[по имени амер физика И. А. Раби (I. I. Rabi)], резонансный метод исследования магн моментов ядер, атомов и молекул и внутримол

Вид материала

Документы

Содержание Релаксация акустическая Т и величиной т: чем меньше отношение /Т Релаксация напряжений Реликтовое излучение Спектр эл.-магн. фонового излучения Все­ленной. Сплошной линией показаны резуль­таты наблюдений, пунктиром — теор. оцен­ки. Комптона эффект) РЕЛЯТИВИСТСКАЯ ИНВАРИАНТ­НОСТЬ (лоренц-инвариантность) Релятивистская квантовая механика Релятивистская механика Релятивистская скорость Релятивистские эффекты Ренормализационная инва­риантность А. В. Ефремов. Рентгеновская камера Дебая — Шеррера метод) Рентгеновская микроскопия Рентгеновская спектроско­пия Спектральная аппаратура рентгеновская). Рентгеновская топография В. Г. Лютцау. ... Полное содержание

Подобный материал:

• 32. Эволюция понятия элементарная частица. Неизменность свойств ядер, атомов, молекул, 827.07kb.
• Молекулярная физика и термодинамика статистический и термодинамический методы Молекулярная, 12.67kb.
•  Элементы квантовой механики и физики атомов, молекул, твердых тел, 156.85kb.
• X международная конференция Импульсные лазеры на переходах атомов и молекул ampl, 299.2kb.
• Магнитные свойства молекул, 29.04kb.
• Моделирование структур молекул по Огжевальскому, 61.04kb.
• Десятая новая лекция аксиомы единства канарёв, 209.76kb.
• Программа-минимум кандидатского экзамена по специальности, 79.71kb.
• Молекулярная физика и термодинамика. Лекция №1 Молекулярно-кинетическая теория Основные, 10053.18kb.
• Вегето- резонансный тест Оценка по методу Кузьменко (метод Накатани) Диабат (метод, 12.28kb.

^ РЕЛАКСАЦИЯ АКУСТИЧЕСКАЯ, внутренние процессы восстановления термодинамич. равновесия среды, на­рушаемого сжатиями и разрежениями в звук. волне (см. Релаксация). Энергия поступат. движения ч-ц среды в звук. волне переходит на их внутр. степени свободы, возбуждая их, в результате чего уменьшается энергия, приходя­щаяся на поступат. движение. Поэто­му Р. а. всегда сопровождается пог­лощением звука, а также дисперсией звука.

Характерный механизм Р. а. в га­зах — обмен энергией между поступа­тельными и внутр. степенями свободы молекул. Р. а. может быть колебательной и вращательной, при этом звук. энергия расходуется на возбуждение соответственно колебат. и вращат. сте­пеней свободы молекул. В газах и жид­костях возможна также электронная Р. а., при к-рой возбуждаются электронные уровни молекул; структурная, когда под действием УЗ происходит перестройка внутр. структуры жид­кости; химическая, при к-рой под дей­ствием УЗ протекают хим. реакции, и т. п. В тв. телах, напр., при рас­пространении УЗ в полупроводниках и металлах акустич. волна нарушает равновесное распределение эл-нов проводимости, что приводит к допол­нит. поглощению волны.

Релаксац. процесс обычно характе­ризуется временем релаксации т, к-рое зависит от микроскопич. свойств в-ва, таких, как число соударений молекул газа в ед. времени и эффек­тивность передачи энергии при этих соударениях. В газе при заданной темп-ре время т прямо пропорц. числу соударений, необходимых для возбуж­дения соответствующих степеней сво­боды. Величина т зависит от темп-ры и давления, поскольку при изменении этих величин изменяется частота со­ударений между молекулами.

Влияние релаксац. процессов на аку­стич. волну зависит от соотношения между её периодом ^ Т и величиной т: чем меньше отношение /Т, тем полнее успевает восстановиться нарушенное равновесие; чем это отношение боль­ше, тем в меньшей степени равновесие восстанавливается. Наиболее заметно влияние Р. а. на акустич. волну про­является на частотных зависимостях скорости и поглощения звука: вблизи т. н. частот релаксации _р=1/ на­блюдаются сильная дисперсия скорости звука и максимум коэфф. поглощения звука на длину волны.

• Мандельштам Л. И., Леонтович М. А., К теории поглощения зву­ка в жидкостях, «ЖЭТФ», 1937, т. 7, в. 3; Физическая акустика, под ред. У. Мэзона, пер. с англ., т. 2, ч. А и Б, М., 1968—69; Михайлов И. Г., С о л о в ь е в В. А., Сырников Ю. П., Основы молекулярной акустики, М., 1964.

