Программа вступительных испытаний в форме междисциплинарного экзамена для приема по направлению магистерской подготовки 200100. 68 «Приборостроение»

Вид материалаПрограмма

Содержание


2. Разделы дисциплин
Основы техники измерений параметров технических систем.
Нормирование метрологических характеристик средств измерений.
Метрологическая надежность средств измерений.
Выбор средств измерений.
Основы государственной системы стандартизации.
Работы, выполняемые при стандартизации, методы стандартизации.
Категории и виды стандартов.
Нормативно-методическое обеспечение сертификации.
Деятельность органов сертификации и испытательных лабораторий.
14. Общие вопросы получения информации
15. Основы взаимодействия физических полей с веществом
16. Физические явления и эффекты, используемые для получения измерительной информации, области и возможности их применения в тех
17. Первичные измерительные преобразователи (ПИП)
18. Основы электроники
19. Основы цифровой электроники
20. Микропроцессорные средства
21. Основные понятия проектирования приборов
22. Системы автоматизированного проектирования
23. Математические модели объектов проектирования
...
Полное содержание
Подобный материал:
ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ

ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ

«ОМСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ»



«Утверждаю»

Проректор по УР

___________А.В. Мышлявцев

«___» _____________ 20__г.


ПРОГРАММА

вступительных испытаний в форме междисциплинарного экзамена

для приема по направлению магистерской подготовки

200100.68 – «Приборостроение»


2012

1. Дисциплины, входящие в междисциплинарный экзамен

Вопросы вступительного испытания по междисциплинарному экзамену охватывают основные положения следующих дисциплин:

- МЕТРОЛОГИЯ, СТАНДАРТИЗАЦИЯ И СЕРТИФИКАЦИЯ;

- ФОПИ;

- ЭЛЕКТРОНИКА И МИКРОПРОЦЕССОРНАЯ ТЕХНИКА;

- ПРОЕКТИРОВАНИЕ ПРИБОРОВ И СИСТЕМ;


2. Разделы дисциплин:
  1. Воспроизведение единиц физических величин и единство измерений.

 Физические свойства, величины и шкалы.

 Система физических величин и их единиц.

 Международная система единиц (система СИ).

 Воспроизведение единиц физических величин и передача их размеров.

 Эталоны единиц системы СИ.

  1. Основы техники измерений параметров технических систем.

 Модель измерения.

 Виды и методы измерений.

 Погрешности измерений.

 Внесение поправок в результаты измерений.

 Качество измерений.

 Методы обработки результатов измерений.

  1. Нормирование метрологических характеристик средств измерений.

 Виды средств измерений.

 Метрологические характеристики средств измерений.

 Классы точности средств измерений.

 Модели нормирования метрологических характеристик.

  1. Метрологическая надежность средств измерений.

 Основные понятия теории метрологической надежности.

 Изменение метрологических характеристик средств измерений в процессе эксплуатации.

 Метрологическая надежность и межповерочные интервалы.

  1. Выбор средств измерений.

 Понятия об испытании и контроле.

 Принципы выбора средств измерений.

  1. Принципы метрологического обеспечения.

 Нормативно-правовые основы метрологии.

 Метрологические службы и организации.

 Государственный метрологический надзор и контроль.

 Методика выполнения измерений.

 Метрологическая экспертиза.

 Анализ состояния измерений.

  1. Основы государственной системы стандартизации.

 Основные положения.

 Российские организация по стандартизации.

 Международные организации по стандартизации.

  1. Работы, выполняемые при стандартизации, методы стандартизации.

 Систематизация, кодирование, классификация.

 Унификация, типизация, агрегатирование машин.

 Комплексная стандартизация.

 Опережающая стандартизация.

  1. Категории и виды стандартов.

 Категории стандартов.

 Виды стандартов.

  1. Государственный контроль и надзор за соблюдением требований государственных стандартов.



  1. Основы сертификации.

 Определение сертификации.

 Виды сертификации.

 Система сертификации.

 Основные стадии сертификации.

  1. Нормативно-методическое обеспечение сертификации.

 Структура нормативно-методического обеспечения сертификации.

