Технологии XXI века взгляд в будущее. Световая, лазерная и электронная микроскопия – три составляющих успеха
| Вид материала | Программа |
СодержаниеВремя проведения 18.02.04. День металлографии и материаловедения 19.02.04. День практики Практика работы с системами анализа изображения по современным методикам. Часть 1 |
- Программа курса лекций (4 курс, 8 сем, 32 ч, экзамен) д б. н. Рябчикова Елена Ивановна, 90.95kb.
- П. и головы города Чайки В. Д. проведена Международная научная школа-семинар «Лазерная, 41.1kb.
- Молодежь XXI века: шаг в будущее материалы, 4335.34kb.
- Основные тенденции развития мирового хозяйства в начале XXI века, 49.08kb.
- Технологии XXI века – биоэнергетический путь к совершенству, 600.69kb.
- Программа выставки «Информационные техенолгии XXI века», 54.88kb.
- Автореферат разослан, 459.49kb.
- На современные приключенческие фильмы, запутанная драма на грани фола, раскрывающая, 317.62kb.
- Сценарий проведения первого заседания интеллектуального клуба «шанс», 145.9kb.
- Программ а ХХ российской конференции, 415.88kb.
Программа семинара
«Технологии XXI века - взгляд в будущее. Световая, лазерная и электронная микроскопия – три составляющих успеха
современных исследований»
(Новосибирск 17 - 19 февраля 2004 г.)
День биологии и медицины
«Технологии XXI века. Световая, лазерная и электронная микроскопия – три составляющих успеха современных исследований в биологии и медицине»
| Время проведения | Докладчик | Название доклада |
| 9.30 - 10.00 | РЕГИСТРАЦИЯ | |
| 10.00 - 10.15 | Председатель СО РАН, Генеральный директор ООО «Карл Цейсс» Игельник М.С. | Приветствие |
| 10.15 - 10.30 | Штайгнер К. | Фирма «Карл Цейсс» сегодня. Биология и медицина - полутора вековая традиция Цейсс. |
| 10.30 - 12.15 | к.т.н. Егорова О.В. Ксензенко А. | Современные технологии для гистологических исследований. Получение качественных гистологических препаратов. Продукция фирмы «Микром». Новые световые микроскопы проходящего света последнего поколения для лабораторных и научно-исследовательских работ в биологии и медицине. Новые методы контрастирования. |
| 12.15 - 12.30 | КОФЕ-БРЕЙК | |
| 12.30 - 13.00 | к.т.н. Егорова О.В. | Экскурсия по дем. залу |
| 13.00 - 14.00 | Зацепин А. | Современные системы документирования и анализа изображения в биологии и медицине. Программное обеспечение методов FISH и ISIS. Телемедицина: вчера, сегодня, завтра |
| 14.00 - 15.00 | ОБЕД | |
| 15.00 - 16.00 | к.б.н. Ячменев С. | Новые лазерные сканирующие микроскопы. Возможности лазерных сканирующих систем LSM 510 и PASCAL., применяемых в биологии. |
| 16.00 - 18.00 | Козлов В. Ульяненков А. | Трансмиссионные и растровые электронные микроскопы. Новая серия микроскопов LEO. Интегрированная система для рентгеновского микроанализа ISIS |
| 18.00 – 18.30 | Все участники семинара | Круглый стол. Ответы на вопросы. |
18.02.04. День металлографии и материаловедения
«Технологии XXI века. Световая, лазерная и электронная микроскопия – три составляющих успеха современных исследований в геологии и материаловедении»
| Время проведения | Докладчик | Название доклада |
| 9.30 - 10.00 | РЕГИСТРАЦИЯ | |
| 10.00 - 10.15 | Штайгнер К. | Фирма «Карл Цейсс» сегодня. Техническое направление развития – приоритет в развитии фирмы. |
| 10.15 - 10.45 | Обманов Ю. | Современное оборудование для пробоподготовки в геологии и материаловедении. |
| 10.45 - 12.15 | к.т.н. Егорова О. | Новые световые микроскопы отраженного света последнего поколения для лабораторных и научно-исследовательских работ в геологии, машиностроении и материаловедении. Новые методы контрастирования. |
| 12.15 - 12.30 | КОФЕ-БРЕЙК | |
| 12.30 - 13.00 | к.т.н. Егорова О. | Экскурсия по дем. залу. |
| 13.00 - 14.00 | Зацепин А. | Современные системы документирования и анализа изображения материаловедении. Программное обеспечение измерения и счета по стандартам ISO, DIN. |
| 14.00 - 15.00 | ОБЕД | |
| 15.00 - 16.00 | Ячменев С. к.т.н. Егорова О. | Новые лазерные сканирующие микроскопы. Возможности лазерных сканирующих систем PASCAL, применяемых для технических целей. |
| 16.00 - 18.00 | Козлов В. Ульяненков А. | Растровые электронные микроскопы. Новая серия микроскопов LEO. Интегрированная система для рентгеновского микроанализа ISIS |
| 18.00 - 18.30 | Все участники семинара | Круглый стол. Ответы на вопросы. |
19.02.04. День практики
Практика работы на световых микроскопах
и системах анализа изображений для биологических целей
| 10.00 - 12.00 | к.т.н. Егорова О. | Практика работы на световых микроскопах и системах анализа изображений для биологических целей Часть 1. Обзор современных микроскопов различных классов сложности (отличительные особенности, преимущества и недостатки); наиболее часто встречающиеся затруднения, которые возникают при выборе микроскопа и подборе оптики, основные приемы настройки и работы с микроскопами (настройка освещения по Келеру в проходящем и отраженном свете, темное поле, фазовый контраст, люминесценция, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст, вариоконтраст); причины ухудшения качества изображения в микроскопе и способы их устранения. |
| 12.00 - 12.30 | КОФЕ-БРЕЙК | |
| 12.30 – 14.00 | к.т.н. Егорова О. | Практика работы на световых микроскопах и системах анализа изображений для биологических целей. Часть 2. |
| 14.00 – 15.00 | ОБЕД | |
| 15.00 – 18.00 | Зацепин А. | Практика работы с системами анализа изображения по современным методикам. Будет предоставлена возможность работы систем анализа изображений с препаратами, предоставленными слушателями |
Практика работы на световых микроскопах
и системах анализа изображений для технических целей
| 10.00 - 12.00 | Зацепин А. | Практика работы с системами анализа изображения по современным методикам. Часть 1 Будет предоставлена возможность работы систем анализа изображений с объектами, предоставленными слушателями |
| 12.00 – 12.30 | КОФЕ-БРЕЙК | |
| 12.30 - 14.00 | Зацепин А. | Практика работы с системами анализа изображения по современным методикам. Часть 2 |
| 14.00 – 15.00 | ОБЕД | |
| 15.00 – 18.00 | к.т.н. Егорова О. | Практика работы на световых микроскопах и системах анализа изображений для технических целей. Краткий обзор современных микроскопов различных классов сложности (отличительные особенности, преимущества и недостатки); приведены наиболее часто встречающиеся затруднения, которые возникают при выборе микроскопа и подборе оптики. В процессе демонстрации будут приведены основные приемы настройки и работы с микроскопами. (настройка освещения по Келеру в отраженном свете, темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст); причины ухудшения качества изображения в микроскопе и способы их устранения. |