A. Л. Полякова.

^ РЕЛАКСАЦИЯ НАПРЯЖЕНИЙ, в механике деформируемого тв. тела явление самопроизвольного уменьшения напряжения с течением времени при неизменной деформации. Напр., в растянутой проволоке при неизменном удлинении растягивающая сила со временем уменьшается, стремясь к [ нек-рому предельному значению. Ско­рость Р. н. возрастает при повышении темп-ры. См. также Релаксация.

B. С. Ленский.

^ РЕЛИКТОВОЕ ИЗЛУЧЕНИЕ, одна из составляющих общего фона косм. эл.-магн. излучения. Р. и. равномерно распределено по небесной сфере и по интенсивности соответствует тепловому излучению абсолютно чёрного I тела при темп-ре ок. 3 К, обнаружено амер. учёными А. Пензиасом и Р. Уилсоном в 1965 (Нобелевская пр., 1978).

Р. и. является осн. составляющей яркости неба в диапазоне от дециметровых до субмиллиметровых радиоволн (рис.). Оно фактически определяет плотность энергии эл.-магн. излучения во Вселенной, а также плотность числа фотонов (ок. 400 в 1 см³.

634


что соответствует 0,25 эВ/см³). На каждый атом во Вселенной приходится более 100 млн. фотонов Р. и. Св-ва Р. и. хорошо согласуются с предло­женной в 1946 амер. физиком Г. А. Гамовым гипотезой т. н. горячей модели Вселенной, согласно к-рой плазма и эл.-магн. излучение на ранних ста­диях расширения Вселенной обладали



^ Спектр эл.-магн. фонового излучения Все­ленной. Сплошной линией показаны резуль­таты наблюдений, пунктиром — теор. оцен­ки.


высокой плотностью и темп-рой (>10⁹ К и выше; см. Космология). В ходе космологич. расширения Все­ленной темп-ра горячей плазмы и нахо­дящегося с ней в термодинамич. рав­новесии излучения падала. При достижении темп-ры ~ 4000 К про­изошла рекомбинация протонов и эл-нов, после чего равновесие образовав­шегося нейтр. в-ва (водорода и гелия) с излучением нарушилось — кванты излучения уже не обладали необхо­димой для ионизации в-ва энергией и проходили через него, как через про­зрачную среду. Темп-ра обособив­шегося излучения продолжала сни­жаться и к нашей эпохе составила ок. 3 К. Т. о., это излучение сохрани­лось до наших дней как реликт от эпохи рекомбинации и образования нейтр. атомов Н и Не.

Р. и. участвовало и участвует в важнейших крупномасштабных про­цессах во Вселенной и поэтому должно нести на себе отпечаток этих процессов. Одно из св-в Р. и.— изотропность -показывает, что значительных по ве­личине неоднородностей плотности, способных затем привести к образо­ванию галактик, в момент рекомбина­ции не было (давление излучения ме­шало конденсации в-ва). Если бы на ранних стадиях развития Вселенной заметную роль играли процессы, сопровождающиеся значит. энерговы­делением (аннигиляция пар и др.), то они исказили бы хар-р спектра Р. и., близкий к спектру излучения абсолют­но чёрного тела. Обнаружение таких особенностей в спектре Р. и. позволило бы уточнить тепловую эволюцию Все­ленной. В совр. эпоху Р. и. благодаря своей высокой плотности определяет время существования релятив. эл-нов и др. ч-ц космических лучей со сверх­высокими энергиями в межгалактич. пр-ве. Эл-ны, сталкиваясь с фотонами

Р. и., отдают им энергию и тормозят­ся. Энергия реликтовых фотонов при этом возрастает во много раз (обрат­ный ^ Комптона эффект), и они могут попасть в рентг. диапазон. Таково, возможно, происхождение косм. фо­нового рентг. излучения. При столк­новении с фотонами Р. и. протонов и ядер косм. лучей ядра расщепляются, а соударения с протонами приводят к рождению электрон-позитронных пар, -мезонов и др. ч-ц. С этими процес­сами связывают практич. отсутствие в косм. лучах ч-ц с энергией 10²⁰ эрг, а также малое кол-во тяжёлых ядер. Эксперименты показали, что темп-ра Р. и. практически не зависит от направления наблюдения. Однако обнаружен эффект, связанный с дви­жением Солнечной системы и Галакти­ки относительно фона Р. и. Вследствие Доплера эффекта фотоны Р. и., ле­тящие навстречу наблюдателю, ка­жутся более энергичными, чем дого­няющие наблюдателя. На небесной сфере удалось выделить две диаметрально противоположные области, в к-рых отмечается относит. повыше­ние и понижение темп-ры Р. и., выз­ванное движением Солнца относитель­но системы координат, связанной с Р. и. Оказалось, что Солнце движется со скоростью 390±60 км/с в направлении созвездия Льва. В связи с этим Р. и. можно рассматривать как своеобраз­ную выделенную систему координат во Вселенной.

