Нию сроков активного существования микроконтроллеров atmega128 в условиях дозовых воздействий ионизирующих излучений при различных мощностях дозы и температурах

Вид материалаДокументы
Подобный материал:

УДК 621.382(06) Микроэлектронные и наноэлектронные системы…

П.А. ЧУБУНОВ1,2, Н.Г. РАДОВСКИЙ1,2, И.И. ШАГУРИН1.

1Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»

2ОАО «НИИ космического приборостроения», Москва


РЕЗУЛЬТАТЫ ИСПЫТАНИЙ ПО ОПРЕДЕЛЕНИЮ СРОКОВ АКТИВНОГО СУЩЕСТВОВАНИЯ МИКРОКОНТРОЛЛЕРОВ

ATMega128 ПРИ ДОЗОВЫХ ВОЗДЕЙСТВИЯХ


В докладе представлены результаты испытаний по определению сроков активного существования микроконтроллеров ATMega128 в условиях дозовых воздействий ионизирующих излучений при различных мощностях дозы и температурах. Облучения проводились в активном режиме при различных мощностях дозы (10; 1; 0.1; 0.01 рад/с), при различной температуре (25; 55; 85 °С). Функциональный и параметрический контроль проводился в автоматическом режиме с помощью разработанного ОАО «НИИ КП» модуля обеспечения функционирования и считывания информации. Показано, что при воздействии повышенных температур сроки активного существования увеличиваются в результате термического отжига.


ISBN 978-5-7262-1383-5. НАУЧНАЯ СЕССИЯ НИЯУ МИФИ-2011. Том 1