Исследование методов улучшения характеристик многоканальных спектрометров для атомно-эмиссионного анализа
Дипломная работа - Физика
Другие дипломы по предмету Физика
а. Необходимо добиться минимальной ширины и максимальной интенсивности какой-либо спектральной линии путём выставления параллельности щели штрихам дифракционной решётки. Это достигается путём вращения щели вокруг оптической оси.
Приложение 4
Ширина щели монохроматора
Так как ширина монохроматического излучения напрямую связана с шириной входной/выходной щели монохроматор, то насколько оправдан выбор щели 0,2мм, используемый в данной работе?
Для ясности возьмём выходной спектр с диной волны =230 нм и спектр с +1=231 нм. Изменяя ширину щелей, будем наблюдать на спектрофотометре Колибри, при какой ширине два близкорасположенных спектра различимы.
На рисунках 5.2-5.5 показана зависимость спектральной ширина щели от ширины щели. Под шириной щели понимается одновременно ширина входной и выходной щели. Видно, что ширины щели 0.4мм достаточно для разрешения двух близкорасположнных линий с интервалом в 1нм.
Однако, ширина спектральной ширины щели в зависимости от длины волны будет изменяться. Это связано с уменьшением угловой дисперсии с увеличением длины волны. То есть, ширина спектральной ширины щели при увеличении длины волны увеличивается. Экспериментально снятая зависимость приведена на рис. 5.6. Ширина одного диода 12,5 мкм.
Приложение 5
Пропускная способность правого и левого каналов
Отношение интенсивностей правого и левого каналов приведено на рис.5.7.
Приложение 6
Спектр лампы ДДС-30
Из рис. 5.1 видно, что лампу ДДС-30 в монохроматоре можно использовать в области сплошного спектра - от вакуумного УФ до 470нм.
Список литературы
1.Шелпакова И.Р., Гаранин В.Г., Лабусов В.А. Многоэлементные твёрдотельные детекторы и их использование в атомно-эмиссионном спектральном анализе (обзор), Заводская лаборатория. Диагностика материалов №10, том 65
2.Павлычева Н.К. Спектральные приборы с неклассическими дифракционными решётками, Издательство КГТУ, 2003
.Лабусов В.А., Бехтерев А.В., Попов В.И., Путьмаков А.Н.,Селюнин Д.О. Современные тенденции развития оборудования для атомно-эмиссионного спектрального анализа. Материалы IV международного симпозиума Применение анализаторов МАЭС в промышленности, Новосибирск, 2003
.Дробышев А.И. Основы атомного спектрального анализа, Изд. С.-Петербургского университета, 2000
.Буравлёв Ю.М. Основы атомно-эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов, Донецк, ДонНУ, 2001
.Малышев В.И. Введение в экспериментальную спектроскопию, Изд. Наука, 1979
.Пейсахсон И.В. Оптика спектральных приборов, Изд. Машиностроение, 1970
.Лебедева В.В. Экспериментальная оптика, Издательство Московского Университета, 1994
.Описание диода AXUV
.Аневский С.И. Фотометрирование источников непрерывного излучения в вакуумном ультрафиолете.Спектральные энергетические измерения в вакуумном и ближнем ультрафиолете, Научные труды(НТ/81), Москва, 1981
.Зайдель А.Н., Шрейдер Е.А. Вакуумная спектроскопия и её применение, Изд. Наука, 1976
.Зайдель А.Н., Шрейдер Е.А. Спектроскопия вакуумного ультрафиолета, Изд. Наука, 1967
.Лабусов В.А., Михайлов А.В. Исследование характеристик новой дифракционной решетки. Материалы IV международного симпозиума Применение анализаторов МАЭС в промышленности, Новосибирск, 2003
.Михайлов А.В. Исследование характеристик вогнутых дифракционных решёток. Материалы XLII Международной научной студенческой конференции Студент и научно-технический прогресс, Новосибирск, 2004
.Михайлов А.В. Исследование квантовой эффективности твёрдотельного детектора. Материалы XLII Международной научной студенческой конференции Студент и научно-технический прогресс, Новосибирск, 2004
.Нагибина И.М., Михайловский Ю.К. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионной спектроскопии, Изд. Машиностроение, 1981
. Павлычева Н.К.Голограммные дифракционные решётки 2-го и 3-го поколений в спектрографах РоуландаОптический журнал, том 69, №4, 2002