Программа спецкурса "Неупругое взаимодействие ионов с поверхностью"

Вид материалаПрограмма спецкурса
Подобный материал:
Программа спецкурса “Неупругое взаимодействие ионов с поверхностью”

5 курс, 523 группа, весенний семестр

лектор – ст. преп. Гайнуллин И.К.

  1. Введение. Основные процессы, происходящие при ионном облучении поверхности твердых тел. Упругое и неупругое взаимодействие медленных атомных частиц с поверхностью. Взаимодействие, сопровождающееся электронным обменом или перестройкой электронной подсистемы. Процессы нейтрализации и ионизации атомных частиц у поверхности металла. Резонансные и квазирезонансные электронные переходы, Оже захват и девозбуждение, автоионизация.
  2. Методы описания. Адиабатическое приближение. Параметр Месси. Разделение движения электронной и ядерной подсистем. Квазиклассическое приближение. Гамильтониан Андерсона-Ньюнса. Приближение широкой зоны. Двухуровневое приближение. Неадиабатические переходы. Формула Ландау-Зинера.
  3. Экспериментальное оборудование. Основные элементы сверхвысоковакуумного оборудования для исследования взаимодействия атомных частиц с поверхностью твердых тел. Влияние вакуумных условий на состояние поверхности.
  4. Нейтрализация ионов у поверхности. Оже-нейтрализация. Эмиссия электронов при переходах типа Оже. Ионно-нейтралшационная спектроскопия поверхности. Методика определения плотности электронных состояний поверхности. Ионно-нейтрализационкая спектроскопия с использованием метастабильных атомов.
  5. Вторичная ионная эмиссия при ионном облучении поверхности твердого тела. Основные закономерности вторичной ионной эмиссии. Механизмы образования вторичных ионов. Роль локальной электронной температуры в области развития каскада столкновений в формировании зарядового состояния вторичной атомной частицы. Влияние адсорбатов (электроотрицательных и электроположительных) на выход вторичных ионов. Масс-спектрометрия вторичных ионов и нейтральных частиц. Применение вторично-ионной масс-спектрометрии (ВИМС) для анализа состава поверхности. Статический и динамический режимы работы ВИМС. Послойный анализ.
  6. Рассеяние медленных ионов. Применение рассеяния ионов для анализа состава и структуры поверхности. Потенциалы парного взаимодействия. Роль нейтрализации при рассеянии медленных ионов. Поверхностная чувствительность. Осциллирующее рассеяние ионов от поверхности. Влияние особенностей зонной структуры поверхности на электронный обмен при рассеянии.
  7. Рассеяние быстрых ионов (обратное резерфордовское рассеяние). Возможность анализа состава и структуры поверхности и объема. Каналирование и конус затенения. Анализ слоистых структур и адсорбатов.
  8. Ионно-злектронная эмиссия. Потенциальная ионно-электронная эмиссия. Эмиссия электронов при Оже-процессах. Кинетическая ношю-электронная эмиссия. Основные механизмы. Порог кинетической эмиссии. Смешанный тип электронной эмиссии. Ионизация внутренних оболочек при медленных атомных столкновениях. Корреляционные диаграммы. Квазимолекулярные Оже процессы. Эмиссия электронов посредством образования плазмонов.
  9. Ионно-фотонная эмиссия. Характерные экспериментальные зависимости. Основные механизмы. Эмиссия вторичных атомных частиц в возбужденном состоянии.
  10. Десорбция атомных частиц. Десорбция с поверхности, стимулированная электронными переходами. Электронные переходы под воздействием электронного, фотонного и ионного облучения поверхности. Основные механизмы десорбции. МГР-модель. Модель Кнотека-Файбельмана и Пули-Херша. Пороговая энергия десорбции.
  11. Классификация методов ионной спектроскопии поверхности твердых тел. Возможность исследования структуры, состава, электронной структуры поверхности.


Литература.
  1. Вудраф Д., Делчар Т. "Современные методы исследования поверхности". – М.: Мир, 1989.
  2. "Электронная и ионная спектроскопия твердых тел". Под ред. Фирмэнса Л. и др. М.: Мир, 1981.
  3. Квливидзе В.А., Красильников С.С. "Введение в физику атомных столкновений".- М.: МГУ, 1985.
  4. "Методы анализа поверхности". Под ред. А.Зандерны. М.: Мир, 1979.
  5. "Взаимодействие заряженных тел с твердым телом". Пер. с англ. - М.: Высш. шк., 1994.
  6. Уразгильдин И.Ф. – Известия РАН, сер. физ. 1996, 60, № 7 "Рассеяние медленных ионов" (обзор) с. 6; "Вторичная ионная эмиссия" (обзор) с. 44.