Дифференциальная диэлектрическая спектроскопия

Дипломная работа - Физика

Другие дипломы по предмету Физика

?тором диапазоне частот все же нельзя четко определить, какой именно моделью - резонансной или релаксационной - нужно воспользоваться.

4. Диэлектрические и оптические функции

 

При получении экспериментального спектра некоторой величины могут возникнуть различного рода отклонения, обусловленные самой измерительной установкой. Для частичной ликвидации таких погрешностей используют моделирование.

На полученной в инфракрасной области спектральной зависимости коэффициента отражения феррита висмута выражены решеточные резонансы, характеризующие колебательные свойства кристаллической решетки (рисунок 6).

 

Рисунок 6. - Спектр коэффициента отражения феррита висмута: экспериментальный - точки, модельный - сплошная линия.

 

В ближнем ИК - диапазоне составляющие ?* носят явно резонансный характер (рисунок 7,8).

 

Рисунок 7. - Спектры диэлектрической проницаемости феррита висмута в области решеточных резонансов

 

Рисунок 8. - Спектры диэлектрической проницаемости феррита висмута в области решеточных резонансов

 

Метод дифференцирования кристаллов со структурой перовскитов (на примере феррита висмута) и сравнение результатов с экспериментом.

 

Рисунок 9. - Спектр коэффициента феррита висмута в области электронных резонансов

 

Рисунок 10. - Дифференциальный спектр коэффициента феррита висмута в области электронных резонансов

 

Для дифференцирования было использовано два метода по Гауссу и Лоренцу. Оба метода используют один и тот же анализ.

 

Рисунок 10. - Дифференцированный спектр феррита висмута по модели Гаусса

 

Рисунок 11. - Дифференцированный спектр феррита висмута по модели Лоренца

 

Но полученные спектры немного различаются: положение резонансных частот немного разные, а вот по абсолютным величинам компоненты совпадают.

 

Рисунок 12. - Диэлектрическая функция феррита висмута (эксперимент)

 

Как видно, полученные результаты хорошо согласуются с экспериментом.

Заключение

 

Основным положительным эффектом дифференцирования спектров является увеличение разрешения перекрывающихся в исходных спектрах полос. С ростом порядка производные спектры усложняются. На каждой ступени дифференцирования точки перегиба в исходном спектре превращаются в экстремумы, а экстремумы - в точки пересечения следующей производной с осью абсцисс. Уменьшение полуширины основных пиков в четных производных улучшает разрешение полос, перекрывающихся в исходных спектрах. При этом полосы большей ширины (независимо от интенсивности), ниспадающие или восходящие ветви пологих пиков, рассеянный свет, постоянное фоновое поглощение и тому подобное при дифференцировании подавляются, что обеспечивает уменьшение систематических ошибок количественного анализа.

В настоящей работе методами диэлектрической спектроскопии проведено исследование диэлектрических свойств кристаллов со структурой перовскита.

На основании полученных данных можно сделать следующие выводы:

.Методами диэлектрической спектроскопии восстановлены оптические функции кристаллов со структурой перовскита.

2.Результаты разложения подтверждают возможность интерпретации решеточных спектров кристаллов со структурой перовскита в рамках модели невзаимодействующих квазигармонических осцилляторов.

.С помощью программного обеспечения Origin 6,0. DEMO выполнено дифференцирование кристаллов на примере феррита висмута.

Литература

 

1.Воронов, В.Н. Ионная подвижность и свойства соединений ABX3 типа перовскита / В.Н. Воронов. - Препринт №000Ф. - Красноярск: Институт физики СО РАН, 2006. - 64 с.

2.Поплавко, Ю.М. Переверзева, Л.П. Раевский, И. П: Физика активных диэлектриков: учебное пособие / Ю. М Поплавко, Л. П Переверзева, И. П Раевский; под редакцией проф.В.П. Сахненко - Ростов н/Д: Изд-во ЮФУ, 2009. - 480с ISBN978-5-9275-0636-1.

3.Дифференциальная диэлектрическая спектроскопия кристаллов/Диэлектрическая спектроскопия [электронный ресурс] - 2007. - Режим доступа: . - Дата доступа: 12.05.2011.

.Диэлектрическая спектроскопия / спектроскопия кристаллов [электронный ресурс] - 2009. - Режим доступа: . - Дата доступа: 3.05.2011.

.Мультиферроики / Мультиферроики как будущее спектроники [электронный ресурс] - 2009. - Режим доступа: - Дата доступа: 20.05.2011.