Закрытоеакционерноеобществ о
| Вид материала | Документы |
 | З А К Р Ы Т О Е А К Ц И О Н Е Р Н О Е О Б Щ Е С Т В ОКОНЦЕРННАНОИНДУСТРИЯ |
Россия, 117246, Москва, Научный пр-д, дом 20 стр-е 4
Тел./факс(495) 332-88-11, E-mail: nanotech@nanotech.ru, ech.ru
Вниманию
руководителя организации
Коммерческое предложение
НАУЧНО-ОБРАЗОВАТЕЛЬНАЯ
НАНОТЕХНОЛОГИЧЕСКАЯ МОДУЛЬНАЯ ЛАБОРАТОРИЯ
ШИРОКОГО ПРОФИЛЯ ПРИМЕНЕНИЯ
Предлагаем для Вашей организации:
- изготовление, комплектование и поставку нанотехнологической лаборатории широкого профиля;
- разработку инструкций для проведения работ в области нанотехнологий;
- поставку расходных материалов.
Поставляемое в составе нанолаборатории оборудование - отечественное и импортное, отвечает оптимальному соотношению цена/качество, что делает его привлекательной для научных и образовательных организаций.
Комплектация нанотехнологической лаборатории варьируется в соответствии с потребностями и профилем организации. Лаборатория имеет модульную структуру и может быть легко расширена в случае возникновения новых задач.
Нанолаборатория включает в себя следующие четыре модуля оборудования:
- Модуль синтеза нанокмпонент.
- Модуль синтеза нанокомпозитных материалов.
- Модуль для получения нанослоев и многослойных наноструктур.
- Модуль аналитический, включающий следующие группы оборудования:
- Микроскопы с атомарным разрешением.
- Приборы для исследования тонких плёнок, слоёв и порошков.
- Приборы для измерения размеров и других характеристик наноразмерных и других частиц.
- Приборы для исследования электрических свойств наноразмерных и других материалов.
- Оборудование для исследования трибологических свойств нано- и других материалов.
- Микроскопы с атомарным разрешением.
Предлагаемое оборудование нанолаборатории позволяет:
- синтезировать наночастицы металлов, углеродные нанотрубки, нанокомпозитные материалы, сверхтонкие слои и многослойные наноструктуры;
- изготовить образцы для обучения студентов методам исследования наноматериалов и наноструктур;
- исследовать топологию поверхности, электрические, оптические, трибологические свойства наноматериалов и наноструктур;
- определить размер, структуру и распределение по размеру наночастиц, их концентрацию в водных и органических растворах;
- измерить дзетапотенциал, мобильность наночастиц, ESA, электропроводимость, рН и температуру;
Нанолаборатория позволяет обучить практическим навыкам при подготовке специалистов по специализациям:
- "Нанотехнологии" 658300;
- "Наноматериалы" 073800;
- "Нанотехнология в электронике" 202000;
- "Метрология и метрологическое обеспечение" 200501.
Нанолаборатория будет полезна также при подготовке по специализациям "Физика твердого тела" 010409, "Микроэлектроника и твердотельная электроника" 210104, "Материаловедение и технология новых материалов" 150600, "Оптика" 010405, "Приборы и методы экспериментальной физики" 010401.
Модульная нанолаборатория может эффективно использоваться для проведения научных исследований, при подготовке дипломных и диссертационных работ в универсиетах, а также в лабораториях научных организаций и производственных компаний.
Перечень оборудования модульной нанолаборатории представлен в Приложении 1.
Перечень методических материалов для подготовки лабораторных работ с помощью предлагаемых модулей нанолаборатории представлен в Приложении 2.
Мы готовы подобрать для Вас и другое оборудование для нанолаборатории, отвечающее оптимальному сочетанию цена-качество.
Стоимость и условия поставки.
Прайс-лист на оборудование предоставляется по запросу.
Продажа осуществляется со склада в г. Москва по предварительному заказу.
Аванс – от 30% до 100% от стоимости в зависимости от вида оборудования.
Поставка осуществляется на основании счета, либо договора поставки.
Срок поставки. Поставка осуществляется после поступления аванса на счет Поставщика в течение от 1 до 5 месяцев, в зависимости от наличия оборудования на складе.
Доставка по России осуществляется самовывозом после обучения и проведения приемо-сдаточных испытаний.
При выборе комплектации нанолаборатории и методических материалов желательно проконсультироваться с заместителем генерального директора Концерна Соколовым Дмитрием Викторовичем моб. 8 903-266-22-22
Приложение: 1. «Научно-образовательная нанотехнологическая лаборатория широкого профиля».
2. Перечень методических материалов.
Генеральный директор
АНАНЯН Михаил Арсенович
Тел./факс (495) 332-88-11, тел. (495) 332-88-22
E-mail: nanotech@nanotech.ru
Приложение 1.
