Учебно-методический комплекс дисциплины «Методы исследования материалов и процессов» Для специальности

Вид материала

Учебно-методический комплекс

Содержание Лабораторный практикум не предусмотрен. Дополнительная литература Материально-техническое обеспечение дисциплины Примерный перечень вопросов для зачета Методические рекомендации для преподавателя. Филиал «угреша»

Подобный материал:

• Учебно-методический комплекс для студентов, обучающихся по специальности 080116., 299.38kb.
• Учебно-методический комплекс по дисциплине «Управление системой социальной защиты детства», 420.1kb.
• Учебно-методический комплекс учебной дисциплины «Осадочные формации и методы их изучения», 244.86kb.
• Учебно-методический комплекс по дисциплине «коммуникация специалиста социальной работы», 150.18kb.
• Учебно-методический комплекс по дисциплине «профессионально-этические основы социальной, 832.16kb.
• Учебно-методический комплекс по дисциплине «Социальная реабилитация детей с ограниченными, 288.61kb.
• Учебно-методический комплекс по дисциплине Сети ЭВМ и телекоммуникации (наименование, 743.2kb.
• О. А. Миронова Учебно-методический комплекс дисциплины «международная торговля» Ростов-на-Дону, 727.71kb.
• А. Б. Тазаян Учебно-методический комплекс дисциплины "Философия права" (для студентов, 524.1kb.
• Учебно-методический комплекс учебной дисциплины «комплексный анализ хозяйственной деятельности», 1158.91kb.

Тематика практических занятий (семинаров)

Не предусмотрено.


Лабораторный практикум не предусмотрен.


Виды самостоятельной работы студентов

Таблица 5

№ п/п	№ темы	Вид работы, литературные источники
1	Тема 1.1.	Подбор методов исследования для анализа данного материала. Источники №1,3.
2	Тема 1.2.	Обработка результатов эксперимента на примере (данные по определению твердости материала). Источники №2.
3	Тема 2.1.	Определение пределов по кривым деформации. Источники №3.
	Тема 2.2.	Подготовка презентации для иллюстрации возможностей методов исследования. Источники все.
4	Тема 2.3.	Подготовка презентации для иллюстрации возможностей методов исследования. Источники все.
5	Тема 2.4.	Подготовка презентации для иллюстрации возможностей методов исследования. Источники все.
6	Тема 3.1.	Подготовка презентации для иллюстрации возможностей методов исследования. Источники все.
7	Тема 3.2.	Сравнение хроматограмм. Источники №5,7.
8	Тема 3.3.	Изучение термограммы, выданной преподавателем с указанием критических точек. Источники №4,6.
9	Тема 4.1.	Составление технологической карты процесса с указанием вида используемых датчиков. Источники №2,3.
10	Тема 4.2.	Сравнение методов контроля. Источники №1.

5. Учебно-методическое обеспечение дисциплины
   

Основная литература

1. ссылка скрыта /Под общ.ред.М.Я.Мельникова.- М.: Издательство МГУ, 2009 г.-824с.
   
2. ссылка скрыта, ссылка скрыта, ссылка скрыта, Издательство: КГТУ, Казань.-2008 г.-88с.
   
3. Механические свойства металлов. Учебник для вузов. Золоторевский В.С.- 3-е изд., перераб. и доп.- М.; МИСИС, 2004,- 400с.
   

Дополнительная литература

4. Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия: курс лекций: Учебное пособие. Бублик В.Т., Мильвидский А.М., изд-во МИСиС, 2006.-94с.
   
5. Вилков Л.В., Пентин Ю.А. Физические методы исследования в химии. Структурные методы и оптическая спектроскопия: Учеб.М.: Высш. шк., 1987.-366 с
   
6. Вилков Л.В., Пентин Ю.А. Физические методы исследования в химии. Резонансные и электрооптические методы. М.: Высш. шк., 1989. 288 с.
   
7. Кузьменко Н.Е. Гл. 11. Спектроскопические методы // Основы аналитической химии. Кн. 2. Методы химического анализа. М.: Высш. шк., 1996. С. 199–352.
   
8. Гюнтер Х. Введение в курс спектроскопии ЯМР. М.: Мир, 1984. 478 с.
   

Интернет-источники

9. http//ссылка скрыта
   
10. http//: ссылка скрыта
    
11. http//: ссылка скрыта
    

Технические и электронные средства обучения, иллюстрированные материалы.

