Книги по разным темам Pages:     | 1 | 2 |

Используя известное соотношение /(2)мах, получаем значение (455) нм, которое совпадает с определенным методом ПЭМ (табл.1). Т.е., появление пика на кривой I(2) для СКП, обусловлено регулярными порами.

АМг-1 А5 10 15 20 25 30 35 2, мин Рис.5. Зависимости интенсивностей МУРР I(2) от угла рассеяния 2 для пористых Al2O3, полученных в сернокислом электролите.

Необходимо отметить, что уровень интенсивности МУРР для СКП, полученных на сплаве, ниже, чем для пленок на алюминии (рис.5). Как уже указывалось ранее, такая особенность характерна и для ЩКП (рис.3). Можно предположить, что снижения уровня интенсивности МУРР пленками на сплаве АМг-1 обусловлено увеличением вклада в нерегулярную пористость фракции с наименьшим значением радиуса Гинье при одновременном уменьшении вкладов других фракций.

I, эл.

ед.

Электронный журнал ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ 681 Выводы 1. Со стороны барьерного слоя все исследованные пленки имеют ячеистую структуру, характерную для пористых Al2O3. Cредние значения эффективного размера ячеек для пленок, полученных анодированием как алюминия А99 так и сплавов АВ и АМг-1, составляют 200 нм для щавелевокислых и 50 нм для сернокислых пленок.

2. Величина дисперсии эффективного размера ячеек пористых пленок, образованных в щавелевокислом электролите на сплаве АМг-1, почти в два раза больше, чем для оксидов на чистом алюминии.

3. Гексагональный порядок в расположении ячеек пористого оксида, образованного анодированием сплава АМг-1 в растворе С2Н2Оограничивается лишь первой координационной сферой (250 нм), тогда как для пленок, полученных на алюминии, дальность корреляции в расположении ячеек простирается на расстояниях 5-6 координационных сфер ( 600 нм). Область существования регулярной ячеистой структуры в пористых оксидах, сформированных анодированием Al и сплава АМг-1 в сернокислом электролите, составляет 200 нм (7-8 координационных сфер).

4. Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей (МУРР) пористыми Al2O3, полученными в щавелевокислом электролите, обусловлено рассеянием на нерегулярных порах с характерными объемами в диапазоне Vi ~ (102 105) нм3 и радиусами Гинье Ri ~ (2 25) нм. Тогда как в случае пленок, сформированных в сернокислом электролите, вклад в МУРР вносят также и регулярные поры. Приближенная оценка вкладов отдельных размерных фракций в объемную нерегулярную пористость Рнр для пленок, сформированных в щавелевокислом электролите на сплаве АМг-1, свидетельствует об увеличении доли малых пор с радиусом Гинье R3 ~ 2 нм по сравнению с пленками, полученными на чистом алюминии, при сохранении одинакового значения Рнр 5%.

итература 1. Wood G.C. Porous anodic films on aluminum // Oxides and oxide films. V.2. Ed.

Diggle J.W. N.Y. Marsel Dekker Inc., 1972. P. 167-279.

2. Jessensky O., Mller F., Gsele U. Self-organized formation of hexagonal pore structures in anodic alumina // J. Electrochem. Soc. 1998. V. 145. No. 11. P. - 3740.

3. Masuda H., Hasegwa F., Ono S. Self-ordering of cell arrangement of anodic porous alumina formed in sulfuric acid solution // J. Electrochem. Soc. 1997. V.

144. No. 5. P. L127 - L130.

Электронный журнал ИССЛЕДОВАНО В РОССИИ 682 4. Liu C.Y., Datta A., Wang Y.L. Ordered anodic alumina nanochannels on focusedion-beam-prepatterned aluminum surfaces // Appl. Phys. Lett. 2001. V. 78. No.1.

P. 120 - 122.

5. Growth of well-aligned carbon nanotube arrays on silicon substrates using porous alumina film as a nanotemplate. Hu W., Gong D., Chen Z., Yuan L. etc // Appl.

Phys. Lett. 2001. V. 79. No.19. P.3083 - 3087.

6. Петрова В.В. Микропористость анодных оксидных пленок алюминия.

Учебное пособие. Петрозаводск. Изд-во ПетрГУ. 1992. 96с.

7. Репникова Е.А., Чупахина Е.А., Яковлева Н.М. Микропористость оксидных пленок алюминия // Нац. конф. по применению рентгеновского, синхротронного излучений, нейтронов и электронов для исследования материалов. Дубна, 25-29 мая 1997 г. Сб. докд. Т.1. С. 257-263.

8. Effects of alloying elements in anodizing of aluminium. H. Habazaki, K. Shimizu, P. Skeldon, G.E. Thompson, G.C. Wood, X. Zhou // Trans IMF. 1997. V.75(1).

P.18-23.

9. Barrier-type anodic film formation on Al Ц3.5 wt% Cu alloy. M. A. Paez, T.M.

Foong, C.T. Ni, G.E. Thompson etc // Corros. Sci. 1996. V. 38. No.1. P.59 Ц63.

10. Influence of surface treatment on detachment of anodic films from Al-Mg alloys.

Y. Liu, P. Skeldon, G.E. Thompson, X. Zhou, H. Habazaki, K. Shimizu // Corros.

Sci. 2001. V.43. P. 2349-2357.

11. Грудин Б.Н., Плотников В.С., Покрашенко А.А., Фищенко В.К. Структурноморфологический анализ неоднородностей в металлических материалах по электронно-микроскопическим изображениям // Физика металлов и металловедение. 2000. Т. 90. № 6. С. 58-63.

12. Соколов В.Н., Юрковец Д.И., Разгулина О.В., Мельник В.Н. Программноаппаратный комплекс для исследования микроморфологии поверхности твердых тел по РЭМ-изображениям // Поверхность, 1998, № 1, С. 33-40.

13. Свергун Д.И., Фейгин Л.А. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние. М. Наука. 1986. 280 с.

14. Денисов А.И., Яковлева Н.М., Яковлев А.Н. Оcобенности пористой структуры анодных оксидных пленок на алюминии // Тонкие пленки и слоистые структуры. Материалы междунар. Науч.-техн. конф. Москва. 26-ноября 2002 г. Ч.2. С.172-174.

15. Сокол В.А. Закономерность формирования размеров ячеек пористого оксида алюминия // Докл. АН БССР. 1986. Т. 30. № 3. С. 243 Ц245.

16. Одынец Л.Л., Орлов В.М. Анодные оксидные пленки. Л. Наука. 1990. 200с.

Pages:     | 1 | 2 |    Книги по разным темам