Белгородский государственный университет

Вид материала

Конкурс

Содержание Работы на конкурс принимаются до 05 июня 2009 года Растровый ионно-электронный микроскоп Quanta 200 3D Растровый ионно-электронный микроскоп Quanta 600 Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии Ntegra Aura Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA Совмещенный ТГА/ДСК/ДТА анализатор SDT Q600 ИК-Фурье спектрометр NICOLET 6700 Оптический микроскоп Olimpus GX51 Рентгенофлуоресцентный анализатор ARL Optim’X Лазерный дифракционный анализатор размера частиц Анализетте 22 Nanotech Технические характеристики Анализатор удельной поверхности и пористости TriStar 3000 Ртутный порозиметр AutoPore IV 9500 Скретч-тестер REVETEST - для изучения адгезионных характеристик. Определение микротвердости по Виккерсу. изображение передается на компьютер с последующей обработкой данных посредством компьютерного обеспечения и выводом информации н Автоматический прибор для проведения термомеханического анализа с горизонтальным положением образца DIL 402 C/4/G (дилатометр) Анкета участника

Подобный материал:

• Программы развития государственного образовательного учреждения высшего профессионального, 524.81kb.
• Белгородский Государственный Университет, специальность Мировая экономика (Международные, 37.18kb.
• Проблемы экономики и управления. Межрегиональный научно-производственный журнал / Белгородский, 224.51kb.
• Белгородский государственный технологический университет им. В. Г. Шухова, 114.88kb.
• Разработка системы управления энергокомплексом на базе гелиоустановки, 258.08kb.
• 4. Актуальные вопросы налогообложения в условиях модернизации экономики, 36.94kb.
• Конкурс научных молодежных работ «Молодежь Белгородской области», 732.53kb.
• Федеральное агентство по образованию РФ белгородский государственный университет, 34.16kb.
• П. А. Нилуса и а. М. Фёдорова >10. 01. 01 русская литература, 339.62kb.
• Когнитивный анализ имен существительных широкой семантики (проблема выбора метода), 365.92kb.

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РФ

УПРАВЛЕНИЕ ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ

АДМИНИСТРАЦИИ БЕЛГОРОДСКОЙ ОБЛАСТИ


БЕЛГОРОДСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ


Информационное сообщение

о проведении конкурса на лучшую научную работу студентов и аспирантов

«Перспективные материалы: получение, свойства, применение»


Уважаемые коллеги!


С 25 марта по 15 июня 2009 года в Белгородском государственном университете проводится Конкурс на лучшую научную работу студентов и аспирантов «Перспективные материалы: получение, свойства, применение».

Конкурс проводится на базе Центра коллективного пользования научным оборудованием «Диагностика структуры и свойств наноматериалов» БелГУ в рамках выполнения проекта «Развитие механизмов эффективной интеграции научной и образовательной деятельности при подготовке специалистов в области физического материаловедения на базе Центра коллективного пользования научным оборудованием», аналитическая ведомственная целевая программа «Развитие научного потенциала высшей школы».

К рассмотрению принимаются научные работы, выполненные студентами (магистрантами) и аспирантами высших учебных заведений России, обучающимися или ведущими научные исследования по тематике конкурса.

Отбор участников осуществляется в номинациях – «Лучшая научная работа студента» и «Лучшая научная работа аспиранта» по каждому из трех направлений конкурсного отбора:

• Конструкционные материалы;
  
• Функциональные материалы;
  
• Материалы в нанобиотехнологии.
  

Конкурсная работа обязательно должна содержать информацию об актуальности проводимых исследований, научной новизне полученных и ожидаемых результатов, практической значимости, возможности использования результатов в учебном процессе, а также обоснование необходимости проведения исследований и подробный план исследований с использованием современной приборной базы ЦКП «Диагностика структуры и свойств наноматериалов».


По результатам конкурсного отбора и экспертизы победители из числа студентов (магистрантов) и аспирантов БелГУ награждаются дипломами победителей Конкурса и денежной премией в размере 3000 руб. и 5000 руб. соответственно, и получают Сертификат на двухнедельную научную стажировку с проведением исследований на базе ЦКП «Диагностика структуры и свойств наноматериалов» (приложение 1). Сроки стажировки определяются по согласованию с руководством ЦКП.

