Введение в специальность
Вид материала | Пояснительная записка |
СодержаниеПоснительная записка |
- Е. В. Арляпова введение в специальность «реклама», 1668.44kb.
- А. К. Мазуров введение в специальность, 3019.75kb.
- Рабочая учебная программа дисциплины «введение в специальность» для специальности, 107.59kb.
- Анализ и планирование трудовых показателей Аудит и контроллинг персонала Введение, 12.45kb.
- Рабочая программа дисциплины Введение в специальность специальность 032001 Документоведение, 55.23kb.
- Учебно-методический комплекс дисциплины Введение в литературоведение Специальность, 711.32kb.
- Учебно методический комплекс по дисциплине «Введение в специальность» Специальность, 2682.27kb.
- Курс Комплексный экзамен по циклам опд, сд и дисциплинам специализации: «Введение, 469.08kb.
- В г. Орске Специальность: 021100 «Юриспруденция» Дисциплина: Уголовное право Курсовая, 432.15kb.
- Введение в специальность, 1423.7kb.
ПОСНИТЕЛЬНАЯ ЗАПИСКА
Типовая программа «Маршрутная технология интегральных схем» разработана в соответствии с Образовательным стандартом РД РБ 02100.5.030-98 специальности 1-41 01 02 Микро- и наноэлектронные технологии и системы для высших учебных заведений.
Целью дисциплины является формирование знаний и навыков конструкторско-технологического проектирования элементов интегральных схем (ИС) для различных схемотехнических решений. Задачи изучения курса состоят в освоении принципов высокоэффективного проектирования элементов ИС, формировании базовых технологических процессов и маршрутов изготовления биполярных, КМОП, БиКМОП и других элементов ИС, выборе методов контроля и анализа этих элементов. Изучение курса базируется на дисциплинах: «Микроэлектроника», «Базовые технологические процессы микроэлектроники», «Физика активных элементов интегральных схем».
В результате освоения курса «Маршрутная технология интегральных схем» студент должен:
знать:
- общие закономерности проектирования технологических маршрутов изготовления ИС;
- взаимосвязь этапов технологических маршрутов изготовления различных элементов ИС;
- методы формирования структуры ИС на биполярных, КМОП, n-МОП, БиКМОП элементах;
- методы контроля и анализа элементов ИС в процессе их формирования;
уметь характеризовать:
- маршрутную технологию изготовления различных ИС по блокам формирования структуры (блоки: изоляции, активной структуры, металлизации, сборки, испытаний);
- уровень технологии изготовления биполярных, КМОП, n-МОП, БиКМОП элементов ИС;
- роль и проблемы проектирования маршрутной технологии изготовления ИС;
уметь анализировать:
- маршрутную технологию изготовления ИС по технико-экономическим характеристикам базовых технологических процессов;
- структуру элементов ИС в процессе её формирования (методами: электронной микроскопии, электрофизическими, тепловыми, оптическими и др.);
приобрести навыки:
- анализа технологических процессов по результатам контроля параметров элементов ИС на тестовых структурах;
- проектирования технологических маршрутов изготовления ИС на биполярных, КМОП, n-МОП, БиКМОП элементах.
Программа рассчитана на объем 130 часов, в том числе 80 аудиторных часов. Примерное распределение аудиторных часов по видам занятий:
лекций — 48 часов, лабораторных работ — 32 часа.
Тематический план курса
№ п.п. | Наименование темы | Лекции, часов | Лабор. занятия, часов | Всего |
| Введение | 2 | | 2 |
1 | Блок технологических процессов создания изоляции элементов ИС | | | |
1.1 | Процессы изоляции биполярных элементов ИС | 4 | 4 | 8 |
1.2 | Процессы изоляции МОП элементов ИС | 4 | 4 | 8 |
2 | Блок технологических процессов создания активной структуры элементов ИС | | | |
2.1 | Структура биполярных элементов ИС | 2 | 4 | 6 |
2.2 | Структура МОП элементов ИС | 4 | 4 | 8 |
3 | Блок металлизации элементов ИС | | | |
3.1 | Однослойная, многослойная и многоуровневая металлизации на основе пленок алюминия | 4 | 4 | 8 |
3.2 | Металлизация элементов ИС на основе пленок меди | 4 | 4 | 8 |
4 | Блок сборки и испытаний ИС | | | |
4.1 | Процессы сборки кристаллов в корпус | 2 | | 2 |
4.2 | Герметизация кристаллов ИС | 2 | | 2 |
4.3 | Блок испытаний ИС | 2 | | 2 |
5 | Методы контроля и анализа элементов ИС | | | |
5.1 | Экспрессные методы контроля кремниевых пластин по маршруту изготовления ИС | 4 | 2 | 6 |
5.2 | Методы анализа структуры элементов ИС | 6 | 2 | 8 |
6 | Типовые технологические маршруты изготовления кристаллов ИС | | | |
6.1 | Конструктивно-технологические особенности создания элементов ИС | 6 | 4 | 10 |
6.2 | Перспективы развития маршрутной технологии | 2 | | 2 |