Учебно-методический комплекс дисциплины «материаловедение и технология конструкционных материалов» (миткм)
Вид материала | Учебно-методический комплекс |
- Учебно-методический комплекс дисциплины «Материаловедение. Технология конструкционных, 1573.14kb.
- Учебно-методический комплекс дисциплины Бийск бпгу имени В. М. Шукшина, 2658.89kb.
- Методические указания к темам введение Предмет и содержание дисциплины "Материаловедение, 357.11kb.
- И. А. Хворова материаловедение. Технология конструкционных материалов, 1701.97kb.
- Технология конструкционных материалов пособие по изучению дисциплины и выполнению контрольных, 479.07kb.
- Памятка для студентов групп пкм по изучению дисциплины "Технология материалов и покрытий", 79.64kb.
- Нисаев Игорь Петрович, д т. н., профессор учебно-методический комплекс, 356.38kb.
- Нисаев Игорь Петрович, д т. н., профессор учебно-методический комплекс, 329.37kb.
- Баженов Валерий Клавдиевич, к т. н., доцент, учебно-методический комплекс, 1625.53kb.
- Баженов Валерий Клавдиевич, к т. н., доцент, учебно-методический комплекс, 1602.69kb.
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное автономное образовательное
учреждение высшего профессионального образования
«ЮЖНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ В г. ТАГАНРОГЕ
(ТТИ Южного федерального университета)
_____________________________________________________________________
учебно-методический комплекс
дисциплины «МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ И ТЕХНОЛОГИЯ КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ»
(МИТКМ)
Образовательной профессиональной программы (ОПП)
направления 200200 «Оптотехника»,
специальности 200201 «Лазерная техника и лазерные технологии»
Факультет __Электроники и приборостроения_______________________
Выпускающая кафедра по ОПП ___Радиотехнической электроники
Таганрог, 2011
СОДЕРЖАНИЕ
УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОГО КОМПЛЕКСА (УМК)
Учебной дисциплины МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ И ТЕХНОЛОГИЯ КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ (МИТКМ)
- Проектирование учебного процесса по учебной дисциплине «Материаловедение и технология конструкционных материлов» (МИТКМ) ( 5 семестры)
Дисциплина МИТКМ предназначена, с одной стороны, для глубокого изучения свойств, параметров и характеристик материалов (металлов, сплавов, полупроводников, сверхпроводников, диэлектриков и магнитных материалов), применяемых в опто- и электронной технике, а с другой знакомство с физическими процессами, которые реализуются в различных материалах, их соединениях и сплавах под действием внешних факторов, для проектирования устройств систем и оптоэлектронных приборов с учетом номенклатуры и свойств материалов и этапов технологических процессов производства.
Общая трудоемкость – 130 часа.
- Технология процесса обучения по учебной дисциплине ТЭ.
Процесс обучения в пятом семестре состоит в чтении лекций, проведении 4-х четырехчасовых лабораторных работ, в проведении тестирования и экзамена, при этом вопросы и задачи выносимые на экзамен и тесты студентам известны. Лекции дублируют методические разработки представленные на сайте кафедры, доступном по университетской сети.
- Междисциплинарные связи учебной дисциплины в общем перечне дисциплин ОПП Дисциплина «МИТКМ» базируется на следующих дисциплинах, изучаемых ранее: «Высшая математика», «Химия», «Основы оптики», «Физика», «Спецразделы физики». Знания, полученные студентами при изучении данной дисциплины, используются при изучении следующих дисциплин: «Физические основы квантовой электроники», «Лазерные технологии», «Лазерная техника», «Когерентная и нелинейная оптика», «Специализированные лазерные и микроволновые системы», «Электроника лазерных систем».
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное автономное образовательное
учреждение высшего профессионального образования
«ЮЖНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ В г. ТАГАНРОГЕ
(ТТИ Южного федерального университета)
_____________________________________________________________________
«СОГЛАСОВАНО» «УТВЕРЖДАЮ»
Председатель методической комиссии Декан ЭП факультета
по образовательной программе Коноплев Б.Г.