• Зельдович Я. Б., Новиков И. Д., Строение и эволюция Вселен­ной, М., 1975; Вайнберг С., Первые три минуты, пер. с англ., М., 1981; Физика кос­моса, М., 1976 (Маленькая энциклопедия).

^ РЕЛЯТИВИСТСКАЯ ИНВАРИАНТ­НОСТЬ (лоренц-инвариантность), ин­вариантность (неизменность) законов природы относительно преобразований Лоренца, вытекающая из относитель­ности теории. Р. и. выражает рав­ноправие всех инерциальных систем отсчёта; в силу Р. и. ур-ния, описы­вающие любые физ. процессы, имеют во всех таких системах одинаковый вид. Р. и. жёстко ограничивает класс допустимых физ. ур-ний и поэтому играет фундам. роль при поисках новых физ. закономерностей.

^ РЕЛЯТИВИСТСКАЯ КВАНТОВАЯ МЕХАНИКА, раздел теор. физики, в к-ром рассматриваются релятив. квант. законы движения микрочастиц (эл-нов и др.) в т.н. о д н о ч а с т и ч н о м п р и б л и ж е н и и. Реля­тив. эффекты велики при энергиях ч-цы, сравнимых с её энергией покоя. При таких энергиях может происхо­дить рождение ч-ц (реальных или виртуальных), поэтому рассмотрение одной ч-цы в общем случае неправо­мерно. Последоват. описание свойств релятив. квант. ч-ц возможно только в рамках квантовой теории поля. Однако в нек-рых задачах образова­ние ч-ц можно не учитывать и исполь­зовать волн. ур-ния, описывающие движение одной ч-цы (одночастичное приближение). Так находят, напр.,

релятив. поправки к ат. уровням энергии (определяющие тонкую струк­туру). Такой подход явл. логически незамкнутым, поэтому Р. к. м., в к-рой рассматриваются задачи подоб­ного типа, в отличие от релятив. квант. теории поля и нерелятив. квант. механики, не существует как последоват. теория. Основой расчётов в Р. к. м. служат релятив. обобщения Шрёдингера уравнения: Дирака урав­нение для эл-нов и др. ч-ц со спином ¹/₂ (в ед. ћ) и Клейна — Гордона — Фока уравнение для ч-ц со спином 0. И. Ю. Кобзарев.

^ РЕЛЯТИВИСТСКАЯ МЕХАНИКА, раздел теор. физики, рассматриваю­щий классич. законы движения тел (ч-ц) при скоростях движения v, сравнимых со скоростью света с. Р. м. основана на спец. теории относитель­ности. Осн. ур-ния Р. м.— релятив. обобщение 2-го закона Ньютона и релятив. закон сохранения энергии-импульса — удовлетворяют требова­ниям принципа относительности Эйн­штейна. Из них, в частности, следует, что скорость матер. объектов не может превышать с. При v<<с Р. м. пере­ходит в классич. механику Ньютона. См. Относительности теория.

^ РЕЛЯТИВИСТСКАЯ СКОРОСТЬ, ско­рость v, близкая к скорости света с. Ч-ца, движущаяся с Р. с., наз. р е л я т и в и с т с к о й. Энергия сво­бодной релятивистской частицы ξ=m₀c²(1-v²/с²) сравнима или больше удвоенной энергии покоя ч-цы: ξ2 m₀c²(m₀ — масса покоя ч-цы); если ξ>>m₀c², ч-ца наз. у л ь т р а р е л я т и в и с т с к о й.

