Конкурсная документация
| Вид материала | Конкурс |
- Приказ №236-н от 30 июня 2011 года конкурсная документация по государственным закупкам, 852.08kb.
- Конкурсная документация по Vоткрытому конкурсу научно-практических работ студентов, 273.12kb.
- Конкурсная документация от 19 сентября, 169.87kb.
- Конкурсная документация по конкурсу на размещение муниципального заказа на поставку, 1246.14kb.
- Конкурсная документация, 4666.04kb.
- Конкурсная документация, 927.87kb.
- Конкурсная документация, 1096.3kb.
- Конкурсная документация, 821.24kb.
- Конкурсная документация, 2011.47kb.
- Конкурсная документация, 1870.93kb.
Подпрограмма "Развитие электронной компонентной базы" на 2007-2011 годы федеральной целевой программы «Национальная технологическая база» на 2007 – 2011 годы (утверждена Постановлением Правительства РФ от 29 января 2007 г. № 54).
Объект исследования или разработки
Изделия микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле».
Цель и задачи проекта
Целью проекта является обеспечение основных процессов проектирования и производства перспективных изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле» нормативными документами, регламентирующими проектную и технологическую цепочку их изготовления, а также проведение исследований и разработка предложений по организации процессов изготовления и испытаний наиболее востребованных изделий микроэлектроники, для стратегически значимых систем двойного и военного назначения.
Задачами проекта являются:
- анализ перспектив развития и прогноз наивысших показателей качества и надежности наиболее перспективных изделий микроэлектроники;
- формулировка требований по созданию нормативной базы, используемой при проектировании, производстве и поставке перспективных изделий микроэлектроники на основе отечественного и зарубежного опыта;
- создание первоочередных нормативных документов на перспективные изделия микроэлектроники.
- разработка организационно-технических мероприятий по созданию, изготовлению и испытаниям изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле».
Исходные данные для проведения работы
Исходными данными для проведения работы являются:
- действующий фонд отечественных и зарубежных нормативных документов в области микроэлектроники, результаты НИОКР, опыт работы предприятий и организаций, осуществляющих разработку и производство изделий микроэлектроники, в т.ч. отраслевые стандарты по аттестации производства ИС (ОСТ 11 20.9926-99 и РДВ 319.015-2006), а также общие технические условия на изделий микроэлектронной техники (ОСТ В 11 0398-2000), государственные стандарты военного и двойного назначения (ГОСТ РВ 20.39.413-97, ГОСТ РВ 20.57.414-97, ГОСТ РВ20.57.416-97, ГОСТ 27002- 89, ГОСТ 27410-87).
Содержание работы
Анализ состояния работ в области создания и изготовления наиболее востребованных изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле» для стратегически значимых систем двойного и военного назначения.
Анализ номенклатуры и состояния стандартизации перспективных изделий микроэлектроники. Определение основных направлений стандартизации в области перспективных изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле».
Анализ преимуществ и недостатков технологий и эксплуатационных характеристик изделий микроэлектроники, разработанных и изготовленных по различным технологиям (ТТЛ-ТТЛШ, КМОП, КМОП/КНС, КМОП/КНИ, GaAs, SiC и др.).
Исследование перспектив развития КМОП/.КНС технологии при разработке СБИС типа «система на кристалле», сравнение технологических маршрутов и экономических показателей реализации КМОП-структур для субмикронной объемной и ультратонкой КНС-технологий.
Анализ существующей нормативно-технической базы системы испытаний, методов оперативного контроля качества, применяемых на этапах разработки и производства функционально сложных изделий микроэлектроники.
Исследования, моделирование и прогнозный анализ физических эффектов и доминирующих механизмов отказов в перспективных изделиях микроэлектроники, в том числе с учетом дестабилизирующих воздействий.
Разработка первоочередных нормативных документов в области микроэлектроники, в т.ч. СБИС типа «система на кристалле».
Разработка организационно-технических мероприятий по созданию, изготовлению и испытаниям функционально сложных изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле» для стратегически значимых систем двойного и военного назначения
Основные требования к выполнению работы
В ходе выполнения НИР должны быть:
- проведен анализ состояния работ и перспектив развития в области создания и изготовления наиболее востребованных изделий микроэлектроники;
- разработаны общая структура комплекса нормативных документов и первоочередные нормативные документы в области изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле».
