1 основные понятия

Вид материала

Документы

Содержание 5 Методы и средства исследования нанообъектов

Подобный материал:

• Программа по дисциплине «прикладные протоколы интернет и www» по направлениям: «Математика., 234.28kb.
• Тема: Основные понятия и определения, 121.92kb.
• Тема: Основные понятия и определения, 164.71kb.
• Федеральный закон, 255.42kb.
• Основные математические понятия и факты Арифметика, 70.46kb.
• Федеральный закон, 690.72kb.
• План урока: Орг момент. Повторение изученного. Объявление темы. Изучение нового материала., 66.27kb.
• Статья Основные понятия Внастоящем модельном Кодексе используются следующие основные, 698.08kb.
• Лекция: Основные понятия информационной безопасности, 182.39kb.
• 1. Водное занятие. Основные понятия и термины музееведения, 171.51kb.

5 МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ИССЛЕДОВАНИЯ НАНООБЪЕКТОВ

Сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) scanning probe microscopy, SPM	Микроскоп, формирующий изображе­ние объекта в результате регистрации информативного сигнала, возникающе­го при развертке (сканировании) спе­циального диагностического зонда в контактном или бесконтактном режиме (моде) по поверхности исследуемого объекта.
Сканирующий оптический микроскоп ближнего поля (растровый оптический микроскоп ближнего поля) (scanning) near-field light microscope	Сканирующий зондовый микроскоп, в котором в качестве измерительного зонда используют оптический световод уменьшающегося диаметра. Этот диа­метр может быть существенно меньше длины волны света, при этом на рас­стояниях, порядка длины волны света вблизи конца световода возникает ста­ционарное световое поле, которое мо­жет модулироваться поверхнростными свойствами объекта.
Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) scanning tunnel microscope, STM	Сканирующий зндовый микроскоп, ин­формативный сигнал которого пропор­ционален расстоянию между проводя­щим зондом и поверхностью объекта.
FIB	Технология препарирования объекта, основанная на ионном и (или) ионно-химическом травлении поверхности объекта сфокусированным пучком ио­нов. Данная технология используется, в частности для приготовления объектов к исследованию в просвечивающем электронном микроскопе. Аббр. от англ Fast ion beam — пучок быстрых ионов.
TOF SIMS	Масс-спектрометрия вторичных ионов с время-пролетной масс-сепарацией. Метод локального анализа, основанный на регистрации спектра масс ионов, возникающих в результате ионного травления исследуемого образца. Англ. аббр. от 'Time of flight secondary ion mass-spectrometry ".
Атомно-силовой микроскоп, ACM atomic force microscope, ASM	Сканирующий зондовый микроскоп, информативный сигнал которого про­порционален силе взаимодействия ме­жду проводящим зондом и поверхно­стью объекта.
Видеосигнал videosignal	Графическая зависимость значения ин­формативного сигнала, поступающего с детектора микроскопа от номера пик­селя в данной строке видеоизображе­ния.
Гранулометрия grain size analysis, granulometry	Общее название для различных по фи­зическим принципам методов опреде­ления распределения частиц по разме­рам.
Дифрактометр difractometer	Прибор для регистрации дифракто-грамм - зависимостей интенсивности рассеянного веществом излучения от угла между направлением падающего и рассеянного излучения (угла дифрак­ции)
Дифрактометрия difractometery	Метод измерения параметров структу­ры вещества, основанный на явлении дифракции электромагнитного излуче­ния.
Дифракция медленных электронов, дмэ low-energy electron diffraction, LEED	Метод исследования структуры по­верхности, основанный на дифракции медленных (10...300 эВ) электронов на поверхностных слоях конденсирован­ного вещества.
Дифракция отраженных быстрых электронов, ДОБЭ reflected fast electron diffraction, RFED	Метод исследования структуры по­верхностных слоев и нанопленок (в том числе, в процессе их роста), основан­ный на дифракции быстрых (1...100 кэВ) электронов в геометрии падения и рассеяния электронов под малыми углами.
Интеферометр interferometer	Средство измерение, в котором реали­зован эффект интерференции.
Интеферометрия interferometry	Метод исследования, основанный на явлении интерференции.
Комбинационное рассеяние combination(al) scattering, Raman scattering	Рассеяние электромагнитного излуче­ния газами, жидкостями и твердыми телами, сопровождающееся заметным изменением частоты падающего излу­чения.
Магнитно-силовой микроскоп (скани­рующий), MCM (scanning) magnetic force microscope	Сканирующий зондовып микроскоп, по­лучение изображения в котором осно­вано на магнитном взаимодействии острия кантилевера и магнитных кла­стеров на поверхности твердого тела.
Малоугловое рентгеновское рассеяние small angle X-ray scattering	Метод исследования вещества, в част­ности метод измерения размеров нано-частщ, основанный на регистрации дифрактограмм излучения, рассеянных исследуемым объектом под малыми углами (от нескольких угловых секунд до долей градуса)
Масс-спектр mass-spectrum	Зависимость ионного тока в масс-спектрометре от отношения массы частицы к ее электрическому заряду.
Масс-спектрометрия mass-spectrometry	Метод исследования вещества, осно­ванный на получении спектра масс -зависимости ионного тока от отноше­ния массы ионов исследуемого вещест­ва к заряду этих ионов.
