Вопросы к экзамену по курсу: «Методы анализа поверхности»

Вид материала

Вопросы к экзамену

Подобный материал:

• Задачи, решаемые методом рентгеноструктурного анализа Рентгеновская трубка, 18.43kb.
• Вопросы к экзамену по аналитической химии для студентов химического отделения физико-химического, 46.33kb.
• Вопросы для подготовки к экзамену по предмету «Управленческий анализ». Фио преподавателя, 13.45kb.
• Вопросы к экзамену по курсу «теория экономического анализа», 24.22kb.
• Вопросы к экзамену по курсу «Дифференциальные уравнения», 22.85kb.
• В г. Воскресенске > к э. н., доцент К. А. Артамонова 2009 г. Вопросы к экзамену, 14.63kb.
• Вопросы к экзамену по курсу «управленческий анализ в отраслях», 20.25kb.
• Вопросы к экзамену по курсу «экономический анализ», 25.19kb.
• Вопросы к экзамену «афо» для озо 6 лет, 17.82kb.
• Рабочая программа по дисциплине ен. Р. 02 Физико-химические методы исследования поверхности, 160.83kb.

Вопросы к экзамену по курсу: «Методы анализа поверхности». 2005-2006

1. Закономерности ионно-ионной эмиссии металлов
   
2. Ионно-стимулированная десорбция
   
3. Принцип действия и схема традиционного ВИМС - вторично-ионного масс-спектрометра.
   
4. Возможности и ограничения традиционного ВИМС.
   
5. ВИМС с нейтральным пучком. Возможности и ограничения.
   
6. ВИМС – микрозонд. Возможности и ограничения.
   
7. Масс-спектрометр распыленных нейтральных атомов. Возможности и ограничения.
   
8. ВИЭМС - Вторично-ионный энерго-масс-анализатор. Возможности и ограничения.
   
9. Электронно-электронная эмиссия.
   
10. Тунелирование электронов. Оже-эффект.
    
11. Принцип действия и схема Оже-спектрометра.
    
12. Возможности и ограничения Оже-спектрометрии.
    
13. ЭСХП - Электронная спектроскопия характеристических потерь.
    
14. Возможности и ограничения - ЭСХП.
    
15. Схема и принцип действия просвечивающего электронного микроскопа
    
16. Возможности и ограничения просвечивающего электронного микроскопа
    
17. Схема и принцип действия растрового электронного микроскопа
    
18. Возможности и ограничения растрового электронного микроскопа
    
19. Анализ рельефа методом напылённых плёнок
    
20. Схема и принцип действия полевого микроскопа
    
21. Схема и принцип действия микроскопа атомных сил
    
22. Возможности и ограничения полевого микроскопа
    
23. Рассеяние ионов на поверхности твёрдого тела
    
24. Схема и принцип действия приборов РОР - Резерфордовского обратного рассеяния
    
25. Возможности метода РОР
    
26. Ограничения метода РОР
    
27. Захват, удержание ионов и десорбция газа из твёрдого тела
    
28. Схема и принцип действия термодесорбционного спектрометра (ТДС)
    
29. Возможности и ограничения метода ТДС
    
30. Масс-спектрометрические ионные источники
    
31. Масс-спектрометрические электронные источники
    
32. Амбиполярные дуги