______________________
________________________ ___________________________
«____»_________ 2011/12 учеб. год «____»________2011 /12 учеб. год
Образовательная профессиональная
программа (ОПП) специальности 200201 «Лазерная техника и лазерные
технологии»
Факультет _____________ЭП_______________________
Выпускающая кафедра по ОПП РТЭ______
РАБОЧАЯ ПРОГРАММА
ДИСЦИПЛИНЫ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ И ТЕХНОЛОГИЯ КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ (МИТКМ)
Кафедра ______РТЭ_______________________
Форма обучения __________очная________ Срок обучения____5 лет______
Технология обучения лекции, лабор.работы, тесты,
Курсы__2____Семестры___4______
Академические часы _130__ | | Зачетные единицы __3 з.е._ | ||||
Учебных занятий | 4сем 130 час | | Учебных занятий | 4 сем 100 бал | ||
Из них: лекций практических лабораторных самостоятельных индивидуальных (курсовой проект) | − 36 ч 18 ч 40 ч 18 ч | | Из них: лекций практических лабораторных самостоятельных индивидуальных (курсовой проект) | 30 15 15 25 15 | ||
Промежуточный рейтинг-контроль 4 сем (зачет) | | | Промежуточный рейтинг-контроль 4 сем (зачет) | | ||
Итоговый рейтинг- контроль (экзамен) | | | Итоговый рейтинг- контроль (экзамен) | |
Таганрог 2011 г.
Рабочая программа составлена в соответствии с требованиями Государственного образовательного стандарта Российской Федерации образовательной профессиональной программы (ОПП)
МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ И ТЕХНОЛОГИЯ КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ ________________________индекс_______Ф.04_______________________________
Составители:
Должность | Уч. степень | Звание | Ф.И.О. | Подпись |
профессор каф. РТЭ, ассистент. | д.т.н. | Профессор | Червяков Г.Г. Филь К.А. | |
Рабочая программа обсуждена и одобрена на заседании кафедры радиотехнической
электроники
Зав. кафедрой РТЭ Г.Г. Червяков
Согласовано с другими кафедрами или организациями:
Название организации | Подпись | Ф.И.О. руководителя |
| | |
| | |
| | |
| | |
МЕСТО, ЦЕЛИ И ЗАДАЧИ ДИСЦИПЛИНЫ ФМ
В ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЙ ПРОФЕССИОНАЛЬНОЙ ПРОГРАММЕ,
реализуемой в университете
- Место дисциплины в реализации основных задач образовательной профессиональной программы (ОПП).
Дисциплина МИТКМ служит для более глубокого изучения процессов и закономерностей, которые обуславливают свойства, параметры и характеристики различных материалов, применяемых в электронной технике.
- Место дисциплины в обеспечении образовательных интересов личности обучающегося студента по данной ОПП.
Дисциплина МИТКМ существенно расширяет и углубляет научный и технический кругозор в избранной специальности, что обеспечивает образовательные интересы личности обучающегося студента по данной ОПП.
- Место дисциплины в удовлетворении требований заказчиков выпускников университета данной ОПП
Дисциплина МИТКМ существенно углубляет и расширяет знание студентов в избранной ими специальности, что удовлетворяет требованиям заказчиков выпускников университета данной ОПП.
- Знания каких учебных дисциплин должны предшествовать изучению дисциплины в ОПП
Изучение дисциплины МИТКМ использует материал дисциплин «Высшая математика», «Физика», «Специальные разделы физики».
- Для изучения каких дисциплин будет использоваться материал дисциплины при реализации рассматриваемой ОПП
Дисциплина МИТКМ является одной из основ для дисциплин: «Физические основы квантовой электроники», «Лазерные технологии», «Лазерная техника», «Когерентная и нелинейная оптика», «Специализированные лазерные и микроволновые системы», «Электроника лазерных систем».
- Цель преподавания дисциплины
Целью дисциплины МИТКМ ТЭ является глубокое изучение существующих классов материалов электронной техники, совершенствование которых и их нетрадиционные применения позволяют активно продвигаться как вверх по частотному диапазону, так и создавать устройства и системы на новых принципах и явлениях.
