1 основные понятия
| Вид материала | Документы |
| Список терминов на русском языке Список терминов на английском языке |
- Программа по дисциплине «прикладные протоколы интернет и www» по направлениям: «Математика., 234.28kb.
- Тема: Основные понятия и определения, 121.92kb.
- Тема: Основные понятия и определения, 164.71kb.
- Федеральный закон, 255.42kb.
- Основные математические понятия и факты Арифметика, 70.46kb.
- Федеральный закон, 690.72kb.
- План урока: Орг момент. Повторение изученного. Объявление темы. Изучение нового материала., 66.27kb.
- Статья Основные понятия Внастоящем модельном Кодексе используются следующие основные, 698.08kb.
- Лекция: Основные понятия информационной безопасности, 182.39kb.
- 1. Водное занятие. Основные понятия и термины музееведения, 171.51kb.
СПИСОК ТЕРМИНОВ НА РУССКОМ ЯЗЫКЕ
Абляция
Абляция лазерная Абляция ионная Абляция электронная Агломерат (в нанотехнологии) Агрегат (в нанотехнологии) Аморфное вещество Аморфный компьютер
Аналит
Аналитическая идентификация
Аппаратная функция прибора
Атом
Атомно-силовой микроскоп, АСМ
Биполярный транзистор
Бит
Ближний порядок
Верхняя [нижняя] граница диапазона определяемого содержания
Видеосигнал
Воспроизведение единицы физической величины
Воспроизводимость результатов измерений
Вторичный эталон
Гетеропереход
Гигантское магнетосопротивление
Гомопереход
Государственный первичный эталон
Гранулометрия Дальний порядок
Действительное значение физической величины Диапазон определяемого содержания Дифрактометр Дифрактометрия
Дифракция
Дифракция медленных электронов, ДМЭ
Дифракция отраженных быстрых электронов, ДОБЭ
Дырка
Единство измерений
Естественный окисел Зародышеобразование
Затвор
Значение физической величины
Зона валентная
Зона запрещенная
Зона проводимости
Зона электронная, зона (в твердом теле)
Измерение физической величины Интерференция Интеферометр Интеферометрия
Ион
Ионно-лучевая технология
Истинное значение физической величины
Исток
Калибровка
Катализ
Квазичастица
Квантовая информатика
Квантовая точка
Квантовая яма
Квантово - размерный эффект
Квантовые вычисления
Квантовый бит (кубит, q-бит)
Квантовый компьютер
Квантовый эффект
Квантовый эффект Холла
Кластер
Ковалентная связь
Комбинационное рассеяние
Комплексное соединение Компьютер Кристалл Кристаллизация Кристаллическая решетка Кристаллическая структура Кристаллическое вещество Критический размер Кулоновская блокада Куперовская пара Лиганд Литография Литография ионная Литография рентгеновская Литография электронная
Локальность
Магнитно-силовой микроскоп (сканирующий), МСМ Малоугловое рентгеновское рассеяние
Маска (шаблон) Масс-спектр
Масс-спектрометрия Международный стандарт Международный стандарт ИСО Международный стандарт МЭК; Международный эталон Межплоскостное расстояние Мезодиапазон Мера [физической величины]
Метод (технология) молекулярного наслаивания Метод EXAFS (EXAFS - спектроскопия) Метод XANES (XANES - спектроскопия)
Метод измерений
Методика выполнения измерений, методика измерений, МВИ
Метрология
Механохимический синтез
Микродиапазон (микроуровень)
микроскоп электронный просвечивающий, ПЭМ
микроскоп электронный растровый (сканирующий), РЭМ
Микроскопия зондовая
Микроскопия ионная
Микроскопия оптическая
Микроскопия электронная
Молекула
Молекулярно -лучевая эпитаксия
нано-
Наноанализ
Нанобиотехнология
Нанодиспергатор
Нанодифракция (в просвечивающем электронном микроскопе)
Наноиндустрия
Нанолитография
Наноманипулятор
Нанометр
Нанометровый диапазон
Нанометрология
Нанонаука (наука о нанообъектах)
Нанообъект
Наноперемещение
Нанопозиционирование
Наноразмер
Нанорельеф
Наносинтез
Наносистемная техника
Наноскопия
Нанослой
Наноструктура
Нанотехника
Нанотехнология
Нанофотоника
Нанохимия
Наночастица
Наношкала
Наноэлектроника
Национальный стандарт
Неисключенная систематическая погрешность,
Нейтрон
Неопределенность измерений
НСП
Нуклеация Обратная решетка
Оже-микроскоп Оже-спектроскопия Оже-эффект Оптическая литография Орган по сертификации Оценка соответствия Параметр решетки Первичный эталон Передача размера единицы Поверка
Поверочная схема
Повторяемость (сходимость) результатов измерений
Погрешность результата измерения
Подзатворный диэлектрик
Подтверждение соответствия
Полевой транзистор
Порог чувствительности
Правильность
Предел воспроизводимости
Предел обнаружения
Предел определения (аналита)
Предел повторяемости
Прецизионность
Принцип измерений
Принятое опорное значение
Протон Процессор
Публикация ИМЕКО Размер физической величины
Размерность (нанообъекта) Размерный эффект
Расширенная неопределенность
Резист (резистивный слой) Рентгеновская спектроскопия поглощения Рост кристаллов Самоорганизация
Самосборка
