Geum.ru

Учебный план повышения квалификации научно-педагогических работников государственных образовательных учреждений высшего профессионального образования, находящихся в ведении Федерального агентства по образованию по направлению

Вид материалаЛекции

Содержание


Федеральное агентство по образованию
Учебно-тематический план
Итоговый экзамен
Подобный материал:
ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ


Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования

«БЕЛГОРОДСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»


«УТВЕРЖДАЮ»


Первый проректор,

проректор по научной работе


_______________Т.М. Давыденко


«_04__»__сентября _________2009г.


УЧЕБНЫЙ ПЛАН

повышения квалификации научно-педагогических работников государственных образовательных учреждений высшего профессионального образования,

находящихся в ведении Федерального агентства по образованию


по направлению Проблемы естественнонаучного образования


«Микроскопические методы анализа структуры и свойств наноматериалов»


Белгород 2009

Цель: краткосрочное повышение квалификации научно-педагогических работников государственных образовательных учреждений высшего профессионального образования


Категория слушателей: научно–педагогические работники государственных образовательных учреждений высшего профессионального образования


Срок обучения 72 часа, 4 месяца


Форма обучения с отрывом от работы


Режим занятий 6-8 часов в день


№

п/п
Наименование разделов,

дисциплин и тем
Всего, час.
в том числе
Форма контроля

Лекции
Практические, лабораторные, семинарские занятия и др.

1
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
24
8
16



2
Растровая электронная микроскопия (РЭМ)
24
8
16



3
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ)
20
8
12



4
Итоговая аттестация
4



4
итоговый экзамен




Итого

72
24
48





ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ОБРАЗОВАНИЮ

Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования «БЕЛГОРОДСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»


«УТВЕРЖДАЮ»

Первый проректор,

проректор по научной работе


_______________Т.М.Давыденко


«_04_»__сентября____2009 г.


УЧЕБНО-ТЕМАТИЧЕСКИЙ ПЛАН

повышения квалификации научно-педагогических работников государственных образовательных учреждений высшего профессионального образования,

находящихся в ведении Федерального агентства по образованию


по направлению «Проблемы естественнонаучного образования»


«Микроскопические методы анализа структуры и свойств наноматериалов»


Белгород

2009

Цель: краткосрочное повышение квалификации научно-педагогических работников государственных образовательных учреждений высшего профессионального образования


Категория слушателей: научно – педагогические работники государственных образовательных учреждений высшего профессионального образования


Срок обучения 72 часа, 4 месяца


Форма обучения с отрывом от работы


Режим занятий 4 часа в день


№

п/п
Наименование разделов,

дисциплин и тем
Всего, час.
в том числе
Форма контроля

Лекции
Практические, лабораторные, семинарские занятия и др.

1.
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
24
8
16



1.1.
Основы просвечивающей электронной микроскопии, устройство микроскопа (Jeol JEM-2100).
2
2






1.2.
Взаимодействие электронного луча с веществом, дифракция электронов.

4
4






1.3.
Методы аналитической электронной микроскопии.
2
2






1.4.
Получение тонких фольг электро-полировкой (работа на приборе TENUPOL-5).
2



2



1.5.
Ионная полировка образцов (работа на приборе Fischione 1010).
2



2



1.6.
Вакуумное напыление тонких пленок, реплики (работа на универсальном вакуумном посте JEE-420).
2



2



1.7.
Анализ микроструктуры поликристаллов, методы регистрации изображения, определение размера структурных элементов.
3



3



1.8.
Методы анализа дефектов кристаллического строения, границы зерен и дислокации.
3



3



1.9.
Дифракция электронов, определение кристаллографической ориентации кристаллитов.

4



4



2.
Растровая электронная микроскопия (РЭМ)

24
8
16



2.1.
Основы растровой электронной микроскопии.
2
2






2.2.
Устройство и работа растрового электронного микроскопа Quanta 200 3 D.

6
2
4



2.3.
Дифракция обратно-рассеянных электронов – кикучи-линии.
6
2
4



2.4.
Энергодисперсионный микроанализ
6
2
4



2.5.
Подготовка объектов для исследования
4



4



3.
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ)
20
8
12



3.1.
Основы сканирующей зондовой микроскопии, устройство микроскопа NTegra Aura
8
4
4



3.2.
Сканирующая туннельная и атомно-силовая микроскопия
6
2
4



3.3.
Электросиловая и магнитно-силовая микроскопия
6
2
4



4.
Итоговая аттестация
4



4
Итоговый экзамен




Итого

72
24
44





Программу разработал:


Иванов Олег Николаевич, профессор, заместитель директора по научно-исследовательской работе Центра коллективного пользования научным оборудованием «Диагностика структуры и свойств наноматериалов»,
доктор физико-математических наук, профессор кафедры общей физики, старший научный сотрудник.


«01» июня 2009 г.