Учебно-методический комплекс дисциплины «Методы исследования материалов и процессов» Для специальности
| Вид материала | Учебно-методический комплекс |
СодержаниеМетоды исследования материалов и процессов Не предусмотрено Учебная литература (обязательная) Дополнительная литература |
- Учебно-методический комплекс для студентов, обучающихся по специальности 080116., 299.38kb.
- Учебно-методический комплекс по дисциплине «Управление системой социальной защиты детства», 420.1kb.
- Учебно-методический комплекс учебной дисциплины «Осадочные формации и методы их изучения», 244.86kb.
- Учебно-методический комплекс по дисциплине «коммуникация специалиста социальной работы», 150.18kb.
- Учебно-методический комплекс по дисциплине «профессионально-этические основы социальной, 832.16kb.
- Учебно-методический комплекс по дисциплине «Социальная реабилитация детей с ограниченными, 288.61kb.
- Учебно-методический комплекс по дисциплине Сети ЭВМ и телекоммуникации (наименование, 743.2kb.
- О. А. Миронова Учебно-методический комплекс дисциплины «международная торговля» Ростов-на-Дону, 727.71kb.
- А. Б. Тазаян Учебно-методический комплекс дисциплины "Философия права" (для студентов, 524.1kb.
- Учебно-методический комплекс учебной дисциплины «комплексный анализ хозяйственной деятельности», 1158.91kb.
Календарный план учебных занятий 2011 /2012 учебного года
по дисциплине « Методы исследования материалов и процессов»
Кафедра___Новые материалы и технологии_____ Преподаватель__Герасев В.И._______________________
Направление 150601 Материаловедение и технология новых материалов, курс _4___ семестр 7_
| Номера и даты недель | В и д ы и с о д е р ж а н и е у ч е б н ы х з а н я т и й | Самостоятельная работа студентов | |||||||||||
| Л е к ц и и (2 час. в неделю) | Практические занятия семинары | Лабораторные работы | |||||||||||
| В аудитоии | Самостоятельное изучение | ||||||||||||
| Даты лекций | Часы | Содержание | Использ. ТСО** | Содержание и раздел учебника (глава, параграф) | Форма контроля | | | Название | Вид задан. | Содержание | Часы | Форма контроля | |
| 1 неделя | 1.09 | 2 | Классификация физических методов исследования матери-алов и покрытий по явлениям и процессам, лежащим в их основе | Ноутбук, проектор | №1, с.4-14 | опрос | Не предусмотрено | | нет | А | Подбор методов исследования для анализа данного материала. №1,3. | 2 | опрос |
| 2 неделя | 8.09 | 2 | Взаимосвязь физичес-ких явлений и методов исследования и контроля качества материалов и изделий. | Ноутбук, проектор | №1, с.7-55 | опрос | - | | нет | А | Подбор методов исследования для анализа данного материала. №1,3. | 3 | опрос |
| 3 неделя | 15.09 | 2 | Техника статистичес-кой обработки экспериментальных данных. Способы представления данных. | Ноутбук, проектор | №2, с.14-23 | опрос | - | | нет | А | Обработка результатов эксперимента на примере (данные по определению твердости материала). Источники №2. | 2 | опрос |
| 4 неделя | 22.09 | 2 | Обработка результатов прямого измерения. Распределение Гаусса. Дисперсия, среднеква-дратичная ошибка, критерий Стьюдента. | Ноутбук, проектор | №2, с.24-47 | опрос | - | | нет | А | Обработка результатов эксперимента на примере (данные по определению твердости материала). Источники №2. | 3 | опрос |
| 5 неделя | 29.09 | 2 | Применение вычисли-тельных прикладных программ для обра-ботки эксперименталь-ных данных. Представ-ление информации в графическом виде. | Ноутбук, проектор | №2, с.65-74 | опрос | - | | нет | А | Обработка результатов эксперимента на примере (данные по определению твердости материала). Источники №2. | 3 | опрос |
| 6 неделя | 6.10 | 2 | Планирование научного эксперимента. | Ноутбук, проектор | № 2, с. 53-64. | опрос | - | | нет | А | Обработка результатов эксперимента на примере (данные по определению твердости материала). Источники №2. | 2 | Опрос |
| 7 неделя | 13.10 | 2 | Общая характеристика методов исследования технологич. процессов изготовления матери-алов и изделий из них. | Ноутбук, проектор | №3, с.10-55 | опрос | - | | нет | А | Определение пределов по кривым деформации. Источники №3. | 2 | Опрос |
| 8 неделя | 20.10 | 2 | Методы исследования физико-механических характеристик матери-алов (прочность, мо-дуль упругости, раз-рывная деформация) при растяжении, сжатии, изгибе, сдвиге. | Ноутбук, проектор | №3, с.56-88 | опрос | - | | нет | презент | Определение пределов по кривым деформации. Источники №3. | 3 | Опрос |
