Технический контроль качества кристаллических элементов из лангатата для устройств пьезотехники
Отчет по практике - Физика
Другие отчеты по практике по предмету Физика
ктора WordPad.
. Контроль перпендикулярности среза (базового или вспомогательного в зависимости от типоразмера подложки) относительно оси Х
Контроль перпендикулярности среза подложки (базового или вспомогательного в зависимости от типоразмера подложки) относительно оси Х выполняют на рентгеновском дифрактометре DSO-2Р согласно инструкции по эксплуатации. Перед измерением подложку ставят на столик дифрактометра на срез (базовый или вспомогательный в зависимости от типоразмера подложки) и закрепляют прижимом в специальном упоре. Устанавливают защитную шторку и выполняют измерение, результаты которого выводятся на экран монитора в окне редактора WordPad.
. Контроль скорости ПАВ на пьезоэлектрической подложке
Контроль скорости ПАВ на подложке проводят на стенде для измерения скорости распространения поверхностной акустической волны в пьезоэлектрических подложках ИС-1/01 ФКРЕ.636101.001 согласно инструкции по эксплуатации ФКРЕ.636101.001 ТО. Для проведения измерений измеряемую подложку устанавливают на вакуумный столик полированной стороной вверх, базовый рез прижимают к упору на вакуумном столике. При помощи подвижного механизма стойки микроскопа измерительный датчик подводят к подложке с зазором 5-10 мм, вакуумный столик устанавливают в требуемую позицию. При помощи подвижного рычага измерительный датчик опускают на подложку. После установки датчика на подложку и запуска программы выполняют измерение скорости ПАВ, результаты которого выводятся на экран монитора и сохраняются в БД Paradox.
. Контроль неоднородности скорости ПАВ на пьезоэлектрической подложке. Контроль неоднородности скорости ПАВ на подложке проводят на стенде для измерения скорости распространения поверхностной акустической волны в пьезоэлектрических подложках ИС-1/01 ФКРЕ.636101.001 согласно инструкции по эксплуатации ФКРЕ.636101.001 ТО. Для этого на подложке в 9 точках выполняют измерение скорости ПАВ согласно п.14. Неоднородность скорости ПАВ на измеряемой подложке рассчитывают по формуле
, (2)
где - величина неоднородности скорости ПАВ на подложке;
s - среднеквадратическое отклонение скорости ПАВ, ;
- средняя скорость ПАВ на подложке, ;
Vi - значение измеренной скорости ПАВ в i-й точке на подложке.
.Контроль массы пьезоэлектрической подложки
Контроль массы подложки выполняют с помощью электронных весов марки ВТЛК-500 с точностью взвешивания 0,01г. Подложку помещают на весы и выполняют взвешивание.
На каждый вид продукции выписывается сопроводительный лист, в котором отображаются все технологические операции, и фиксируется количество годных и бракованных заготовок после каждой операции.
Выводы
За время прохождения производственной практики на предприятии ОАО "Фомос-Материалс" были изучены:
задачи и функции службы технического контроля на предприятии;
технологический процесс изготовления пьезоэлектрических подложек диаметром 100 мм из лангасита;
контрольно-измерительные операции, требования к измеряемым параметрам, а так же средства контроля и измерений при производстве пьезоэлектрических подложек диаметром 100 мм из лангасита.
Во время прохождения производственной практики был освоен метод контроля скоростей распространения поверхностных акустических волн в пьезоэлектрических подложках из лангасита.
Список используемых источников
.Пьезоэлектрические резонаторы: Справочник / В.Г. Андросова, Е.Г. Бронникова и др. / Под ред. П.Г. Позднякова. -М.: Радио и связь, 1992.
.Белоконева Е.Л., Белов Н.В. Кристаллическая структура синтетического Ga, Ge-геленита Ca3Ga2GeO7 = Ca2Ga(GaGe)O7 и сопоставление со структурой Ca3Ga2Ge4O14 // Доклады академии наук СССР, 1981.
.Милль Б.В., Максимов Б.А., Писаревский Ю.В., Данилова Н.П., Павловская А., Вернер Ш., Шнайдер Ю. Выращивание и структура кристаллов La3Ga5SiO14 // Кристаллография, 2004.
.Гераськин В.В., Клюхина Ю.В., Бузанов О.А., Петраков В.С. Влияние оптической неоднородности кристаллов лангасита на величину измеряемых электрооптических коэффициентов // Кристаллография, 2007.
.Самошович М.И. Хаджи В.Е., Цинобер Л.И., Колодиева С.И. Диэлектрические, механические и оптические свойства синтетического кварца // Синтез минералов, 2000.
.
.ГОСТ 16504-81 "Система государственных испытаний продукции. Испытания и контроль качества продукции. Основные термины и определения".