Нию сроков активного существования микроконтроллеров atmega128 в условиях дозовых воздействий ионизирующих излучений при различных мощностях дозы и температурах
Вид материала | Документы |
- Тематический план практических занятий по радиационной медицине hа IX семестр для студентов, 49.44kb.
- Свойства ионизирующих излучений взаимодействие ионизирующих излучений с веществом, 90.21kb.
- Информационный сборник Дозы облучения населения Республики Марий Эл в 2010 году Информационный, 1949.43kb.
- Тематический план лекций по радиологии для студеhтов 3 курса медицинского факультета, 72.26kb.
- Расписание лекций в текущем семестре: 1 неделя, 83.26kb.
- Основные санитарные правила работы с радиоактивными веществами и другими источниками, 361.11kb.
- Правила поведения и действий населения в зонах химического и радиоактивного заражения., 19.49kb.
- Основные свойства ионизирующих излучений, 51.14kb.
- Стандартов безопасности труда, 227.5kb.
- Биологические и эпидемиологические эффекты облучения в малых дозах, 5728.53kb.
УДК 621.382(06) Микроэлектронные и наноэлектронные системы…
П.А. ЧУБУНОВ1,2, Н.Г. РАДОВСКИЙ1,2, И.И. ШАГУРИН1.
1Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»
2ОАО «НИИ космического приборостроения», Москва
РЕЗУЛЬТАТЫ ИСПЫТАНИЙ ПО ОПРЕДЕЛЕНИЮ СРОКОВ АКТИВНОГО СУЩЕСТВОВАНИЯ МИКРОКОНТРОЛЛЕРОВ
ATMega128 ПРИ ДОЗОВЫХ ВОЗДЕЙСТВИЯХ
В докладе представлены результаты испытаний по определению сроков активного существования микроконтроллеров ATMega128 в условиях дозовых воздействий ионизирующих излучений при различных мощностях дозы и температурах. Облучения проводились в активном режиме при различных мощностях дозы (10; 1; 0.1; 0.01 рад/с), при различной температуре (25; 55; 85 °С). Функциональный и параметрический контроль проводился в автоматическом режиме с помощью разработанного ОАО «НИИ КП» модуля обеспечения функционирования и считывания информации. Показано, что при воздействии повышенных температур сроки активного существования увеличиваются в результате термического отжига.
ISBN 978-5-7262-1383-5. НАУЧНАЯ СЕССИЯ НИЯУ МИФИ-2011. Том 1