НАУЧНО-ОБРАЗОВАТЕЛЬНАЯ
МОДУЛЬНАЯ НАНОТЕХНОЛОГИЧЕСКАЯ ЛАБОРАТОРИЯ
ШИРОКОГО ПРОФИЛЯ ПРИМЕНЕНИЯ
В составе модульной нанолаборатории предлагается следующее оборудование и приборы:
МОДУЛЬ СИНТЕЗА НАНОКОМПОНЕНТОВ
Установка для синтеза наночастиц металлов
Является базовым модулем нанолаборатории, включающим стандартные химическую посуду и оборудование, имеющиеся в любой химической лаборатории, а также спектрофотометр для определения наличия и концентрации наночастиц металлов в растворе.
Позволяет синтезировать наночастицы серебра, меди, железа методами восстановления в прямых и обратных мицеллах или сонахимии, а также определить наличие наночастиц металлов с помощью спектрофотометра.
Установка для синтеза углеродных нанотрубок
 | Позволяет синтезировать однослойные и многослойные углеродные нанотрубки, получить их изображение с помощью туннельного микроскопа, а также измерять их электропроводность. |
МОДУЛЬ СИНТЕЗА НАНОКОМПОЗИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ
Ультразвуковой диспергатор
 | Позволяет равномерно распределять наночастицы в матрице на основе растворимых и термореактивных полимеров. |
Гидравлический пресс
 | Позволяет получать образцы нанокомпозитных материалов требуемой формы. |
МОДУЛЬ ДЛЯ ПОЛУЧЕНИЯ НАНОСЛОЕВ И МНОГОСЛОЙНЫХ НАНОСТРУКТУР
Установка для получения нанослоев полимеров и нанокомпозитов
 | Позволяет получать слои полимера или нанокомпозитного материала толщиной 20-100 нм методом центрифугирования (spin coating). |
Установка вакуумного нанесения диэлектрических и электропроводящих покрытий
 | Позволяет получать диэлектрические, электропроводящие и композитные покрытия толщиной 1 – 100 нм на различных подложках методом магнетронного напыления. |
Установка Лэнгмюра-Блоджетт
 | Позволяет получать однослойные и многослойные пленки методом Лэнгмюра-Блоджетт. |
Дополнительные 2 блока к установке Лэнгмюра-Блоджетта
| | Блок для получения пленок Шейфера и гермокорпус для создания неагрессивной атмосферы и с контролем температуры |
АНАЛИТИЧЕСКИЙ МОДУЛЬ
Микроскопы с атомарным разрешением
Нанотехнологический комплекс "NANOskill" на базе сканирующего туннельного микроскопа
  | Позволяет в воздушной атмосфере исследовать рельеф проводящих и слабопроводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением, с помощью методов туннельной микроскопии. В составе комплекса СТМ «Умка», автоматическая установка для заточки зондов и компьютер (по заказу). |
НТК "Умка" является прекрасным инструментом не только для обучения практическим методам работы с наноразмерными структурами. Он с успехом используется в университетских и научных лабораториях для исследований в области физики, химии, биологии, медицины, материаловедения и других фундаментальных и прикладных наук. Кроме того, перспективным направлением является внедрение комплекса в системах контроля высокотехнологичных промышленных предприятий, организаций, связанных с проверкой качества продукции и состояния экологии.
Настольный универсальный сканирующий электронный микроскоп Phenom G2 pro
  | Настольный универсальный сканирующий электронный микроскоп Phenom G2 pro – наиболее технически оснащенная и совершенная модель в серии микроскопов Phenom. Благодаря улучшенным техническим характеристикам детектора обратно рассеянных электронов, новому источнику электронов CeB6 (гексаборид церия) и новой обзорной цветной камере для навигации, Phenom G2 pro стал самым мощным микроскопом своего класса. Диапазон увеличений микроскопа Phenom G2 pro составляет от 80 до 45,000 крат. Управление посредством сенсорного экрана и мыши обеспечивает удобную, быструю работу и более точную навигацию по исследуемому образцу. Время получения изображение с высоким разрешением всего 30 секунд. Не требует высокой квалификации пользователя. |
Сфера применения микроскопа Phenom G2 pro - решение большого числа разнообразных задач материаловедения, контроля качества на производстве, криминалистики, фармацевтики. Применяется также для решения научно-исследовательских задач и обучения специалистов.
