Составители программы: Вислогузов А. Н., канд техн наук, директор цнит севКавгту. Воронов П. Е. канд техн наук, старший научный сотрудник онц севКавгту

Вид материала

Примерная программа

Содержание 1 Цели и задачи курса Учебная цель курса 2 Требования к уровню освоения содержания дисциплины 3 Объем дисциплины и виды учебной работы 4 Содержание курса 5 Наименование лекций Итого в семестре Итого в семестре 9.2 Дополнительная литература

Подобный материал:

• Гост 17623-87, 138.94kb.
• Надійності та безпеки в будівництві, 692.13kb.
• Гост 5382-91, 1729.88kb.
• Д. М. Лаковский (руководитель темы); И. В. Колечицкая; С. А. Резник, канд техн наук;, 203.82kb.
• Гост 14637-89: Прокат толстолистовой из углеродистой стали обыкновенного качества Технические, 310.23kb.
• Государственный стандарт союза сср здания и сооружения Методы измерения яркости, 278.78kb.
• Гост 26824-86, 248.28kb.
• Строительные нормы и правила отопление, вентиляция и кондиционирование, 2477.63kb.
• Строительные нормы и правила отопление, вентиляция и кондиционирование сниП 04. 05-91*, 1856.14kb.
• Б. В. Баркалов ), Государственным проектным конструкторским и научно-исследовательским, 2674.7kb.

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ

«СЕВЕРО-КАВКАЗСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ»


Примерная ПРОГРАММА

Дисциплины «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов»


Для студентов очной формы обучения по специальностям:


210601.65 – Нанотехнология в электронике

240100.62 – Химическая технология

150100.62 – Материаловедение и технологии материалов

210100.62 – Электроника и наноэлектроника


Объём занятий: всего 124ч.

в т. ч. аудиторных 80ч.

из них: лекций 50 ч.

лабораторные работы 30 ч.

самостоятельные работы 44 ч.


Составители программы:


Вислогузов А.Н., канд. техн. наук, директор ЦНИТ СевКавГТУ.

Воронов П.Е. канд. техн. наук, старший научный сотрудник ОНЦ СевКавГТУ.

Турьянский А. Г., доктор физ.-мат. наук, ведущий научный сотрудник, Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН.

Смирнов Д.И., аспирант. Лаборатория «Радиационные методы технологии и анализа», ГОУ ВПО «Московский государственный институт электронной техники (технический университет)»

Герасименко Н. Н., профессор, доктор физ.-мат. наук, начальник лаборатории «Радиационные методы технологии и анализа», ГОУ ВПО «Московский государственный институт электронной техники (технический университет)»

Чернер Я. Е., Ph.D., ATeL, LLC - Advanced Tools for e-Learning, (США) Президент.

Бунина О.А. канд. физ.-мат.наук, старший научный сотрудник лаборатории рентгеноструктурного анализа НИИ физики ЮФУ.

Головко Ю. И., канд. физ.-мат. наук., старший научный сотрудник Южного научного центра РАН.

Таранова М.А., преподаватель кафедры измерительных и информационных технологий факультета высоких технологий ЮФУ.

Эркенова Е.В., преподаватель кафедры измерительных и информационных технологий факультета высоких технологий ЮФУ.


Ставрополь, 2011

1 Цели и задачи курса


Изучаемая дисциплина базируется на фундаментальных знаниях, полученных студентами при изучении общетехнических дисциплин (математика, физика, химия, физика твердого тела).

Учебная цель курса состоит в том, чтобы дать знания:

– о физических основах рентгеновских методов исследования, таких как рефлектометрия, рефрактометрия, дифрактометрия, малоугловое рассеяние, флуоресцентный анализ, измерение спектров поглощения;

– о теоретических основах физики взаимодействия рентгеновского излучения с аморфными, кристаллическими и поликристаллическими материалами;

– об устройстве и физических принципах работы гониометров, рентгеновских трубок, рентгеновских детекторов и т.д.;

– о методах и методиках исследования различных характеристик материалов и физических свойств твердых тел. Направления применения рентгеновских методов исследования в области физики и химии поверхности, физике и технологии твердотельных микро- и нанострукутр, а также, кратко, в смежных областях.

Основной задачей преподавания дисциплины «Рентгеновские методы исследования» является формирование у студента знаний в области рентгеновских методов исследования и приобретение студентами навыков работы на высокотехнологичном оборудовании.


2 Требования к уровню освоения содержания дисциплины


В результате изучения курса «Рентгеновские методы исследования» студент должен знать:

• основы кристаллографии: кристаллическая решетка и симметрия кристаллов;
  
• физические основы: взаимодействия рентгеновского излучения с веществом; работы источников рентгеновского излучения; монохроматизации рентгеновского излучения; регистрации рентгеновского излучения; дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке; предварительной обработки и индицирования порошковых рентгенограмм;
  
• физические основы методов: рефлектометрии; рефрактометрии; дифрактометрии; малоуглового рассеяния; флуоресцентного анализа; измерения спектров поглощения.
  
• технические и физические основы проведения: качественного фазового анализа; анализа структурного совершенства тонких пленок; определения размера частиц порошка по рентгендифракционным данным; определения количества и толщины слоев тонкопленочных многослойных наноструктур методом рентгеновской рефлектометрии на МРАС «РИКОР»; определения шероховатости сверхгладких поверхностей по угловой зависимости коэффициента отражения; метода рентгеновской pефрактометрии; эксперимента малоуглового рентгеновского рассеяния; измерения состава материала методом рентгеновского флуоресцентного анализа; измерения рентгеновских спектров поглощения.
  

В результате усвоения курса «Рентгеновские методы исследования» студент должен обладать:

• практическими навыками работы на исследовательском рентгеновском оборудовании;
  
• представлением об основных принципах работы исследовательского рентгеновского оборудования;
  
• навыками выбора необходимых методов рентгеновского исследования.
  

