Задачи, решаемые методом рентгеноструктурного анализа Рентгеновская трубка
| Вид материала | Документы |
- Аннотация дисциплины «Физика рентгеновских лучей и основы рентгеноструктурного анализа», 10.94kb.
- Задачи управления производством, решаемые посредством экономического анализа. Принцип, 38.77kb.
- Курсовая работа «Дифференциальные уравнения» Задача №1 (3 задачи), 8.81kb.
- Методом Анализа Структурных Изменений (маси) доклад, 74.75kb.
- Задачи, решаемые в работе. Формулировка измерительной задачи, 162.08kb.
- Методические указания к выполнению курсового расчёта на тему: «Анализ и моделирование, 58.09kb.
- Аннотация к рабочей программе дисциплины «Рентгеноструктурный анализ» для направления, 27.36kb.
- Лекция №1, 882.2kb.
- Внастоящее время, задачи решаемые рэу все более усложняются, это ведет к усложнению, 232.41kb.
- Программа обсуждена на заседании кафедры Математики фнти, 45.62kb.
Вопросы для подготовки к экзамену по курсу “Методы структурного анализа материалов и контроль качества деталей”, 3 курс, спец. 1208
1. Общая характеристика методов структурного анализа
2. Общая характеристика методов рентгенографии, электронографии и нейтронографии
3. Условие Вульфа-Брэггов в дифракционных методов структурного анализа
4. Уравнение Вульфа-Брэггов и индексы интерференции
5. Задачи, решаемые методом рентгеноструктурного анализа
6. Рентгеновская трубка
7. Рентгеновские аппараты
8. Фотометод в рентгеноструктурном анализе
9. Рентгеновский дифрактометр
10. Определение периода решётки кристаллов рентгенографическим методом
11. Качественный фазовый рентгеноструктурный анализ
12. Выбор типа камеры для различных задач рентгеноструктурного анализа
13. Метод Лауэ
14. Рентгеновская дефектоскопия
15. Рентгеноспектральный анализ
16. Обратное пространство поликристалла
17. Обратная решётка, сфера отражения и дифракционная картина
18. Построение обратной решётки ОЦК
19. Построение обратной решётки ГЦК – кристалла
20. Устройство электронографа
21. Принципиальная оптическая схема электронного микроскопа, работающего в режиме получения изображения
22. Принципиальная оптическая схема электронного микроскопа, работающего в режиме получения дифракционной картины
23. Дифракционный контраст на изображении разориентированных областей кристалла
24. Электронно-микроскопический контраст на изображении кристалла с дислокациями
25. Определение постоянной прибора в электронной микроскопии
26. Приготовление образцов для электронной микроскопии
27. Экстинкционная длина
27. Особенности электронно-микроскопических изображений границ зёрен в металлах
28. Обратное пространство кристалла и дифракционная картина
29. Дифракционная картина от моно- и поликристаллов
30. Определение постоянной прибора в электронно-оптическом методе
31. Индицирование электронограмм
32. Определение ориентировки зёрен поликристалла по электронограммам
33. Растровая электронная микроскопия
34. Оже-электронная микроскопия