Физические принципы спектрофотометрии. Устройство спектрофотометра
Дипломная работа - Физика
Другие дипломы по предмету Физика
ьзуют призму или дифракционную решетку. Устройства, позволяющие разделить полихроматический свет на монохроматический спектр излучения, называются монохроматорами (рис.10).
Рис. 10. Функциональная схема монохроматора с призмой.
-входная щель; 2-объектив, формирующий параллельный поток световой энергии; 3-призма; 4 - объектив, направляющий поток энергии на экран; 5 - экран; 6 - выходная щель
Щель (1), на которую падает полихроматический поток световой энергии, находится в фокальной плоскости линзы (2). Эта часть прибора называется коллиматором. Выходящий из объектива (2) параллельный поток световой энергии падает на призму (3). Вследствие дисперсии (обусловленной зависимостью показателя преломления от длины волны) свет различных длин волн выходит из призмы под разными углами. Если в фокальной плоскости линзы объектива (4) поставить экран (5), то линза сфокусирует параллельные потоки энергии для различных длин волн в разных местах экрана. Поворачивая призму (3), можно просканировать через щель (6) монохроматические потоки энергии во всем спектре излучения. Часто в качестве диспергирующего элемента используется дифракционная решетка, которая представляет собой стеклянную или металлическую пластину, на которой нанесены параллельные одинаковые штрихи, расположенные на строго одинаковых расстояниях друг от друга. На рис.11 показана дифракционная решетка, состоящая из чередующихся параллельных друг другу щелей одинаковой ширины b, расположенных на одинаковом расстоянии a друг от друга. Сумма (a+b) является периодом этой структуры и называется постоянной решетки d.
Рис.11. Функциональная схема монохроматора с дифракционной решеткой.
- входная щель; 2 - объектив, формирующий параллельный поток световой энергии; 3 - дифракционная решетка; 4 - объектив, направляющий поток энергии на экран; 5 - экран; 6 - выходная щель
Через входную щель (1) полихроматический поток световой энергии линзой объектива (2) трансформируется в параллельный поток, который проходит через щели дифракционной решетки (3). В каждой точке на экране (5), расположенном в фокальной плоскости линзы объектива (4), соберутся те лучи, которые до линзы были параллельными между собой и распространялись под определенным углом Q к направлению падающей волны. Поэтому освещенность в точке Р на экране (5) определяется результатом интерференции вторичных волн, распространяющихся как от разных участков одной щели, так и от разных щелей. Существует направление, распространяясь по которому, вторичные волны от всех щелей будут приходить в точку Р в одной фазе и усиливать друг друга, и другое - когда волны не совпадают по фазе и ослабляют друг друга. Таким образом, на экране наблюдается чередование светлых и темных полос. Условие формирования максимумов от дифракционной решетки, то есть когда волны усиливают друг друга при интерференции, наблюдается тогда, когда разность хода равна целому числу волн. Зависимость формирования максимумов различных длин волн от угла Q дифракционной решетки выражается формулой: d*sinQ = k - 1, где k= 0, 1, 2.
Если на решетку падает свет разных длин волн, то максимумы для различных длин волн располагаются под различными углами Q к первоначальному направлению распространения света. Поэтому дифракционная решетка разлагает полихроматический свет в дифракционный спектр и употребляется как диспергирующий прибор.
4. Экспериментальная часть
Были отсняты спектры берилловых стекол обогащенных Nd3+, причем все шесть образцов имеют разные концентрации ионов Nd3+. Измерения проводились на спектрофотометре UV-1700 Shimadzu. На рис.12. приведены спектры, заметно что с ростом номера образца растут и интенсивность пиков, следовательно чем больше номер образца, тем больше концентрация Nd3+ в образце.
Рис.12. Спектры берилловых стекол обогащенных Nd 3+
Провели исследование спектральной зависимости интенсивности сигнала Nd3+ от его концентрации в данных образцах. Сравнили самый заметный пик [1] (550-600 нм) с двумя пиками [2] (730-780 нм) и [3] (780-830 нм). Вычислили отношение значений интенсивностей данных пиков и для каждого образца и построим график зависимости полученных значений от концентрации образца (рис 13).
Рис.13.
Теоретически два данных графика должны быть идентичны, как видно из рис.13. наша практическая часть этого не подтверждает, т.е. графики имеют некоторые различия. Это можно объяснить тем, что образцы перед использованием, конечно, были отполированы на алмазной пасте, но внутри они все равно остались неоднородными. Еще причиной является приставка в которой закреплялись образцы, она тоже дает некоторую погрешность.
Заключение
В данной работе были изучены физические принципы, лежащие в основе работы спектрофотометра, его внутреннее устройство и основные узлы. Важно подчеркнуть, что основные принципы действия спектрофотометра, отдельные оптико-механические схемы, блоки и узлы находят свое применение в различных специализированных приборах и автоматических анализаторах для различных исследований.
Была проделана небольшая экспериментальная работа на спектрофотометре UV-1700 Shimadzu (Япония). В ходе которой были отсняты спектры шести образцов берилловых стекол с разной концентрацией ионов Nd3+. Проведено исследование спектральной зависимости интенсивности сигнала Nd3+ от его концентрации в данных образцах. Выявлены причины расхождения теоретиче