3 Объем дисциплины и виды учебной работы

Вид занятий	Всего часов
Общая трудоемкость	124
Аудиторные занятия	80
Лекции	50
Лабораторные работы	30
Самостоятельная работа	44
Вид итогового контроля	тестирование

4 Содержание курса


Курс «Рентгеновские методы бесконтактной неразрушающей комплексной диагностики слоистых тонкопленочных наноструктур и поверхностных свойств наноматериалов»: общая характеристика измерительного комплекса РИКОР, измерительная система комплекса РИКОР, система управления измерениями и регистрации данных, спектры испускания рентгеновских лучей, поглощение рентгеновских лучей, флуоресцентное излучение, рентгеновские трубки, выбор излучения, фильтры, монохроматоры, монохроматизация излучения в дифрактометрическом комплексе РИКОР, сцинтилляционный детектор, принцип работы сцинтилляционного детектора, полупроводниковый детектор, принцип работы полупроводникового детектора, детекторы в гониометрической схеме дифрактометрического комплекса РИКОР, кристаллическая решетка, элементарная ячейка, симметрия кристаллической решетки, кристаллографические плоскости, дифракция рентгеновских лучей на кристаллической решетке, фокусировка по Брэггу-Брентано, метод порошка, приготовление образца, преломление и отражение электромагнитного излучения на границе раздела двух сред, показатель преломления излучения в рентгеновском диапазоне, определение параметров поверхностных слоев и слоистых наноструктур методом рентгеновской рефрактометрии, объекты исследования метода малоуглового рентгеновского рассеяния, физические основы метода, оборудование метода SAXS, исследование монодисперсных систем, исследование полидисперсных систем, возбуждение характеристического излучения в материале пробы, рентгеновские трубки, спектр тормозного излучения, типы трубок, генератор, возбуждение характеристического излучения в материале пробы, поглощение, массовый коэффициент ослабления, толщина слоя, насыщенный слой, вторичное возбуждение, измерение рентгеновских лучей, основы физики рентгеновского излучения, характеристическое излучение, тормозное рентгеновское излучение, взаимодействие рентгеновского излучения с веществом, классификация физических методов исследования, взаимодействие рентгеновского излучения с веществом, классификация физических методов исследования, рентгеновская спектроскопия, электронная спектроскопия, электронный спектр, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, рентгеновская фотоэлектронная дифракция, основы дифракционных методов исследования, рентгеновская рефлектометрия, рентгеновская рефрактометрия, интенсивность рентгеновских отражений, основные требования к подготовке образцов для фазового анализа, количественный фазовый анализ, методы определения количества фазы, метод внутреннего стандарта или метод подмешивания, метод с использованием т. н. «корундового числа»
(RIR метод), использование кинематического эталона и расчет абсолютной интенсивности, безэталонный метод, основные характеристики профиля рентгеновской линии, получение рентгенограммы, положение пика, интенсивность пика, ширина дифракционной линии, этапы обработки рентгенограмм, первичная обработка рентгенограмм, идентификация вещества, определение сингонии кристалла и индицирование рентгенограммы, расчет и уточнение параметров элементарной ячейки, проверка правильности расчетов, определение типа решетки Бравэ, пример обработки слабых сигналов на рентгенограмме, определение параметров монокристаллических образцов методами рентгенографии и дифрактометрии, определение параметров поликристаллических материалов, анализ тонких поликристаллических пленок и эпитаксиальных композиций из тонких поверхностных слоев, структурный анализ аморфных образцов, рентгеновские исследования микронапряжений, методы измерения радиуса кривизны поверхности, сравнение методов измерения радиуса кривизны поверхности, измерений кривизны или изгиба монокристаллических пластин, улучшеный дифракционный метод измерения радиуса кривизны поверхности, определение радиуса кривизны поверхности при помощи XRR.


5 Наименование лекций

№ темы	Наименование лекций	Количество часов
1.	Функциональная схема МРАС «РИКОР»	2
	Рентгеновское излучение	2
	Лабораторные источники рентгеновского излучения	2
	Монохроматизация рентгеновского излучения	2
	Регистрация рентгеновского излучения	2
	Симметрия кристаллов	2
	Взаимодействие рентгеновских лучей с кристаллическим веществом	4
	Предварительная обработка порошковых рентгенограмм	2
	Качественный фазовый анализ	2
	Анализ структурного совершенства тонких пленок	2
	Определение размера частиц порошка по рентгендифракционным данным	2
	Метод рентгеновской рефлектометрии	2
	Определение на многофункциональном рентгеновском комплексе «РИКОР» количества и толщины слоев тонкопленочных многослойных наноструктур методом рентгеновской рефлектометрии	2
	Метод рентгеновской рефрактометрии	2
	Реализация методов рентгеновской рефрактометрии в многофункциональном рентгеновском комплексе «РИКОР»	2
	Малоугловое рентгеновское рассеяние	2
	Измерение состава материала методом рентгеновского флуоресцентного анализа	2
	Физические основы использования рентгеновского излучения для неразрушающего контроля материалов	2
	Определение параметров монокристаллических образцов методами рентгенографии и дифрактометрии	2
	Методы обработки рентгенограмм.	4
	Применения дифракционных методов исследования.	2
	Определение радиуса кривизны и макронапряжений в пленочных структурах методом дифрактометрии и рефлектометрии.	4
Итого в семестре		50

6 Наименование и содержание лабораторных работ

№ п/п	Наименование и содержание лабораторных занятий	Часы
1.	Знакомство с установкой	2
2.	Дифракционный метод – Получение рентгенограмм	6
3.	Рефлектометрия – Получение рентгенограмм	6
4.	Рефрактометрия – Получение рентгенограмм	4
5.	Обработка порошковых рентгенограмм	4
6.	Качественный фазовый анализ	4
7.	Регистрация спектра флуоресценции	4
Итого в семестре		30

7 Виды самостоятельной работы

№ п/п	Виды самостоятельной работы	Объем в часах	График выдачи задания и контроля; № п/п нед.
1.	Самостоятельное изучение материала тем лекций 1 – 22	19	Тестирование перед началом лекции
2.	Подготовка к лабораторным занятиям	12	Тестирование перед проведением занятий
3.	Самостоятельное изучение рекомендованной литературы	13	Экспресс-опрос
Итого		44

8 Вопросы для итогового тестирования


1. Какие физические принципы лежат в основе метода рентгеновской рефлектометрии?

2. Какие структуры позволяет исследовать рентгеновская рефлектометрия?

3. Какие параметры исследуемых структур можно определить при помощи рентгеновской рефлектометрии?

4. Каковы максимальные значения толщин слоев и их шероховатостей, определяемые при помощи рентгеновской рефлектометрии?

5. Что такое критический угол полного внешнего отражения? Какую информацию об исследуемом материале он позволяет получить?

6. Каким образом из данных рентгеновской рефлектометрии возможно рассчитать толщину пленки?

7. Какую роль по отношению к исследованию методом рефлектометрии играет шероховатость образца?

8. Какие приближения необходимо использовать при выводе соотношения между толщиной пленки и периодом осцилляций?