- Задачи изучения дисциплины
В результате изучения дисциплины МИТКМ студенты должны:
- освоить прикладные вопросы базовых знаний в области материаловедения и физики твердого тела;
- получить информацию о существующих и прогрессивных материалах электронной и оптотехники;
- получить навыки расчета и измерения параметров и характеристик материалов, их сплавов и соединений;
- получить базовые знания о физических процессах во всех современных материалах, сплавах и соединениях, используемых в оптоэлектронике и микроэлектроннике.
2. СОДЕРЖАНИЕ ТЕОРЕТИЧЕСКОГО КУРСА
- Лекции
- Содержание лекций
- Содержание лекций
(4 семестр)
Лекция 1. Основы материаловедения. Материалы и вещества. Процесс переработки сырья в изделие.
Лекция 2. Элементы и компоненты электроники и микроэлектроники. Классификации материалов электронной техники
Лекция 3. Свойства материалов. Терминология и определение. Электрические, оптические, физико-химические, механические, тепловые, технологические и потребительские свойства материалов.
Лекция 4. Конструкционные материалы и устойчивисть к воздействию внешней рабочей среды. Состав и структура материалов.
Лекция 5. Виды химических связей. Энергия связи. Понятие “структура”. Кристаллические решетки. Модели энергетических зон основных групп материалов.
Лекция 6. Определение полупроводниковых материалов, классификация и их функции в опто- и микроэлектронике.
Лекция 7. Полупроводниковый кремний. Свойства, характеристики, параметры и технология производства.
Лекция 8. Германий и полупроводниковые соединения. Свойства, характеристики, параметры и технология выращивания.
Лекция 9. Соединения АШ ВV. Свойства, характеристики, параметры и применение. Сложные твердые растворы. Узкозонные и широкозонные соединения. Особенности технологии.
Лекция 10. Соединения АП ВVI и другие халькогены. Свойства, особености структуры технология получения. Оптические материалы.
Лекция 11. Металлы и сплавы. Классификация металлов и сплавов. Свойства, характеристики. Особенности поликристаллических и тонкопленочных металлов. Функции металлов в опто- и микроэлектронике.
Лекция 12. Проводники толстопленочных ГИС- стеклоэмали. Резистивные материалы. Твердые растворы сплавов металлов.
Лекция 13. Сверхпроводниковые материалы. Пары Купера. Свойства, характеристики, параметры и технология производства металлов.
Лекция 14. Магнитные материалы. Классификация веществ по магнитным свойствам. Основные магнитные величины.
Лекция 15. Диамагнетики, парамагнетики, ферромагнетики, антиферромагнетики, ферримагнетики, магнитооптические материалы- ортоферриты. Основные свойства и параметры.
Лекция 16. Диэлектрические материалы и физические процессы в них (10 час). Поляризация. Стекла, керамики, полимеры. Селикатное и кварцевае стекло. Кварц. Основные группы технологических процессов производства.
Лекция 17. Пьезо-, пиро-, сегнетоэлектрики. Свойства, характеристики, параметры и технология производства. Функции диэлектрических материалов в электронике и микроэлектронике
Лекция 18. Полимеры и пластмассы. Технологические свойства. Синтетические эмали, лаки и компаунды. Полимерные клеи и адгезивы. Материалы для волоконно-оптических линий связи.
2.1.2. Основная литература:
1. Пасынков В.В., Сорокин В.С. Материалы электронной техники. -М.: ВШ. 1986
2. Мишин Д.Д. Магнитные материалы. -М.: ВШ. 1981.
3. Быстров Ю.А., Гамкрелидзе С.А., Иссерлин Е.Б., Черепанов В.П. Электронные приборы и устройства на их основе: Справочная книга.- М.: ИП РадиоСофт, 2002 – 656с.
Дополнительная литература:
1. Ефимов И.Е., Козырев И.Я., Горбунов Ю.И. Микроэлектроника. -М.: ВШ. 1986
2. Материалы микроэлектронной техники: Учебное прособие для вузов /В.М. Андреев, М.Н. Бронгулеева, С.Н. Дацко, Л.В. Яманова; Под ред. В.М. Андреева. -М.: Радио и связь, 1989. -325с.
