Технологiчний процес виробництва РЕА та його автоматизацiя
Дипломная работа - Компьютеры, программирование
Другие дипломы по предмету Компьютеры, программирование
ки, якi мають невiрний розмiр або перекручену форму;
- Порушення кiльця контактноi площадки;
- Всi розбiжностi зразка та еталону, розмiри яких перевищують порогове значення.
Основний метод контролю - порiвняння з еталоном. Як еталон використовуСФться iнформацiя з САПР розробникiв друкованоi плати.
Система здiйснюСФ автоматичне сумiщення шаблону й еталона. Результати роботи системи видаються в наочнiй формi. Зручнi засоби навiгацii по зображеннях i дефектiв дозволяють оператору швидко приймати рiшення.
Точнiсть контролю визначаСФться максимальним дозволом сканера, обСФмом оперативноi памятi i швидкодiСФю обчислювальноi системи.
РД можливiсть контролю заготовок по частинах.
Пiсля сканування чергового зразка Aplite автоматично перетворюСФ його в бiнарну форму, вiдкриваСФ необхiдний еталон i здiйснюСФ первинне сумiщення шаблону й еталона. Пiсля цього запускаСФться автоматична процедура виявлення дефектiв, що включаСФ точне поСФднання зразка та еталону, контроль топологii i контактних майданчикiв. По завершеннi процесу користувачевi видаСФться звiт.
Далi розглянута коротка демонстрацiя основних особливостей Aplite на реальному прикладi.
Малюнок 2.1 - Контроль розриву провiдника i загальний вигляд системи.
Активним СФ шар сумiщення, який формуСФться з двох зображень: синiй колiр вiдповiдаСФ еталону, червоний - шаблоном. Натискаючи клавiшу Пропуск, користувач по черзi переглядаСФ всi дефекти, виявленi системою.
Рисунок 2.2 Контроль разрыва и нарушения ширины проводника.
Рисунок 2.3 Дефекти контактних площадок
Рисунок 2.4 - Представлення дефектiв
2.2 Аналiзатор дефектiв виготовлення (АДРЖ)
Безлiч наявних на ринку систем тестування електронних збiрок не полегшуСФ знаходження найкращого рiшення без надання бiльш детальноi iнформацii. Звичайно ви повиннi чiтко знати про те, якi спецiальнi вимоги накладаються на данi системи. Цiни котирування, отриманi вiд фiрм-виготовлювачiв, коливаються вiд багатьох тисяч до мiльйона доларiв США. Фактично нелегко зрозумiти чому вiдмiнностi в цiнах такi великi. Незалежно вiд будь-яких удосконалень, якi одна система може мати в порiвняннi з iншого, при розглядi будь-якоi системи завжди слiд сконцентруватися на вартостi системи i використовуваних можливостi програмування. Вам також необхiдно визначити який персонал буде потрiбно для обслуговування такоi системи тестування.
В даний час, тому що компанiя HAMEG також входить в даний сильно-конкурiрущiй ринок, для цього СФ хорошi причини. Не останньою з них СФ наш досвiд, отриманий протягом десятилiть при виготовленнi електронного обладнання. Тому ви можете очiкувати вiд нових систем серii 6000, що вони принаймнi однi з найсучаснiших i рентабельних з точки зору витрат у порiвняннi з конкуруючими системами.
2.2.1 АДРЖ при тестування в ланцюзi
Крiм простих блокiв тестованих збiрок (БТС) з вiдносно невеликою кiлькiстю компонентiв зазвичай вам доводиться застосовувати перевiрку за допомогою АДРЖ (при вiдсутностi живлячоi напруги на БТС) або тестування в ланцюзi (коли БТС знаходиться пiд напругою) при подальшому функцiональному випробуваннi для перевiрки працездатностi збiрки. Тому найбiльше значення зазвичай переноситься на функцiональний випробування. Виходячи з цього для вихiдного випробування досить проведення тестування за допомогою АДРЖ, тому що воно повязане з меншою вартiстю самоi програми i вiдповiдними витратами щодо ii реалiзацii. Проте це тестування завжди слiд проводити вiдразу пiсля складання друкованоi плати, щоб можна було швидко виявити i усунути дефекти, якi могли раптово зявитися при монтажi компонентiв на поверхню.
Системи АДРЖ особливо пiдходять для виявлення неправильно розташованих, пропущених i дефектних компонентiв, а також коротко-замкнутих ланцюгiв при пайцi i всiх видiв розривiв. Згiдно з рiзними статистичними публiкацiй вищезгаданi типи охоплюють бiльше 80% всiх можливих пошкоджень. За загальним визнанням для випадку використання iнтегральних схем можливо тiльки визначити iх наявнiсть i функцiю дiодiв захисту на входах i виходах. Якщо ми виходимо з припущення фактичноi вiдповiдностi iнтегральних схем всiм вимогам щодо якостi i правильного розташування всiх компонентiв на поверхнi друкованоi плати, то цiлком достатньо дослiдити характеристики першоi тестованоi збiрки в нових серiях, коли проводиться функцiональна перевiрка. Однак якщо потрiбно заощаджуСФ витрати тестування iнтегральних схем на майбутню стадii торгу, то в цьому випадку недорогий тестер компанii HAMEG як раз i СФ той самий прилад, який треба використовувати для цiСФi мети.
До iнших позитивних якостей системи АДРЖ НМ6001 вiдноситься короткий перiод часу на проведення програмування. БТС з 600 точками перевiрки можна запрограмувати в межах 1 \ 2 днi i навiть коротше. До того ж СФ певнi функцii самонавчання, якi допомагають зменшити перiод часу, що витрачаються на програмування. Ще однiСФю перевагою СФ вбудований САПР - компiлятор для бiльшостi використовуваних програм САПР. Всього лише введiть перелiк САПР та виконання програми буде здiйснюватися автоматично.
Дуже просте тестування може бути виконане при використаннi тестера в ланцюзi (для БТС що знаходиться пiд напругою). Це тестування може досить добре використовуватися для перевiрки iнтегральних схем. Якщо ви розглянете обладнання, програмування i