В. О. Чуканов национальный исследовательский ядерный университет «мифи», Москва надежностное проектирование многопроцессорных систем ответственного назначения вдоклад
Вид материала | Доклад |
- Ю. П. Фирстов национальный исследовательский ядерный университет «мифи» интеграция, 7.54kb.
- И. В. Суслина национальный исследовательский ядерный университет «мифи» проблемы корректной, 7.45kb.
- Программа аттестационного собеседования для поступающих в иатэ нияу мифи, 117.71kb.
- Л. Н. Патрикеев национальный исследовательский ядерный университет «мифи» альтернативная, 11.4kb.
- Ю. В. Штоцкий национальный исследовательский ядерный университет «мифи» Возможности, 9.58kb.
- Программа аттестационного собеседования для поступающих в иатэ нияу мифи на 2-ой, 150.35kb.
- Программа аттестационного собеседования для поступающих в иатэ нияу мифи на 2-ой, 78.89kb.
- Программа аттестационного собеседования для поступающих в иатэ нияу мифи на 2-ой, 142.79kb.
- Программа аттестационного собеседования для поступающих в иатэ нияу мифи на 2-ой, 104.65kb.
- Программа аттестационного собеседования для поступающих в иатэ нияу мифи на 2-ой, 42.54kb.
УДК 004(06) Компьютерные системы и технологии
Д.А. КАЛИН, В.О. ЧУКАНОВ
Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», Москва
НАДЕЖНОСТНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ МНОГОПРОЦЕССОРНЫХ СИСТЕМ ОТВЕТСТВЕННОГО НАЗНАЧЕНИЯ
В докладе рассматриваются вопросы надежностного проектирования многопроцессорных вычислительных систем с резервированием, а также вопросы оценки надежности аппаратуры и программного обеспечения. Данная проблема является крайне актуальной в связи с тем, что системы содержат большое количество процессоров и имеют сложное программное обеспечение. Поставлена задача надежностного синтеза данного класса систем. Произведен обзор методов и моделей надежности аппаратуры и программного обеспечения конкретных резервированных многопроцессорных систем. Разрабатываются оригинальные аналитико-статистические модели надежности, отличающиеся от известных более высокой точностью, учетом большего числа факторов, влияющих на надежность.
ISBN 978-5-7262-1385-9. НАУЧНАЯ СЕССИЯ НИЯУ МИФИ-2011. Том 3