«Методы микроскопии» СодержаниеЦелью курсаСписок сокращенийТематический планОсобенности свойств наноструктур2. Сканирующая зондовая микроскопияСканирующая туннельная микроскопияКонтактная сканирующая атомно-силовая микроскопияПрерывисто-контактная сканирующая силовая микроскопияМногопроходные методики3.Оптическая микроскопияКонфокальная микроскопия4. Растровая электронная микроскопияУстройство и работа растрового электронного микроскопаРентгеноспектральный микроанализУстройство и работа рентгеноспектральногомикроанализатораПеречень лабораторных работВопросы для самоконтроля2.2 Программа курса «Системы автоматизированного проектирования наносистем»Цель курсаЗадачами курсаЗнания, умения и профессиональные компетенции, получаемые после освоения курсаТематический планСодержание курсаПрактические занятияПрактические занятияПояснительная запискаСодержание курса1. Введение в оптическую микроскопию.3. Отсчетные оптические устройства.5. Оптические системы для инфракрасной области спектра.6. Оптические микроскопы.7. Виды оптических микроскопов.Лабораторные работы по курсу2.4 Программа курса «Проектирование элементной базы наносистем»I. Пояснительная запискаЗадачи курсаТематический план2. Измерительные оптические МЭМС / НЭМС.3. Классификация и модельный ряд базовых конструктивных реализаций оптических МЭМС / НЭМС.4. Математические модели оптических МЭМС / НЭМС. Многолучевая интерференция.5. Математические модели оптических МЭМС / НЭМС. Интерференционные фильтры.6. Математические модели оптических МЭМС / НЭМС. Основные проектировочные расчеты тонкопленочных интерферометров.7. Технологические методы и оборудование для создания оптических МЭМС / НЭМС.8. Области применения оптических МЭМС / НЭМС на базе интерференционных фильтров.Лабораторные работы по курсу2.5 Программа профессионального модуля «Система автоматизированного проектирования Catia»Цели курсаЗадачами курсаЗнания, умения и профессиональные компетенции, получаемые после освоения курсаТематический планСодержание курсаПрактические занятия