3. Червяков Г.Г. Руководство к лаб. работам по курсу Элементы электронной техники Часть1. -Таганрог: ТРТИ, 1985.
4. Червяков Г.Г. Руководство к лаб. работам по курсу «Элементы электронной техники» Часть2. -Таганрог: ТРТИ, 1988.
5. Игнатов А.Н. Полевые транзисторы и их применение. -М.: Радио и связь, 1984. -276с.
6. Пожела Ю. Физика быстродействующих транзисторов. -Вильнюс.: Можлас. 1989. -262с.
7. Шур М. Современные приборы на основе арсенида галлия. -М.: Мир, 1991. - 632с.
8. Дворников А.А., Огурцов В.И., Уткин Г.М. Стабильные генераторы с фильтрами на поверхностных акустических волнах. -М.: Радио и связь, 1983. -216с.
9. Речицкий В.И. Акустоэлектронные радиокомпоненты. Схемы, топология, конструкции. -М.: Радио и связь, 1987. -246с.
2.2. Лабораторные занятия
5 семестр |
Занятие 1. Исследование параметров и свойств полупроводников. |
Занятие 2 Измерение подвижности носителей и зависимости подвижности от поля |
Занятие 3. Измерение параметров и характеристик диэлектриков. |
Занятие 4. Исследование параметров сегетоэлектриков. |
Занятие 5. Исследование ферромагнитных материалов. |
|
- Практические занятия
Планом подготовки не предусмотрены.
2.4. Индивидуальные занятия
Самостоятельных индивидуальных занятий нет.
2.5. Курсовое проектирование
Не предусмотрено программой.
- ОСНОВНЫЕ ТРЕБОВАНИЯ
ПО ВЫПОЛНЕНИЮ ЦЕЛЕЙ ПРЕПОДАВАНИЯ ДИСЦИПЛИНЫ
Студенты в процессе изучения дисциплины и после ее завершения в соответствии с профилем материала должны демонстрировать:
- способность применять полученные знания;
- способность идентифицировать, формулировать и решать поставленные проблемы;
- способность использовать навыки, методы, оборудование и технологии для решения проблем;
- способность разрабатывать и проводить эксперименты, анализировать и объяснять полученные данные и результаты;
- понимание профессиональной и этической ответственности;
- формирование достаточно широкого образования, необходимого для понимания влияния профессиональных проблем и их решений на общество и мир в целом;
- знание современных проблем;
- способность работать в многопрофильных командах;
- способность результативного общения;
- понимание необходимости и стремления обучаться в течение всей жизни.
- МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ ДОСТИЖЕНИЯ И РЕАЛИЗАЦИИ
ЗАЯВЛЕННЫХ ЦЕЛЕЙ И ЗАДАЧ ИЗУЧЕНИЯ ДИСЦИПЛИНЫ
(отмечаются используемые методы, корректировка осуществляется по мере необходимости, но не реже, чем 1 раз в 3-4 года)
- Метод анкетных опросов и письменных обзоров.
- Метод выходного или иного интервью.
- Стандартные формы контроля качества усвоения знаний.
- Метод авторского формирования содержания экзаменов.
- Информационная база студентов и архивные записи.
- Группы по интересам (студенческая работа по интересам, группы по проблемам).
- Система требований (собрание образцов работ).
- Метод конкретных ситуаций (метод моделирования).
- Оценка работы.
- Внешний экзаменатор.
- Устные экзамены.
- Метод наблюдения поведения.
- РЕЙТИНГ И ИТОГОВАЯ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНАЯ ОЦЕНКА
ПО УЧЕБНОЙ ДИСЦИПЛИНЕ
- Рейтинговая система РИТМ – ТРТУ использует 100 балльную оценку.