Сверхпроводимость
Светодиод
Свод правил
Сертификат соответствия Сертификация Система сертификации Систематическая погрешность измерения Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ)
Сканирующий оптический микроскоп ближнего поля (растровый оптический микроскоп ближнего поля)
Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ)
Случайная погрешность измерения
Среднеквадратическое отклонение воспроизводимости
Среднеквадратическое отклонение повторяемости
Средство измерений
Стандарт
Стандартизация
Стандартная неопределенность
Стандартный образец
Сток
Суммарная стандартная неопределенность
Супрамолекулярные структуры Температура Кюри
Тест-объект Технический регламент Техническое регулирование
Технология «сверху-вниз» Технология «снизу-вверх» Технология Ленгмюра-Блоджет
Тонко дисперсная частица Точность
Трансляционная симметрия Туннелирование, туннельный эффект Ударно-волновой синтез
Ультрадисперсная частица Уравнение Вульфа-Брэггов Утверждение типа средств измерений
Фонон
Фотодиод
Фотон
Фурье-спектрометр
Фурье-спектроскопия
Химическая связь
Химический состав
Частица (в нанотехнологии)
Числовое значение физической величины
Чувствительность
Электрон
Электронный парамагнитный резонанс, ЭПР
Электронография
Элементарная ячейка (кристалла)
Элементарные частицы
Элементарный электрический заряд
Эмиссия
Эмиссия автоэлектронная (полевая)
Эмиссия вторичная
Эмиссия термоэлектронная
Эмиссия Шоттки
Энергия Ферми (уровень Ферми)
ЭПР - спектроскопия (спектроскопия электронного парамагнитного резонанса)
ЭСХА (электронная спектроскопия для химического анализа), рентгенофотоэлектронная спектроскопия, РФЭС
Эталон
Эталон единицы физической величины;
Эталон сравнения
Эффект Ааронова-Бома Эффект Джозефсона Эффект Франца-Келдыша Ядерный магнитный резонанс, ЯМР
ЯМР - спектроскопия (спектроскопия ядерного магнитного резонанса)
СПИСОК ТЕРМИНОВ НА АНГЛИЙСКОМ ЯЗЫКЕ
ablation
absorption X-ray spectroscopy
accepted reference value accuracy
agglomerate aggregate
Aharonov-Bohm effect amorphous computer amorphous substance
analyte
atmospheric oxide atom
atomic force microscope, ASM
Auger effect
Auger microscope
Auger spectroscopy
bias-, systematic error of measurement
bipolar transistor
bit
bond
bottom-up tecnology
Bragg equation
calibration
catalysis
certificate of conformity
certification
certification body, certifier
certification scheme
certified reference material
chemical composition
chemical identification
cluster
combination(al) scattering, Raman scattering
combined standard uncertainty
complex (coordination) compound computer
concentration range
conduction band
conformity validation
control gate
conventional true value (of a quantity)
coulomb blockade covalent bond critical dimension crystal
crystal grown crystal lattice crystal(line) structure crystalline material crystallization Curie temperature CVD-technology difraction
difractometer difractometery
dimension, dimensionality, number of dimensions dimensional effect, size effect
discrimination threshold dissemination of standards
drain
Edison effect electron
electron ablation electron band, band electron lithography
electron microscopy
electron paramagnetic resonance, EPR;
electron spin resonance, ESR
electronography
elementary charge
elementary particles, fundamental particles
emission
EPR - spectroscopy
error of a measurement
ESCA (electron spectroscopyfor chemical analysys), X-ray photoelectron spectroscopy
EXAFS, EXAFS spectroscopy
expanded uncertainty
Fermi energy
FET
FIB
field emission field-effect transistor filament emission
fine particle
forbidden band
Fourier(-transform) spectrometer, interference spectrometer
Fourier(-transform) spectroscopy
Franz-Keldysh effect
gate insulator
giant magnetoresistance
grain size analysis, granulometry
heterojunction
hierarchy scheme
hole homojunction
IEC standard instrument function interference interferometer interferometry international standard international standard ISO
interplanar spacing
ion
ion ablation
ion beam technology
ion lithography
ion microscopy
Josephson effect
Langmuir-Blodgett technology
laser ablation
lattice parameter
LED (Light Emitting Diode)
ligand
light microscopy,
limit of detection:
limit of determination, [limit of quantitation]
lithography
locality
long range ordering
low-energy electron diffraction, LEED
lower [upper] limit of concentration range
mask (projection mask)
mass-spectrometry
mass-spectrum
material measure
measurement (of a quantity)
measurement procedure
measurement standard
measurement uncertainty
measuring instrument
mechano-chemical synthesis
mesoscale
method of measurement
metrology
microscale
