Методы физико-химического анализа

Вид материала

Подобный материал:

Вопросы к экзамену по аналитической химии для студентов химического отделения физико-химического, 46.33kb.
Учебно-тематический план современные методы физико-химического анализа Цель, 66.45kb.
Курсовая работа по курсу " Химия и физико химические методы анализа" на тему " Методы, 218.07kb.
Контрольная работа По дисциплине физико-химические свойства и методы контроля качества, 77.41kb.
Рабочая программа по дисциплине ен. Ф. 07 «Аналитическая химия и физико-химические, 223.14kb.
В. И. Емельянов Введение. Задачи и методы физико-химического анализа. Диаграммы систем, 634.39kb.
Программа курсов повышения квалификации «Физические и физико-химические методы и средства, 72.17kb.
Аннотация программы дисциплины «Физико-химические методы анализа» учебного плана направления, 24.18kb.
Программа дисциплины дпп. Дс. 03 Физико-химические методы анализа, 173.73kb.
Основное содержание программы: Роль и место аналитического контроля в современном производстве., 28.81kb.

Методы физико-химического анализа

^{Кредиты:}³

^{Аннотация дисциплины:}

^{Приводятся базовые положения об основах различных методов исследования материалов.}

^{Цель изучения дисциплины:}

^{Приобретение магистрантами теоретических знаний и практических навыков исследования материалов регулярной структуры.}

^{Структура тем:}

^{1. Введение. Обзор различных методов исследования структуры, фазового и химического состава материалов.}

^{2. Элементы кристаллофизики. Описание структуры кристаллов. Элементы симметрии и классы симметрии. Типы кристаллических решеток. Прямая и обратная решетки.}

^{3. Методы исследования кристаллической структуры. Физические основы рассеяния рентгеновских и электронных волн на кристаллической решетке. Закон Вульфа-Брегга. Экспериментальные методы рентгеноструктурного анализа. Метод Лауэ. Метод вращения кристалла. Метод Дебая-Шеффера. Условия дифракции и обратная решетка. Построение Эвальда.}

^{4. Методы исследования химического состава. Масс-спектрометрический метод физико-химического анализа. Времяпролетный масс-спектрометр. Квадрупольный масс-спектрометр. Рентгеновский спектрометр и анализ структуры тонких пленок.}

^{5. Электронно-микроскопические методы исследования. Физические основы электронной оптики. Топографический контраст и контраст состава. Исследование микрорельефов поверхности с помощью растровой электронной микроскопии. Применение электронной спектроскопии для исследования механизмов роста тонких пленок. Исследование распределения элементного состава по глубине тонких пленок и гетероструктур.}

^{Объем времени и виды учебной работы:}

^{Лекции – 34 часа, лабораторные работы – 17 часов, самостоятельная работа – 49 часов.}

^{Составил профессор Лепешев А.А.}

Blog

Методы физико-химического анализа