9. Чем определяется амплитуда осцилляций на рефлектограмме?

10. Возможно ли исследовать рентгеновской рефлектометрией как кристаллические, так и аморфные тонкопленочные структуры?

11. В чём заключаются основные сложности для практического применения методики рентгеновской рефлектометрии?

12. Что такое шероховатость? Как она определяется?

13. От чего зависит шероховатость поверхности?

14. При помощи каких соотношений можно рассчитать амплитудный коэффициент отражения?

15. Какие общепринятые модели в настоящее время используются для определения шероховатостей границ раздела в тонкоплёночных структур?

16. В каких случаях возможен корректный расчёт структур с шероховатостью границ раздела более 10 нм?

17. Перечислите методы, которые можно использовать для минимизации функционала невязки.

18. В чём заключается обратная задача рентгеновской рефлектометрии?

19. Какие специализированные программы входят в пакет XOP?

20. Какие возможности для анализа многослойных структур имеет программа XOP IMD?

21. При прохождении через призму пучок излучения в оптическом диапазоне отклоняется к ее основанию, а в рентгеновском диапазоне – в противоположную сторону. В чем причина указанного явления?

22. Напишите в математической форме общее выражение для основного закона преломления – закона синусов.

23. Напишите в математической форме выражение для основного закона преломления в случае малых углов скольжения.

24. Что наблюдается при падении на границу раздела двух сред неполяризованного излучения под углом Брюстера?

25. Как зависит показатель преломления в рентгеновском диапазоне от частоты падающего излучения?

26. Как влияет дифракция в поликристаллах на точность рентгенооптических измерений?

27. Возможно ли наблюдение рефракции в случае образца с шероховатой преломляющей поверхностью?

28. Чем определяется размер зоны исследования при рефракции на краю образца?

29. В чем преимущество одновременных измерений рефракции на двух динах волн?

30. Какие параметры пленочной структуры могут быть определены по угловой диаграмме рефракции?

31. Какие материалы исследуются методом малоуглового рентгеновского рассеяния?

32. В каких отраслях применяется метод SAXS?

33. Какие существуют виды взаимодействия рентгеновского излучения с веществом?

34. Какой вид взаимодействия рентгеновского излучения с веществом используется в методе SAXS?

35. В чем отличие метода МУР от рентгеновской дифракции?

36. Из каких основных частей состоит малоугловой дифрактометр?

37. Какие существуют виды коллимационных систем?

38. Какую информацию можно извлечь из кривой малоуглового рассеяния?

39. Как определяется функция распределения по расстояниям?

40. Как определяется радиус инерции?

41. Какие данные можно получить из радиуса инерции?

42. Какие параметры можно получить из малоугловых данных для полидисперсных частиц?

43. Какие существуют способы исследования структуры монодисперсных систем?

44. Опишите метод сферических гармоник?

45. Опишите метод шаров?

46. Почему у Водорода нет рентгеновского спектра?

47. Перечислите основные стадии рентгеноспектрального анализа.

48. В чем заключаются преимущества рентгенофлуоресцентного анализа по сравнению с обычным атомно-эмиссионным методом?

49. Поверхности каких неорганических и органических материалов можно анализировать с помощью РФА?

50. Почему количественный анализ поверхности твердого тела в основном проводят расчетными методами?

51. Какие элементы можно определять методом РФА?

52. Перечислите основные посторонние причины, влияющие на искажение величины аналитического сигнала.

53. Что такое вторичное возбуждение?

54. Опишите процесс построения комптоновской линии?

55. В результате чего возникает рентгеновское излучение?

56. Каких видов бывает рентгеновское излучение?

57. В результате чего возникает характеристическое рентгеновское излучение?

58. Какими переходами электронов обусловлено характеристическое рентгеновское излучение?

58. Что позволяет определить закон Мозли по измеренной частоте?

59. Какая из спектральных линий L-серии является наиболее интенсивной?

60. Какие существуют способы заполнения электронной вакансии электронами более внешних оболочек?

61. В каком способе заполнения электронной вакансии электронами более внешних оболочек атом испускает флуоресцентное характеристическое излучение?

62. Как еще называется безрадиационный переход?

63. От чего зависит относительная вероятность радиационных и безрадиационных переходов?

64. Какие процессы приводят к возникновению тормозного рентгеновского излучения?

65. Что является источником тормозного рентгеновского излучения?

66. Какие два типа рассеяния испытывают рентгеновские лучи?

67. Что такое когерентное рассеяние?

68. Что такое некогерентное рассеяние?

69. Какие существуют методы исследования вещества?

70. Что такое дифракционные методы исследования веществ?

71. Что лежит в основе дифракционных методов?

72. Что такое спектроскопические методы?

73. Что изучают с помощью спектроскопических методов?

74. Что изучают с помощью оптических методов?

75. Почему в рентгеновских спектроскопических методах атомизации пробы не требуется?

76. Что такое фотоэлектрон?

77. Какие виды анализа относятся к рентгеновским методам спектроскопии электромагнитного излучения?

78. Какие методы анализа относятся к методам электронной спектроскопии?

79. Что такое рентгеновский спектр?

80. Что используется для возбуждения спектров в рентгеноэмиссионном, рентгенофлуоресцентном и рентгеноабсорбционном анализах?

81. Какое рентгеновское излучение используют для возбуждения спектра в рентгенофлуоресцентном и рентгеноабсорбционном анализах?

82. Что такое электронный спектр?

83. С каких электронных уровней атома происходит эмиссии электронов?

84. Какие элементы можно определить с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии?

85. Какое рентгеновское излучение используют для возбуждения электронного спектра в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии?

86. Какой эффект является основой качественного рентгеноэлектронного анализа?

87. В чем заключается аналитическая сущность закона фотоэффекта?

88. Чему пропорциональна интенсивность фотоэлектронной линии элемента?

89. Что позволяет изучать спектроскопия рентгеновского поглощения?

90. В чем достоинство и недостатки спектроскопии рентгеновского поглощения?

91. Что позволяет изучать дифракция медленных электронов?

92. Достоинства и недостатки рентгеновской фотоэлектронной дифракции?

93. На чем основана рентгеновская фотоэлектронная дифракция?

94. На чем основана рентгеновская дифрактометрия?

95. Согласно какому закону происходит возникновение дифракции?

96. Какие методы исследования основаны на явлении дифракции рентгеновских лучей?

97. Какое уравнение является одним из основных уравнений рентгеноструктурного анализа?

98. Какие существуют различия между рентгенографическим и нейтронографическим методами исследования?

