Geum.ru

С. В. Покровский московский инженерно-физический институт (государственный университет) исследование

Вид материалаИсследование
Подобный материал:

УДК 538.945(06)+ 539.2(06) Сверхпроводимость и физика наноструктур

И.А. РУДНЕВ, С.В. ПОКРОВСКИЙ

Московский инженерно-физический институт (государственный университет)


ИССЛЕДОВАНИЕ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ КРИТИЧЕСКОГО ТОКА В ВТСП ЛЕНТАХ ВТОРОГО ПОКОЛЕНИЯ

В последнее время в различных лабораториях разработано несколько экспериментальных методик изучения магнитных и транспортных свойств ВТСП. Наиболее развиты методики, основанные на измерениях либо захваченного магнитного потока, либо магнитного поля, инду­цирован­ного транспортными токами. Это - магнитооптическая визуализация [1], Холловская магнитометрия [2], метод «магнитного ножа» [3]. В качестве преимуществ магнитооптической визуализации следует отметить большую информативность, высокую чувствительность и высокое пространственное разрешение измерений. Однако этот метод практически трудно реализуем для аттестации длинномерных лент и массивных ВТСП образцов из-за относительно небольшой площади измерений.

Так как распределение магнитного поля связано с распределением транспортных токов, данные методики позволяют восстановить пространственное распределение критического тока Jc, что достаточно сложно получить путем прямых резистивных измерений.

В докладе представлены результаты исследования однородности распределения захваченного магнитного потока ВТСП ленты 2-го поко­ления методом Холловской магнитометрии. На рис.1 представлен центральный профиль зависимости Jc(x,y0) (в относительных единицах) ВТСП ленты 2-го поколения, представляющую собой пленку Y123, нанесенную на никелево-ванадиевый сплав через буферный оксидный подслой. На профиле можно увидеть два участка. Первый соответствует части ленты с небольшим критическим током (на малом участке наблюдается падение Jc практически до нуля) и 40% разбросом от среднего значения Jc. Второй участок обладает гораздо большим критическим током, но и разброс составляет около 60%.

Для производства ВТСП лент 2-го поколения используется Ni подложка, которая обладает собственной магнитной зеренной структурой. Влияние никелевой ферромагнитной подложки характеризуется двумя конкурирующими явлениями. Так, наличие внешнего поля от ферро­магнетика уменьшает величину критического тока Jc, но с другой стороны за счет взаимодействия вихрями с зернами с возникает дополнительный пиннинг, что приводит к увеличению Jc. [4]




Рис. 1. Центральный профиль Jc/Jc(max) ВТСП ленты 2-го поколения


Разработанная методика позволяет исследовать также магнитные свойства подложки. На рис. 2 представлен профиль намагниченности ленты при комнатной температуре, что дает информацию о намагниченности подложки Ni. Отчетливо наблюдается неоднородность распределения, причем участок с наибольшей намагниченностью и неоднородностью совпадает с участком малых Jc на профиле распреде­ления критических токов (рис.1). Также на рис. 3 представлена полученная поверхность намагниченности чистой Ni ленты. Данное распределение намагниченности указывает на разупорядоченность магнитных доменов. Сильные пики противоположного направления слева и справа на распределении относятся к краевым эффектам замыкания линий магнитного потока и не связаны с локальной неоднородностью ленты.

Авторы благодарят Демихова Е.И. за предоставленные образцы лент.

Работа выполнена при поддержке РФФИ, Грант № 06-08-00551-а.


Список литературы

  1. P Kováč, M Masti, et al. // Supercond. Sci. Technol. 18, 805-812 (2005)
  2. J Paasi, T Kalliohaka, L Söderlund. et al. //Supercond. 9, 1598 (1999)
  3. B ten Haken, H van Eck and H ten Kate //Physica C 334, 163 (2000)
  4. Vlasko-Vlasov and et al. // 2006 Приглашенный доклад на конференции ФПС’06





Рис. 2. Центральный профиль Bz ВТСП ленты при Т = 300 К





Рис. 3. Распределение намагниченности Ni ленты




ISBN 5-7262-0710-6. НАУЧНАЯ СЕССИЯ МИФИ-2007. Том 4