Презентации по отдельным лекциям. Схемы и таблицы для иллюстрации и удобства представления материала.

6. Материально-техническое обеспечение дисциплины
   

Компьютер и проектор для представления презентаций.

7. Формы контроля и оценочные средства для текущего контроля успеваемости и итоговой аттестации по итогам освоения дисциплины
   

Текущий контроль:

Текущий контроль осуществляется в виде опроса в начале лекции и при обсуждении презентаций, а также в форме тестирования.


Итоговый контроль:

Производится в виде зачета в конце седьмого семестра и в виде экзамена в конце восьмого семестра.


Примерный перечень вопросов для зачета

1. Что изучает предмет "Методы исследования технологических и эксплуатационных свойств материалов и покрытий". Подразделение методов по изучаемым характеристикам
   
2. Общая характеристика методов исследования материалов и покрытий в процессе их разработки.
   
3. Общая характеристика методов исследования технологических процессов изготовления материалов и изделий из них.
   
4. Структура методов исследования материалов и покрытий.
   
5. Что такое эксплуатационные свойства материалов. Эксплуатационные свойства покрытий. Связь между изученностью свойств материалов и покрытий и их эксплуатационными свойствами. Технические условия на материал и покрытие.
   
6. Что такое технологический процесс изготовления материалов и нанесения покрытий. Для какой цели нужно исследовать технологический процесс изготовления материалов и нанесения покрытий.
   
7. Что нужно исследовать в технологическом процессе. Что такое технологический регламент изготовления материала или нанесения покрытий. Связь между выполнением требований технологического регламента и качеством изготавливаемого материала.
   
8. Управление процессом создания новых материалов и покрытий с заданными свойствами на основе использования методов исследования свойств материалов и процессов.
   
9. Методы исследования физико-механических характеристик материалов (прочность, модуль упругости, разрывная деформация) при растяжении, сжатии, изгибе, сдвиге.
   
10. Методы исследования температурной зависимости физико-механических характеристик материалов. Методы исследования температуры структурного и механического стеклования материалов.
    
11. Методы исследования долговременной прочности материалов и их ползучести
    
12. Методы исследования истираемости материалов и покрытий.
    
13. Метод исследования усталостной прочности при циклическом нагружении.
    
14. Метод исследования влияния влажности и агрессивных сред на физико-механические характеристики материалов.
    
15. Метод исследования физико-механических характеристик тонких покрытий. Метод исследования адгезионных характеристик между материалами и покрытиями.
    
16. Метод исследования линейного и объёмного теплового расширения материалов.
    
17. Метод исследования удельного электрического сопротивления материалов.
    
18. Метод исследования магнитных свойств материалов.
    
19. Метод исследования устойчивости к потемнению кварцевых прозрачных стёкол после термической обработки.
    
20. Методы исследования вязкости, растекаемости, живучести материала при температурах переработки.
    

Вопросы к экзамену

1. Поглощение инфракрасного излучения, типы колебаний атомов, характеристики инфракрасного спектра (пропускание, поглощение, волновое число).
   
2. Физические основы метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
   
3. Физические основы химической сенсорики. Мультисенсорные системы.
   
4. Закон Ламберта- Бера и его применение для количественного анализа в ИК- и УФ- спектроскопии.
   
5. Структурная схема прибора, реализующего метод рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
   
6. Физические основы метода фотонно-корреляционной спектроскопии.
   
7. Теоретические основы метода УФ- спектроскопии, координаты регистрации спектра.
   
8. Характеристика возможностей метода рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
   
9. Характеристика возможностей метода просвечивающей электронной микроскопии.
   
10. Теоретические основы метода ЯМР, уравнение резонанса.
    
11. Физические основы метода спектроэллипсометрии.
    
12. Требования к подготовке образцов для анализа методом просвечивающей электронной микроскопии.
    
13. Понятие химического сдвига в ЯМР, шкала химических сдвигов.
    
14. Структурная схема прибора, реализующего метод спектроэллипсометрии.
    
15. Структурная схема прибора, реализующего метод просвечивающей электронной микроскопии.
    
16. Спин- спиновое взаимодействие в ЯМР, мультиплетность спектра. Взаимосвязь мультиплетности спектра со строением молекулы.
    