- разработаны организационно-технических мероприятия по созданию, изготовлению и испытаниям функционально сложных изделий микроэлектроники.
Перечень этапов, сроки выполнения этапов
| № п/п | Наименование этапа. Содержание работ по этапу | Выдаваемая научно-техническая документация | Сроки выполнения |
| 1. | Анализ состояния работ в области создания и изготовления наиболее востребованных изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле» для стратегически значимых систем двойного и военного назначения. Анализ современного состояния обеспеченности нормативными документами разработки, производства и постановки перспективных изделий микроэлектроники в России и за рубежом. | Научно-технический отчет, содержащий анализ состояния работ в области создания и изготовления изделий микроэлектроники, в т.ч. СБИС типа «система на кристалле» | с момента заключения государственного контракта - декабрь 2007 г. |
| 2. | Анализ преимуществ и недостатков технологий и эксплуатационных характеристик изделий микроэлектроники, разработанных и изготовленных по различным технологиям (ТТЛ-ТТЛШ, КМОП, КМОП/КНС, КМОП/КНИ, GaAs, SiC и др.). Исследования, моделирование и прогнозный анализ физических эффектов и доминирующих механизмов отказов в перспективных изделиях микроэлектроники, в том числе с учетом дестабилизирующих воздействий. Разработка проекта программы стандартизации перспективных изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле» | Научно-технический отчет, содержащий рекомендации по технологии и методам испытаний изделий микроэлектроники, в т.ч. СБИС типа «система на кристалле». Проект программы стандартизации изделий микроэлектроники, в т.ч. СБИС типа «система на кристалле» | декабрь 2008 г. |
| 3. | Разработка нормативных документов в области микроэлектроники, в т.ч. СБИС типа «система на кристалле»: - порядок создания СБИС типа «система на кристалле» на основе СФ блоков; - термины и определения; - классификация и система условных обозначений. Разработка организационно-технических мероприятий по созданию, изготовлению и испытаниям функционально сложных изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле» для стратегически значимых систем двойного и военного назначения | Заключительный научно-технический отчет, проекты окончательных редакций НД, программа организационно-технических мероприятий по созданию, изготовлению и испытаниям функционально сложных изделий микроэлектроники, в т.ч. СБИС типа «система на кристалле» | декабрь 2009 г. |
Основные ожидаемые результаты
Разработанные в ходе выполнения НИР проект программы стандартизации изделий микроэлектроники; проекты нормативных документов; организационно-технические мероприятия по созданию, изготовлению и испытаниям наиболее востребованных изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле», позволят создавать аппаратуру двойного и военного назначения, эксплуатируемую в экстремальных условиях.
Перечень продукции, представляемой по окончанию работы (этапов работ)
Аналитические материалы, организационно-методические и нормативно-технические материалы по перспективам развития изделий микроэлектроники с повышенными требованиями по качеству и надежности.
Предложения по методам испытаний, методов оперативного контроля качества, применяемых на этапах разработки и производства функционально сложных изделий микроэлектроники.
Комплекс организационно-технических мероприятий по созданию, изготовлению и испытаниям функционально сложных изделий микроэлектроники, в том числе СБИС типа «система на кристалле» для стратегически значимых систем двойного и военного назначения
Рекомендации по внедрению (краткая характеристика области применения)
Разработанные нормативно-технические материалы найдут применение при разработке, освоения и производства изделий микроэлектронной техники, в том числе СБИС типа «система на кристалле» для стратегически значимых систем двойного и военного назначения.
10.3. ЛОТ № 3. Техническое задание на выполнение работы «Исследования и разработка расчетно-экспериментальных методов и технических средств для оценки стойкости изделий микроэлектронной техники к воздействию одиночных импульсов напряжения, возникающих под действием на радиоэлектронную аппаратуру мощных электромагнитных излучений естественного и искусственного происхождения»
Шифр работы: ОПК-8-040
Основание для выполнения работы.