Победители из числа студентов (магистрантов) и аспирантов других вузов награждаются дипломами победителей Конкурса и получают Сертификат на двухнедельную научную стажировку с проведением исследований на базе ЦКП «Диагностика структуры и свойств наноматериалов». Сроки стажировки определяются по согласованию с руководством ЦКП. Командировочные расходы несет направляющая сторона.

Лауреаты Конкурса, занявшие 2 и 3 места, награждаются дипломами победителей Конкурса и получают возможность участвовать в летней школе-семинаре для молодых ученых «Актуальные проблемы физического материаловедения» на льготных условиях (бесплатное проживание).


Для участия в конкурсном отборе инновационных проектов необходимо направить в адрес Оргкомитета следующие материалы по электронной почте Belenko@bsu.edu.ru:

1. Официальное письмо учебного заведения в адрес Конкурсной комиссии с рекомендацией к участию в Конкурсе, подписанное одним из руководителей и заверенное печатью.
   
2. Научная работа в объеме 10-12 стр. (Приложение 2).
   
3. Анкета участника (Приложение 3).
   

Работы на конкурс принимаются до 05 июня 2009 года.


По вопросам участия в конкурсе обращаться:


В Оргкомитет Конкурса

E-mail: Ivanov.Oleg@bsu.edu.ru, Belenko@bsu.edu.ru

Контактный тел. (4722) 58-54-15

представитель Оргкомитета Конкурса – Игорь Алексеевич Беленко


Приложения к объявлению:

Приложение 1. Информация о ЦКП.

Приложение 2. Требования к оформлению научной работы.

Приложение 3. Анкета участника Конкурса.


Приложение 1.


ЦКП «Диагностика структуры и свойств наноматериалов» (u) создан с целью развития приборной базы Белгородского государственного университета, ориентированной преимущественно на использование организациями и предприятиями Белгородской области и Центрально-Черноземного региона; повышения эффективности совместного использования имеющегося аналитического, испытательного и технологического оборудования, необходимого для решения научных задач, определенных приоритетными направлениями развития науки, технологий и техники РФ; обеспечения подготовки высококвалифицированных кадров, способных проводить научно-исследовательские и опытно-технологические работы с использованием современного научного оборудования и передовых методов и методик физического материаловедения.


Основное аналитическое оборудование ЦКП «Диагностика структуры и свойств наноматериалов

1. Растровый ионно-электронный микроскоп Quanta 200 3D

Проведение исследований диэлектрических и биологических объектов в режиме естественной среды, возможность приготовления тонких фольг для просвечивающей электронной микроскопии из выбранного участка образца (система ионного фокусированного пучка Magnum, микроманипулятор OmniProbe 100.7), оснащен системой локального нанесения вольфрама из газовой фазы «W deposition», интегрированной системой Pegasus 2000 для микроанализа (рентгеновский детектор Sapphire со сверх ультратонким окном – диапазон элементов Be-U, разрешение по (Кa Mn) лучше 132 эВ) и определения разориентировок зерен методом дифракции обратно-рассеянных электронов (цифровая камера Digiview II высокого разрешения с высокочувствительной матрицей).

Технические характеристики:

• Разрешение 5-7 нм.
  
• Разрешение по EDX-анализу 0,2% (по концентрации) и по энергии 130 эВ. Меряет от Be.
  
• EBSD-анализ: разрешение порядка 0,1 мкм.
  

2. Растровый ионно-электронный микроскоп Quanta 600

С естественной средой, ускоряющее напряжение от 200 В до 30 кВ, разрешение 3,5 нм при 30 кВ в режимах высокого вакуума, низкого вакуума, естественной среды и 15 нм при 3 кВ в режиме низкого вакуума. Размер камеры 379 мм, 10 портов для установки детекторов и анализаторов. 5-и осевой моторизованный столик 150х150 мм.

Технические характеристики:

• Разрешение порядка 2 нм.
  
• Разрешение по EDX-анализу 0,2-0,25% (по концентрации), для WDX разрешение по энергии 10 эВ. Меряет от Be.
  
• EBSD-анализ: hазрешение порядка 0,1 мкм.
  

3. Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100

Получение изображения исследуемого объекта. Используется отдельный дифрагированный или прошедший пучок, и контраст изображения обусловлен изменениями интенсивности пучка вследствие локальных искажений кристаллической решетки (деформационных полей), разориентации отдельных блоков, различия в элементном составе. Пространственное разрешение в дифракционном режиме составляет 0.3:0.5 нм. Посредством перемещения плоскости регистрации в фокальную плоскость объективной линзы в дополнение к изображению исследуемого объекта регистрируется картина электронной дифракции с заданного участка. Пространственное разрешение в этом случае достигает 0.1 нм, т.е. позволяет наблюдать отдельные атомные колонки, расположенные вдоль направления распространения пучка электронов.

