Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет імені михайла остроградського
Вид материала | Документы |
СодержаниеКирилюк, В.К. Чернер, В.М. Чернер, В.М. Чернер, В.М. |
- Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет, 500.03kb.
- Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет, 322.6kb.
- Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет, 2695.96kb.
- Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет, 739.04kb.
- Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет, 82.53kb.
- Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет, 189.47kb.
- Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет, 563.19kb.
- Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет, 603.07kb.
- Міністерство освіти І науки україни кременчуцький державний політехнічний університет, 299.05kb.
- Міністерство освіти І науки, молоді та спорту україни кременчуцький національний університет, 1007.08kb.
Аппаратура для контроля структурных дефектов и геометрических параметров КСДИ | Электронная промышленность.-1986. - Вып.8. - С.36-39 Фахове видання | 1986 | 0,16 | Техн. | Прак. | укр | | |||
23 | CТ | Чернер, В.М. | Новый метод контроля внутренних напряжений в кремниевых структурах с диэлектрической изоляцией | Микроэлектроника: Тезисы докладов. – Серия 3, Вып. 5. – 1986. – стр. 31 | 1986 | 0,041 | Техн. | Прак. | укр | |
22 | CТ | Чернер, В.М. | Внутренние напряжения и изменения некоторых свойств КСДИ | Микроэлектроника: Тезисы докладов. – Серия 3, Вып. 5. – 1986. – стр. 56 | 1986 | 0,041 | Техн. | Прак. | укр | |
21 | CТ | Чернер, В.М. | Оборудование для контроля качества КСДИ в процессе их производства | Микроэлектроника: Тезисы докладов. – Серия 3, Вып. 5. – 1986. – стр. 57 | 1986 | 0,041 | Техн. | Прак. | укр | |
20 | CТ | Галанов, Е. К. | Поляризационная установка для исследования магнитооптического вращения и магнитного кругового дихроизма в полупроводниках. | Оптико-механическая промышленность. – 1984. - № 16. - стр. 31-34 Фахове видання | 1984 | 0,16 | Техн. | Прак. | укр | |
19 | CТ | | Контроль толщины покрытий и его метрологическое обеспечение | Тезисы докладов 3-го Всесоюзного НТС, Рига, ФЭ и АИ Латвии | | 0,125 | Техн. | Прак. | укр | |
18 | CТ | Воронин, В. П.; Мовшиц, Б.Й. | Структурные дефекты кристаллической структуры в кремнии | Электронная техника.- Сер. 6, вып. 3. – 1983.- стр.58-60 Фахове видання | 1983 | 0,16 | Техн. | Прак. | укр | |
17 | CТ | Воронин, В. П.; | Установка контроля внутренних напряжений и геометрических параметров монокристаллических кремниевых пластин | Электронная техника. - Сер. 6, вып. 4. – 1983. - стр. 78-79 Фахове видання | 1983 | 0,083 | Техн. | Прак. | укр | |
16 | CТ | Воронин, В. П.; Мовшиц, Б.Й. | Структурные дефекты кристаллической структуры в кремнии | Электр. Техника. Сер. 6. Материалы. – 1983. - Вып. 3. - С.58-60. Фахове видання | 1983 | 0,125 | Техн. | Прак. | укр | |
15 | CТ | Тузовский, А.М.; Воронин, В.П. | Установка контроля внутренних напряжений и геометрических параметров монокристаллических кремниевых пластин | Электронная техника. Сер. Материалы. – 1983. – Вып. 3 (176). – С. 78-79. Фахове видання | 1983 | 0,083 | Техн. | Прак. | укр | |
14 | ТЗ | | Структурные дефекты кристаллической структуры в кремнии | Тезисы 3-й Всесоюзной НТК "Технология получения и материаловедение монокристалов кремния", Москва. 1982 | 1982 | 0,083 | Техн. | Прак. | укр | |
13 | CТ | Концевой, Ю. А. | Анизотропия упругой деформации в кремниевых структурах с диэлектрической изоляцией. | Электронная техника. - Сер. 6, вып. 3. - 1982. - стр. 47-49 Фахове видання | 1982 | 0,125 | Техн. | Прак. | укр | |
12 | CТ | | Исследование деформации и внутренних напряжений в кремниевых пластинах. | «Заводская лаборатория».- 1982. - № 6. – стр. 52-55 Фахове видання | 1982 | 0,16 | Техн. | Прак. | укр | |
11 | CТ | Макара, В. А. | Методы исследования неплоскостности и деформации кремниевых пластин в процессе производства КС ДИ | Электронная техника.- Сер. 6, вып. 3. - 1982. - стр. 42-45 Фахове видання | 1982 | 0,16 | Техн. | Прак. | укр | |
10 | CТ | Анистратенко, А.Л.; Ковтонюк, А.М. | Аппаратура для контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин | Полупроводниковые материалы. - 1982. - Вып. 5. - С. 159-165. Фахове видання | 1982 | 0,291 | Техн. | Прак. | укр | |
9 | CТ | Воронин, В.П. | Аппаратура для контроля дефектов кристаллической структуры в полупроводниковых материалах | Полупроводниковые материалы. - 1982. - Вып. 6. - С. 159-165. Фахове видання | 1982 | 0,208 | Техн. | Прак. | укр | |
8 | CТ | Макара, В.А. | Деформации и внутренние напряжения в кремниевых пластинах и структурах | Электронная техника. – Сер. 2, вып. 2. – 1981. – стр. 40-43 Фахове видання | 1981 | 0,16 | Техн. | Прак. | укр | |
7 | CТ | Лукинский, Ю.Л. | О повышении точности измерительных устройств контроля качества полупроводниковых материалов и структур | Электронная техника.- Серія 8. - 1979. – стр. 56-64 Фахове видання | 1979 | 0,33 | Техн. | Прак. | укр | |
6 | НПР | | Исследование деформаций, разработка методик и промышленной аппаратуры для контроля геометрических параметров кремниевых структур с диэлектрической изоляцией 05. 12. 18 - Твердотельная электроника и интегральная схемотехника, включая материалы, технологию и спец. оборудование. | Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук, Москва, МИРЭА, 1979 | 1979 | 7,5 | Техн. | Прак. | укр | |
5 | CТ | Устименко, Д. А. | Устройство для измерения диэлектрических потерь в КСДИ | Измерительная техника.- 1979.- №1.- стр. 89-90 Фахове видання | 1979 | 0,083 | Техн. | Прак. | укр | |
4 | CТ | Тузовский, А.М.; Концевой, Ю. А. | Разработка высокоточного метода и устройства измерения изгиба -кремниевых пластин | Электронная техника.- Сер. 6, вып.8.- 1979.- стр. 124-128 Фахове видання | 1979 | 0,208 | Техн. | Прак. | рос. | |
3 | CТ | Концевой, Ю.А.; Тузовский, А. М. | Полуавтоматический телевизионный микроинтерферометр «Монослой-2» | Электронная промышленность.- 1978.- №6.- стр.61-62 Фахове видання | 1978 | 0,083 | Техн. | Прак. | укр | |
2 | CТ | Концевой, Ю. А. | Устройство контроля напряжений полупроводниковых материалов | «Заводская лаборатория». - 1978. - № 12 Фахове видання | 1978 | 0,208 | Техн. | Прак. | укр | |
1 | CТ | Бабаджанов, Л. С. | Применение мер контроля толщины покрытий | Измерительная техника.- 1978.- №8.- стр. 57-59 Фахове видання | 1978 | 0,083 | Техн. | Прак. | укр | |