Лекция 7 Организация тд (тестовой диагностики)

Вид материала

Содержание

Построение детерминированных кодов
Основная группа кодов
Группа кодов, вызывающая выполнение основных функций устройств.
Методы доступа к элементам объекта тестирования при тестовой диагностике
Организация тест-секций основных узлов ВТ (вычислительной техники)

Подобный материал:

Лекция 7

Организация ТД (тестовой диагностики)

ТД бывает внешняя и внутренняя (встроенная).

Внешняя – когда аппаратура и (или) диагностическая программа являются внешней системой относительно объекта тестирования.

Внутренняя (встроенная) – средства диагностики расположены внутри компьютера (в виде отдельного модуля – БИС, СБИС, на встроенных элементах или на носителях информации (ПЗУ, жесткий диск)).

Современные тенденции организации ТД предполагают широкое использование внутренней самодиагностики (состав: ПЗУ с диагностической программой, устройство управления, линии связи). Самотестирование является самым экономичным средством диагностики. Применяется в дешевых и маломощных компьютерах. Например, МП Pentium +: встроены тесты, регистры диагностики; клавиатура: два встроенных теста и три запускаемых извне; жёсткий диск: 3 встроенных теста запускаемых извне и т. д.

Современная САПР на этапе проектирования микропроцессорной системы (МПС) реализует средства ФД и ТД на этапе проектирования. Существуют методы тестопригодного проектирования, которые предполагают проектирование устройств со встроенной диагностикой ФД, ТД или смешанного типа.

Правила тестопригодного проектирования обеспечивают построение таких схем, чтобы тестовые программы были достоверными и короткими (программа разрывает обратные связи между узлами и организует доступ отдельно к каждому узлу). Такая САПР называется СТАПР – система тестопригодного автоматизированного проектирования).

Построение детерминированных кодов

Исчерпывающее тестирование предполагает проверку узлов (линий связей между ними) на все возможные наборы кодовых комбинаций.

По причине невозможности использования исчерпывающего тестирования в основном по временным параметрам, используют детерминированные коды.

Основная группа кодов:

Три типа констант тестирования:

все «0» – обнаруживает ошибку соединения ячейки (проводника, контакта) с активным полюсом источником питания (с логической «1»). Данная константа называется К₀.
все «1» – для определения состояния соединения с общим проводом питания. Называется К₁.
чередование «0» и «1»: 0101…, 1010… – выявляет ошибки типа соединения между собой двух соседних ячеек (проводников, контактов). Называется К₂.

Эти константы обнаруживают основные статические ошибки типа отказ.

Группа кодов, вызывающая выполнение основных функций устройств.

Вызов этих функций должен сопровождаться проверкой на:

К₀, К₁, К₂;
Выполнение собственно операции (сдвиг, ±1, суммирование и т. д.)

Вторая группа кодов требует знания функционирования устройства во всех режимах работы или в тех, в которых оно в данном случае функционирует

Методы доступа к элементам объекта тестирования при тестовой диагностике

доступ к конкретному элементу по его адресу (непосредственному, косвенному);
доступ к элементам по случайным адресам из известного диапазона (Random tests);
доступ к элементам по адресам линейно из известного диапазона (подряд по возрастающей или убывающей);
доступ к элементам по адресу «бабочка» (Butterfly tests [например: 1-й адрес, затем максимальный; 2-й адрес, затем максимальный минус один и так далее, до центрального адреса в заданной области]).

Вывод:

Изучив техническую организацию объекта, выбрав метод и код согласно вашим требованиям(время, участок) проектируете тестовую диагностику.

Организация тест-секций основных узлов ВТ (вычислительной техники)

Сумматор 4р.

SM (C0=0, 4 р)

С
остоит из 4-х одноразрядных сумматоров.

A	B	S	Комментарий
0000 1111 0000	0000 0000 0101	0000 1111 0101	К0 по выходу К1 по выходу К2 по выходу
0000 1111	0000 1111	0000 1110	К0 по переносу К1 по переносу

Это не минимальный, но достаточный набор для тестирования.

Регистр универсальный RG (↔, 4р)

Состоит из D-тригеров с RS входами, между ними коммутаторы, которые организуют сдвиг (R-L).

Вх (D)	Вых (Q)	Комментарий
0000 1111 0101	0000 1111 0101	Параллельная запись, К0 Параллельная запись, К1 Параллельная запись, К2
1111	1111 →(DR=1) 1111	Параллельная запись, → К1
0000	0000 →(DR=0) 0000	Параллельная запись, → К0
1111	1111 ←(DL=1) 1111	Параллельная запись, ← К1
0000	0000 ←(DL=0) 0000	Параллельная запись, ← К0

3) СТ2 (4р, ±1)

Состоит из D-тригеров, линий переноса ±1(влево, вправо), коммутаторов.

D	±1	Q	Комментарий
0000 1111 0101		0000 1111 0101	Параллельная запись, К0 Параллельная запись, К1 Параллельная запись, К2
0000	+1	0000 0001	Параллельная запись К0 по переносу
1111	+1	1111 0000	Параллельная запись К1 по переносу
0000	–1	0000 1111	Параллельная запись К1 по переносу
1111	–1	1111 1110	Параллельная запись К0 по переносу

4) DC (4 вых.)

Для дешифратора необходимо использовать исчерпывающее тестирование.

Вх	Вых
00 01 10 11	0001 0010 0100 1000

ТД ТЭЗа состоит:

1.из тест-секций узлов.

2. таблицы ТЭЗа .

в таблице проектируются коды, которые проверяют максимально возможное количество сечений (узлов) ТЭЗа на К0, К1, К2.