Дефекты винчестера и методы их скрытия

Курсовой проект - Компьютеры, программирование

Другие курсовые по предмету Компьютеры, программирование

µство циклов перемещения блока магнитных головок в парковочную область. 226Е2Load In-timeВремя, за которое привод выгружает магнитные головки из парковочной области на рабочую поверхность диска. 227ЕЗTorque Amplification CountКоличество попыток скомпенсировать вращающий момент. 228Е4Power-Off Retract CycleКоличество повторов автоматической парковки блока магнитных головок в результате выключения питания. 230Е6GMR Head AmplitudeАмплитуда "дрожания" (расстояние повторяющегося перемещения блока магнитных головок). 231Е7TemperatureТемпература жесткого диска. 240F0Head flying hoursВремя позиционирования головки. 250FARead error retry rateЧисло ошибок во время чтения жесткого диска.

 

Список известных атрибутов SCSI дисков:

01Buffer over/under run counters

_0000Write errors corrected without substantial delay

_0001Write errors corrected with possible delays

_0002Total write errors

_0003Total write errors corrected

_0004Total write errors corrected by algorythm

_0005Total bytes written

_0006Total uncorrected write errors

_0000Read errors corrected by ECC hardware method

_0001Read errors corrected with possible delays

_0002Total read errors

_0003Total read errors corrected

_0004Total read errors corrected by algorythm

_0005Total bytes read

_0006Total uncorrected read errors

_0000Read reverse errors corrected by ECC hardware method

_0001Read reverse errors corrected with possible delays

_0002Total read reverse errors

_0003Total read reverse errors corrected

_0004Total read reverse errors corrected by algorythm

_0005Total bytes read reverse

_0006Total uncorrected read reverse errors

_0000Verify errors corrected without substantial delay

_0001Verify errors corrected with possible delays

_0002Total verify errors

_0003Total verify errors corrected

_0004Total verify errors corrected by algorythm

_0005Total bytes verified

_0006Total uncorrected verify errors

_0000Non medium errors

Last error event

BLast deferred error or asynchronous event

D_0000Temperature

D_0001Reference temperature

E_0001Manufacture date (year/week)

E_0002Accounting date

E_0003Specified cycle count over device lifetime

E_0004Accumulated start-stop cycles

FApplication client parameter data

Self test results log

Protocol specific port log

_0000Blocks sent to initiator

_0001Blocks received from initiator

_0002Blocks read from cache and sent to initiator

_0003I/O commands with size smaller than segment size

_0004I/O commands with size larger than segment size

E_0000Power on time

E_0008Remaining minutes until next internal test

Note: some manufacturers may use the attributes for different purposes also. Attributes not listed here are "vendor specific" attributes (their purpose is not known).

 

1.6 Типы атрибутов

 

Каждый атрибут может иметь некоторый набор флагов, определяющих его функциональные особенности. Ниже приводятся все шесть основных типов и их краткие описания.

Pre-failure (PF). Если атрибут имеет этот тип, то поле threshold атрибута содержит минимально допустимое значение атрибута, ниже которого не гарантируется работоспособность накопителя и резко увеличивается вероятность его выхода из строя.

On-line collection (OC). Указывает, что значение данного атрибута обновляется (вычисляется) во время выполнения on-line тестов S. M. A. R. T. или же во время обоих видов тестов (on-line/off-line). В противном случае, значение атрибута обновляется только при выполнении off-line тестов.

Performance related (PR). Указывает на то, что значение этого атрибута напрямую зависит от производительности накопителя по отдельным показателям (seek/throughput/etc. performance). Обычно обновляется после выполнения self-test`ов SMART.

Error rate (ER). Указывает на то, что значение атрибута отражает относительную частоту ошибок по данному параметру (raw read/write, seek, etc.).

Events count (EC). Указывает на то, что атрибут является счетчиком событий.

Self-preserve (SP). Указывает на то, что значение атрибута обновляется и сохраняется автоматически (обычно при каждом старте накопителя и при выполнении тестов SMART).

 

1.7 Виды дефектов и причины их появления

 

Рассмотрим структуру сектора, в том виде, каким его видит электроника винта "изнутри":

Упрощенная структура сектора жесткого диска

 

Рис.1. Упрощенная структура сектора жесткого диска

 

Как видно из рисунка 1, все намного сложнее, чем могло показаться на первый взгляд, даже с помощью дискового редактора. Сектор состоит из заголовка-идентификатора и области данных. Начало сектора помечается специальным байтом - адресным маркером (1). Он служит для сообщения контроллеру о том, что сектор находится под головкой. Затем следуют ячейки, в которых содержится уникальный адрес сектора в формате CHS (2) и его контрольная сумма - для проверки целостности записанного адреса (3).512 байт данных пользователя помещаются в отдельном поле (4), к которому при записи добавляется несколько десятков байт избыточной информации, предназначенной для коррекции ошибок чтения с помощью ECC-кода (5). Рядом с данными размещается 4 байта циклической контрольной суммы (CRC) данных, которая служит для проверки целостности данных пользователя, и сообщения системе коррекции ошибок при ее нарушении (6). Для более надежной работы сектора при колебаниях скорости вращения имеются байты-пробелы (7). У некоторых винчестеров имеется дополнительный байт после AM - в нем сектор помечается как BAD.

Структура низкоуровневого формата сильно различается у разных моделей накопителей, и определяется типом используемого контроллера, его микропрограммой и изобретательностью разработчиков.

Пока структура формата не нарушена, винчестер работает исправно, четко выполняя свои обязанности - хранение информации. Но стоит вмешаться злым силам - и в зависимости от вида разрушений, они проявляются как BAD-секторы разной степени тяжести.

Дефекты можно разделить на две большие группы: физические и логические. Рассмотрим каждый их вид подробно.

Физические дефекты

Дефекты поверхности. Возникают при механическом повреждении магнитного покрытия внутри пространства сектора, например из-за царапин, вызванных пылью, старением блинов или небрежным обращением с жестким диском. Такой сектор до