный год

Вид материалаОтчет

Содержание


Цель изучения дисциплины
Структура тем
Объем времени и виды учебной работы
Цель изучения дисциплины
Структура тем
Объем времени и виды учебной работы
Подобный материал:
1   2   3   4   5   6

Технологии и материалы электронной техники



Кредиты: 3

Аннотация дисциплины:

Приводится обзор современных материалов электронной техники: металлов, полупроводников, диэлектриков, сверхпроводников, магнитных материалов, композиционных и наноматериалов. Излагаются физические основы и проводятся практические лабораторные работы по современным вакуумным технологиям, включая технологию молекулярно-лучевой эпитаксии.

Цель изучения дисциплины:

Ознакомить студентов с концепциями новых материалов и технологий, требуемыми для решения инженерных и исследовательских задач, в том числе наукоемкой технологии, ориентированной на развитие новых материалов и изделий, а также обозначить место основ материаловедения в формировании умения студентов решать соответствующие задачи.

Структура тем:
  1. Общая классификация материалов по составу, свойствам и техническому назначению. Методы исследования материалов и элементов электронной техники. Электронные свойства металлов, сплавов, полупроводников, диэлектриков, сверхпроводников. Современные композитные материалы, наноматериалы, фуллерены и нанотрубки.
  2. Характеристика и основные физико-химические, электрические и оптические свойства элементарных полупроводников, полупроводниковых соединений и твердых растворов, примеры реализации полупроводниковых структур в приборах и устройствах электроники.
  3. Основные физические процессы в диэлектриках (поляризация, пробой, диэлектрические потери), активные и пассивные диэлектрические материалы и элементы на их основе.
  4. Магнитные материалы и элементы общего назначения. Высокотемпературные сверхпроводники, элементы устройств сильноточной и слаботочной сверхпроводящей электроники.
  5. Основные этапы производства электровакуумных и полупроводниковых приборов, интегральных микросхем: формообразование изделий из металлов, термопластических и порошковых материалов, технология функционального монтажа, нанесения тонких покрытий.
  6. Тенденции развития методик неинвазивного оценивания. Тенденции фундаментальных исследований в области технологий неразрушающего контроля, в том числе медицинского приборостроения, материаловедения и предотвращения загрязнения окружающей среды.

Объем времени и виды учебной работы:

Лекции – 34 часа, лабораторные занятия и компьютерное моделирование – 17 часов, самостоятельная работа – 17 часов.

Составил профессор С.Г. Овчинников


Физические основы интроскопии



Кредиты: 3

Аннотация дисциплины:

Приводится обзор элементов теории проникающих под поверхность композитных материалов физических полей применительно к интроскопии микроструктурных параметров и неинвазивной оценки физических свойств. Прогрессивные методы интроскопии включают в себя компьютеризированную визуализацию, основанную на полевых соотношениях, явлениях рассеяния, анализе изображений, методах обращения и обработки сигналов. Современная методология интроскопии является наукоемкой технологией и составляет ядро этого курса.

Цель изучения дисциплины:

Ознакомить студентов с концепциями интроскопии, требуемыми для решения инженерных и исследовательских задач, в том числе наукоемкой технологии, ориентированной на развитие новых материалов и изделий, а также обозначить место основ интроскопии в формировании умения студентов решать соответствующие задачи.

Структура тем:
  1. Обзор прогрессивных методов интроскопии (сдвиговая лазерная интроскопия, визуализация поверхностных ультразвуковых волн, акустическая и микроволновая микроскопия, ультразвуковая томография).
  2. Основы ультразвуковой интроскопии. Уравнение Навье и его декомпозиция. Распространение ультразвуковых волн в упругих телах. Граничные условия. Принципы геометрической акустики. Объемные волны. Отражение и преломление объемных волн. Приложения к количественной ультразвуковой интроскопии.
  3. Физические основы радиоволновой интроскопии. Электромагнитные волны в направляющих системах с распределенными параметрами. Взаимодействия электромагнитного поля с тестируемым объектом. Электромагнитные средства измерения объема, массы, однородности среды и иных физических характеристик. Обработка сигналов и изображений.
  4. Физические основы методов токовихревой интроскопии. Базовые уравнения электромагнитного поля в проводящей и слабопроводящей средах. Теоретические основы моделирования токовихревых датчиков. Обработка сигналов.
  5. Методы диэлькометрии. Модели взаимодействия электрического поля с композитными диэлектрическими средами. Диэлектрическая спектрометрия. Неразрушающий контроль углепластиков. Неразрушающий комбинированный контроль адгезивных соединений.
  6. Перспективы развития методик неинвазивного оценивания. Тенденции фундаментальных исследований в области технологий неразрушающего контроля, в том числе медицинского приборостроения, материаловедения и предотвращения загрязнения окружающей среды.

Объем времени и виды учебной работы:

Лекции – 34 часа, лабораторные занятия и компьютерное моделирование – 17 часов, самостоятельная работа – 17 часов.

Составил профессор Я.И. Бульбик