 Стандарты на объекты сертификации.

 Стандартизация методов подтверждения соответствия.

 Стандарты на органы по сертификации и испытательные лаборатории.

  1. Деятельность органов сертификации и испытательных лабораторий.

 Организация деятельности органов по сертификации.

 Организация деятельности испытательных лабораторий.

 Аккредитация органов по сертификации и испытательных лабораторий.


14. Общие вопросы получения информации
  • Основные понятия и определения измерительной техники: измерение, физическая величина, классификация физических величин, измерительное преобразование и измерительный преобразователь.
  • Виды и методы измерений: классификация. Способы представления информации.
  • Средства измерений, классификация средств измерений. Их основные статические характеристики: уравнение преобразования, погрешность, чувствительность, диапазон преобразования и др.
  • Динамические характеристики средств измерений: амплитудно-частотная и фазочастотная характеристики, типовые звенья в статическом и динамическом режимах.
  • Условия измерений, единство измерений, аттестация и поверка. Эталоны, образцовые средства измерений, стандартные образцы.


15. Основы взаимодействия физических полей с веществом
  • Электрическое поле в диэлектриках: поляризация, виды поляризации. Диэлектрическая проницаемость. Диэлектрические потери. Токи в диэлектриках.
  • Электрическое поле в проводниках. Зависимость электропроводности проводников от различных факторов: температуры, давления, деформации. Термоэлектрические явления в проводниках.
  • Электрическое поле в полупроводниках. Зависимость удельного сопротивления полупроводников от температуры, деформации интенсивности и длины волны электромагнитного излучения, магнитного поля.
  • Взаимодействие электромагнитного поля с веществом. Уравнения Максвелла. Шкала электромагнитных волн. Распространение электромагнитной волны в диэлектриках и проводниках. Отражение, преломление и рассеяние волны. Поверхностный эффект.
  • Распространение электромагнитного поля в веществе. Явления интерференции, дифракции, отражения и преломления электромагнитных волн и их применение.
  • Использование интерференции для измерения различных физических величин: геометрических размеров, угловых координат и др.
  • Магнитное поле в веществе: кривая намагничивания, магнитная проницаемость, магнитные потери.



16. Физические явления и эффекты, используемые для получения измерительной информации, области и возможности их применения в технике измерений
  • Физические эффекты: определение и классификация. Одинарные и двойные физические эффекты и явления. Классификация одинарных физических эффектов и явлений.
  • Тензорезистивный и терморезистивный эффекты. Магниторезистивный и фоторезистивный эффекты. Эффект Зеебека. Пьезоэлектрический эффект и эффект Холла. Магнитоупругий эффект. Эффект Баркгаузена.
  • Линейный и квадратичный электрооптический эффекты Поккельса и Керра. Магнитооптический эффект Фарадея.
  • Эффект Доплера. Тепловое излучение и его законы.


17. Первичные измерительные преобразователи (ПИП)
  • Классификация первичных ИП. Динамические модели датчиков Основные характеристики первичных ИП (датчиков): градуировочная характеристика, чувствительность, диапазон измерения (преобразования), погрешность, постоянная времени.
  • Терморезистивные преобразователи. Тензорезистивные преобразователи. Мостовые измерительные цепи резистивных датчиков. Способы включения резистивных датчиков в измерительную цепь (двух, трех, четырех проводное включение). Емкостные датчики.
  • Термоэлектрические преобразователи. Погрешности термопар. Электромагнитные преобразователи (индуктивные, трансформаторные, магнитоупругие).
  • Измерительные цепи электромагнитных преобразователей. Пьезоэлектрические преобразователи. Индукционные преобразователи (преобразователи постоянного и переменного магнитного поля, частоты вращения, расходомеров). Феррозондовые преобразователи.


18. Основы электроники
  • Элементная база электронных устройств (пассивные элементы, диоды, биполярные и полевые транзисторы), оптоэлектроника.
  • Источники вторичного электропитания; усилители и генераторы электрических сигналов; линейные и нелинейные преобразователи сигналов; импульсные устройства.
  • Операционные усилители, типовые схемы включения ОУ.