99. Что лежит в основе метода рентгеновской рефлектометрии?

100. Что можно определить с помощью метода рентгеновской рефлектометрии?

101. Что такое критический угол полного внешнего отражения?

102. Какие параметры можно определить с помощью метода рентгеновской рефрактометрии?

103. Как определяется плотность поверхностного слоя методом рентгеновской рефрактометрии?

104. Как определяется состав преломляющего слоя методом рентгеновской рефрактометрии?

105. Как определяется толщина пленок методом рентгеновской рефрактометрии?

106. Как определяется радиус кривизны поверхности методом рентгеновской рефрактометрии?

107. Каким образом определяется интенсивность линий по рентгенограммам?

108. Что такое интегральная интенсивность, и какие составляющие в нее входят?

109. От каких факторов прямо зависит интенсивность линий на рентгенограммах?

110. Какие факторы включает коэффициент ?

111. Какова цель подготовки образца для фазового анализа?

112. Перечислите основные требования к подготовке образцов для фазового анализа?

113. В чем заключается метод Ле Бейла?

114. В чем заключается метод количественного РФА и на каком принципе базируется?

115. Что важно при выборе «аналитических» линий каждой фазы?

116. Может ли методика количественного РФА быть использована для определения концентрации примеси кристаллической фазы в аморфной?

117. Перечислите методы количественного РФА.

118. В чем состоит метод внутреннего стандарта?

119. Каков оптимальный размер зерна в исследуемом образце?

120. Какое соотношение должно строго соблюдаться при визуальной оценке интенсивностей в методе внутреннего стандарта?

121. Что такое «гомологическая» пара?

122. На чем основан безэталонный метод?

123. Что такое «корундовое число» и кто ввел это название.

124. В чем заключается ограничение RIR метода?

125. Что такое градуировочный график?

126. В чем заключается метод Ритвельда?

127. Перечислите основные факторы приводящие к значительным ошибкам в определении долей фаз.

128. Какой фактор делает невозможным количественный анализ вообще?

129. Что такое рентгенограмма?

130. Чем характеризуется рентгенограмма?

131. Какими способами определяют положение дифракционного пика?

132. Какой из способов определения положения дифракционного пика является более точным?

133. Как определить положение максимума дифракционного пика?

134. Как определить положение центра тяжести линии?

135. Каким способом определяется интенсивность рефлекса?

136. Как определить ширину дифракционного пика?

137. Какие основные этапы включает расшифровка рентгенограмм?

138. Из каких этапов состоит первичная обработка рентгенограмм?

139. Что является физической характеристикой кристаллического вещества?

140. Что представляет собой картотека JCPDS?

141. Что такое индицирование рентгенограммы?

142. Какие существуют способы индицирования рентгенограмм?

143. Как рассчитываются и уточняются параметры элементарной ячейки?

144. Что является критерием качества индицирования и расчета параметра ячейки?

145. Как определяется тип решетки Бравэ?

146. Какие стадии включает комплексный подход к математической обработке рентгенограммы?

147. Какая программа используется для математической обработки рентгенограммы на стадии сглаживания, учета базовой линии, определения параметров рефлексов?

148. Какую программу используют для математического разрешения перекрывающихся рефлексов и корректировки высоты и полуширины сигналов?

149. Какие параметры необходимо определить для выявления фазового состава и параметров кристаллической структуры?

150. Какой метод сглаживания является наиболее распространенным?

151. Как влияет сглаживание на дифракционный пик?

152. Что такое итерационный алгоритм?

153. Какой алгоритм сглаживания методом бегущего среднего?

154. Что понимают под определением ориентировка кристалла?

155. Чем отличаются лауэграмма и эпиграмма кристалла?

156. Дайте определение понятию гномостереографическая проекция кристалла?

157. Каким образом достигается выведение узлов обратной решетки на сферу распространения в методе вращения?

158. Какие линии, на которых располагаются рефлексы в методе вращения, называются слоевыми линиями первого рода? Какие линии называются линиями второго рода?

159. Какие структурные особенности образца вызывают уширение дифракционного максимума на рентгенограмме?

160. В чем заключается построение Френеля для суммы амплитуд волн, находящихся в разных фазах?

161. Запишите уравнение Шеррера.

162. В чем заключается сущность метода определения размеров кристаллитов и микронапряжений с использованием метода наименьших квадратов?

163. Запишите закон ослабления рентгеновских лучей при прохождении их через вещество?

164. В чем состоит метод определения толщины покрытия по ослаблению рентгеновских лучей?

165. Опишите изменение кривой распределения объектов Р(х) в одномерном случае в зависимости от расстояния между объектами?

166. От каких параметров зависят свойства веществ?

167. Перечислите параметры решетки?

168. Перечислите дефекты?

169. Перечислите внешне воздействия?

170. Что такое ОКР?

171. Дайте классификацию микронапряжениям?

172. Что такое микронапряжения первого рода?

173. От чего зависят микронапряжения первого рода

174. Что такое микронапряжения второго рода?

175. Чем характерны микронапряжения второго рода?

176. Что такое микронапряжения третьего рода?

177. Что такое дислокации?

178. Как определить микронапряжения первого рода?

179. От чего могут возникать микронапряжения второго рода?

180. Как отличить уширение дифракционных пиков вызванных ОКР от вызванных микронапряжением?

181. Зачем при измерении микронапряжений эталон?

182. Сколько существует решеток Бравэ?

183. Что такое дефект?

184. Перечислите виды дефектов?

185. Что такое монокристалл?

186. Что такое поликристалл?

187. Что такое субзёрна?

188. Что такое малоугловые границы?

189. Что такое дифрактограмма?

190. Что такое точечный дефект?

191. Что такое диффузионное рассеяние рентгеновских лучей?

192. Что такое обратная решетка?

193. На чём может рассеиваться и отражаться рентгеновское излучение?

194. Что такое кристаллический максимум?

195. Опишите трёх кристальный метод измерения радиуса кривизны подложки?

196. Какие недостатки трёх кристального метода измерения радиуса кривизны подложки?

197. Дайте описание двух кристального метода измерения радиуса кривизны подложки?

198. Какие недостатки двух кристального метода измерения радиуса кривизны подложки?

199. Опишите метод измерения кривизны, включающий формирование двух параллельных монохроматических рентгеновских лучей?

200. Какие недостатки у метода измерения кривизны, включающий формирование двух параллельных монохроматических рентгеновских лучей

201. Опишите улучшенный дифракционный метод измерения радиуса кривизны поверхности?