- Промежуточный и суммарный (рубежный или итоговый) рейтинг по дисциплине
5 семестр
Рейтинг первого контроля | Рейтинг второго контроля | Рейтинг третьего контроля | Суммарный (рубежный или итоговый) рейтинг | ||||
Макс. | Мин. | Макс. | Мин. | Макс. | Мин. | Макс. | Мин. |
30 | 17 | 20 | 12 | 50 | 26 | 100 | 55 |
| | | | | | | |
5.3. Рейтинг и итоговая дифференциальная оценка по дисциплине
Дифференциальная оценка | Отлично | Хорошо | Удовлетво- рительно | Неудовлетво рительно |
Рейтинг (в баллах системы РИТМ) | 100-85 | 84-70 | 69-55 | менее 55 |
Обозначение оценки в системе ЕСТS | A | C | E | F |
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное автономное образовательное
учреждение высшего профессионального образования
«ЮЖНЫЙ ФЕДЕРАЛЬНЫЙ УНИВЕРСИТЕТ»
ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ В г. ТАГАНРОГЕ
(ТТИ Южного федерального университета)
_____________________________________________________________________
«УТВЕРЖДАЮ»
Декан ЭП факультета
Коноплев Б.Г.
___________________________
«____»________2011/2012 учеб. год
Образовательная профессиональная
программа (ОПП) специальности 210105 «Электронные приборы и
устройства»
Факультет _____________ЭП_______________________
Выпускающая кафедра по ОПП РТЭ______
КАЛЕНДАРНЫЙ ПЛАН
ИЗУЧЕНИЯ ДИСЦИПЛИНЫ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ И ТЕХНОЛОГИЯ КОНСТРУКЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ (МИТКМ)
Кафедра _____РТЭ_______________________
Лекторы Червяков Г.Г.
Форма обучения __________очная________ Срок обучения____5 лет______
Технология обучения лекции, лабор.работы, тесты
Курсы__3____Семестры___5______
Академические часы _74__ | | Зачетные единицы __2 з.е._ | ||||
Учебных занятий | 5 сем 74 час | | Учебных занятий | 5 сем. 100 бал. | ||
Из них: лекций практических лабораторных самостоятельных индивидуальных (курсовой проект) | 36 ч − 18 ч 20 ч − | | Из них: лекций практических лабораторных самостоятельных индивидуальных (курсовой проект) | 50 24 26 | ||
Промежуточный рейтинг-контроль (зачет) | | | Промежуточный рейтинг-контроль (зачет) | | ||
Итоговый рейтинг- контроль (экзамен) | 5 сем. | | Итоговый рейтинг- контроль (экзамен) | 5сем. |
ПРОВОДЯТ ЗАНЯТИЯ
Практические (ф.и.о. преподавателя группы) | Лабораторные (ф.и.о.преподавателя группы) | Руководство курсовым проекти рованием (ф.и.о.преподават.гр.) |
| Осадчий Е.Н. | |
ЛЕКЦИИ
Неделя, число, месяц | ТЕМА ЛЕКЦИИ | Тип и число часов | Практические, семинарские занятия | Число часов |
(4 семестр) | ||||
№ 1 | Основы материаловедения. Материалы и вещества. Процесс переработки сырья в изделие. | 2 | | |
№ 2 | Элементы и компоненты электроники и микроэлектроники. Классификации материалов электронной техники. | 2 | | |
№ 3 | Свойства материалов. Терминология и определение. Электрические, оптические, физико-химические, механические, тепловые, технологические и потребительские свойства материалов. | 2 | | |
№ 4 | Конструкционные материалы и устойчивисть к воздействию внешней рабочей среды. Состав и структура материалов. | 2 | | |
№ 5 | Виды химических связей. Энергия связи. Понятие “структура”. Кристаллические решетки. Модели энергетических зон основных групп материалов. | 2 | | |
№ 6 | Определение полупроводниковых материалов, классификация и их функции в опто- и микроэлектронике. | 2 | | |
№ 7 | Полупроводниковый кремний. Свойства, характеристики, параметры и технология производства. | 2 | | |
№ 8 | Германий и полупроводниковые соединения. Свойства, характеристики, параметры и технология выращивания | 2 | | |