Технические характеристики:

• Полюсный наконечник для получения изображений с высоким пространственным разрешением.
  
• Гексаборидлантановый источник электронов.
  
• Бериллиевая насадка на стандартный держатель образцов.
  
• Держатель образцов с возможностью наклона в двух плоскостях.
  
• Держатель образцов с возможностью заморозки и наклона в одной плоскости. Для заморозки используется жидкий азот.
  
• Устройство получения светлопольного ПРЭМ изображения.
  
• Устройство получения темнопольного ПРЭМ изображения.
  
• Система энергодисперси-онного микроанализа, включающая детектор с окном площадью 30 мм2 и разрешением по энергии 136 эВ на Kα линии марганца c электронным затвором.
  
• Включает следующие программы: Основная программа-интерфейс для работы с системой микроанализа. Имеет логический интерфейс. Обрабатывает данные по вторичному излучению и отображает их как спектр рентгеновских лучей. Автоматически идентифицирует пики в спектре и элементы в образце. Анализирует спектр на предмет перекрывающихся пиков; Программа поэлементного картирования по поверхности образца используется при анализе материалов, где важна пространственная информация. Позволяет точно обнаруживать источник излучения определённого спектра. Программа для элементного анализа вдоль линий и линий сеток с построением графиков концентраций; Программа автоматической коррекции результатов анализа в соответствие с изменениями параметров электронного луча.
  
• Цифровая камера для вывода изображения на монитор компьютера.
  
• Программное обеспечение для анализа дифракционных картин.
  
• Система линз микроскопа и конструкция полюсного наконечника обеспечивают разрешение 0,23 нм в точке и 0,14 нм по решетке при 200 кВ на катоде LaB6 , увеличение должно быть от х50 до х1500000.
  
• Ускоряющее напряжение до 200 кВ.
  
• Диапазон увеличения до 1 500 000x.
  
• Пространственное разрешение: - по решетке 0.1 нм; - по точкам 0.19 нм.
  
• Длина дифракционной камеры при дифракции с заданного участка от 80 до 2000 мм.
  

4. Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии Ntegra Aura

Позволяет с нанометровым разрешением проводить исследование поверхностных характеристик и приповерхностных физических полей различных объектов, допускающих их размещение в вакууме. Позволяет проводить измерения в условиях вакуума до 10-2 Торр, что предоставляет целый ряд преимуществ. Это относится как к повышению чувствительности измерений за счет повышения добротности колебаний кантилевера, так и к возможности проведения измерений без вредного влияния поверхностного адсорбата.

Дополнительные возможности представляются наличием в комплектации термостолика, позволяющего производить нагрев образца до 130˚С и поддерживать заданную температуру с точностью до 0.05˚С.

Технические характеристики:

• СТМ головка с предусилителем (30пА-50нА);
  
• универсальная СЗМ головка, модифицированная для использования с оптической системой с разрешением 1 мкм;
  
• сменный сканер с емкостными датчиками X,Y,Z 100 мкм× 100 мкм×12 мкм;
  
• сменный сканер X,Y,Z 1 мкм× 1 мкм×1 мкм;
  
• высоковакуумная сканирующая СЗМ головка, сканер с емкостными датчиками X,Y,Z 100 мкм×100 мкм×10 мкм, система слежения луча за зондом.
  

Спецификация:

• Размер образца: Сканирование образцом - до 40 мм в диаметре, до15 мм в высоту; Сканирование зондом – до 100 мм в диаметре, до 15 мм в высоту;
  
• Вес образца: Сканирование образцом до 100 г; Сканирование зондом до 300 г;
  
• XY позиционирование образца - 5x5 мм;
  
• Поле сканирования: Сканирование образцом 100x100x10 мкм, 3x3x2,6 мкм; Сканирование зондом 100x100x10, мкм 50x50x5 мкм.
  

5. Рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA:

   • Определение фазового состава пробы.
     
   • Количественное определение известных фаз в смеси.
     
   • Кристаллография, уточнение структуры кристаллов.
     