202. Каким образом можно определить радиус кривизны поверхности при помощи рефлектометрии XRR?


9 Учебно-методическое обеспечение курса


9.1 Основная литература

1. Laggner, P. All You Wanted to Know About SAXS but did not dare asking / Laggner P // ech-instruments.ru/binaries/files/11324/11357/12386/saxs_course_presentation.pdf
   
2. Chu, B. Small-Angle X-ray Scattering of Polymers / B. Chu, B. S. Hsiao // Chemical Reviews, Vol 101, No 6, 2001.
   
3. Кузнецова, Г. А. Качественный рентгенофазовый анализ [Текст]: методические указания / Г. А. Кузнецова. – Иркутск: ИГУ, 2005. – 28 с.
   
4. Волков, В. В Исследование структуры наносистем методом малоуглового рентгеновского и нейтронного рассеяния / В. В Волков // ru/files/materials/VII_2009/expmethods/lecture10.pdf
   
5. Волков, В. В. Определение формы частиц по данным малоуглового рентгеновского и нейтронного рассеяния [Текст]: методическое пособие / В. В. Волков. – М.: Институт кристаллографии имени А. В. Шубникова, 2009. – 51 с.
   
6. Бахвалов, А. С. Рентгенофлуоресцентный приборно-аналитический комплекс для промышленного применения / А. С. Бахвалов, В. А.Лукина // Научно-технический вестник Санкт-Петербургского государственного университета информационных технологий, механики и оптики. ссылка скрыта. ссылка скрыта. С. 210 – 214.
   
7. Бузановский, В. А. Рентгенофлуоресцентный химико-аналитический комплекс / В. А. Бузановский, А. А. Попов // Экология и промышленность России. ссылка скрыта. ссылка скрыта. С. 4 – 6.
   
8. Машин, Н. И. Рентгенофлуоресцентный анализ систем NI-FE-MN/CR / Н. И. Машин, А. А. Леонтьева, А. Н. Туманова // Журнал прикладной спектроскопии. 2010. Т. 77. № 5. С. 7684 – 773.
   
9. Косьянов, П. М. Математическая модель способа рентгенофлуоресцентного анализа с вспомогательным поглотителем из анализируемого вещества // Известия Челябинского научного центра УрО РАН. 2005. № 1. С. 19.
   
10. Юсупов, Р. А. Методика рентгенофлуоресцентного анализа остаточной концентрации иона металла в рамках оптимизации синтеза оксидов металлов / Р. А. Юсупов, Р. Ф. Абзалов, С. А. Бахтеев // Вестник Казанского технологического университета. 2009. № 2. С. 564 – 59.
    
11. Лаштабега, О. О. Рентгенофлуоресцентное определение алюминия и урана в водах / О. О. Лаштабега, З. А. Темердашев, Н. М. Сорокина // Экологический вестник научных центров Черноморского экономического сотрудничества. 2008. № 1. С. 824 – 85.
    
12. Калинин, Б. Д. Рентгенофлуоресцентное определение легирующих и примесных элементов в гомогенных материалах при отсутствии адекватных градуировочных образцов / Б. Д. Калинин, Р. И. Плотников // Аналитика и контроль. 2010. Т. 14. № 4. С. 2364 – 242.
    
13. Мазин, М. Влияние геометрических факторов на достоверность данных рентгенофлуоресцентной спектрометрии / М. Мазин, Ш.Сабех  // Журнал прикладной спектроскопии. 2008. Т. 75. № 2. С. 2804 – 283.
    
14. Павлинский, Г. В. Об использовании атомных концентраций и относительных интенсивностей спектральных линий в рентгенофлуоресцентном анализе // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2008. Т. 74. № 8. С. 274 – 31.
    
15. Кузнецов, В. Л. Рентгеновская трубка с аксиальной фокусировкой / В. Л. Кузнецов, Д. С. Скоморохов, А. Л. Филатов // Известия Российской академии наук. Серия физическая. 2008. Т. 72. № 4. С. 5214 – 523.
    
16. Курандо, Е. А. Рентгенофлуоресцентный метод определения толщины покрытий // Упрочняющие технологии и покрытия. 2008. № 4.
    С. 424 – 43.
    
17. Самопляс, В. Н.Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ химического состава ферромарганца, марганца металлического и марганцевой лигатуры / В. Н. Самопляс, Н. Н. Гаврилюков, Л. И. Орлова // Аналитика и контроль. 2004. Т. 8. № 1. С. 424 – 50.
    
18. Комиссаренков, А. А. Рентгенофлуоресцентный метод анализа [Текст]: методические указания к лабораторным работам / А. А. Комиссаренков, С. Б. Андреев.- СПб.: ГОУ ВПО Спб ГТУ РП, 2008. – 36 с.
    
19. Лиопо, В. А. Рентгеновская дифрактометрия [Текст]: учебное пособие / В. А. Лиопо, В. В. Война – Гродно: ГрГУ, 2003. – 171 с.
    
20. Павлинский Г. В. Физика рентгеновского излучения: Сборник задач // Иркутск: ИГУ. 2003. С. 47.
    
21. Чупрунов, Е. В.  Рентгеновские методы исследования твердых тел. Учебно-методические материалы по программе повышения квалификации. «Физико-химические основы нанотехнологий» / Е. В. Чупрунов, М. А. Фаддеев, Е. В. Алексеев // ННГУ. Нижний Новгород, 2007.С . 194.
    
22. Штольц, А. К. Рентгеновский фазовый анализ: Учебное электронное текстовое издание / А. К. Штольц, А. И. Медведев, Л. В. Курбатов // ГОУ ВПО УГТУ УПИ: Екатеринбург, 2005.С. 24.
    
23. Цыбуля, С. В. Введение в структурный анализ нанокристаллов [Текст]: учебное пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова. – Новосибирск: НГУ, 2008. – 92 с.
    
24. Кузьмичева, Г. М. Рентгенография наноразмерных объектов. Часть 1 [Текст]: учебное пособие / Г. М. Кузьмичева. – М.: МИТХТ им. Ломоносова, 2010. – 81 с.
    
25. Методические указания «Метод рентгеноспектрального анализа и его возможности в строительстве». – Новосибирск, НГАСУ, ИНХ СО РАН, 2002.С. 31.
    
26. Пущаровский, Д. Ю. Основные элементы кинематической теории рассеяния рентгеновских лучей // ссылка скрыта.
    
