Эффект возрастания критического тока в YBaCuO пленках
Статья - Математика и статистика
Другие статьи по предмету Математика и статистика
?аничных областях блоков, приводя к деформации кристаллической решетки приграничных областей [14], причем, чем больше угол разориентации , тем больше величина упругих деформаций. Несколько десятков последовательных термоударов вполне могут привести к существенной релаксации механических напряжений и уменьшению величины упругих деформаций. В таком случае вполне возможно некоторое уменьшение угла разориентации и, как следствие, - возрастание значения плотности критического тока.
Как отмечалось выше, наибольшее значение величины Jc max/Jc min наблюдалось для пленки, выращенной на сапфире. Из трех рассмотренных подложек параметры кристаллической решетки сапфира наименее согласуются с параметрами решетки YBaCuO пленки, что приводит к более высоким значениям механических напряжений. Соответственно происходит более существенное изменение величины угла разориентации .
По результатам данных исследований можно сделать следующие выводы: 1) YBaCuO пленки, выращенные на различных подложках при термоциклировании проявляют эффект возрастания плотности критического тока; 2) физические параметры, характеризующие данный эффект, коррелируют с начальными значениями плотности критического тока; 3) не наблюдается какой-либо зависимости значений nmax и ширины максимума на кривой Jc (n) от начальных сверхпроводящих свойств пленок, а также от типа подложки.
Список литературы
Chin D.K., Duzer T.Van.// Appl. Phys. Lett. 58. 1991. P.753.
Gao J., Aarnink W., Gerritsma G.J., Veldhuis D., Rogalla H.// IEEE Trans. Magn. 27. 1991. P.3062.
Braginski A.I.// Phisica C. 185-189. 1991. P.391.
Югай К.Н., Скутин А.А., Серопян Г.М. и др. // СФХТ. 1994. Т.7, N.6. С.1026.
Мейлихов Е.З. // УФН. 1993. 163. С.27.
Dimos D., Chaudhari P., Mannhart J., LeGoues F.K.// Phys. Rev. Lett. 1988. 61. P.219.
Zhu Y., Zhang H. et al. Preprint. 1992.
Zandbergen H.W., Gronsky R., Thomas G.// Microsc J. and Spectrosc Electron. 1988. 13. P.307.
Zandbergen H.W., Gronsky R., Tendeloo G.Van.// J. Supercond. 1989. 2. P.337.
Cai. Z.X., Welch D.O.// Phys. Rev. B. 1992. 45. P.2385.
Rhyner J., Blatter G.// Phys. Rev. B. 1989. 40. P.829.
Matsushita T., Ni B., Yamafuji K.// Cryogenics. 1989. 29. P.384.
Mannhart J.// J. Supercond. 1990. 3. P.281.
DimosD., Chaudhari P., Mannhart J.// Phys. Rev. B. 1990. 41. P.4038.
Для подготовки данной работы были использованы материалы с сайта