^ РЕЛЯТИВИСТСКИЕ ЭФФЕКТЫ, физ. явления, наблюдаемые при скоростях тел (ч-ц) v, сравнимых со скоростью света с. К ним относятся: релятив. со­кращение продольных (в направлении движения тела) длин, релятив. замед­ление времени, увеличение массы тела с ростом его энергии и т. п., рассмат­риваемые в частной (специальной) относительности теории. Для квант. систем ч-ц (атомов, ат. ядер и др.), в к-рых относит. движение ч-ц проис­ходит со скоростями v <<с, Р. э. дают поправки к уровням энергии, пропорц. степеням отношения v/c (см. Спин-орбитальное взаимодействие). Реля­тивистскими наз. также эффекты об­щей теории относительности (реля­тив. теории тяготения), напр. эффект замедления течения времени в силь­ном гравитац. поле (см. Тяготение).

^ РЕНОРМАЛИЗАЦИОННАЯ ИНВА­РИАНТНОСТЬ, требование самосог­ласованности процедуры перенорми­ровки, состоящее в том, что наблюдае­мые физ. величины, вычисленные с помощью первоначальных и ренормированных параметров, должны сов­падать. Ренормированные параметры можно вводить по-разному (см. Пере-

635


нормировка); переходы от одного спо­соба введения параметров к другому составляют р е н о р м а л и з а ц и о н н у ю г р у п п у.

^ А. В. Ефремов.

РЕНОРМИРОВКА, то же, что перенор­мировка.

РЕНТГЕН (Р, R), внесистемная ед. экспозиц. дозы рентг. и гамма-излуче­ний, определяемая по их ионизирую­щему действию на сухой атм. воздух. Названа в честь нем. физика В. К. Рент­гена (W. К. Rötgen). При дозе 1 Р в объёме воздуха 1 см³ образуется такое число положит. и отрицат. ионов, что суммарно они несут 1 ед. заряда СГС каждого знака. 1 Р= 2,57976•10^-4 Кл/кг.

^ РЕНТГЕНОВСКАЯ КАМЕРА, прибор для изучения и контроля ат. струк­туры образца путём регистрации на фотоплёнке картины, возникающей при дифракции рентгеновских лучей на исследуемом образце. Применяется в рентгеновском структурном ана­лизе, рентгенографии материалов, рентгеновской топографии. Назначе­ние Р. к.— обеспечить выполнение ус­ловий дифракции рентг. лучей соглас­но Брэгга — Вульфа условию и получе­ние рентгенограмм.

Источником излучения для Р. к. Служит рентгеновская трубка. Р. к. конструктивно различны в зависимо­сти от их назначения (камеры для исследования монокристаллов, поли­кристаллов, для рентг. топографии, для получения малоугловых рентгено­грамм и др.). Все Р. к. (см. приве­дённые ниже рис.) содержат колли­матор, узел установки образца, кассету (плоскую или цилиндрическую) с фотоплёнкой, механизм движе­ния образца (а иногда и кассеты).



Рис. 1. Гониометрич. головка: О — образец; Д—дуго­вые направляющие для наклона образ­ца во взаимно пер­пендикулярных на­правлениях; МЦ — механизм центри­ровки образца, слу­жащий для выве­дения центра дуг, в к-ром находится образец, на ось вращения камеры.


Коллиматор формирует рабочий пучок первичного излучения. Вместо него иногда применяется кристалл-монохроматор, к-рый создаёт узкий пучок рентг. излучения определённых длин волн (монохроматич. излучение). В ка­честве монохроматора используют также селективно поглощающие фильт­ры.

Узел установки образца служит для закрепления образца в держателе и задания ему определённого положения относительно первичного пучка, для выведения образца на ось вращения (центрировки), а в Р. к. для исследо­вания монокристаллов — для наклона образца на гониометрич. головке (рис. 1).



Рис. 2. Осн. схемы рентг. камер для ис­следования поликри­сталлов: а — дебаевская камера; б — фо­кусирующая камера с изогнутым кристаллом - монохроматором для исследования об­разцов «на просвет»

(область малых углов дифракции); в — фокусирующая камера для обратной съёмки (большие углы дифракции) на плоскую кассету. Стрелками показаны направления пря­мого и дифрагированного пучков. О — образец; F— фокус рентг. трубки; М — кристалл-монохроматор; К — кассета с фотоплёнкой Ф; Л — ловушка, перехватывающая пер­вичный пучок; ФО — окружность фокусировки, по к-рой располагаются дифракц. максимумы; КЛ — коллиматор; МЦ — механизм центрировки образца.



