Организация работы и разработки Белорусского государственного университета информатики и радиоэлектроники
Отчет по практике - Разное
Другие отчеты по практике по предмету Разное
определяемых элементов.
Когда результаты качественного анализа отрицательны в том смысле, что интересующий нас элемент не обнаружен, то это означает лишь то, что концентрация искомого элемента в пробе ниже минимально обнаружимой данным методом концентрации. Иначе говоря, под отрицательным ответом подразумевается, что содержание определяемого элемента лежит ниже порога чувствительности метода. Таким образом, результаты качественного анализа имеют смысл лишь в том случае, когда известна, хотя бы приближенно, чувствительность определений.
.3.2 Количественный анализ
Количественный спектральный анализ основан на том, что интенсивности аналитических линий, как правило, монотонно возрастают с увеличением содержания определяемого элемента в пробе. Теоретически рассчитать связь между интенсивностью линии I и концентрацией элементаС практически невозможно, так как эта связь зависит от большого числа факторов, не поддающихся точной оценке. Это в первую очередь относится к процессам образования плазмы и стабильности плазмы как источника излучения.
В большинстве случаев эту зависимость приходится устанавливать опытным путем. Для этого применяют так называемые эталоны или стандартные образцы. Такими стандартными образцами служат пробы, близкие по составу к анализируемой и имеющие заранее известное содержание определяемого элемента. По измеренным интенсивностям аналитических линий в пробах, пользуясь построенной кривой, графически определяют концентрации примесей. Из этого следует, что спектральный анализ, по сути дела, является сравнительным методом анализа: получение результатов возможно только путем сравнения интенсивности спектральных линий пробы с интенсивностью тех же пиний стандартных образцов. Результаты анализа могут быть надежны лишь в той степени, в какой надежны применяемые эталоны.
.3.3 Полуколичественный метод анализа
Разграничение между количественным и полуколичественным анализами, разумеется, чисто условно. Тем не менее, его разумно придерживаться, так как существует целый ряд методов, в которых, благодаря существенному снижению требований к точности результатов, удается добиться крайней простоты приемов анализа, что дает возможность чрезвычайно быстро и дешево получать оценочные значения. Иногда термином полуколичественный характеризуют методы, дающие результаты анализа с точностью до множителя от 1/3 до 3 от истинного содержания.
Так как в методическом отношении такие анализы отличаются от точного количественного анализа, то это дает основание выделить их в отдельную группу.
В отличии от количественного анализа, полуколичественный анализ осуществляется не по калибровочным графикам а по интервальным таблицам.Винтервальной таблице диапазону интенсивности присваивается диапазонконцентрации.
.4 Анализатор лазерный элементного состава веществ и материалов LEA-S500.
.4.1 Назначение
Анализатор - предназначен для определения химического состава металлов, сплавов, стекол, керамики, пластмасс, прессованных порошков, комбинированных и композитных материалов, полезных ископаемых и других веществ и материалов;
обеспечивает измерение массовой доли химических элементов и их соединений (окислов) в анализируемой пробе;
позволяет проводить анализ пробы в заданных точках (областях) поверхности, выбираемых с помощью систем позиционирования и видеонаблюдения.
Анализатор применяется для качественного, полуколичественного и количественного анализа элементного состава сырья, компонентов, добавок, примесей, включений и т.д. на всех стадиях производства.
В качестве основного источника лазерного излучения в анализаторе используется твердотельный частотный 2-импульсный лазер с модуляцией добротности на AHr:Nd3+, генерирующий излучение с длиной волны 1064 нм, с энергией импульса излучения 150 мДж, длительностью импульса 12 не, частота повторения сдвоенных импульсов 20 Гц.Для визуализации основного источника лазерного излучения, настройки и регулировки в анализаторе используется полупроводниковый лазер, работающий на длине волны 650 - 680 нм с постоянной выходной мощностью 1 мВт.
- приборная стойка; 2 - система охлаждения лазера; 3 - блок питания лазера; 4 - блок измерительный; 5 - рабочая камера; 6 - монитор; 7 - клавиатура; 8 - мышь; 9 - системный блок компьютера.
Рисунок 5.1 - Общий вид анализатора.
- крышка откидная; 11 - винт крепления столика и фокусировки; 12 - герметизирующая прокладка; 13 - столик; 14 - место установки пробы; 15, 15 - блокировка излучения.
Рисунок 5.2 -Общий вид рабочей камеры.
- всасывающий клапан системы очистки; 19 - коллектор;
- винты крепления коллектора; 21 - апертура лазера и системы видеонаблюдения; 22 - рассеиватель; 23 - каретка; 24 - толкатели системы позиционирования.
Рисунок 5.3-Вид рабочей камеры со снятым столиком.
.4.2 Технические характеристики
.4.2.1 Спектральные и оптические характеристики
Наименование параметра, единица измеренияНоминальное значениеФокусное расстояние коллиматорного объектива спектрографа, мм500Дифракционная решетка, штрихов/мм1800Линейная дисперсия на длине волны блеска, нм/мм1.0Диапазон регистрируемых длин волн спектров, нм200-800Спектральный диапазон, единовременно регистрируемый детектором (цифровой камерой), при определенном заданном положении дифракционной решетки - регион спектра, нм (диапазон уменьшается с увеличением длины волны)20-30Сп?/p>