№ 9 | Соединения АШ ВV. Свойства, характеристики, параметры и применение. Сложные твердые растворы. Узкозонные и широкозонные соединения. Особенности технологии. | 2 | | |
№ 10 | Соединения АП ВVI и другие халькогены. Свойства, особености структуры технология получения. Оптические материалы. | 2 | | |
№ 11 | Металлы и сплавы. Классификация металлов и сплавов. Свойства, характеристики. Особенности поликристаллических и тонкопленочных металлов. Функции металлов в опто- и микроэлектронике | 2 | | |
№ 12 | Проводники толстопленочных ГИС- стеклоэмали. Резистивные материалы. Твердые растворы сплавов металлов | 2 | | |
№ 13 | Сверхпроводниковые материалы. Пары Купера. Свойства, характеристики, параметры и технология производства металлов. | 2 | | |
№ 14 | Магнитные материалы. Классификация веществ по магнитным свойствам. Основные магнитные величины | 2 | | |
№ 15 | Диамагнетики, парамагнетики, ферромагнетики, антиферромагнетики, ферримагнетики, магнитооптические материалы- ортоферриты. Основные свойства и параметры. | 2 | | |
№ 16 | Диэлектрические материалы и физические процессы в них (10 час). Поляризация. Стекла, керамики, полимеры. Селикатное и кварцевае стекло. Кварц. Основные группы технологических процессов производства | 2 | | |
№ 17 | Пьезо-, пиро-, сегнетоэлектрики. Свойства, характеристики, параметры и технология производства. Функции диэлектрических материалов в электронике и микроэлектронике | 2 | | |
№ 18 | Полимеры и пластмассы. Технологические свойства. Синтетические эмали, лаки и компаунды. Полимерные клеи и адгезивы. Материалы для волоконно-оптических линий связи. | 2 | | |
- ЛАБОРАТОРНЫЕ ЗАНЯТИЯ
Самостоятельная работа студентов под контролем преподавателя | ЧислоЧасов | ЛабораторныеЗанятия | Числочасов | Контроль усвоения материала |
4 семестр | ||||
| | Занятие 1. Исследование параметров и свойств полупроводников | 4 | |
| | Занятие 2 Измерение подвижности носителей и зависимости подвижности от поля | 4 | |
| | Занятие 3. Измерение параметров и характеристик диэлектриков | 4 | |
| | Занятие 4. Исследование параметров сегетоэлектриков | 4 | |
| | Занятие 5. Исследование ферромагнитных материалов | | |
3. Курсовые проекты и работы, типовые расчеты, типовые задания, домашние задания по учебному плану ТРТУ реализации ОПП
№ | Вид и содержание | Дата | |
выдачи | сдачи | ||
| Не предусмотрены | | |
| | | |
4. Бюджет времени на самостоятельную и индивидуальную работу студента
№ | Вид работы | Часовв неделю | Всего часов |
1. | Работа над лекциями | 0,5 | 20 |
2. | Подготовка к лабораторным работам | 2 | 18 |
Всего 38 часов
Лекторы | Г.Г. Червяков | ||
Ответственный за дисциплину (цикл) | Г.Г. Червяков | ||
Зав. кафедрой РТЭ | Г.Г. Червяков |
Банк контрольных заданий и вопросов по учебной дисциплине
(портфель студента)
Вопросы 1 рейтинга(4 балла) и экзамена (10 баллов)
Твердотельная электроника
1. Полупроводниковые материалы их свойства и типы, проводимость (собственная и примесная), диффузионный и дрейфовый токи.
2. Уровень Ферми, зонные модели твердотельных материалов, локальные примесные и поверхностные уровни, генерация и рекомбинация носителей, зависимость положения уровня Ферми от температуры.
3. Поведение полупроводника в электрическом поле (обедненные, обогащенные и инверсные слои и их зонные диаграммы).
4. Электронно-дырочный переход (энергетические диаграммы в различных состояниях и понятие квазиуровня Ферми).
5. Типы пробоя и физика процесса.
6. Контакт металл-полупроводник, зонные модели выпрямляющих и омических контактов.
7. Варизонные переходы и сверхрешетки.
8. Уравнение ВАХ p-n-перехода и контактов металл-полупроводник.
