Обоснование выделения коллекторов методами геофизических исследований скважин
Курсовой проект - Геодезия и Геология
Другие курсовые по предмету Геодезия и Геология
?ания слоистой модели на основании диаграммы микросканера с шагом дискретизации 3 см. Значения удельного сопротивления, зарегистрированного его электродами нормированы по показаниям микробокового каротажа. Границы пропластков определяются на основе кривой нормализованного удельного сопротивления, зарегистрированного прижимным башмаком микросканера, SRES (слева), с помощью одного из двух алгоритмов (мин/макс амплитуды и точки перегиба). Для уменьшения числа выделяемых пластов входные данные микросканера сглаживаются для удаления высокочастотного шума (< 3 см).
1.5.2 Оценка параметров тонких пластов
После выделения в разрезе пластов различной толщины необходима оценка их петрофизических характеристик по результатам ГИС. Результаты большинства методов ГИС, несмотря на достаточно большую глубинность, в условиях тонкослоистого разреза или в одиночных тонких пластах не обеспечивают надежного выделения и оценку геофизических параметров тонких прослоев коллекторов.
Рис. 1.22. Пример разбивки на пласты при построении слоистой модели.
а - диаграмма микросканера, б - разбивка на пласты по алгоритму min/max амплитуды, в - разбивка на пласты по алгоритму точки перегиба
С другой стороны, микрометоды - микрозонды, микробоковой, пластовый наклономер, а также электрический и акустический микросканеры обеспечивают выделение тонких пропластков, однако из-за малой глубинности не позволяют оценить геофизические параметры коллекторов в незатронутой проникновением части пласта.
Для оценки петрофизических параметров прослоев коллекторов тонкослоистых разрезов компанией Schlumberger разработана методика SHARP; в основу которой положен принцип последовательных итерационных конволюций геофизических параметров геологической модели разреза.
Методика предусматривает комплексное использование результатов микрометодов с высокой разрешающей способностью и методов ГИС, обладающих достаточной глубинностью для оценки геофизических характеристик пород. По кривым микрометодов или по данным микросканеров проводится детальное расчленение разреза и строится морфологическая модель разреза. Затем строится первое приближение геофизической модели тонкослоистого разреза. Геофизические параметры глинистых и плотных пропластков задаются по значениям в толстых пластах, залегающих по соседству с исследуемым интервалом. Геофизические параметры коллекторов задаются на основании результатов интерпретации комплекса ГИС по стандартной методике и петрофизической модели. Затем с помощью специальных фильтров проводится конволюция параметров геофизической модели разреза и получение расчетных кривых отдельных методов ГИС, сравнение расчетных и зарегистрированных кривых, уточнение отдельных параметров модели разреза и повторная конволюция. Итерация повторяется до получения приемлемой невязки между расчетными и зарегистрированными кривыми методов ГИС. Последовательность этапов работы по методике SHARP представлена в табл. 1.2.
Важно отметить, что для выделения тонких пропластков используются не только данных микросканера, но и микробокового каротажа и микрозондов. При этом получаются вполне приемлемые и сопоставимые оценки параметров тонких пропластков. В то же время наиболее тонкие пропластки (h < 5 см), выделяемые по микросканеру, по МБК не выделяются. Другими словами, методика SHARP позволяет проводить анализ тонкослоистого разреза с вертикальным разрешением самого высокоразрешающего метода ГИС из комплекса, имеющегося в наличии.
К основным ограничениям методики SHARP относятся следующие:
Результаты анализа SHARP не единственны и могут быть эквивалентны, т.к. одинаковые (в пределах погрешности) реконструированные (рассчитанные) кривые могут быть получены при использовании различных моделей разреза. По мере уменьшения толщины использованных в модели пропластков неопределенность анализа значительно возрастает.
В настоящее время реализована только индивидуальная процедура свертки для каждого из методов ГИС.
Фильтры одномерной свертки являются лишь аппроксимациями истинных геометрических факторов приборов.
Радиальные характеристики методов ГИС непосредственно не учитываются.
Использование процедуры одномерной свертки с помощью фильтров для разных методов позволяет получать геофизические параметры тонких пластов с разной погрешностью в зависимости от физических основ метода и модификации аппаратуры, что необходимо учитывать при дальнейшем использовании результатов SHARP при количественной интерпретации и оценке применимости данной методики для конкретного объекта.
Таблица 1.2
ЭтапДействия1Создание первого приближения слоистой модели среды. Установление границ пропластков по кривым ГИС высокого вертикального разрешения (микросканер, акустический сканер, микробоковой каротаж, наклономер и т.п.).2Задание значений различных геофизических параметров в зависимости от комплекса ГИС по выделенным пластам. Первое интерактивное редактирование морфологической модели.3Выполнение одномерной свертки пластовой модели разреза со специальными фильтрами, определяющимися вертикальными геометрическими характеристиками для конкретного типа аппаратуры. Получение расчетных (реконструированных, восстановленных) кривых отдельных методов.4Сравнение реконструированной и зарегистрированной кривых. Оценка сходимости по минимуму среднеквадратичного отклонения.5Изменение принятых значений г