molecular beam epitaxy molecular layering tecnology molecule
nano-
nanoanalysis
nanochemistry
nanodifraction (in ТЕМ)
nanodispenser
nanodisplacement
nanoelectronics
nanoengineering
nanoindustry
nanolayer
nanolithography
nanomanipulator
nanometer
nanometer positioning
nanometer range
nanometrology
nanoobject
nanoparticle
nanophotonics
nanorelief
nanoscale
nanoscience
nanoscopy
nanosize
nanostructure
nanosynthesis
nanosystem engineering
nanotechnology
national standard
neutron
NMR-spectroscopy
nuclear magnetic resonance, NMR
nucleation
nucleation
numerical value of a quantity optical lithography optical microscopy particle pattern approval
PD (Photodiode) phonon
photon, quantum precision
primary standard principle of measurement probe microscopy
processor proton quantum bit quantum calculation quantum computer quantum dimensional effect quantum dot quantum effect quantum Hall effect quantum informatics quantum well quasi-particle
random error of measurement
reciprocal lattice
reflected fast electron diffraction, RFED
repeatability limit repeatability standard deviation reproducibility (precision) of a measurement reproducibility limit reproducibility of measurement reproducibility standard deviation requirements compliance validation residual systematic error
resist Richardson effect
scanning electron microscope, SEM scanning magnetic force microscope scanning near-field light microscope scanning probe microscopy, SPM scanning tunnel microscope, STM
Schottky emission secondary emission
secondary standard self-assembly
self-organization
sensitivity
shock wave synthesis
short range ordering
size of a physical quantity
small angle X-ray scattering
source
standard uncertainty
standardization
superconducting pair
superconductivity
supramolecular
technical regulation
technical schedule
test object
thermal electron [thermionic] emission
TOF SIMS
top-bottom technology
traceability, uniformity of measurements
transfer standard
translation symmetry
transmission electron microscope, ТЕМ
true value (of a quantity)
trueness
tunneling; Esaki effect, tunnel(ing) effect, tunneling phenomenon
ultrafine particle
unipolar transistor unit cell valence band
value (of a quantity)
verification
videosignal
written standard, standard
XANES
X-ray lithography
БИБЛИОГРАФИЯ
Справочные издания и монографии
1. Физическая энциклопедия под ред. А.М.Прохорова, тт. 1-5. М: Большая российская энциклопедия, 1988-1998.
2.Химическая энциклопедия под ред. Н.С.Зефирова, тт. 1-5. М.: Большая российская энциклопедия, 1988-1998.
3.Пул Ч., Оуэне Ф. Нанотехнологии. М.: Техносфера, 2004.- 328 с.
4.Наноматериалы. Нанотехнологии. Наносистемная техника. Мировые достижения за 2005 г. Сб. статей под ред. П.П.Мальцева. М.: Техносфера, 2006.- 152 с.
5. Валиев К.А., Кокин А.А. Квантовые компьютеры: надежды и реальность. Ижевск: Регулярная и хаотическая динамика, 2004. - 320 с.
6.Герасименко Н.Н., Пархоменко Ю.Н. Кремний - материал наноэлектроники. М.: Техносфера, 2007.- 362 с.
7.Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. М.: Техносфера, 2004.- 144 с.
8.Дьячков П.Н. Углеродные нанотрубки.: строение, свойства, применение. М.:БИНОМ. Лаборатория знаний, 2006.- 298 с.
9.Суздалев И.П. Нанотехнология: физико-химия нанокластеров, наноструктур и на-номатериалов. М. КомКнига, 2006. - 592 с.
10.Сергеев Г.Б. Нанохимия. М.: Изд-во МГУ, 2003. - 288 с.
11.Меныпутина Н.В. введение в нанотехнологию. Калуга: Изд-во научной литературы Бочкаревой Н.Ф., 2006. - 132 с.
Законы Российской Федерации
1.Федеральный закон от 27 декабря 2002 г. № 184-ФЗ «О техническом регулировании» (с изменениями от 09.05.2005 и 01.05.2007).
2.Закон Российской Федерации от 27 апреля 1993 г. № 4871-1 «Об обеспечении единства измерений» ( с изменениями от 10.01.2003).
Нормативные документы
1.ГОСТ Р ИСО 5725 -1-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Часть 1. Основные положения и определения.
2.РМГ 29-99. Государственная система обеспечения единства измерений. Метрология. Основные термины и определения.
3.ГОСТ Р 8.563-96. Государственная система обеспечения единства измерений. Методики выполнения измерений.
4.ГОСТ 8.417-2002. Государственная система обеспечения единства измерений. Единицы величин.
55
5.ГОСТ Р 52361-2005. Контроль объекта аналитический. Термины и определения.
6.РМГ 43-2001. Государственная система обеспечения единства измерений. Применение «Руководства по выражению неопределенности измерения».
7.ГОСТ 21006-75. Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения.
8.МИ 2336-2002. Государственная система обеспечения единства измерений. Показатели точности, правильности, прецизионности методик количественного химического анализа.