17. Требования к подготовке образцов для анализа методом спектроэллипсометрии.
    
18. Физические основы метода просвечивающей электронной микроскопии.
    
19. Теоретические основы метода ЭПР, уравнение резонанса. Способ измерения концентрации парамагнитных частиц.
    
20. Характеристика возможностей метода спектроэллипсометрии.
    
21. Характеристика возможностей метода сканирующей электронной микроскопии.
    
22. Сверхтонкая структура спектров ЭПР, построение теоретического спектра.
    
23. Физические основы метода атомно-силовой микроскопии.
    
24. Структурная схема прибора, реализующего метод сканирующей электронной микроскопии.
    
25. Теоретические основы спектроскопии комбинационного рассеивания (КР), координаты спектра КР.
    
26. Структурная схема прибора, реализующего метод атомно-силовой микроскопии.
    
27. Физические основы метода сканирующей электронной микроскопии.
    
28. Применение спектральных методов для исследования материалов и процессов.
    
29. Характеристика возможностей метода атомно-силовой микроскопии.
    
30. Характеристика возможностей метода Оже-электронной спектроскопии.
    
31. Виды хроматографии, основные уравнения хроматографии.
    
32. Физические основы метода сканирующей туннельной микроскопии.
    
33. Требования к подготовке образцов для анализа методом Оже-электронной спектроскопии.
    
34. Теория хроматографии, основные уравнения хроматографии.
    
35. Структурная схема прибора, реализующего метод сканирующей туннельной микроскопии.
    
36. Требования к подготовке образцов для анализа методом сканирующей туннельной микроскопии.
    
37. Коэффициент распределения объема, время удерживания, фактор разделения в теории хроматографии.
    
38. Структурная схема прибора, реализующего метод Оже-электронной спектроскопии.
    
39. Характеристика возможностей метода сканирующей туннельной микроскопии.
    
40. Хроматография на бумаге и пластине.
    
41. Физические основы метода масс-спектрометрии вторичных ионов.
    
42. Физические основы метода Оже-электронной спектроскопии.
    

Методические рекомендации для студентов:

Рабочей программой предусмотрена самостоятельная работа студентов в объеме 85 часов. Самостоятельная работа проводится с целью углубления знаний по дисциплине и предусматривает:

- чтение студентами рекомендованной литературы и усвоение теоретического материала дисциплины;

- работу с Интернет - источниками;

- подготовку докладов и презентаций по заданным темам;

- подготовку к сдаче зачета.

Планирование времени на самостоятельную работу студентам лучше всего осуществлять на весь семестр, предусматривая при этом регулярное повторение пройденного материала. Материал, законспектированный в лекциях, необходимо регулярно дополнять сведениями из литературных источников, представленных в рабочей программе. По каждой из тем для самостоятельного изучения, представленных в рабочей программе дисциплины, следует сначала прочитать рекомендованную литературу и при необходимости составить краткий конспект основных положений, терминов, сведений, требующих запоминания и являющихся основополагающими в этой теме и для освоения последующих разделов курса.

Для расширения знаний по дисциплине рекомендуется использовать Интернет – ресурсы:.


Методические рекомендации для преподавателя.

Одной из задач преподавателей, ведущих занятия по дисциплине является выработка осознания важности, полезности и необходимости освоения дисциплины для дальнейшего изучения специальных дисциплин специальности и практической деятельности.

Методическая модель преподавания основана на использовании активных методов обучения: активное участие студентов в учебном процессе в форме мини-дискуссии по теме лекции, поиск решения задач, представление докладов и презентаций.

При наличии академических задолженностей, связанных с пропусками занятий, преподаватель должен выдавать студенту задание в виде подготовки рефератов и контрольных вопросов по пропущенным темам.

Для контроля знаний студентов преподаватель проводит оперативный, текущий и итоговый контроль. Оперативный контроль проводится с целью проверки качества освоения лекционного материала в форме тестов или контрольных вопросов в конце лекций. Для итогового контроля предусмотрен зачет в конце седьмого семестра и экзамен в конце восьмого семестра.


Международный университет ПРИРОДЫ, ОБЩЕСТВА И ЧЕЛОВЕКА «ДУБНА»

ФИЛИАЛ «УГРЕША»

УТВЕРЖДАЮ Директор филиала _______________ Б.М. Балоян «___» _______________2011 г.