Программа дисциплины

Вид материала

Программа дисциплины

Содержание I.Природа рентгеновской дифракции II.Методы получения дифракционного эффекта III.Первый этап анализа структуры кристалла IV.Второй этап анализа структуры кристалла Календарный план ПЕРЕЧЕНЬ ЛабораторныХ работ Рекомендуемая литература

Подобный материал:

• Программа дисциплины вспомогательные исторические дисциплины: историческая география, 169.74kb.
• Программа дисциплины "Вспомогательные исторические дисциплины: геральдика и генеалогия, 339.17kb.
• Программа дисциплины культура России ХХ века Цикл «Дисциплины специализации», 252.08kb.
• Рабочая программа учебной дисциплины международные экономические отношения наименование, 619.09kb.
• Рабочая программа дисциплины Цели и задачи дисциплины, 63.09kb.
• Программа дисциплины археология Цикл, 244.04kb.
• Программа дисциплины нумизматика. Цикл, 123.86kb.
• Программа дисциплины " Археография " Предназначена для студентов, 225.15kb.
• Рабочая программа дисциплины «Системное и прикладное программное обеспечение» Программа, 92.76kb.
• Программа дисциплины политические процессы и трансфомации в Турции ХХ века Цикл, 144.68kb.

Программа

дисциплины

«Рентгендифракционные методы в неорганической химии»

аннотация

Программа (лекций - 36 ч., лабораторных работ – 36 ч.) предназначена для подготовки специалистов по специализации «неорганическая химия». Она включает в себя изучение основ дифракционных методов исследований кристаллов - основного источника достоверной информации о строении химических соединений. Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения.

Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографичес-кого.

I.Природа рентгеновской дифракции

1. Природа рентгеновского излучения. Принципы работы рентгеновских аппаратов. Устройство рентгеновских трубок.
   
2. Рентгеновские спектры трубки, природа тормозного и характеристического спектра.
   
3. Дифракция рентгеновских лучей атомным рядом из атомов одного и двух сортов. Дифракция трехмерной атомной решеткой. Условия Лауэ.
   
4. Дифракция как отражение. Уравнение Брэгга.
   
5. Обратная решетка, взаимосвязь параметров прямой и обратной решетки. Сфера отражения. Векторная запись уравнения Брэгга.
   

II.Методы получения дифракционного эффекта

1. Метод порошка. Полихроматический метод. Метод вращения и качания.
   
2. Рентгенофазный анализ.
   
3. Схема и общие принципы работы 4-х кружных дифрактометров.
   
4. Новейшие методы получения и регистрации дифракционной картины.
   

III.Первый этап анализа структуры кристалла

1. Определение параметров ячейки по рентгенограммам. Число формульных единиц в элементарной ячейке.
   
2. Симметрия в кристаллическом пространстве. Сингонии, точечные группы симметрии, пространственные группы симметрии. Решетки Бравэ.
   
3. Симметрия кристаллов и симметрия лауэграмм. Закон Фриделя. Лауэвские классы симметрии.
   

IV.Второй этап анализа структуры кристалла

1. Факторы, влияющие на интенсивность рентгеновской дифракции: поляризационный, температурный, кинематическикий, адсорбционный, экстинкционный, атомный. Понятие о первичной и вторичной экстинкции, термодиффузном рассеянии.
   
2. Фактор атомного рассеяния рентгеновских лучей.
   
3. Понятие структурной амплитуды. Закон сложения когерентных волн.
   
4. Преобразование Фурье и представление электронной плотности рядом Фурье. Формула электронной плотности для центросимметричного кристалла.
   
5. Проблема начальных фаз в рентгеноструктурном анализе. Необходимость опорных данных (координаты тяжелых атомов, начальные фазы сильных отражений). Общая схема последовательного выявления всех атомов.
   
6. Функция Паттерсона (межатомная функция), ее запись, интерпретация. Определение атомных координат по межатомной функции.
   
7. «Прямые» методы решения структур кристаллов (основные понятия). Особенности расшифровки центросимметричных и нецентросимметричных структур.
   
8. Метод тяжелого атома в решении структур кристаллов, виды Фурье – синтезов.
   
9. Уточнение атомных координат методом наименьших квадратов. Параметры, характеризирующие точность определения координат. R – фактор.
   
10. Влияние температуры на рентгенодифракционную картину. Температурный фактор атома, формы его записи, тепловой эллипсоид. Уточнение параметров тепловых колебаний.
    
11. Общая схема основных этапов рентгеноструктурного анализа.
    

1. Решение структурных задач дифракционными методами
   

1. Аномальное рассеяние рентгеновских лучей и определение абсолютной конфигурации.
   
2. Сравнительные возможности рентгеноструктурного, нейтронографического и электронографического методов в определении структуры молекул.
   
3. Полнопрофильный анализ. Метод Ритвельда.
   
4. Прецизионный рентгеноструктурный анализ, понятие о разностной и деформационной электронной плотности. Химическая связь в кристаллах.
   
