Новикова Н. П., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Богатырева А. А

Вид материала

Документы

Содержание Защита интеллектуальной собственности Технические регламенты, стандарты, метрология

Подобный материал:

• Новикова Н. П., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Богатырева А. А., Суркова Т. Е.,, 738.43kb.
• Новикова Н. П., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Богатырева А. А., Суркова Т. Е.,, 987.14kb.
• Новикова Н. П., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Богатырева А. А., Суркова Т. Е.,, 812.83kb.
• Новикова Н. П., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Богатырева, 894.25kb.
• Новикова Н. П., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Богатырева, 670.07kb.
• Новикова Н. П., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Корнетов Н. В., Богатырева, 783.18kb.
• Новикова Н. П., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Богатырева, 888.83kb.
• Новикова Н. П., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Богатырева А. А., Суркова, 865.27kb.
• Новикова Н. П., Сафонова И. В., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Богатырёва, 736.55kb.
• Новикова Н. П., Филиппова Е. А., Меркулова Н. В., Богатырева, 723.31kb.

Нанотехнологии

Ивашов Е.Н.

Значение общенаучных методов познания в нанотехнологии // Вестник машиностроения. - 2011. - № 4. - С.81-85.

Тенденции развития и методы эмпирического и теоретического познания в нанотехнологии. Законы развития электроники, как основной ее составляющей. Эмпирические методы познания: наблюдение, сравнение и измерение, эксперимент (натуральный и модельный). Методы обработки и систематизации знаний эмпирического уровня: анализ и синтез. Теоретические методы познания: идеализация, позитивизм, неопозитивизм. Законы развития электроники: закон прогрессивной эволюции электроники, закон скачкообразного развития, закон соответствия между функцией и структурой, диалектический закон перехода количественных изменений в качественные. Задачи, на которые ориентирована современная практическая нанотехнология.


Нанотехнологии и образование: тематический подбор статей // Наноиндустрия. - 2011. - № 1. - С.50-54.

Как готовить кадры для нанотехнологии (об особых требованиях к подготовке специалистов, обусловленных междисциплинарным характером нанотехнологий). Визуализация атомной решетки графита: идеи для практикума (о разработанном сотрудниками Центра перспективных технологий и Физического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова практикуме для студентов, целью которого является приобретение навыков практической работы на сканирующем туннельном микроскопе, освоение методов обработки, презентации и анализа получаемых изображений).


Киреев В.Ю.

Нанотехнологии: фундаментальные принципы и возможности // Наноиндустрия. - 2011. - № 1. - С.56-58.

Исследование проблем и "болевых точек" современного естествознания. Обоснование метода их решения посредством введения нового исходного уровня представления о Материи - множества полевых сред, через которые осуществляются взаимодействия вещественных объектов во Вселенной, позволяющего уточнить определение ряда фундаментальных понятий в философии, физике и химии, а также объяснить значительное число новых данных и наблюдаемых явлений, ставивших в тупик традиционную науку.

Защита интеллектуальной собственности

Смирнов В.И.

Кто должен быть владельцем прав на служебные изобретения? // Патенты и лицензии. - 2011. - № 3. - С.2-8.

Аспекты регламентации отношений между государством (госзаказчик) - исполнителем (работодатель) - автором (работник), связанным, как правило, трудовым договором со своим работодателем. Обоснование изменений, необходимых для внесений в четвертую часть Гражданского кодекса, касающихся прав на служебные объекты интеллектуальной собственности.


Лабзин М.В.

Обеспечительные меры по судебным делам о защите исключительных прав // Патенты и лицензии. - 2011. - № 3. - С.9-17.

Аспекты эффективности правосудия и мер по ее обеспечению. Исследование проблемы применения судами обеспечительных мер по защите исключительных прав. Общие условия применения обеспечительных мер. Встречное обеспечение. Компетентный суд. Судебная практика применения обеспечительных мер в делах о нарушении исключительных прав: "Осмотр интернет-сайтов"; "Запрет передавать доменное имя"; "Осмотр места правонарушения, носителей, оборудования и истребование документов"; "Арест товаров и запрет совершать действия, предположительно нарушающие исключительное право"; "Приостановление действия ненормативного правового акта (решения Роспатента)"; "Запрет регистрационных действий".

Технические регламенты, стандарты, метрология

Ханов Н.И.

Эталонная база как средство обеспечения модернизации экономики // Мир измерений. - 2011. - № 4. - С.30-33.

По материалам выступления директора ВНИИМ им. Д.И. Менделеева (г. Санкт-Петербург) на коллегии Росстандарта 16 февраля 2011 г. Государственные первичные эталоны (ГПЭ) РФ, хранящиеся в ВНИИМ им. Д.И. Менделеева и их участие в метрологическом обеспечении направлений модернизации российской экономики. Развитие международного метрологического сотрудничества. Ключевые сличения ГПЭ с эталонами Международного бюро мер и весов (МБМВ) и национальных метрологических институтов других стран. Участие метрологических научно-исследовательских институтов РФ в ключевых сличениях.

Зеленин М.В.

Совершенствование эталонной базы отечественных машиностроительных предприятий // Мир измерений. - 2011. - № 5. - С.6-14.

Исследование проблемы оснащения отечественных предприятий современными средствами измерений и внедрения прогрессивных методик измерений. Анализ морального и физического состояния парка измерительного оборудования машиностроительных предприятий, в том числе износа эталонных средств измерений, собственного производства эталонного оборудования, импортной зависимости в области геометрических средств измерений рабочих эталонов 3-го и 4-го разрядов: компараторы концевых мер длины, горизонтальные и вертикальные длиномеры, универсальные измерительные микроскопы и другие эталонные приборы. Системные проблемы эталонной базы российских предприятий. Рекомендации по выбору современного эталонного оборудования для оснащения центральных измерительных лабораторий машиностроительных предприятий. Анализ метрологического оснащения предприятий концевыми мерами длины (КМД). Сравнительный анализ современных приборов зарубежного и отечественного производства для поверки КМД. Критерии принятия решения о соответствии средств измерения потребностям предприятия.