27. Золотов, Ю. А. Основы аналитической химии [Текст]. В 2 кн. Кн. 2. Методы химического анализа: учебник для вузов / Ю.А. Золотов, Е.Н. Дорохова, В.И. Фадеева. – М.: Высшая школа, 2002. – 494 с.
    
28. Hufner S. Photoelectron Spectroscopy: Principles and Applications // New-York: Springer, 2003.Р. 684.
    
29. Кузнецов, М. В. Современные методы исследования поверхности твердых тел: фотоэлектронная спектроскопия и дифракция, СТМ-микроскопия / М. В. Кузнецов. – Екатеринбург: Институт химии твердого тела УрО РАН, 2010. – 43 с.
    
30. Методические указания к лабораторным работам по диагностике материалов / Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и рефлектометрия // Санкт-Петербург. 2010.С – 18.
    
31. Хабас, Т. А. Рентгенофазовый анализ / Т. А. Хабас, Т. В. Вакалова, А. А. Громов, Е. А. Кулинич. – Томск: ТПУ, 2007.– 40 с.
    
32. Турьянский, А. Г. Рентгеновская рефрактометрия поверхностных слоев / А. Г. Турьянский, И. В. Пиршин // Приборы и техника эксперимента. 1999. № 6. С. 104 – 111.
    
33. Турьянский, А. Г. Рентгеновский рефрактометр / А. Г. Турьянский, И. В. Пиршин // Приборы и техника эксперимента.2001. № 2. С. 109 – 117.
    
34. Горелик, С. С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Текст]: учебное пособие / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев.– М.: МИСИС, 2002 – 360 с.
    
35. Налбандян, В. Б. Рентгенография [Текст]: электронный учебник с практикумом / В. Б. Налбандян, И. Л. Шукаев, А. А. Поспелов. –
    Ростов-на-Дону: ЮФУ, 2008.
    
36. Физика твердого тела: Лабораторный практикум [Текст]. В 2 т. Т. 2. Методы получения твердых тел и исследования их структуры / под ред. проф. А. Ф. Хохлова. – М.: Высш. шк., 2001. – 364 с.
    
37. Иванов, А. Н. Дифракционные методы исследования материалов [Текст]: спецкурс для специальности «физика металлов» / А.Н. Иванов. – М.: Государственный технологический университет «Московский институт стали и сплавов», 2008. – 99с.
    
38. Pecharsky, V. K. Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials / V. K. Pecharsky, P. Y. Zavalij. – Kluwer Academic Publishers, 2003. – 713 p.
    
39. Шеховцова, Н. С. Выделение слабых рефлексов при анализе гетерофазных систем в рентгеноструктурном методе / Н. С. Шеховцова, С. В. Романенко // Ползуновский вестник № 3. 2009. – С. 117 – 121.
    
40. Подберезская, H.B. Кристаллохимическое исследование упаковок структурообразующих фрагментов в кристаллах неорганических и координационных соединений. Дис. в форме науч. докл. д.х.н. ИНХ СО РАН: Новосибирск, 2000. – 72 с.
    
41. ссылка скрыта
    
42. Кузнецова, Г.А. Качественный рентгенофазовый анализ [Текст]: методические указания / Г.А. Кузнецова. – Иркутск: ИГУ, 2005. –
    28 с.
    
43. Храмов, А. С. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов. Часть I: учебное пособие / А. С. Храмов, Р. А. Назипов – 2-е изд., исправл. и допол. – Казань, 2009. – 64 с.
    
44. Кузьмичева, Г. М. Порошковая дифрактометрия в материаловедении Часть I [Текст]: учебное пособие / Г. М. Кузьмичева. – М.: МИТХТ им. М.В.Ломоносова, 2005. – 90 с.
    
45. Чупрунов, Е. В. Рентгеновские методы исследования твёрдых тел [Текст]: / Е. В. Чупрунов, М. А. Фаддеев, Е. В. Алексеев. – Нижний Новгород, 2007. – 194 с.
    
46. Пахомов, Л. Г. Физические методы исследования неорганических веществ и материалов [Текст]: учебно-методический материал по программе повышения квалификации «Новые материалы электроники и оптоэлектроники для информационно-телекоммуникационных систем» / Л. Г. Пахомов, Н. Г. Черноруков., Е. В. Сулейманов, Кирьянов К. В. – Нижний Новгород, 2006 – 84 с.
    
47. Steven W. Smith The Scientist and Engineer’s Guide to Digital Signal Processing. – San Diego: California Technical Publishing, 1999. – 650 p.
    
48. Romanenko, S. V. Modelling of analytical peaks. Peaks modifications / S. V Romanenko, A. G. Stromberg // Anal. Chim. Acta. 2007. Vol. 581.
    P. 341 – 354.
    
49. Романенко С.В., Романенко Э.С., Колпакова Н.А. // Журнал аналитической химии. 2001. Т. 56. № 1. С. 60 – 64.
    
50. Романенко, С. В. Развитие метода деления сигналов (SRRM) для разрешения перекрывающихся инверсионно-вольтампераметрических пиков / С.  В. Романенко, Н. С. Шеховцова, Д. М. Карачаков // Известия Томского политехнического университета. 2008. Т. 312. № 3. С. 48 – 63.
    
51. Горелик, С. С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Текст] / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. – М.: МИСИС, 2002. – 360 с.
    
52. Лиопо, В. А., Война В. В. Рентгеновская дифрактометрия [Текст]: учебное пособие / В. А. Лиопо, В. В. Война. – Гродно: ГрГУ, 2003 – 171 с.
    
53. Штольц, А. К. Рентгеновский анализ микронапряжений и размера областей когерентного рассеяния в поликристаллических материалах: учебное электронное текстовое издание / А. К. Штольц, А. И. Медведев, Л. В. Курбатов. – Екатеринбург: ГОУ-ВПО УГТУ-УПИ, 2005 – 23 с.
    
54. Кузьмичева, Г. М. Рентгенография наноразмерных объектов. Часть 1[Текст]: учебное пособие / Г. М. Кузьмичева. – М.: МИТХТ им. Ломоносова, 2010. – 80 с.
    
55. Цыбуля, С. В. Введение в структурный анализ нанокристаллов [Текст]: учебное пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова. – Новосибирск: Новосибирский Государственный Университет, 2008. – 92 с.
    
56. Ботвин, В. А. Определение параметров поликристаллических наноразмерных материалов по уширению дифракционных отражений / В. А. Ботвин, К. А. Мить, Е. В. Грицкова, Д. М. Мухамедшина. URL: ссылка скрыта.
    
