Гнозирования и менеджмента разработанного проекта, к выявлению экологически чистых научных исследований и энергосберегающих производств в профессиональной сфере

Вид материала

Подобный материал:

«УТВЕРЖДАЮ»

Зав. кафедрой

___________________(ФИО)

« ____» ___________ 201__ г.

АННОТАЦИЯ МОДУЛЯ (ДИСЦИПЛИНЫ)

НАИМЕНОВАНИЕ МОДУЛЯ (ДИСЦИПЛИНЫ)

__ Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок___

2. УСЛОВНОЕ ОБОЗНАЧЕНИЕ (КОД) В УЧЕБНЫХ ПЛАНАХ ____Б3В2________________

3. НАПРАВЛЕНИЕ (СПЕЦИАЛЬНОСТЬ) (ООП) __ 011200 Физика________

4. ПРОФИЛЬ ПОДГОТОВКИ (СПЕЦИАЛИЗАЦИЯ, ПРОГРАММА) ____________________________________________________________

5. КВАЛИФИКАЦИЯ (СТЕПЕНЬ) _ бакалавр_________

6. ОБЕСПЕЧИВАЮЩЕЕ ПОДРАЗДЕЛЕНИЕ ___ кафедра общей физики

7. ПРЕПОДАВАТЕЛЬ ____Никитенков Николай Николаевич________

тел. ___8-913-852-64-82__ Е-mail ___nikitenkov@tpu.ru___________

8. ЗАДАЧИ МОДУЛЯ (ДИСЦИПЛИНЫ)

Подготовка бакалавра к разработке проектов научных исследований в области профессиональной деятельности, к проведению экономического расчета, маркетингового прогнозирования и менеджмента разработанного проекта, к выявлению экологически чистых научных исследований и энергосберегающих производств в профессиональной сфере. Подготовка к получению новой информации, к работе с пакетами готовых программ, моделированию физических явлений, к работе в междисциплинарных областях научных исследований. Подготовка выпускника к работе в интернациональной команде, организации творческого коллектива и его работы над проектом научных исследований, в том числе за рубежом. Подготовка бакалавра, способного представить, обосновать и отстаивать результаты собственных исследований и выводов, осознавать ответственность за принятие профессиональных решений.

9. РЕЗУЛЬТАТЫ ОБУЧЕНИЯ (ЗНАНИЯ, УМЕНИЯ, ОПЫТ, КОМПЕТЕНЦИИ)

Знать

о физических процессах, лежащих в основе методов анализа поверхностной области материалов: образование вакансий на внутренних оболочках электронной структуры (рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия) и переходы между энергетическими уровнями (электронный микроанализ и электронная оже-спектроскопия); распыление образца ионами, лазерным излучением (электронная и фотонная спектроскопия и энерго– и масс спектрометрия вторичных ионов и нейтральных частиц); электрон–электронные взаимодействия и пробеги электронов в твердом теле (спектроскопия электронных потерь энергии); дифракция электронов и рентгеновских лучей (дифракция электронов низких энергий и дифракция рентгеновских лучей) и др.

уметь

различать современные методы анализа локального состава, структуры и физико-химических свойств поверхности, устройство экспериментальной техники, обеспечивающей анализ; понимать тенденции развития методов; ориентироваться в свойствах поверхностных слоев и тонких пленок, способах их получения, исследования и модификации.

___________________________________________________________

владеть (иметь навык работы)

- базовыми навыками принятия решений в области анализа твердого тела;

- методами, масс-спектроскопии для исследований изотопного и химического состава поверхности твердого тела и тонких пленок, термо-десорбционной масс-спектрометрии

___________________________________________________________

В процессе освоения дисциплины у студентов развиваются следующие компетенции:

1.Универсальные (общекультурные):

– способность к самообучению, управлению устранением пробелов в знаниях, в том числе, касающихся методов анализа твердого тела;

– способность работать в коллективах;

– готовность к дискуссии по общенаучным проблемам и при выборе метода анализа для решения конкретных проблем физики твердого тела;

2. Профессиональные:

– способность применять современные информационно-компьютерные технологии;

– владение навыками устной и письменной коммуникации в профессиональной сфере;

– владение специальной лексикой английского языка, основной терминологией своей профессиональной деятельности, перевода профессионального текста;

– понимание роли методов анализа в физике твердого тела и познании природы вообще,

– способность использовать полученные знания в смежных научных областях.

10. СОДЕРЖАНИЕ МОДУЛЯ (ДИСЦИПЛИНЫ) (перечень основных тем (разделов) с указанием количества занятий по каждой теме
и каждому виду занятий):

1. Введение. Цели и задачи курса. Терминология. Классификации.

