Моделирование индентирования тонких пленок методом молекулярной динамики
| Вид материала | Документы |
- Моделирование деформации тонких пленок методом молекулярной динамики, 31.47kb.
- Иванов В. А.,Викторов И. А.,Гременок В. Ф.,Зарецкая, 17.52kb.
- «Обзор методов получения пленок и их свойств», 131.51kb.
- Электропроводность тонких пленок ni и сплавов ni-Cu в слабых магнитных полях в интервале, 253.63kb.
- Свойства млэ пленок нитрида алюминия, 10.62kb.
- Методы аттестации и сертификации наноматериалов, 83.69kb.
- Молекулярно-динамическое моделирование осаждения металлического нанокластера на подложку, 66.11kb.
- Газочувствительные свойства тонких пленок металлокомплексов этиопорфирина-ii, 274.65kb.
- Моделирование динамики конфигураций организационных систем на сетях петри, когнитивных, 33.91kb.
- Программа спецкурса "Компьютерное моделирование нелинейных волновых процессов" Специальность, 27.11kb.
МОДЕЛИРОВАНИЕ ИНДЕНТИРОВАНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК МЕТОДОМ
МОЛЕКУЛЯРНОЙ ДИНАМИКИ
Болеста А.В., Фомин В.М.
Новосибирск, Россия
Исключительная роль свободных поверхностей и внутренних границ раздела как особого состояния твердого тела является предметом детальных исследований в современной науке о твердом теле. На сегодняшний день их принято считать самостоятельным структурным уровнем в развитии пластической деформации. Особую важность приобретает влияние состояния свободных поверхностей и внутренних границ раздела в наноструктурированных материалах. Одним из основных экспериментальных методов характеризации механических свойств материалов на микроуровне является наноиндентирование. Чрезвычайно малые пространственные масштабы вовлеченного в процесс наноиндентирования материала уже не позволяют полностью описать весь спектр наблюдаемых физических явлений при помощи континуальных моделей, и это делает актуальным моделирование взаимодействия наноиндентора с поверхностью с помощью подхода, в котором явным образом учитывается дискретность среды, метода молекулярной динамики.
В работе представлены результаты молекулярно-динамического моделирования индентирования тонких пленок меди. Исследован вопрос зависимости твердости монокристаллических и поликристаллических тонких пленок от радиуса и глубины проникновения индентора. Изучен вопрос варьирования твердости композиции путем изменения шероховатости свободной поверхности покрытия и внутренней границы раздела между покрытием и основой.