57. Particle Size and Strain Analysis by X-Ray Diffraction, H&M Analytical Services, Inc.2002. URL: ссылка скрыта
    
58. Петров, А. Л. Структура и свойства неупорядоченных твердых тел: учебное пособие / А. Л. Петров, А. А. Гаврилюк, С. М. Зубрицкий. – Иркутск:ГОУ ВПО Иркутский Государственный Университет, 2004. – 70 с.
    
59. Лиопо, В. А. Рентгеновская дифрактометри [Текст]: учеб. пособие / В. А. Лиопо, В. В.Война.– Гродно: ГрГУ, 2003. – 171 с.
    
60. Birkholz, M. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering / M. Birkholz, P. F. Fewster, C. Genzel // WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA. 2006.
    
61. Панова, Т. В. Определение внутренних напряжений в металлах [Текст]: описание лабораторной работы по курсу «Рентгеноструктурный анализ» / Т. В. Панова, В. И. Блинов, В. С. Ковивчак. – Омск: Омск. гос. ун-т, 2004. – 20 с.
    
62. Цыбуля, С. В. Введение в структурный анализ нанокристаллов [Текст]: учебное пособие / С. В. Цыбуля, С. В. Черепанова. – Новосибирск: Новосибирский Государственный Университет, 2008. – 92 с.
    
63. Подберезская, H. B. Кристаллохимическое исследование упаковок структурообразующих фрагментов в кристаллах неорганических и координационных соединений [Текст]: дис. в форме науч. докл. д.х.н. ИНХ СО РАН / H. B. Подберезская. – Новосибирск, 2000. – 72 с.
    
64. Иванов, А. Н. Дифракционные методы исследования материалов [Текст]: спецкурс для специальности «физика металлов» / А.Н. Иванов. – М.: Государственный технологический университет «Московский институт стали и сплавов», 2008г. – 99с.
    
65. Громилов, С. А. Введение в рентгенографию поликристаллов [Текст]: учеб. метод. пособие / С.А Громилов. – Новосибирск: НГУ,2008. – 50 с.
    
66. Панова, Т.В. Определение индексов отражающих плоскостей [Текст]: описание лабораторной работы по курсу «Рентгеноструктурный анализ» / Т.В. Панова, В.И. Блинов. – Омск: Омск. гос. ун-т, 2004. – 20 с.
    
67. Астапова, Е. С. Основы рентгеноструктурного анализа Спец. практикум по рентгеноструктурному анализу [Текст]: Учебно-методический комплекс дисциплины / Е. С. Астапова. – Благовещенск: Амурский гос. ун-т, 2006. – 172 с.
    

9.2 Дополнительная литература

1. Stenström, W. Thesis. Lund, 1919.
   
2. Duane, W. On the X-ray spectra of tungsten / W. Duane, R. A. Patterson // Phys. Rev., v. 16, (1920) 526 – 539.
   
3. Ewald, P.P. Zum Reflexionsgesetz der Roentgenstrahlen // Zeitschrift f. Phys., V. 2, No.2 (1920) 332-42.
   
4. Larsson, A. Der experimentelle Nachweis der Brechung von Roentgenstrahlen / А. Larsson, M. Siegbahn, J. Waller. // Naturwissenshaften,
   V. 12, No. 52 (1924) 1212.
   
5. Davis, B. Measurement of the refraction of X-rays in a prism by means of the double X-ray spectrometer / B. Davis, C. M. Slack // Phys. Rev.,
   V. 27, (1926) Р. 18 – 22.
   
6. Slack, C.M. The refraction of X-rays in prisms of various materials // Phys. Rev., V. 27, (1926) P. 691 – 695.
   
7. Сивухин, Д.В. Общий курс физики. Оптика. М., Наука, 1985.
   
8. Калитеевский, Н.И. Волновая оптика. М. Наука, 1971.
   
9. Блохин, М.А. Физика рентгеновских лучей. М., ГТТЛ, 1957.
   
10. Андреев, А.В. Рентгеновская оптика поверхности (Отражение и дифракция при скользящих углах падения) // УФН, Т. 145, Вып. 1 (1985).
    С 113 – 136.
    
11. Stepanov, S. A. Dynamical X-ray diffraction of multilayers and superlattices: Recursion matrix extension to grazing angles / S. A. Stepanov, E. A. Kondrashkina, R. Köhler, D. V. Novikov, G. Materlik, S. M. Durbin // Phys. Rev., V. B 57. (1998). 4829 – 41.
    
12. Свергун, Д .И. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние / Д. И. Свергун, Л. А. Фейгин, Москва, 1986.
    
13. Методы анализа поверхностей / под ред. А. Зандерны // М.: Мир, 1979. – 506 с.
    
14. Гармаш, А. В. Введение в спектроскопические методы анализа. Оптические методы анализа // Москва, 1995. – 39 с.
    
15. Основы рентгеноспектрального флуоресцентного анализа / Н. Ф. Лосев, А. Н. Смагунова // М.: Химия, 1982. – 209 с.
    
16. Рентгеновское и нейтронное малоугловое рассеяние / Д. И. Свергун, Л. А. Фейгин // М.: Наука, 1986. – 279 с.
    
17. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Д.К. Боуэн, Б.К. Таннер.
    
18. Рентгенофазовый анализ / Л. М. Ковба, В. К. Трунов // М.: Московский университет, 1976. – 171 с.
    
19. Жданов Г.С., Илюшин Ф.С., Никитина С.В., Дифракционный и резонансный структурный анализ, Наука: М., 1980 г., Часть I.
    
20. Ковба Л.М. Рентгенография в неорганической химии, МГУ: М., 1991.
    
21. Липсон, Г. Интерпретация порошковых рентгенограмм. Мир: М. 1985.
    
22. Шпанченко, Р.В. «Рентгенофазовый анализ». Методич. разработка / Р. В.Шпанченко, М. Г.Розова // МГУ: М., 1998.
    
23. Миркин, Л. И. Рентгеноструктурный анализ: Справочное руководство. – М.: Наука, 1976. – 863 с.
    
24. Бокий, Г. Б. Рентгеноструктурный анализ, тт.1, 2. Изд.-во МГУ 1964.
    
25. Ковба, Л. М. Рентгенофазовый анализ. М.: МГУ, –1976. – 232 с.
    
26. Рентгенография. Спецпрактикум / Под. общ. ред. А. А. Кацнельсона – М.: Изд-во Моск. ун-та, 1986. – 240 с.
    