Рис. 3. Схемы осн. типов рентг. камер для исследования монокристаллов: а — камера для исследования неподвижных кристаллов по методу Лауэ; б — камера вращения; вра­щение образца осуществляют с помощью шестерёнок 1 и 2, колебание — через капоид 3 и рычаг 4; в — рентг. камера для определения размеров и формы элем. ячей­ки. О — образец; ГГ — гониометрич. го­ловка; v — лимб и ось поворота гониомет­рич. головки; КЛ — коллиматор; К — кас­сета с фотоплёнкой Ф; КЭ — кассета для съёмки эпиграмм (обратная съёмка); МД — механизм вращения и колебания образца; Ф — лимб и ось колебания образца; 6 — дуговая направляющая наклонов оси гонио­метрич. головки.


В Р. к. для исследования поли­кристаллов (рис. 2) применяют как параллельный первичный пучок (дебаевские Р. к.; см. ^ Дебая — Шеррера метод), так и расходящийся (фокуси­рующие Р. к.). Р. к. для исследования монокристаллов конструктивно раз­личны в зависимости от назначения (Р. к. для получения лауэграмм, Р. к. вращения-колебания для изме­рения параметров крист. решётки, Р. к. для определения типа элем. ячейки; рис. 3). Р. к., регистрирующие все дифракц. максимумы (рефлексы) отдельно один от другого (развёртки слоевых линий), наз. рентгеновскими гониометрами. В рентг. гониометрах и Р. к. для рентг. топографии кассета перемещается или вращается син­хронно с образцом.

Для исследования аморфных и стек­лообразных тел и р-ров применяют Р. к., регистрирующие рассеяние рентг. лучей под малыми углами дифракции (малоугловые Р. к.).

• Уманский М. М., Аппаратура рентгеноструктурных исследований, М., 1960; Гинье А., Рентгенография крис­таллов, пер. с франц., М., 1961; Ф и н к е л ь В. А., Высокотемпературная рент­генография металлов, М., 1968; его же, Низкотемпературная рентгенография метал­лов, М., 1971.

В. В. Зубенко.

^ РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ, совокупность методов исследования микроскопич. строения объектов с по­мощью рентгеновского микроскопа. Р. м. находит применение для иссле­дования строения разл. объектов в ме­дицине, минералогии (рис. 1), металловедении (рис. 2) и др. областях нау­ки и техники.



Рис. 1. Рентгеновская микрофотография же­лезной руды: а — си­ликат железа; б — магнетит. Увеличе­ние в 50 раз.



Рис. 2. Снимки микроструктуры одних и тех же участков сплава алюминия с 5% меди, полученные с помощью оптич. (а) и рентг. (б) микроскопов. Вверху и внизу представлены снимки сплавов, кристалли­зовавшихся при разной скорости охлажде­ния (180 град/мин и 1 град/мин соотв.). Снимок в рентг. излучении выявляет более тонкое строение микрозёрен сплава (микродендриты — тёмные полосы, скопления ато­мов по границам субзёрен — светлые ли­нии). На верхних снимках увеличение в 250 раз, на нижних — в 100 раз.


636


С помощью рентг. мик­роскопа можно оценить кач-во окрас­ки или тонких покрытий, оклейки или отделки миниатюрных изделий, получать микрорентгенографии биол. срезов толщиной до 200 нм. Его используют для анализа сплавов лёг­ких и тяжёлых металлов, при изуче­нии внутр. строения непрозрачных для света и электронов объектов. Об­разцы при этом не нужно помещать в вакуум: они не подвергаются разру­шению.

• См. лит. при ст. Рентгеновский микроскоп.

В. Г. Лютцау.

^ РЕНТГЕНОВСКАЯ СПЕКТРОСКО­ПИЯ, получение рентгеновских спект­ров испускания и поглощения и их использование в исследованиях элек­тронной энергетич. структуры атомов, молекул и тв. тел. К Р. с. относят также рентгеноэлектронную спектро­скопию, исследование зависимости ин­тенсивности тормозного и характеристич. спектров от напряжения на рентг. трубке (метод изохромат), спектроскопию потенциалов возбужде­ния.

Характеристич. спектры испускания регистрируются рентг. спектрометра­ми (см. ^ Спектральная аппаратура рентгеновская). Их исследуют по за­висимости интенсивности излучения от энергии рентг. фотона. Форма и поло­жение линий в рентг. спектрах испус­кания несут информацию об энерге­тич. распределении плотности состоя­ний внеш. эл-нов атома, позволяют экспериментально выявить симметрию их волновых функций и их распределе­ние между сильно связанными лока­лизованными эл-нами атома и кол­лективизированными эл-нами твёрдого тела.