   • Проведение анализа в различных условиях: изменение температуры, давления или газовой атмосферы.
     
   • Анализ поверхности и тонких пленок.
     
   • Анализ текстуры.
     
   • Анализ чувствительных к воздуху материалов с помощью капиллярного столика
     

Технические характеристики:

• Базовая система с детектором Пелтье:
  
• Полупроводниковый генератор 3 кВт; Cu рентгеновская трубка (стеклянная трубка 2000 кВт с нормальным линейным фокусом *) и система охлаждения;
  

6. Совмещенный ТГА/ДСК/ДТА анализатор SDT Q600

Данный прибор позволяет одновременно использовать три метода термического анализа – термогравиметрию, дифференциальный термический анализ и дифференциальную сканирующую калориметрию.

Прибор дает возможность исследовать термическую стабильность материалов, определять тепловые эффекты химических реакций, определять температуры и энтальпии фазовых переходов, изучать окислительную стабильность и др.

Технические характеристики:

• точность весов 0,1 мкг, навеска образца до 200 мг;
  
• диапазон температур – до 1500С при скорости линейного нагрева до 50 град/мин;
  
• работа в инертной, окислительной, реакционной атмосферой образца и с вакуумом;
  
• встроенный расходометр и возможность подключения одновременно двух газов;
  
• объем камеры печи не более 120 мл;
  
• удобное ПО.
  

7. ИК-Фурье спектрометр NICOLET 6700

Используется для изучения пространственного строения, внутри- и межмолекулярного взаимодействия органических соединений и полимеров, идентификации веществ.

Технические характеристики:

• Спектральный диапазон 375-7400 см-1,
  
• Предел допустимой абсолютной погрешности шкалы волновых чисел +-0,5 см-1.
  

8. Оптический микроскоп Olimpus GX51

Получение в отражённом свете: светлопольных и темнопольных изображений; изображений дифференциального интерференционного контраста (DIC); изображений в поляризованном свете.

Программное обеспечение для микроскопов ImageScope M. позволяет: проводить обработку цветных изображений с глубиной цвета до 24 бит и полутоновых (чёрно-белых) изображений (256 градаций серого); проводить стандартные операции по обработке изображений; проводить подсчёт более 40 морфологических параметров объектов; проводить статистическую обработку значений признаков объектов, а также вычисление для каждого признака минимального и максимального значений среднего (математическое ожидание), дисперсии и среднеквадратичного отклонения, построение гистограмм распределения признаков объектов.

Предельное увеличение микроскопа: ×1000 (сменные объективы ×5, ×10, ×20, ×50, ×100).

9. Рентгенофлуоресцентный анализатор ARL Optim’X

Анализ множества разнообразных проб: проводящих и непроводящих твердых образцов, жидкостей, порошков прессованных и непрессованных, а также спеченных, паст и многих других.

Технические характеристики:

• Диапазон определяемых элементов от фтора (Z=9) до урана (Z=92).
  
• Рабочая среда: вакуум или воздух для твердых проб, гелий для жидких и порошковых проб.
  
• Конфигурация для проведения экспрессного и комбинированного анализа: одновременное определение до 8 элементов с помощью 4-х мультихроматоров; последовательный анализ на гониометре SmartGonio.
  
• Рентгеновская трубка мощностью 50 Вт c Rh мишенью и окном толщиной 75 мк;
  
• Источник питания 50 Вт на максимальное напряжение 50 кВт или максимальный ток 2 мА;
  
• Столик c отверстием 29 мм и центрирующими кольцами для прямого ввода жидких проб в кюветах или анализа проб без кассет (для твердых цилиндрических проб  32 мм – 46 мм и max. высотой 22 мм).
  
• 
  

10. Лазерный дифракционный анализатор размера частиц Анализетте 22 Nanotech

Лазерный дифракционный анализатор размера частиц является прибором универсального применения для определения распределения частиц по размерам в суспензиях, эмульсиях и порошках с помощью лазерной дифракции.

Технические характеристики:

• Диапазон измерения:
  

диспергирование в жидкости от 0,01 до 2000 мкм;

сухое диспергирование от 0,1 до 2000 мкм.

• Количество пробы (прим.):
  

диспергирование в жидкости 0,1-2 см3 в 500 мл жидкости;

сухое диспергирование 5-50 см3.

Вес прибора: 105 кг.