27. Шаскольская, М. П. Кристаллография. М.: Высшая школа. 1976.
    
28. Порай-Кошиц, М. А. Практический курс рентгеноструктурного анализа, т. II. Изд-во МГУ, 1960.
    
29. Гинье, А. Рентгенография кристаллов, гл. 9. М., ИЛ, 1961.
    
30. Азаров, Л. Метод порошка в рентгенографии, гл. 13. М., ИЛ., 1961.
    
31. Xейкер, Д. М. Рентгеновская дифрактометрия, гл. 2, 3. М., Физматгиз, 1963.
    
32. Горелик, С. С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ / С. С. Горелик, Л. Н. Расторгуев, Ю. А. Скаков // М.: Металлургия, 1970.
    
33. Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: Физматиздат,1960.
    
34. Недома, И. Н. Расшифровка рентгенограмм порошков. М.: Металлургия, 1975.
    
35. Уманский, Я. С. Рентгенография металлов и полупроводников. М.: Металлургия, 1969. – 496с.
    
36. Русаков, А. А. Рентгенография металлов. М.: Атомиздат, 1977. 480 с.
    
37. Жданов, Г. С. Физика твёрдого тела. М., 1962.
    
38. Блохин, М. А., Методы рентгеноспектральных исследований. М., 1959.
    
39. Шишаков, Н. А. Основные понятия структурного анализа. М., 1961.
    
40. Нахмансон, М. С. Диагностика состава материалов рентгендифракционными и спектральными методами. Л.: Машиностроение, 1990. 356 с.
    
41. Wilson, A. J. C. Mathematical theory of X-ray powder diffractometry. –Eindhoven: Contrex, 1963. – 128 p.
    
42. Зевин, Л. С. Количественный рентгенографический фазовый анализ. - М.: Недра, 1974. – 184 с.
    
43. Klug, H.P. X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials. – N.Y.: J.Willey, 1974. – 966 p.
    
44. Методы исследования неорганических веществ и материалов: Учебное пособие / А. М. Гаськова // Москва, 2003. – 47 с.
    
45. Рентгенография металлов: Учебно-методическое пособие / И.Е. Занин, В.В. Чернышев // Полиграфический центр Воронежского гос. ун-та, 2008. – 20 с.
    
46. Кузнецова, Г. А. Качественный рентгенофазовый анализ: Учебное пособие // Иркутск, 2004. – 26 с.
    
47. Кузьмичева, Г. М. Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть I. Учебное пособие. М.: МИТХТ им. М.В. Ломоносова, 2005. – 84 с.
    
48. Кузьмичева, Г. М. Порошковая дифрактометрия в материаловедении. Часть II. Учебное пособие. М.: МИТХТ им. М.В. Ломоносова, 2006. – 84 с.
    
49. Кузьмичева, Г. М. Рентгенография наноразмерных объектов. Часть I. Учебное пособие. М.: МИТХТ им. М.В. Ломоносова, 2010. – 81 с.
    
50. Лиопо, В. А. Рентгеновская дифрактометрия: Учебное пособие / В.А. Лиопо, В.В. Война. – Гродно: ГрГУ, 2003. – 171 с.
    
51. Рентгенофазовый анализ: методические указания по дисциплине «Физико-химические методы исследования» / Сост. Л.Н. Пименова. – Томск: Томский архит.-строит. ун-та, 2005. – 14 с.
    
52. Рентгенофазовый анализ: Методические указания к выполнению лабораторных и самостоятельных работ по курсу «Физическая химия тугоплавких неметаллических и силикатных материалов» «Физика и химия твердого тела», «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов» для студентов специальности 240304 «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов» и магистрантов направления 240100 «Химическая технология и биотехнология» / Сост. Т. А. Хабас, Т. В. Вакалова, А. А. Громов, Е.А. Кулинич // Томск: ТПУ, 2007. – 40 с.
    
53. Дзидзигури, Э. Л. Ультрадисперсные среды: методы рентгеновской дифрактометрии для исследования наноматериалов: учебное пособие. – М.: МИСиС, 2007. – 60 с.
    
54. Хейкер, Д. М. Рентгеновская дифрактометрия / Под ред. Г. С. Жданова. – М.: Физматгиз, 1963. – 380 с.
    
55. Гинье, А. Рентгенография кристаллов / Пер. с франц. Под ред. Белова Н.В. – М.: Гос. изд-во физ.-мат. лит., 1961. – 604 с.
    
56. Китайгородский, А. И. Рентгеноструктурный анализ мелко- кристаллических и аморфных тел. – М. : Изд. техн.-теор. л-ры, 1952. – 588 с.
    
57. Уманский, Я. С. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия / Я. С. Уманский, Ю. А. Скаков, А. Н. Иванов, Л. Н. Расторгуев. – М.: Металлургия, 1994. – 632 с.
    
58. Скрышевский, А. Ф. Структурный анализ жидкостей и аморфных тел: учебное пособие. – 2-е изд. – М.: Высшая школа, 1980. – 328 с.
    
59. Bowen, D.K. High Resolution X-ray Diffractometry and Topography/ D. Keith Bowen, B. K.Tanner // Taylor & Francis Inc 1998.
    
60. Горелик, С. С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. Приложения. М: Металлургия, 1970. 107 с.
    
61. Русаков, А. А. Рентгенография металлов: Учебник для вузов. М.: Атомиздат, 1977. 480 с.
    
62. Зевин, Л. С. Рентгеновские методы исследования строительных материалов. М.: Стройиздат, 1965. 362 с.
    
63. Физика твердого тела: Структура твердого тела и магнитные явления: Спецпрактикум / Ю. И. Авксентьев, З. К. Золина, В. В. Зубенко и др.; под общ. ред. А. А. Кацнельсона, Г. С. Кринчика. М.: Изд-во МГУ, 1982. 304 с.
    
64. Миркин, Л. И. Рентгеноструктурный контроль машиностроительных материалов. Справочник. М.: Изд-во МГУ, 1976. 140 с.
    
65. Миркин, Л. И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: Физматгиз, 1961. 863 с.
    

10 Материально техническое обеспечение дисциплины


Для проведения занятий на базе ОЦН СевКавГТУ имеется многофункциональная рентгеновская аналитическая система (МРАС) «РИКОР», с возможностью дистанционного образования через портал ссылка скрыта. Портал оснащен всем необходимым для проведения всего курса дисциплины «Рентгеновские методы исследования» и включает методическое обеспечение, лекционный материал, виртуальные лабораторные работы, тестирование на всех этапах обучения.