Исследуя по рентг. спектрам погло­щения зависимость коэфф. поглощения от энергии рентг. фотонов, получают сведения об энергетич. распределении плотности свободных электронных состояний. Спектр. положение грани­цы спектра поглощения и максимумов его тонкой структуры позволяют найти кратность зарядов ионов в соединениях (её можно определить во мн. случаях и по смещениям осн. линий спектра испускания). Р. с. даёт возможность также установить симметрию ближ­него окружения атома, а также приро­ду хим. связи. Далёкая тонкая струк­тура Р. с., исследуемая с помощью синхротронного излучения, даёт ин­формацию о типе и расположении атомов в ближайшем окружении от того атома, спектр к-рого получают, а также об их расстояниях друг от друга. Рентг. спектры, возникающие при бомбардировке атомов мишени тяжёлыми ионами высокой энергии, дают возможность судить о распреде­лении излучающих атомов по кратно­сти внутр. ионизации. Спектры самих летящих ионов позволяют исследовать динамику распада состояний внутр. ионизации ионов с сильно ободранной

электронной оболочкой. Рентгеноэлектронная спектроскопия находит приме­нение для определения энергии внут­ренних уровней атомов, для химиче­ского анализа и изучения валентных состояний атомов в химических соеди­нениях.

• Баринский Р. Л., Нефедов В. И., Рентгено-спектральное опреде­ление заряда атомов в молекулах, М., 1966; Зимкина Т. М., Фомичев В. А., Ультрамягкая рентгеновская спектроскопия, Л., 1971; Немошкаленко В. В., Рентгеновская эмиссионная спектроскопия металлов и сплавов, К., 1972; Azaroff L. V. (ed.), X-ray spectroscopy, N. Y.—[a. o.], 1974; Рентгеновские спектры молекул, под ред. А. В. Николаева, Новосиб., 1977; Майзель А., Леонхардт Г., Capган Р., Рентгеновские спектры и химиче­ская связь, пер. с нем., К., 1981.

М. А. Блохин.

^ РЕНТГЕНОВСКАЯ ТОПОГРАФИЯ, совокупность рентг. дифракц. методов изучения разл. дефектов строения в почти совершенных кристаллах. К таким дефектам относятся: блоки и границы структурных элементов, дефекты упаковки, дислокации, скоп­ления атомов примесей. Осуществляя дифракцию рентгеновских лучей на кристаллах разл. методами «на про­свет» и «на отражение» в спец. рент­геновских камерах, регистрируют диф­ракц. изображение кристалла — т о п о г р а м м у, расшифровывая к-рую получают информацию о дефектах в кристаллах.

Физ. основу методов Р. т. составляет дифракц. контраст в изображении разл. областей кристалла в пределах о д н о г о д и ф р а к ц и о н н о г о п я т н а. Этот контраст формируется вследствие различий интенсивностей или направлений лучей от разных то­чек кристалла в соответствии с совер­шенством или ориентацией крист. ре­шётки в этих точках. Эффект, вызывае­мый изменением хода лучей, позво­ляет оценивать размеры и дезориен­тации элементов субструктуры в кри­сталлах (фрагментов, блоков), а раз­личие в интенсивностях пучков ис­пользуется для выявления дефектов упаковки, дислокаций, сегрегации примесей и напряжений. Р. т. отли­чается от др. рентг. структурных мето­дов (см. Рентгеновский структурный анализ, Рентгенография материалов) высокой разрешающей способностью и чувствительностью, а также возмож­ностью исследования объёмного рас­положения дефектов в сравнительно крупных (до десятков см), почти со­вершенных кристаллах.

Линейное разрешение мн. методов Р. т. составляет от 20 до 1 мкм, угл. разрешение — от 1' до 0,01". Чув­ствительность определяется контрас­том в интенсивностях дифрагиров. лучей от «удачно» и «неудачно» ори­ентированных областей и от «совершен­ных» и «искажённых» областей кри­сталла.

Методы Р. т. различаются по об­ласти используемых углов дифракции, по хар-ру выявляемых дефектов, степени несовершенства и дефектности кристаллов, чувствительности и разрешающей способности. Преобра­зование рентг. изображений в види­мые с последующей их передачей на телевиз. экран позволяет осуществ­лять контроль дефектности кристал­лов в процессе разл. воздействий на них при технологич. обработке или при исследовании их св-в.

^ В. Г. Лютцау.