| 9 неделя | 27.10 | 2 | Методы исследования температурной зависимости физико-мех. характеристик материалов. Методы исследования темпе-ратуры структурного и механического стекло-вания материалов. | Ноутбук, проектор | №3, с.90-122 | опрос | - | | нет | презент | Определение пределов по кривым деформации. Источники №3. | 3 | Опрос |
| 10 неделя | 3.11 | 2 | Методы исследования долговременной прочности материалов и их ползучести. Методы исследования истираемости матери-алов и покрытий. Метод исследования усталостной прочности при циклическом нагружении. | Ноутбук, проектор | №3, с.125-142 | опрос | - | | нет | А | Работа с конспектом | 3 | Опрос |
| 11 неделя | 10.11 | 2 | Метод исследования влияния влажности и агрессивных сред на физико-механические характеристики материалов. Метод исследования физико-механических характеристик тонких покрытий. Метод исследования адгезионных характеристик между материалами и покрытиями. | Ноутбук, проектор | №3, с.143-165 | опрос | - | | нет | презент | Подготовка презентации для иллюстрации возможностей методов исследования. Источники все. | 3 | Опрос |
| 12 неделя | 17.11 | 2 | Метод исследования линейного и объёмного теплового расширения материалов. Метод исследования удельного электрического сопротивления материалов. Метод исследования магнитных свойств материалов | Ноутбук, проектор | №3, с.255-301 | опрос | - | | нет | презент | Определение пределов по кривым деформации. Источники №3. | 3 | Опрос |
| 13 неделя | 24.11 | 2 | Метод исследования устойчивости к потемнению кварцевых прозрачных стёкол после термической обработки. Методы исследования вязкости, растекаемости, живучести материала при температурах переработки. | Ноутбук, проектор | №3, с.344-355 | тест | - | | нет | презент | Подготовка презентации для иллюстрации возможностей методов исследования. Источники все. | 2 | Опрос |
| 14 неделя | 1.12 | 2 | Спектральный анализ. Принцип работы. Виды: атомный и молекулярный спектральный анализы, ссылка скрытаый и ссылка скрытаый методы Спектры ссылка скрыта и ссылка скрыта. | Ноутбук, проектор | №1, с.191-199 | опрос | - | | нет | презент | Подготовка презентации для иллюстрации возможностей методов исследования. Источники все. | 3 | Опрос |
| 15 неделя | 8.12 | 2 | Рентгеноструктурный анализ. Физические основы метода. Метод Лауэ. Метод Дебая-Шерера. Дифракции-онные методы анализа. Рентгеноспектральный микроанализ. | Ноутбук, проектор | №2, с.152-168 | опрос | - | | нет | презентм | Подготовка презентации для иллюстрации возможностей методов исследования. Источники все. | 2 | Опрос |
| 16 неделя | 15.12 | 2 | Масс- спектрометрия. Разрушение вещества под действием потока электронов, основные процессы, принцип разделения продуктов распада. Масс-спектро-метры с отклонением под действием магнит-ного поля, время-про-летные масс-спектро-метры, масс-спектры. Применение метода. | Ноутбук, проектор | №1, с.130-149 | опрос | - | | нет | презент | Подготовка презентации для иллюстрации возможностей методов исследования. Источники все. | 2 | Опрос |
| 17 неделя | 22.12 | 2 | Оптическая (световая) микроскопия. Принци-пиальная схема микро-скопа. Микроскопия в проходящем и отра-женном свете, темно-польная микроскопия. Способы подготовки образцов. Методы обработки изображе-ний, основы стереометрической металлографии. | Ноутбук, проектор | №1, с.75-91 | опрос | - | | нет | презент | Подготовка презентации для иллюстрации возможностей методов исследования. Источники все. | 2 | Опрос |
| | итого | 34 | | | | | | | | | | 43 | |
| Учебная литература (обязательная) | А | Всего | 34 | |
| Р, Т,П | Всего | | | |
| | № Виды заданий: А – задание к практич. занятиям Л – задание к лабор. занятиям Р – расчетное задание Т – типовой расчет П – курсовой проект К – контрольная или проверочная работа | Название, автор, год издания | Примечания | |
| | 1. | ссылка скрыта /Под общ.ред.М.Я.Мельникова.- М.: Издательство МГУ, 2009 г.-824с. | | |
| | 2. | ссылка скрыта, ссылка скрыта, ссылка скрыта, Издательство: КГТУ, Казань.-2008 г.-88с. | | |
| | 3. | Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия: курс лекций: Учебное пособие. Бублик В.Т., Мильвидский А.М., изд-во МИСиС, 2006.-420с. | | |
| | Дополнительная литература | | | |
| | 4. | Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия: курс лекций: Учебное пособие. Бублик В.Т., Мильвидский А.М., изд-во МИСиС, 2006.-94с. | | |
| | 5. | Вилков Л.В., Пентин Ю.А. Физические методы исследования в химии. Структурные методы и оптическая спектроскопия: Учеб.М.: Высш. шк., 1987.-366с. | | |
| | 6. | Вилков Л.В., Пентин Ю.А. Физические методы исследования в химии. Резонансные и электрооптические методы. М.: Высш. шк., 1989. 288 с. | | |
| | 7. | http//: ссылка скрыта | | |