5. Стереохимические задачи рентгеноструктурного анализа.
   

КАЛЕНДАРНЫЙ ПЛАН

Лекции.
№		Тема
1	1 неделя	Природа рентгеновского излучения. Принципы работы рентгеновских аппаратов. Устройство рентгеновских трубок. Рентгеновские спектры трубки, природа тормозного и характеристического спектра.
2	2 неделя	Дифракция рентгеновских лучей атомным рядом из атомов одного и двух сортов. Дифракция трехмерной атомной решеткой. Условия Лауэ. Дифракция как отражение. Уравнение Брэгга.
3	3 неделя	Обратная решетка, взаимосвязь параметров прямой и обратной решетки. Сфера отражения. Векторная запись уравнения Брэгга.
4	4 неделя	Метод порошка. Полихроматический метод. Метод вращения. Схема и общие принципы работы 4-х кружных дифрактометров. Новейшие методы получения и регистрации дифракционной картины.
5	1 неделя	Рентгенофазный анализ. Определение параметров ячейки по рентгенограммам. Число формульных единиц в элементарной ячейке.
6	2-3 неделя	Симметрия в кристаллическом пространстве. Сингонии, точечные группы симметрии, пространственные группы симметрии. Решетки Бравэ. Симметрия кристаллов и симметрия лауэграмм. Закон Фриделя. Лауэвские классы симметрии.
7	4 неделя	Факторы, влияющие на интенсивность рентгеновской дифракции. Понятие о первичной и вторичной экстинкции, термодиффузном рассеянии. Фактор атомного рассеяния рентгеновских лучей.
8	1 неделя	Понятие структурной амплитуды. Закон сложения когерентных волн. Преобразование Фурье и представление электронной плотности рядом Фурье. Формула электронной плотности для центросимметричного кристалла.
9	2 неделя	Проблема начальных фаз в рентгеноструктурном анализе. Необходимость опорных данных (координаты тяжелых атомов, начальные фазы сильных отражений). Общая схема последовательного выявления всех атомов.
10	3 неделя	Функция Паттерсона (межатомная функция), ее запись, интерпретация. Определение атомных координат по межатомной функции.
11	4 неделя	«Прямые» методы решения структур кристаллов (основные понятия). Особенности расшифровки центросимметричных и нецентросимметричных структур.
12	5 неделя	Метод тяжелого атома в решении структур кристаллов, виды Фурье – синтезов.
13	1 неделя	Уточнение атомных координат методом наименьших квадратов. Параметры, характеризирующие точность определения координат. R– фактор.
14	2 неделя	Влияние температуры на рентгенодифракционную картину. Температурный фактор атома, формы его записи, тепловой эллипсоид. Уточнение параметров тепловых колебаний. Общая схема основных этапов рентгеноструктурного анализа.
15	3 неделя	Полнопрофильный анализ. Метод Ритвельда.
16	4 неделя	Прецизионный рентгеноструктурный анализ, понятие о разностной и деформационной электронной плотности. Химическая связь в кристаллах.
17	1 неделя	Сравнительные возможности рентгеноструктурного, нейтронографического и электронографического методов в определении структуры молекул. Стереохимические задачи рентгено-структурного анализа.

ПЕРЕЧЕНЬ ЛабораторныХ работ

1. Знакомство с рентгеновским дифрактометром. Первичная обработка порошковых дифракционных данных.
   
2. Проведение рентгенофазового анализа образцов.
   
3. Определение сингонии, симметрии решеток Браве. Стереографическая проекция элементов симметрии.
   
4. Определение сингонии, симметрии решеток Браве. Стереографическая проекция граней.
   
5. Определение типа решеток Браве. Число формульных единиц в ячейке.
   
6. Уточнение кристаллических параметров ячейки
   
7. Расчет теоретической дифракционной картины и идентификация вещества по рентгендифракционным данным.
   
8. Определение типа решетки по рентгендифракционным данным поликристаллических материалов.
   
9. Индицирование дифракционных отражений с известными параметрами ячейки.
   
10. Индицирование дифракционных отражений по известным индексам первых дифракционных отражений.
    
11. Пользование структурными банками данных.
    

РЕКОМЕНДУЕМАЯ ЛИТЕРАТУРА

Основная

1. Порай – Кошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений. М.: Высшая школа, 1989.
   
2. Акимов В.М. Рентгенофазовый анализ. М.: изд-во РУДН, 1981.
   

Дополнительная

1. Китайгородский А.И. Рентгеноструктурный анализ. М.: Гостехтеоретиздат, 1959.
   
2. Васильев Д.М. Дифракционные методы исследования структур – М.: Металлургия, 1977
   
3. Асланов Л.А., Треушников Е.Н. Основы теории дифракции рентгеновских лучей – М.: Изд-во Моск. Ун-та, 1985.
   

Программа составлена

Лобановым Н.Н.,

Канд.хим.наук, доцент

Кафедра неорганической химии,

Факультет физико-математических и естественных наук