Метод EXAFS (EXAFS - спектроско­пия) EXAFS, EXAFS spectroscopy	Метод, основанный на анализе зависи­мости значения величины коэффициен­та поглощения вблизи края поглощения химического элемента, входящего в состав исследуемого вещества в облас­ти энергий до 100-150 эВ выше края поглощения. Для получения EXAFS спектров обычно используют синхро-тронное излучение. От англ. Extended X-ray Absorption Fine Structure - до­словно: протяженная структура края рентгеновского поглощения.
Метод XANES (XANES - спектроско­пия) XANES	Метод, основанный на анализе зависи­мости величины коэффициента погло­щения вблизи края поглощения хими­ческого элемента, входящего в состав исследуемого вещества, в области энергий не более 50 эВ выше края по­глощения. Для получения XANES спектров обычно используют синхро-тронное излучение. От англ. X-ray Ab­sorption Near-Edge Structure - дословно: структура [спектра] рентгеновского по­глощения вблизи края поглощения.
Микроскоп электронный просвечивающий, ПЭМ transmission electron microscope, ТЕМ	Электронный микроскоп, формирующий изображение объекта электрон­ными пучками, проходящими сквозь этот объект.
Микроскоп электронный растровый (сканирующий), РЭМ scanning electron microscope, SEM	Электронный микроскоп, формирую­щий изображение объекта при скани­ровании его поверхности электронным зондом
Микроскопия зондовая probe microscopy	Совокупность методов исследования, основанная на использовании увели­ченных изображений объекта, возни­кающих при регистрации сигнала, обу­словленного взаимодействием механи­ческого зонда с поверхностью конден­сированного вещества.
Микроскопия ионная ion microscopy	Совокупность методов исследования, основанных на использовании увели­ченных изображений объекта ионными пучками средствами ионной оптики.
Микроскопия оптическая light microscopy, optical microscopy	Совокупность методов исследования, основанных на использовании увели­ченных изображений объектов средст­вами световой оптики.
Микроскопия электронная electron microscopy	Совокупность методов исследования, основанных на использовании увели­ченных изображений объекта элек­тронными пучками средствами элек­тронной оптики.
Наноанализ nanoanalysis	Область химического анализа, ориен­тированная на определение химическо­го состава индивидуальных нанообъ-ектов.
Нанодифракция (в просвечивающем электронном микроскопе) nanodifraction (in ТЕМ)	Специальный режим работы просвечи­вающего электронного микроскопа, при котором регистрируется картина дифракции электронов с выбранного участка образца нанометрового разме­ра
Наноскопия nanoscopy	Совокупность методов, средств изме­рений и наблюдения, позволяющих по­лучать изображение нанообъекта, ис­следовать и измерять его свойства.
Оже-микроскоп Auger microscope	Электронный микроскоп, использую­щий для формирования изображения Оже-электроны, возникающие при взаимодействии пучка электронов с объектом.
Оже-спектроскопия Auger spectroscopy	Метод исследования, основанный на регистрации энергетического спектра Оже-электронов, возникающих при взаимодействии электронного пучка с веществом.
Оже-эффект Auger effect	Эмиссия электрона из атома, происхо­дящая в результате безызлучательного перехода при наличии в атоме вакан­сии на внутренней электронной обо­лочке.
Рентгеновская спектроскопия погло­щения absorption X-ray spectroscopy	Группа методов исследования вещест­ва, основанная на зависимости коэф­фициента поглощения рентгеновских лучей от энергии (длины волны) па­дающего излучения.
Синхротрон synchrotron	Кольцевой резонансный ускоритель заряженных частиц, как легких {элек­тронов, позитронов), так и тяжелых (протонов, антипротонов, ионов). В на-нотехнологии чаще всего используют электронный синхротрон - кольцевой резонансный ускоритель электронов или позитронов до энергии от несколь­ких МэВ до десятков ГэВ. Главные применения синхротрона связаны с об­разованием в нем синхротронного из­лучения.
Фурье-спектрометр Fourier(-transform) spectrometer, interfer­ence spectrometer	Спектральный прибор, в котором ис­комый спектр получают в два приема: сначала регистрируется интерферо-грамма исследуемого излучения, а за­тем через ее Фурье-преобразование по­лучают искомый спектр.
Фурье-спектроскопия Fourier(-transform) spectroscopy	Совокупность спектральных методов, в которых для получения спектров ис­пользуют Фурье-спектрометры.
Электронография electronography	Метод измерения параметров структу­ры вещества в конденсированном со­стоянии, основанный на дифракции электронов с энергией более несколь­ких кэВ.
ЭПР - спектроскопия (спектроскопия электронного парамагнитного резо­нанса) EPR - spectroscopy	Метод исследования вещества, основанный на явлении электронного па­рамагнитного резонанса
ЭСХА (электронная спектроскопия для химического анализа), рентгено-фотоэлектронная спектроскопия, РФЭС ESCA (electron spectroscopyfor chemical analysys), X-ray photoelectron spectroscopy	Метод анализа поверхности, основан­ный на регистрации энергетических спектров электронов, возникающих в следствие внешнего фотоэффекта при облучении исследуемого объекта элек­тромагнитным излучением рентгенов­ского диапазона спектра. Аббр. от «электронная спектроскопия для хи­мического анализа», используется так­же термин рентгено-фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС).
ЯМР - спектроскопия (спектроскопия ядерного магнитного резонанса) NMR-spectroscopy	Метод исследования вещества, осно­ванный на явлении ядерного магнитно­го резонанса