9. Структура и классификация диодов. ВАХ диодов.
10. Влияние температуры на ВАХ диодов.
11. Переключающие свойства диодов при больших и малых уровнях сигнала.
12. Выпрямительные НЧ и ВЧ диоды. Точечно-контактные и мезапланарные ВЧ и СВЧ диоды.
13. Диоды с барьером Шотки. Импульсные, детекторные и смесительные диоды, универсальные, ограничительные диоды.
14. Стабилитроны, стабисторы и варикапы, параметрические диоды.
15. Лавинно-пролетные, туннельные и обращенные диоды.
16. Диоды Ганна и СВЧ диоды. Принцип работы. Физические процессы. Зонные диаграммы.
17. Примеры применения и схемы включения СВЧ диодов. Рабочие и предельные эксплуатационные параметры.
18. Устройство, зонные диаграммы, принцип действия, основные режимы работы и схемы включения биполярных транзисторов.
19. Статические характеристики в схеме с общей базой и общим эмиттером.
20. Пробой транзисторов в схеме с общей базой и общим эмиттером.
21. Зависимость коэффициента передачи тока от постоянного тока эмиттера и коллектора.
22. Температурные зависимости параметров.
23. Работа транзистора при малом переменном сигнале. Малосигнальные параметры.
24. Расчет параметров транзисторов по экспериментальным характеристикам.
25. Формальные и физические эквивалентные схемы. Физические факторы, ограничивающие частотный диапазон работы транзисторов.
Вопросы 2 рейтинга(4 балла) и экзамена (10 баллов)
Твердотельная электроника
1. Особенности СВЧ транзисторов.
2. Сверхбыстродействующие транзисторы, особенности конструкций и зонные диаграммы структур.
3. Параметры, характеризующие частотные свойства БТ.
4. Импульсный режим работы. Разновидности транзисторов, их классификация и примеры применения.
5. Структура и принцип действия тиристоров. Двухэлектродные, трехэлектродные и симметричные тиристоры.
6. Характеристики и параметры тиристоров, схемы включения и способы переключения. Примеры использования.
7. Полевые транзисторы их виды, конструктивные особенности, классификация, принцип работы.
8. Статические характеристики и характеристики передачи ПТ с управляющим электронно-дырочным переходом.
9. Эквивалентные схемы и частотные свойства.
10. Особенности СВЧ и сверхбыстродействующих полевых транзисторов.
11. Схемы включения и примеры использования ПТ.
12. Полевые транзисторы с изолированным затвором (со встроенным и индуцированным каналом).
13. Статические характеристики, параметры и свойства МДП-структур. Схемы включения.
14. Приборы с зарядовой связью. Структура и физические принципы функционирования ПЗС, формирование, хранение и перенос зарядовых пакетов.
15. ПЗС с 2-х и 3-х тактным питанием затворов секции переноса. Основные характеристики и параметры.
16. Применение ПЗС и ПЗИ в радиоэлектронике и оптотехнике.
17. Излучающие полупроводниковые приборы. Принцип действия и физические процессы, свойства и характеристики светодиодов и полупроводниковых лазеров.
18. Фотодиоды Шотки и гетерофотодиоды.
19Электролюминисцентные порошковые и пленочные излучатели.
20. Индикаторы на жидких кристаллах. Применение и схемы включения.
21. Полупроводниковые приемники излучения. Фоторезисторы. Фотодиоды.
22. Гетерофотодиоды. Фототранзисторы и фототиристоры. Элементы солнечных батарей.
23. Полупроводниковые оптопары. Оптоэлектронные интегральные микросхемы.
24. Термисторы с отрицательным температурным коэффициентом сопротивления.
25. Позисторы и варисторы.
26. Гальваномагнитные приборы. Преобразователи Холла.
278. Магниторезисторы и тензорезисторы. Принцип действия, основные характеристики и параметры, схемы включения и примеры использования.
28. Элементы акустоэлектроники. Устройства и приборы на основе поверхностных акустических волн.
Разработчики программы:
Червяков Г.Г. – доктор технических наук, профессор, зав. кафедрой РТЭ ТРТУ