11. Анализатор удельной поверхности и пористости TriStar 3000

Одно- и многоточечный анализ по БЭТ и Лэнгмюру, анализ объема и площади поверхности микропор методом t-plot, изотермы адсорбции и десорбции, распределение мезопор по размерам методом BJH (от 2 до 400 нм в диаметре). Возможность анализа до 3 образцов одновременно. Рабочие газы: азот, гелий.

12. Ртутный порозиметр AutoPore IV 9500

Измерение мезо- и макропор в диапазоне от 0.0055 до 360 мкм в диаметре.

Порозиметр обеспечивает:

в режиме низкого давления (диапазон: 0 - 50 psia (345 МПа)) диаметр пор 360 - 3.6 мкм;

в режиме высокого давления (диапазон: 0 - 33000 psia (228 МПа или 2280 бар)) диаметр пор: 6 - 0.005 мкм;

точность датчика - ± 0,1% полной шкалы;

точность интрузии: ± 1% полной шкалы объема интрузии;

максимальный размер образца - цилиндр 2.5 см в диаметре и 2.5 см длиной;

в режиме генерации давления - уравновешивание по времени от 0 до 10,000 сек, уравновешивание по скорости: от 0 до 1000.000 мклитр/г за сек.;

в режиме сканирование - непрерывная генерация давления;

13. Скретч-тестер REVETEST - для изучения адгезионных характеристик.

14. Автоматическая система анализа микротвердости на базе моторизованного микротвердомера DM 8B AUTO

Определение микротвердости по Виккерсу.

Технические характеристики:

• память рассчитана на 999 измерений;
  
• автоматическая подача нагрузки;
  
• скорость подачи 50 мкм/сек;
  
• время выдержки под нагрузкой 5-99 сек;
  
• максимальная высота исследуемого образца 120 мм;
  
• диапазон нагрузок от 1 до 2000 гс;
  
• выполняется функция автоматического возврата в заданную позицию по завершении рабочего цикла;
  

• изображение передается на компьютер с последующей обработкой данных посредством компьютерного обеспечения и выводом информации на печать.

15. Автоматический прибор для проведения термомеханического анализа с горизонтальным положением образца DIL 402 C/4/G (дилатометр)

Технические характеристики:

• Температурный диапазон: от комнатной температуры до 1600°C.
  
• Диапазон измерений: 500 мкм / 5000 мкм
  
• Разрешение: 0.125 нм/разряд, 1.25 нм/разряд.
  
• Контактное давление с датчиком: 15 - 45 cН.
  
• Юстируемый диапазон длины образца: 25 мм.
  

Приложение 2.


Оформление научной работы

1. Объем научной работы – 10 - 12 стр. текста на бумаге формата А4 (210×297 мм);
   
2. Научная работа вместе с заявкой в электронном виде присылаются по электронной почте в файле формата Документ Word (*.doc);
   
3. Тексты должны быть подготовлены в текстовом редакторе Microsoft Word 97/2003, шрифт Times New Roman размером 12 pt, без переносов, без колонтитулов, без сносок;
   
4. Межстрочный интервал – одинарный, отступ первой строки абзаца – 1,25 см; все поля – по 2 см;
   
5. Заголовок набирают прописными буквами полужирным шрифтом, выравнивание по центру; ниже указывается фамилия и инициалы автора (авторов) – полужирным шрифтом, выравнивание по центру; ниже указывается полное название организации, город, государство – курсив, выравнивание по центру;
   
6. Текст отделяют от заголовка пропущенной строкой;
   
7. Таблицы, графики, рисунки (формат JPEG, разрешение не ниже 300 dpi) должны быть вмонтированы в текст в полностью отредактированном виде;
   
8. Формулы должны быть набраны в редакторе формул MathType с полной расшифровкой всех обозначений в тексте;
   
9. Список литературы, в случае его наличия, оформляется в соответствии с требованиями ГОСТ;
   
10. Работы предоставляются в оргкомитет в отредактированном виде, авторы несут ответственность за достоверность представленных данных.
    

Приложение 3.

АНКЕТА УЧАСТНИКА

Фамилия, имя, отчество (полностью) автора научной работы
Статус участника (студент, магистрант, аспирант)
Тема научной работы, представляемой на Конкурс
Шифр и название специальности
Наименование факультета
Полное название учебного заведения, рекомендующего работу к участию в Конкурсе
Контактный телефон (в т.ч. мобильный) e-mail