Міністерство освіти та науки україни національний технічний університет
Вид материала | Диплом |
- Міністерство освіти І науки україни вінницький національний технічний університет вінниця, 55.43kb.
- Міністерство освіти та науки україни національний технічний університет "Харківський, 375.28kb.
- Міністерство освіти та науки україни національний технічний університет, 574.67kb.
- Міністерство освіти І науки України Національний технічний університет України, 151.32kb.
- Історія. України. Плани семінарів І завдання для самостійної роботи студентів-Донецьк,, 226.7kb.
- Програма конференції передбачає: пленарні доповіді провідних науковців та представників, 93.09kb.
- Міністерство освіти І науки україни національний технічний університет «харківський, 571.91kb.
- Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни національний технічний університет, 614.83kb.
- Міністерство освіти І науки україни кіровоградський національний технічний університет, 67.74kb.
- Міністерство освіти І науки україни національний технічний університет україни „київський, 508.45kb.
Студент (підпис) Керівник (підпис) (Прізвище, ім’я, по батькові.) “ 12 ” листопада 2002 р. Консультанти по розділах роботи, що не входять до спеціальної частини
Додаток В Зразок оформлення титульного аркуша МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ ТА НАУКИ УКРАЇНИ НАЦІОНАЛЬНИЙ ТЕХНІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ "Харківський політехнічний інститут" (НТУ "ХПІ") Кафедра фізики металів та напівпровідників (ФМНП) УДК 539.2:548.75ЗВІТ про дипломну роботу спеціаліста ТЕРМІЧНА СТАБІЛЬНІСТЬ СТРУКТУРИ БАГАТОШАРОВИХ КОМПОЗИЦІЙ СКАНДІЙ-КРЕМНІЙ Зав.кафедри ФМНП професор А.Т. Пугачов _________________________________ (дата, підпис) Керівник випускної роботи ст.н.с., канд.фіз.-мат.наук Є.М. Зубарєв ________________________________ (дата, підпис) Консультанти: з економіки, ст.викл. Л.О. Кременчутська _________________________________ (дата, підпис) з охорони праці, доцент О.О. Кузьменко ________________________________ (дата, підпис) з цивільної оборони, ст.викл. Т.П. Мандрика _________________________________ (дата, підпис) зі стандартизації, доцент І.П. Кирилюк _________________________________ (дата, підпис) Виконавець випускної роботи П.І. Гнатченко _________________________________ студент гр. ФТ-18а (дата, підпис) 2002 Додаток Г Зразки написання рефератів РЕФЕРАТ Дипломна робота спеціаліста: 90 с., 15 рис., 14 табл., 35 джерел. Об`єкт дослідження: багатошарові рентгенівські дзеркала (БРД) Sc-Si, виготовлені за допомогою електронно-променевого випаровування та магнетронного розпорошування. Мета роботи: вивчення структурних та фазових перетворювань у БРД у вихідному стані та після дифузійного відпалювання. Методики дослідження: електронна мікроскопія поперечних перерізів високого розділення за допомогою мікроскопа ПЭМ-У, малокутова рентгенівська діфрактометрія з використанням стандартного дифрактометра ДРОН-3М, лазерно-плазмова мас-спектрометрія на спектрометрі ЭМАЛ-2. Показано, що у зразках Sc-Si у вихідному стані шари скандію знаходяться у ГЦК модифікації, вони відділені від аморфного кремнію змішаними зонами з аморфною структурою, що близькі за складом до ScSi. Ізотермічний відпал при температурі Тв=400С призводить до амофізації Sc. При підвищенні Тв до 500С формується періодична надгратка Sc3Si5-Si. При подальшому відпалі (Тв=600С) спостерігається деструктурізація надгратки внаслідок міжшарової агломерації. Одержані результати будуть використані при опрацюванні оптимальної технології виготовлення високоефективних дзеркал для довжини хвиль більше 45,7 нм. Такі БРД перспективні при розробци рентгенооптичних приладів для роботи в діапазоні м’яких рентгенівських променів – лазерів, мікроскопів, літографів тощо. СКАНДІЙ, КРЕМНІЙ, БАГАТОШАРОВЕ РЕНТГЕНІВСЬКЕ ДЗЕРКАЛО, БАГАТОШАРОВА ПЕРІОДИЧНА СТРУКТУРА, ВІДБИВНА ЗДАТНІСТЬ, АМОРФНІ ПРОШАРКИ, ПЕРЕМІШАНІ ЗОНИ. ABSTRACT Specialist degree work: 90 p., 15 fig., 14 tables, 35 references. The object of the research: multilayer X-ray Sc-Si mirrors prepared by electron-beam evaporation and magnetron sputtering. The aim of the work: study of structure and phase transformations in multilayer X-ray mirrors at initial state and after diffusion annealing. Methods of the research: high-resolution cross-section electron microscopy by means of ПЭМ-У microscope, small-angle X-ray diffractometry by conventional diffractometer ДРОН-3М, laser-plasma mass-spectrometry with spectrometer ЭМАЛ-2. It has been shown that in Sc-Si samples at initial state Sc layers are in FCC modification and separated from amorphous silicon by intermixed zones with amorphous structure that are close in composition to ScSi. Isothermal annealing results in amorphization of Sc at Tann=400C. Increasing Tann to 