Сканирующий нанотвердомер (наноиндентер) «НаноСкан -Компакт»
| ссылка скрыта | Принцип действия прибора основан на принципах сканирующей силовой микроскопии. Предназначен для исследования рельефа и структуры поверхностей и измерения механических свойств (в том числе, твердости и модуля упругости) объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе. |
Применяются для исследований механических свойств и контроля качества поверхностей и тонких пленок. Имеют широкую сферу применения, как в научных исследованиях, так и на производствах различных отраслей реальной экономики
Certus Optic U – сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ)
 | Совмещен с прямым оптическим микроскопом исследовательского класса. Предназначен для исследований методами оптической и атомно-силовой микроскопии |
Дополнительные опции для микроскопов
Плоскопараллельное устройство позиционирования и/или сканирования Ratis XYZ
 | Плоско параллельное устройство позиционирования и/или сканирования. Сканер представляет собой монолитное металлическое тело (из высококачественного сплава, обычно алюминиевого), в котором сформированы каналы для пьезокерамических актюаторов, подвижные элементы столика и т.п. Такая конструкция обеспечивает отличную линейность и плоскостность перемещения, в отличие от классических сканеров на основе пьезотрубок, поверхностью сканирования в которых является сфера. Кроме того, сканер обладает высокой механической прочностью по сравнению с хрупкими пьезотрубками. |
Контроллер для пьезопозиционеров EG-1000
 | Предназначен для управления работой пьезопозиционеров, таких как сканирующий столик Ratis и однокоординатная подвижка Vectis. Контроллер обеспечивает сбор информации с различных датчиков и выдает управляющие воздействия на пьезоэлектрические устройства позиционирования, кроме того, вся собранная информация отправляется на управляющий компьютер для последующей обработки и визуализации. |
Приборы для исследования тонких плёнок, слоёв и порошков
Спектральный эллипсометр (спектроэллипсометр)"ЭЛЬФ"
 | Позволяет измерять толщины, спектры оптических постоянных и диэлектрических свойств нанопленок и слоев многослойных наноструктур. Может работать, как в режиме спектроэллипсометра, так и спектрофотометра. Предназначен для применения в сферах, где исследуются тонкие плёнки и многослойные структуры. |
Комплекс рентгеновской аппаратуры «МиниЛаб-6» на базе рентгеновского рефлектометра
 | Прибор предназначен для диагностики сверхгладких поверхностей и слоев с толщиной нанометрового диапазона, используемых в электронной промышленности, оптическом приборостроении, в производстве тонкопленочных структур, научных исследованиях. Комплекс обеспечивает уникальное сочетание аналитических возможностей для неразрушающего контроля различных типов наноструктур или матриц, содержащих наноразмерные включения. Система позволяет проводить исследование параметров образцов в режимах дифрактометрии, малоуглового рассеяния и флуоресцентного анализа. |
Предназначен для диагностики, как сверхгладких тонких пленок нанометровой толщины (их поверхностей и переходных слоев), так и осуществления стандартных рентгеновских измерений с использованием методов:
- рефлектометрии,
- дифрактометрии,
- рефрактометрии
- малоуглового рассеяния,
- рентгено-флуоресцентного анализа.
Малогабаритный настольный рентгеновский дифрактометр «РИКОР 2»
| ссылка скрыта | Предназначен для фазового и спектрального экспресс- анализа порошковых проб. Используются схема Дебая-Шеррера и оптика Кумахова. Предназначен для анализа фазового и элементного состава металлов, стали и сплавов. Имеет широкую сферу применения, как в научных исследованиях, так и на производствах различных отраслей реальной экономики |
Оборудование для исследования трибологических свойств нано- и других материалов
Машина трения универсальная МТУГ-1
 | Предназначена для проведения испытаний на трение и изнашивание металлических и неметаллических материалов в условиях как сухого трения, так и использования различных смазочных материалов (масла и пластичные смазки). |
Профилограф-профилометр БВ-7669М (USB)
 | Предназначен для регистрации, анализа профиля и измерения параметров шероховатости наружных и внутренних поверхностей, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию. |
Приборы для исследования электрических свойств нано- и других материалов
Установка для измерения электрических свойств
 | Позволяет измерять электропроводность и диэлектрическую проницаемость нанокомпозитных материалов, нанослоев и нанопокрытий на постоянном токе и в переменных полях. |
Кондуктометр КПЦ-026Т
 | Переносной прибор для измерения удельной электропроводности (УЭП) воды и водных растворов низкой концентрации. |
Приборы для измерения размеров и других характеристик наноразмерных и других частиц
Анализатор размеров частиц PA Fast Sizer 100
 | Предназначен для определения размера наноразмерных и других частиц в растворах до 60% концентрации, а также их структуры, распределения по размеру методами ультразвуковой спектроскопии. |
Мини-анализатор размеров частиц «Photocor Mini»
 | Предназначен для измерения размеров наночастиц в растворах и дисперсиях методом динамического рассеяния света. |
Дзета- анализатор Feld ESA (Полевой ESA)
 | Предназначен для определения дзетапотенциала, мобильности наночастиц, ESA, электропроводимости, рН, температуры, а также для проведения исследований, контроля качества и оптимизации производства. |
Устройство для измерения плотности и концентрации Rhometer
 | Предназначен для определения концентрации наночастиц и их объёмную долю в водных и органических растворах в течение всего нескольких секунд. |
Приложение 2
ПЕРЕЧЕНЬ МЕТОДИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ
ДЛЯ ПОДГОТОВКИ ЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ С ПОМОЩЬЮ ПРЕДЛАГАЕМОГО
КОМПЛЕКТА НАНОТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ ЛАБОРАТОРИИ
- Синтез наночастиц серебра методом восстановления в обратных мицеллах. Методы синтеза наночастиц металлов. Методы контроля наличия наночастиц металлов в растворе.
