Дефекты винчестера и методы их скрытия

Курсовой проект - Компьютеры, программирование

Другие курсовые по предмету Компьютеры, программирование

оизводителей и для широкой публики не документированы. Сокращенный и расширенный тест способны выполняться как в фоновом, так и в монопольном режимах. Набор входящих в них тестов не стандартизирован.

Реальный набор выполняемых тестами функций можно рассмотреть на примере тестов, поддерживаемых жесткими дисками Hitachi:

 

Функция тестаShort Self testExtended Self testOff-line CollectionRaw Read Error Rate TestYESYESYESWrite TestYESYESNOServo TestYESYESNOPartial Read ScanningYESNONOFull Read ScanningNOYESYES

Как работает SMART IV.

 

 

1.9 Журналы ошибок (SMART error log)

 

В большинстве современных накопителей реализована функция журналирования появляющихся в течении работы накопителя ошибок или иных событий. В основном, накопители предоставляют информацию о пяти последних ошибках. При этом сохраняются последние 5 поступивших в накопитель команд, предшествующих возникновению этой ошибки, и другая необходимая информация. Накопитель может также поддерживать дополнительные журналы. Их структура, размер и назначение устанавливаются фирмой-производителем. При обновлении микропрограммы накопителя, все журналы накопителя очищаются, а общее количество ошибок устанавливается в значение 0.

Примечание: в журналах сохраняется время по внутренним часам накопителя, т.е. либо общее отработанное время на данный момент, либо время от момента последнего включения накопителя.

 

1.9.1 Log Directory

Тип: Каталог журналов S. M. A. R. T.

Вид доступа: только чтение (RO)

Размер: 1 сектор (512 байт)

Примечание: поддержка мультисекторных журналов

Данный журнал представляет собой своего рода каталог, в котором указаны адреса всех поддерживаемых журналов S. M. A. R. T. и их размер в секторах. Максимальное количество журналов - 255.

 

1.9.2 Summary Error Log

Тип: Суммарный журнал ошибок

Вид доступа: только чтение (RO)

Размер: 1 сектор (512 байт)

Примечание: поддерживается только 28-битная адресация секторов (28-bit LBA)

Данный журнал содержит информацию об общем количестве ошибок, зафиксированных накопителем с момента первого включения (или обновления микропрограммы) и подробные записи о последних 5 ошибках. Для каждой из 5 зафиксированных ошибок сохраняются последние 5 поступивших в накопитель команд. В этом журнале сохраняются все ошибки UNC, IDNF, ошибки сервосистемы, записи/чтения и т.д. При этом, для каждой команды сохраняется значения всех регистров, время и текущее состояние накопителя на момент подачи самой команды. Ошибки, вызванные подачей неподдерживаемых команд или командами с ошибочными параментами не фиксируются в журнале. Если накопитель поддерживает Comprehensive Error Log, то журнал Summary Error Log дублирует последние пять записей из журнала Comprehensive Error Log.

 

1.9.3 Comprehensive Error Log

Тип: Комплексный журнал ошибок [SMART Error Logging]

Вид доступа: только чтение (RO)

Размер: 1.51 сектор (максимум 26,112 байт)

Примечание: поддерживается только 28-битная адресация секторов (28-bit LBA)

Данный журнал содержит подробную информацию о общем количестве ошибок, зафиксированных накопителем с момента первого включения (или обновления микропрограммы) и подробные записи о последних ошибках. Максимальное количество сохраняемых ошибок - 255. Для каждой зафиксированной ошибки сохраняются последние 5 поступивших в накопитель команд. В этом журнале сохраняются все ошибки UNC, IDNF, ошибки сервосистемы, записи/чтения и т.д. При этом, для каждой команды сохраняется значения всех регистров, время и текущее состояние накопителя на момент подачи самой команды. Ошибки, вызванные подачей неподдерживаемых команд или командами с ошибочными параментами не фиксируются в журнале.

 

1.9.4 Extended Comprehensive Error Log

Тип: Расширенный комплексный журнал ошибок [SMART Error Logging]

Вид доступа: только чтение (RO)

Размер: 1.65,536 секторов (максимум 32 Мбайт)

Примечание: поддерживается 28/48-битная адресация секторов

Назначение данного журнала аналогично журналу Comprehensive Error Log и содержит в себе копию его записей, однако этот журнал имеет иную структуру, которая позволяет реализовать поддержку как 28-битной, так и 48-битной адресации секторов. Максимальное количество сохраняемых ошибок - 327,680.

 

1.9.5 Self-test Log

Тип: Журнал результатов самоконтроля [SMART self-test]

Вид доступа: только чтение (RO)

Размер: 1 сектор (512 байт)

Примечание: поддерживается только 28-битная адресация секторов (28-bit LBA)

Данный журнал содержит информацию о результатах выполнения команд внутренней самодиагностики накопителя. Журнал может хранить до 21 записи. При превышении этого количества, журнал начинает заполняться заново, перезаписывая 1-ю запись 22-й, 2-ю - 23-ей и так далее. В каждой записи журнала сохраняется регистр с номером теста, код статуса выполнения теста, время на момент запуска/прерывания теста, номер текущей контрольной точки (или точки останова) теста, а также LBA-адрес сектора, на котором произошло прерывание/отмена теста.

1.9.6 Extended Self-test Log

Тип: Расширенный журнал результатов самоконтроля [SMART self-test]

Вид доступа: только чтение (RO)

Размер: 1.65,536 секторов (максимум 32 Мбайт)

Примечание: поддерживается 28/48-битная адресация секторов

Назначение данного журнала аналогично журналу Self-test Log и содержит в себе копию его записей, однако этот журнал имеет иную структуру, которая позволяет реализовать поддержку как 28-битной, так и 48-битной адресации секторов. Максимальное количество записей - 1,179,648.

 

1.9.7 Streaming Performance Log

Тип: Журнал параметров производительности потоко?/p>