19. Основы цифровой электроники
  • Логические функции и логические элементы; комбинационные (шифраторы и дешифраторы, преобразователи кодов, мультиплексоры и демультиплексоры, полусумматоры и сумматоры) и последовательностные (триггеры, счетчики, регистры, делители частоты) логические схемы.
  • Интегральные микросхемы их классификация по способам и технологии изготовления. Структура КМОП, ЭСЛ, БПЛ, ТТЛ и ТТЛШ логики.
  • Сопряжение аналоговых и цифровых устройств; аналоговые микросхемы, АЦП и ЦАП преобразователи.
  • Классификация полупроводниковых запоминающих устройств. Построение модулей памяти микропроцессорных систем. Программируемые логические интегральные схемы.


20. Микропроцессорные средства
  • Функциональное содержание микропроцессора. Архитектура процессоров, система команд.
  • Организация ввода-вывода. Периферийные устройства.
  • Виды микроконтроллеров. Особенности аппаратной части однокристальных МП-средств.
  • Микропроцессы в измерительной технике и управлении.


21. Основные понятия проектирования приборов
  • Понятие проектирования.
  • Классификация объектов проектирования.
  • Принципы проектирования.
  • Этапы и уровни проектирования.
  • Типовые проектные процедуры, последовательность процедур проектирования.


22. Системы автоматизированного проектирования
  • Проблемы построения и задачи по созданию САПР. Требования, предъявляемые к САПР.
  • Структура САПР.
  • Техническое обеспечение САПР.
  • Лингвистическое обеспечение САПР.


23. Математические модели объектов проектирования
  • Классификация математических моделей.
  • Иерархия математических моделей в САПР.
  • Уровни абстракции при проектировании.
  • Формы представления моделей.
  • Требования к математическим моделям.
  • Методика макромоделирования.


24. Модели, используемые при проектировании РЭА
  • Многоуровневая иерархическая структура РЭА.
  • Модели сопротивления, источников напряжения и тока.
  • Модели полупроводниковых приборов, ИС.
  • Типовая структура макромодели ИС.


25. Основы конструирования
  • ЕСКД, общие положения, обозначения стандартов.
  • Понятия конструирования и технологии.
  • Виды конструкторских документов.
  • Виды изделий.
  • Стадии разработки конструкторской документации.
  • Учет и обращение конструкторской документации.



3. Основная и дополнительная литература

Основная литература

1. Сергеев, А.Г. Метрология, стандартизация, сертификацияТекст: учебное пособие / А.Г.Сергеев, М.В. Латышев, В.В. Терегея - Логос, 2005.-560с. ISBN-5-94010-341-3

2. Сергеев, А.Г. Метрология Текст: учебное пособие для вузов / А.Г.Сергеев, В.В.Крохин.- Лотос, 2000.-408с:т ISBN-5-88439-018-8

3. Федеральный закон РФ «О техническом регулировании».

4. Раннев, Г.Г. Информационно-измерительная техника и технологии: учеб. для вузов по специальности "Информационно-измерительная техника и технологии" направления подгот. дипломир. специалистов "Приборостроение" / В. И. Калашников, С. В. Нефедов, А. Б. Путилин и др.; Под ред. Г. Г. Раннева. - М. : Высш. шк., 2002. - 454 с.

5. Марусина, М.Я. и др. Основы метрологии, стандартизации и сертификации / М.Я. Марусина, В.Л. Ткалич, Е.А. Воронцов, Н.Д. Скалецкая. – С. Пб-г: Изд-во СПбГУ ИТМО, 2009. – 164 с.

6. Садовский, Г.А. Теоретические основы информационно-измерительной техники : учеб. пособие для вузов по направлению подгот. "Приборостроение" и специальности "Информационно-измерительная техника и технологии" / Г. А. Садовский. - М. : Высш. шк., 2008. - 477с.

7. Раннев, Г.Г. и др. Информационно-измерительная техника и электроника. Учебник. – М.: Академия, 2006. – 512 с.

8. Электроника и микропроцессорная техника: учеб. для вузов по направлению подгот. бакалавров и магистров "Биомедицинская инженерия" / В. Г. Гусев, Ю. М. Гусев. - 4-е изд., доп. - М. : Высш. шк., 2006. – 797 с.