- Получение сверхтонких пленок из растворимых полимеров (полиметилметакрилат, поликарбонат и т.п.) на подложке методом центрифугирования (spin-coating). Методы нанесения сверхтонких полимерных пленок на подложку. Технологические параметры, влияющие на качество пленки, полученной методом центрифугирования.
- Получение сверхтонких пленок нанокомпозитного материала на подложке методом центрифугирования (spin-coating). Методы получения полимерных нанокомпозитов. Однородность распределения наночастиц в полимерной матрице. Методы нанесения сверхтонких нанокомпозитных пленок на подложку. Контроль толщины сверхтонких пленок с помощью спектроэллипсометра.
- Контроль толщины сверхтонких пленок с помощью спектроэллипсометра. Проведение измерения толщи пленок полученных в работе 2 и 3. Методы контроля толщин сверхтонких пленок, эллипсометрия.
- Исследование топографии поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии. Принципы сканирующей туннельной микроскопии, оборудование для исследования поверхности неразрушающим методом.
- Заточка зондов для сканирующих туннельных микроскопов методом электрохимического травления. Виды зондов, применяемых для сканирующих туннельных микроскопов, влияние формы и качества зонда на получение сканов поверхностей, изготовления вольфрамовых зондов для СТМ методом электрохимического травления.
- Исследование коррозии поверхности методом сканирующей туннельной микроскопии. Виды и причины коррозии металлов, современные методы защиты от коррозии, Методы определения показателей коррозии и коррозионной стойкости, Изучение ГОСТов определение показателей коррозии.
- Определение вольт-амперных характеристик металлов и полупроводников с помощью сканирующего туннельного микроскопа. Приобретение практических навыков по снятию вольт-амперных характеристик с помощью сканирующего туннельного микроскопа; ознакомление с особенностями вольт-амперных характеристик для контактов металл-металл, металл-полупроводник. Понятие уровня Ферми, прямое и обратное смещение, p-n переход, диод Шоттки.
- Изучение формирования тонких пленок золота до и после отжига методом сканирующей туннельной спектроскопии. Свойства тонких пленок, явлениями и процессы, протекающие на поверхности пленки и на границе раздела пленка–подложка, теория Я.И. Френкеля об образовании металлического покрытия в вакууме.
- Методы изучения оптически-тонких пленок (наноматериалов) с помощью спектроэллипсометра. Электромагнитные волны, уравнения Максвелла, напряженности электрического поля, Поляризационная структура световых волн. Коэффициенты Френеля. Элипсометрия
- Измерение толщин тонких слоев материалов с известными оптическими характеристиками на примере образцов, представляющих собой слои оксида кремния на кремнии. Оптические характеристики материалов, оптическая плотность, коэффициенты отражения, преломления для разных сред
- Измерение толщины сверхтонких слоев материалов (менее 10 нм) на примере естественного оксида кремния на кремниевой подложке. Особенности сверхтонких слоев, поверхностные эффекты, оптические свойства тонких пленок. Использование компенсатора при измерении толщин сверхтонких пленок.
- Построение пространственной карты тонкой пленки на примере естественного оксида кремния на кремниевой подложке. Методы определения толщин тонких пленок, контроль разнотолщинности полимерных пленок. Изучение ГОСТов по данной тематике
- Определение спектра оптических констант материалов на примере образцов, представляющих собой тонкие слои металла на подложке, полученные методом напыления в вакууме. Зависимость оптической плотности материала от длины волны, анизотропия поглощения, анизотропия показателя преломления.
- Определение зависимости оптических свойств нанокомпозитов на основе полимера и наночастиц серебра от концентрации металла. Оптические характеристики материалов, оптическая плотность. Оптические свойства прозрачных сред, содержащих наночастицы металла
- Определение равномерности распределения наночастиц в полимерной матрице спектроэллипсометрическим методом. Оптические свойства прозрачных сред, содержащих наночастицы. Локальная концентрация наночастиц. Однородность распределения наночастиц в полимерной матрице. Методы контроля однородности распределения наночастиц в полимерной матрице.