Техническая диагностика средств вычислительной техники
Методическое пособие - Компьютеры, программирование
Другие методички по предмету Компьютеры, программирование
остей в микроЭВМ осложнен целым рядом причин, наиболее важными из которых представляются следующие:
1) высокая сложность СБИС. Обычный однокристальный микропроцессор имеет около 200 внутренних запоминающих элементов (информационных, управляющих регистров и триггеров) и, соответственно, 2200 возможных состояний, поэтому полный контроль микропроцессорных СБИС практически невозможен и отдельные неисправности, вызванные взаимным влиянием отдельных элементов СБИС, могут проявляться в виде редких нерегулярных сбоев;
2) малое число контрольных точек схемы (выводов ИМС) приводит к тому, что подача тестирующих воздействий на нужные точки схемы и контроль их состояния носит косвенный характер. Доступ к внутренним элементам СБИС возможен только под микропрограммным управлением, т. е. генерация тестовых последовательностей возможна, в основном, только средствами микропрограммного управления самого микропроцессора или микроконтроллера;
3) неразделимость аппаратных и программных средств управления микропроцессорной системы. Часто провести четкую границу между аппаратными и программными средствами микропроцессорной системы нельзя, так как в большинстве микропроцессоров ПЗУ микропрограмм выполнено на самом кристалле СБИС микропроцессора;
4) сложность и неразделимость аппаратных средств микроЭВМ. Микропроцессорную систему часто невозможно разделить на отдельные функциональные узлы (ТЭЗ, как в больших ЭВМ), потому что часто вся микро-ЭВМ, или, по крайней мере, ее системная плата, исполняются в виде одного конструктивно законченного узла. Во-вторых, часто в одной СБИС, например, контроллере системной поддержки микропроцессора, совмещены различные функции: управление и выполнение арифметических процедур, запрограммированная конфигурация, выполнение функций ввода-вывода и т. д., и наоборот одна функция может реализовываться по частям в разных СБИС и т. п. Так что диагностика неисправностей микро-ЭВМ требует высокой квалификации обслуживающего персонала;
5) необходимость одновременного контроля состояния шин. Микропрограммный характер генерации тестовых воздействий требует наблюдения и регистрации всех сигналов шин на больших временных интервалах, чтобы можно было зафиксировать редкие и однократные события. Эти события идентифицируются заданными комбинациями сигналов на шинах адреса, управления, данных, и даже заданной последовательностью таких комбинаций. Например, регистрация первичной ошибки только в n-м такте операции умножения с плавающей точкой, только с определенными операндами, да еще и на фоне обмена данными с принтером. Подобную регистрацию можно провести только на специальной нестандартной КИА анализаторе логических состояний;
6) высокое быстродействие. Тактовая частота современных микропроцессоров достигает сотен МГц и даже ГГц, так что разрешающая способность стандартной и нестандартной КИА должна быть не ниже тысяч МГц, но такая аппаратура очень сложна, дорога и редка;
7) шинная организация микропроцессорной системы часто требует использования тристабильных элементов (с Z-состоянием) с подключением в одну точку многих передатчиков и источников сигналов, что приводит к трудностям определения источника искажения информации в магистрали;
8) мультиплексирумость шин микропроцессорной системы, вызываемая необходимостью сокращения числа выводов СБИС, приводит к временному разделению одной и той же шины между младшей и старшей частями адреса, адресом и данными, данными и сигналами управления и т. п. Это требует дополнительной идентификации характера информации на шине и сильно усложняет диагностику магистралей.
Но, наряду с вышеуказанными сложностями, микропроцессорные системы имеют и ряд преимуществ при диагностике неисправностей в них:
1) стандартная форма электрических сигналов. Важной особенностью всех цифровых, дискретных устройств, реализованных на стандартных наборах БИС, является стандартное представление информации электрическими сигналами одинаковой амплитуды (логические нуль и единица представляются сигналами нулевого уровня и/или сигналами уровня амплитудой порядка +5 вольт). В этом случае, прибегать к измерениям аналоговых величин (амплитуды, длительности фронтов), приходится только в блоках ЦАП и АЦП, или при подозрении на выход из строя одной из компонент схемы. Эта стандартность дает возможность разрабатывать КИА со средствами стандартного подключения к контролируемым точкам системы, что снижает стоимость такой КИА и, в большой степени, сокращает вероятность ошибок оператора. Примером такой КИА могут быть логические пробники и измерительные клипсы, одеваемые прямо на выводы исследуемых ИМС;
2) способность к самоконтролю. Как только отлажена схема синхронизации микропроцессорной системы и начал работать контур микропрограммного управления, появляется возможность использовать сам микропроцессор системы для сбора и обработки информации о состоянии элементов самой микропроцессорной системы. Исполнение таких тестовых программ, как циклические пересылки унитарных кодов, подсчет контрольных сумм содержимого ROM BIOS, КМОП-памяти, контроль ОЗУ, запись-чтение тестирующей информации в порты ввода-вывода и т. п., позволяет определить характер неисправности, а иногда и точно указать ее место. Мощным средством в этом отношении являются микропрограммные тесты, которые составляются с использованием так называемого “способа раскрутки”, когда, опираясь на уже пр?/p>