9. Ахмеджанов, Р. А. Физические основы получения информации [Текст] : учеб. пособие для вузов по специальности 200100 "Приборостроение" и приборостроит. специальностям / Р. А. Ахмеджанов, А. И. Чередов ; ОмГТУ, Ом. гос. ун-т путей сообщения. - Омск : Изд-во ОмГТУ, 2008. - 181 с.

10. Посупонько, Н.В. Автоматизированные системы контроля, диагностики и прогнозирования. Учеб. пособие. – Ростов на Дону, 2008. – 79 с.

11. Крылова, Г. Д. Основы стандартизации, сертификации, метрологии : учеб. для вузов / Г. Д. Крылова. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : ЮНИТИ-ДАНА, 2003. - 671 с.

12. Сергиенко, А. Б. Цифровая обработка сигналов / А. Б. Сергиенко. - 2-е изд. - СПб. [и др.] : Питер, 2007. - 750 с.

13. Проектирование приборов и систем: учеб. пособие для вузов по направлению подгот. бакалавров 200100 "Приборостроение" и специальности 200106 "Информационно-измерительная техника и технологии" / М. Г. Родионов, А. В. Михайлов, К. Р. Сайфутдинов; ОмГТУ. - Омск: Изд-во ОмГТУ, 2007. - 168 с.

14. Ахмеджанов, Р. А. Основы метрологии: учеб. пособие для вузов по специальности 200100 "Приборостроение" и приборостроит. специальностям / Р. А. Ахмеджанов, С. В. Бирюков, А. И. Чередов ; ОмГТУ, Ом. гос. ун-т путей сообщения. - Омск : Изд-во ОмГТУ, 2008. - 115 с.

Дополнительная литература

1 Раннев, Г.Г. Методы и средства измерений: учеб. для вузов по специальностям 653700 "Приборостроение", 190900 "Информационно-измерительная техника и технологии" / Г. Г. Раннев, А. П. Тарасенко. - 3-е изд., стер. - М. : Академия, 2006. - 330с.

2 Основы метрологии / Ю.А. Богомолов и др. – М.: Изд-во «МИСИС», 2003. – 106 с.

3 Боридько С.И., Дементьев Н.В., Тихонов Б.Н., Ходжаев И.А.Метрология и электрорадиоизмерения в телекоммуникационных системах. Учебное пособие / Под общей редакцией Тихонова Б.Н. М.: Горячая линия – Телеком, 2007. – 374с.

4 Сергеев А.Г. Метрология и метрологическое обеспечение. – М.: Изд-во «высшее образование», 2008. – 575 с.

5 Кравченко, Н.С. Методы обработки результатов измерений и оценки и оценки погрешности в учебном лабораторном практикуме / Н.С. Кравченко, О.Г. Ревинская; ТПУ. – Томск: Изд-во ТПУ, 2011. – 86 с.

6 Александровская, Л.Н. Теоретические основы испытаний и экспериментальная отработка сложных технических систем. / Александровская Л.Н., Круглов В.И., Кузнецов А.Г. – М.: Изд-во Логос, 2003. – 736 с.

7 Михайлов А.В., Родионов М.Г. Проектирование цифровых измерительных устройств. Учебное пособие. – Омск: Изд-во ОмГТУ, 2007. - 224 с.

8 Разработка электрических функциональных устройств: метод. указания для курсового проектирования / ОмГТУ ; Сост.: А. В. Никонов, Г. В. Никонова. - Омск : Изд-во ОмГТУ, 2005. - 66 с.

9 Электроника и микропроцессорная техника в машиностроении: учеб. для вузов по специальностям МС профиля / А. П. Желтоногов, Ю. В. Земсков, А. Г. Схиртладзе, В. П. Шевчук ; Волж. политехн. ин-т и др. - Волгоград : Политехник, 2004. - 443 с.


Руководитель направления

200100.68 – «Приборостроение»

д.т.н., профессор В.И. Глухов


Согласовано

Декан ФЭОиМ Д.В. Постников