2. Физические явления, лежащие в основе методов диагностики поверхности. Ионная эмиссия. Электронная эмиссия.

3.Строение поверхности. Кристаллическая структура поверхности. Электронная структура поверхности.

4.Теоретические основы методов электронной спектроскопии.

5.Теоретические основы методов ионной спектроскопии.

6.Основные экспериментальные особенности и узлы сверхвысоковакуумных аналитических установок.

11. КУРС___4____ СЕМЕСТР __8___ КОЛИЧЕСТВО КРЕДИТОВ __5___

12. ПРЕРЕКВИЗИТЫ

_ Общая физика, Математика, Введение в физику твердого тела ______

13. КОРЕКВИЗИТЫ

_ Взаимодействие частиц и излучений с веществом, Экспериментальные методы в исследовании конденсированного состояния ___________

14. ВИДЫ УЧЕБНОЙ ДЕЯТЕЛЬНОСТИ (ЛЕКЦИИ, ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА, ПРАКТИЧЕСКИЕ ЗАНЯТИЯ И Т. Д.) И ВРЕМЕННОЙ РЕСУРС:

___Лекции_______________45 час.

___Лабораторные занятия__15 час.

___Практические (семинарские) занятия_ 15 час.

___Курсовая работа___________________ _15 час.

АУДИТОРНЫЕ ЗАНЯТИЯ __90__ час.

САМОСТОЯТЕЛЬНАЯ РАБОТА __90__ час.

ИТОГО _180___ час.

15. ПЕРЕЧЕНЬ ЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ

– Изучение термоэдектронной эмиссии с помощью вакуумного диода.

– Эффект Холла.

– Иследование ферромагнетиков. Петля гистерезиса.

– Распределения термоэлектронов по скоростям.

– Получение и диагностика ионных пучков.

– Получение и диагностика сверхвысокого вакуума.

16. КУРСОВЫЕ ПРОЕКТЫ ИЛИ РАБОТЫ (тематика курсовых проектов или работ)

– Полевая ионная эмиссия и полевой ионный микроскоп.

– Полевая электронная эмиссия и полевой электронный микроскоп.

– Вторичная ионная эмиссия и вторичная ионная масс-спектрометрия.

– Рассеяние ионов низких энергий и спектроскопия.

– Вторичная электронная эмиссия и электронная оже-спектроскопия.

– Фотоэлектронная эмиссия и ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия.

– Фотоэлектронная эмиссия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия.

– Высоковакуумные узлы аналитических установок для диагностики поверхности.
– Резерфордовское обратное рассеяние в элементном и структурном анализе поверхности.

– Ионно-электронная эмиссия и ионно-нейтрализационная спектроскопия.

– Дифракция электронов низких энергий в исследованиях структуры поверхности.
– Термо-ионная эмиссия и термодесорционная спектроскопия.

17. ИНДИВИДУАЛЬНЫЕ ДОМАШНИЕ ЗАДАНИЯ (перечень индивидуальных заданий, рефератов и т. п.).

– Описание механизмов эмиссионных процессов с помощью энергетических диаграмм.

– Расшифровка спектров масс вторичных ионов.

– Расшифровка спектров Оже-электронов.

– Расшифровка спектров рентгеновских фотоэлектронов.

18. ВИД АТТЕСТАЦИИ (экзамен, зачет)

____Экзамен, курсовая работа_______________________________

19. ОСНОВНАЯ И ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ ЛИТЕРАТУРА (указать учебник(и), по которому ведется обучение и дополнительную литературу)

Intranet-ресурс по адресу:

Обучение ведется по учебному пособию

Никитенков Н.Н. Изотопный, химический и структурный анализ поверхности методами атомной физики. Томск: ТПУ, 2002, 198 с.

Размещенному в среде web_CT:

ссылка скрыта

ссылка скрыта

Дополнительная литература:

Оура К., Лифшиц В.Г., Саранин А.А., Зотов А.В., Катаяма М. Введение в физику поверхности. Москва: Наука, 2006,490 с.
Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. - М.: Мир,1989.
Нефедов В.И., Черепин В.Т.. Физические методы исследования поверхности твердых тел. – М.: Наука, 1983.
Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. – М.: Мир,1989.
Черепин В.Т., Васильев М.А. Методы и приборы для анализа поверхности материалов. – Киев: Наукова думка, 1982.

20. КООРДИНАТОР (ФИО, должность сотрудника, телефон ответственного на кафедре за дисциплину)

Никитенков Николай Николаевич, профессор, т.: 563-704, внутр:1502

Автор ___ Никитенков Николай Николаевич, моб: 8-913-852-64-82

Blog