500C periodic Sc3Si5-Si superlattice is formed. Destruction of superlattice due to interlayer agglomeration is observed at the next annealing (Tann=600C). The obtained results will be used for optimal technology elaboration of high-efficiency X-ray mirror manufacturing for wavelength above 45,7 nm. Such multilayer X-ray mirrors are very promising for X-ray optics development devices working at soft X-ray range as lasers, microscopes, lithographs etc. SCANDIUM, SILICON, MULTILAYER X-RAY MIRROR, MULTILAYER PERIODIC STRUCTURE, REFLECTIVITY, AMORPHOUS INTERLAYERS, INTERMIXED ZONE РЕФЕРАТ Дипломная работа специалиста: 90 с., 15 рис., 14 табл., 35 источников. Объект исследования: многослойные рентгеновские зеркала (МРЗ) Sc-Si, изготовленные методом электронно-лучевого испарения и магнетронного распыления. Цель работы: изучение структурных и фазовых превращений в МРЗ в исходном состоянии и после диффузионного отжига. Методики исследования: высокоразрешающая электронная микроскопия поперечных срезов при помощи микроскопа ПЭМ-У, малоугловая рентгеновская дифрактометрия с использованием стандартного дифрактометра ДРОН-3М, лазерно-плазменная масс-спектрометрия на спектрометре ЭМАЛ-2. Показано, что в образцах Sc-Si в исходном состоянии слои скандия находятся ГЦК модификации, они отделены от аморфного кремния перемешанными зонами с аморфной структурой, которые близки по составу к ScSi. Изотермический отжиг при температуре Тотж=400С приводит к аморфизации Sc. При увеличении Тотж до 500С образуется периодическая сверхрешетка Sc3Si5-Si. При дальнейшем отжиге (Тотж=600С) наблюдается деструктуризация сверхрешетки из-за межслоевой агломерации. Полученные результаты будут использованы при разработке оптимальной технологии изготовления высокоэффективных рентгеновских зеркал для длин волн больше 45,7 нм. Такие МРЗ перспективны при разработке рентгенооптических приборов для работы в диапазоне мягких рентгеновских лучей – лазеров, микроскопов литографов и т.д. СКАНДИЙ, КРЕМНИЙ, МНОГОСЛОЙНОЕ РЕНТГЕНОВСКОЕ ЗЕРКАЛО, МНОГОСЛОЙНАЯ ПЕРИОДИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА, ОТРАЖАТЕЛЬНАЯ СПОСОБНОСТЬ, АМОРФНЫЕ ПРОСЛОЙКИ, ПЕРЕМЕШАННЫЕ ЗОНЫ.
ЗМІСТ
ВИСНОВКИ 1 В багатошарових рентгенівських дзеркалах (БРД) Sc-Si у вихідному стані шари кремнію є аморфними, а полікристалічні шари скандію неоднорідні за своєю структурою, при цьому вони відділені від кремнію асиметричними змішаними зонами, товщина яких на межі Sc/Si менша, ніж на границі Sc/Si. 2 Шари скандію мають ГЦК структуру, яка не властива йому у вихідному стані. Період кристалічної ґратки становить 0,476 - 0,480 нм. 3 Для зразків, виготовлених за допомогою електронно-променевого випаровування, характерні більша шорсткість меж розділу, аперіодичність та більший вміст кисню порівняно із зразками, що були виготовлені при магнетронному розпорошуванні. 4 При дифузійному відпалі при температурі Тв=4000С спостерігається аморфізація скандію, при температурі Тв=5000С формується періодична надгратка Sc3Si5-Si, а подальший відпал (Тв=6000С) приводить до її руйнування. 5 За зменшенням об'єму кремнію при відпалі оцінено склад змішаних зон у вихідному стані: він близький до сіліціду ScSi. Формування цієї сполуки узгоджується з правилом Бене-Вольсера про виникнення першої фази на міжфазній границі у системі Sc-Si. Пункти висновків, що відносяться до розділів з економіки, охорони праці та цивільної оборони Додаток Ж П риклади оформлення ілюстрації 1 - зразок 453; 2 - зразок 456; 3 - зразок 789 Рисунок 4.2 - Залежність твердості HV від температури для різних зразків. Рис.3.15 Поява 2-го мінімуму при розрахунку функціонала нев'язки у випадку накладення двох ліній Додаток И Приклади опису джерел інформації Книги а) опис за прізвищем авторів
б) опис за назвою книги
Статті а) у наукових журналах
i.ru/~zhakh/EdChief/1_1999.htm б) у збірниках та книгах
Доповіді на конференціях
c.ru/Conference/NCCC/abstracts/Vasilevsky.htm Препринти
Дисертації, автореферати
Авторські свідоцтва, патенти
Технічні звіти
Навчально-методичні матеріали
Стандарти та інші нормативно-технічні документи
Дипломні та випускні роботи
Навчальне видання Методичні вказівки до виконання та оформлення дипломних робіт для одержання кваліфікації "інженер-фізик" для студентів спеціальності 7. 090102 - “Фізичне матеріалознавство” Укладачі РАВЛІК Анатолій Георгійович, РЕШЕТНЯК Максим Вячеславович. Відповідальний за випуск А.Т. Пугачов Роботу до друку рекомендувала А.В. Ісакова В авторській редакції План 2002, поз 250/01-02 Підп. до друку 18.12.2002 р. Формат 60х84 1/16. Папір офсетн. Друк – ризографія. Гарнітура Таймс. Ум. друк. арк. 1,8. Обл.-вид. арк. 2,3. Наклад 100 Прим. Зам.№ . Ціна договірна. Видавничий центр НТУ “ХПІ”. Свідоцтво ДК № 116 від 10.07.2000 р. Друкарня НТУ “ХПІ”, 61002, Харків, вул. Фрунзе, 21 |